CN208488483U - 晶片压紧检测组件 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供的晶片压紧检测组件,属于晶片检测领域,包括多个探针、垫片和用于固定探针的固定架;垫片设置于探针下方;固定架包括固定底座、旋转臂和用于驱动旋转臂的动力机构;旋转臂可旋转固定于固定底座,固定底座将旋转臂分隔为前旋转臂和后旋转臂;后旋转臂可旋转固定于动力机构;探针可滑动固定于前旋转臂,探针与前旋转臂之间设置有弹性连接机构;其中,当旋转臂处于水平位置时,探针头部朝下,探针可上下滑动。该实用新型有效解决了现有技术中晶片检测时容易损坏晶片的问题,通过简单的结构设置,不仅能够轻松压紧晶片方便检测,而且能够有效减轻探头对晶片的压力,降低检测过程中损坏晶片的风险。
Description
技术领域
本实用新型涉及晶片检测领域,尤其涉及一种晶片压紧检测组件。
背景技术
晶片是LED最主要的原料之一,是LED的发光部件,LED最核心的部分,晶片的好坏将直接决定LED的性能。
在晶片生产过程中,需要对产出的晶片进行质量检测,以保证晶片出厂的良品率。现有技术中,常常采用压紧检测的方法对晶片进行检测,但是因压力过大而导致晶片损坏,降低晶片产出,给生产方带来不可估量的损失。
实用新型内容
针对上述存在的问题,本实用新型提供的智能婴儿床垫,以解决现有技术中检测过程中晶片容易损坏的问题,通过简单但具有创造性的结构设置,不仅能够轻松压紧晶片方便检测,而且能够有效减轻探头对晶片的压力,降低检测过程中损坏晶片的风险。
为实现上述目的,本实用新型采取的技术方案为:
本实用新型提供的一种晶片压紧检测组件,包括多个用于检测晶片的探针、用于放置晶片的垫片和用于固定所述探针的固定架;所述垫片设置于所述探针下方;
所述固定架包括固定底座、旋转臂和用于驱动所述旋转臂的动力机构;所述旋转臂可旋转固定于所述固定底座,所述固定底座将所述旋转臂分隔为前旋转臂和后旋转臂;所述后旋转臂可旋转固定于所述动力机构;
所述探针可滑动固定于所述前旋转臂,所述探针与所述前旋转臂之间设置有弹性连接机构;
其中,当所述旋转臂处于水平位置时,所述探针头部朝下,所述探针可上下滑动。
本实用新型提供的晶片压紧检测组件,优选地,所述动力机构为气缸杆直线运动的气缸;所述气缸的气缸杆可旋转固定于所述后旋转臂。
本实用新型提供的晶片压紧检测组件,优选地,所述探针贯穿固定于所述前旋转臂,所述探针被所述前旋转臂分隔为探针上部和探针下部,所述弹性连接机构设置于所述探针下部与所述前旋转臂之间,所述探针上部设置有限位螺母。
本实用新型提供的晶片压紧检测组件,优选地,所述弹性连接机构为弹簧。
本实用新型提供的晶片压紧检测组件,优选地,所述垫片上设置有多个用于放置晶片的凹槽,多个所述凹槽分别与多个所述探针对应。
上述技术方案具有如下优点或者有益效果:
本实用新型提供的晶片压紧检测组件,有效解决了现有技术中晶片检测时容易损坏晶片的问题,通过简单的结构设置,不仅能够轻松压紧晶片方便检测,而且能够有效减轻探头对晶片的压力,降低检测过程中损坏晶片的风险,保证晶片产出。
附图说明
通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述,本实用新型及其特征、外形和优点将会变得更加明显,在全部附图中相同的标记指示相同的部分,并未刻意按照比例绘制附图,重点在于示出本实用新型的主旨。
图1是本实用新型实施例1提供的晶片压紧检测组件的立体结构示意图;
图2是本实用新型实施例1提供的晶片压紧检测组件的正视结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和具体的实施例对本实用新型作进一步的说明,但是不作为本实用新型的限定。
实施例1:
如图1~2所示,本实用新型实施例1提供的晶片压紧检测组件,包括四个用于检测晶片的探针1、用于放置晶片的垫片2和用于固定探针1的固定架3;垫片2设置于所述探针1下方;固定架3包括固定底座31、旋转臂32和用于驱动旋转臂32的动力机构33;旋转臂32可旋转固定于固定底座31,固定底座31将旋转臂32分隔为前旋转臂321和后旋转臂322;后旋转臂322可旋转固定于动力机构33;探针1可滑动固定于前旋转臂321,探针1与前旋转臂321之间设置有处于压缩或是正常状态的弹性连接机构323;当旋转臂32处于水平位置时,探针1头部朝下,探针1可上下滑动;
动力机构33为气缸杆直线运动的气缸;气缸33的气缸杆可旋转固定于后旋转臂322;
探针1贯穿固定于前旋转臂321,探针1被前旋转臂321分隔为探针上部11和探针下部12,弹性连接机构323设置于探针下部12与前旋转臂321之间,探针上部11设置有防止探针1脱落的限位螺母13;
弹性连接机构323为弹簧;
垫片2上设置有四个用于放置晶片的凹槽21,四个凹槽21分别与四个探针1对应。
采用探针1可滑动于弹性连接机构323相配合的设置,当探针1接触放置于垫片上的晶片时,探针1对晶片压紧施加的压力过大时,会在压力的反作用力下向上顶升,来防止压力过大损坏晶片;同时由于弹性连接机构323的存在的,保证探头1被向上顶升时能够始终压紧晶片以方便对晶片进行检测,并且当检测完毕后,探针1能够在弹性连接机构323的作用下回复原本状态。
当使用本实用新型实施例1提供的晶片压紧检测组件时,将晶片放置于垫片2的凹槽21内,气缸33驱动后旋转臂322向上运动,带动前旋转臂321向下运动,使得探针1接触防止于垫片2上的晶片,以完成检测。
综上所述,本实用新型提供的晶片压紧检测组件,有效解决了现有技术中晶片检测时容易损坏晶片的问题,通过简单的结构设置,不仅能够轻松压紧晶片方便检测,而且能够有效减轻探头对晶片的压力,降低检测过程中损坏晶片的风险,保证晶片产出。
本领域技术人员应该理解,本领域技术人员结合现有技术以及上述实施例可以实现所述变化例,在此不予赘述。这样的变化例并不影响本实用新型的实质内容,在此不予赘述。
以上对本实用新型的较佳实施例进行了描述。需要理解的是,本实用新型并不局限于上述特点实施方式,其中未尽详细描述的设备和结构应该理解为用本领域中的普通方式予以实施;任何熟悉本领域的技术人员,在不脱离本实用新型技术方案作出许多可能的变动和修饰,或修改为等同变化的等效实施例,这并不影响本实用新型的实质内容,因此,凡是未脱离本实用新型技术方案的内容,依据本实用新型的技术实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同变化及修饰,均属于本实用新型技术方案保护的范围内。
Claims (5)
1.一种晶片压紧检测组件,其特征在于,包括多个用于检测晶片的探针、用于放置晶片的垫片和用于固定所述探针的固定架;所述垫片设置于所述探针下方;
所述固定架包括固定底座、旋转臂和用于驱动所述旋转臂的动力机构;所述旋转臂可旋转固定于所述固定底座,所述固定底座将所述旋转臂分隔为前旋转臂和后旋转臂;所述后旋转臂可旋转固定于所述动力机构;
所述探针可滑动固定于所述前旋转臂,所述探针与所述前旋转臂之间设置有弹性连接机构;
其中,当所述旋转臂处于水平位置时,所述探针头部朝下,所述探针可上下滑动。
2.如权利要求1所述的晶片压紧检测组件,其特征在于,所述动力机构为气缸杆直线运动的气缸;所述气缸的气缸杆可旋转固定于所述后旋转臂。
3.如权利要求1所述的晶片压紧检测组件,其特征在于,所述探针贯穿固定于所述前旋转臂,所述探针被所述前旋转臂分隔为探针上部和探针下部,所述弹性连接机构设置于所述探针下部与所述前旋转臂之间,所述探针上部设置有限位螺母。
4.如权利要求3所述的晶片压紧检测组件,其特征在于,所述弹性连接机构为弹簧。
5.如权利要求1所述的晶片压紧检测组件,其特征在于,所述垫片上设置有多个用于放置晶片的凹槽,多个所述凹槽分别与多个所述探针对应。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113001079A (zh) * | 2019-12-20 | 2021-06-22 | 江一宇 | 预装夹具及其用途、焊接方法及焊接件 |
CN113659056A (zh) * | 2021-07-14 | 2021-11-16 | 秦明辉 | 用于智慧社区的led晶片衬底贴片垫片放置设备 |
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2018
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Cited By (3)
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