CN208466561U - 一种纳米晶片电性能自动测试系统 - Google Patents

一种纳米晶片电性能自动测试系统 Download PDF

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Abstract

本实用新型公开了一种纳米晶片电性能自动测试系统,包括底板、导入系统、检测仪、分拣系统、控制芯片,所述底板顶部表面限位柱一侧通过安装架纵向固定设置有气缸,所述气缸上方的安装架一端表面固定设置有检测板,所述气缸输出杆处通过安装板固定设置有压板,所述分拣系统包括计数传感器、激光测距传感器、机械手,所述连接杆与转杆之间活动设置有液压杆,所述控制芯片固定设置在底板前侧表面。本实用新型使用时气缸移动带动压板对晶片表面进行固定并通过检测板表面检测仪的接入端实现晶片的电性能测试,测试完成后计数传感器、激光测距传感器通过控制芯片调控机械手将测试完成后的产品分类放置于收集盒内,自动化程度高,工作质量好。

Description

一种纳米晶片电性能自动测试系统
技术领域
本实用新型涉及产品性能检测技术领域,具体是一种纳米晶片电性能自动测试系统。
背景技术
纳米晶片用于无线充电器的信号发射,其对电容、电阻及电感值有比较严格的要求,需要对产品全检确认是否合格。现有的对纳米晶片的电性能测试主要以手工测量以及手动分离不合格产品为主,对操作人员有较高的专业知识要求,且测试操作不仅劳动强度大,而且工作效率低,长期处于测试操作后不能保证检测质量,影响使用性能的同时增加测试成本。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种纳米晶片电性能自动测试系统,以解决现有技术中的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种纳米晶片电性能自动测试系统,包括底板、导入系统、检测仪、分拣系统、控制芯片,所述底板顶部表面一端通过开设圆形状的安装孔固定设置有多个限位柱,所述底板顶部表面限位柱一侧通过安装架纵向固定设置有气缸,所述气缸上方的安装架一端表面固定设置有检测板,所述气缸输出杆处通过安装板固定设置有压板,所述导入系统包括传送带、第一电机,所述传送带通过支撑杆纵向固定设置在底板顶部表面上方,所述第一电机通过安装座固定设置在传送带下方支撑杆的一侧表面,所述检测仪通过固定板固定设置在底板前侧表面一端,所述分拣系统包括计数传感器、激光测距传感器、机械手,所述计数传感器、激光测距传感器通过安装块分别固定设置有检测板顶部表面安装槽外侧的传送带左右两端,所述底板前侧远离检测仪一端通过定位座固定设置有转杆,所述转杆顶端通过定位销活动设置有连接杆,所述连接杆与转杆之间通过安装座活动设置有液压杆,所述机械手通过滑轨活动设置在连接杆底部表面,所述控制芯片通过保护罩固定设置在底板前侧表面检测仪一侧,所述控制芯片的输入端分别与计数传感器、激光测距传感器电性连接,所述控制芯片的输出端分别与液压杆、第一电机的输入端、气缸的输入端、机械手的输入端电性连接。
优选的,所述检测板位于传送带内部的一端表面开设有U形状的安装槽,所述传送带穿过安装槽表面设置在底板上方。
优选的,所述气缸输出杆穿过检测板表面通过紧固件与压板一端表面固定连接,所述压板一侧的安装板通过安装孔活动设置在限位柱的外表面。
优选的,所述底板表面至少设置有四个限位柱,所述限位柱位于压板一侧安装板上方的一端表面规定设置有限位板。
优选的,所述第一电机为步进电机,所述第一电机输出端处的电机轴通过传动件与传送带转轴的一端表面啮合连接。
优选的,所述转杆的一侧表面固定设置有第二电机,所述第二电机通过电机轴与转杆内部转轮的表面啮合连接,所述第二电机的输入端与控制芯片的输出端电性连接。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:本实用新型在底板顶部表面限位柱一侧通过安装架纵向固定设置有气缸,气缸上方的安装架一端表面固定设置有检测板,气缸输出杆处通过安装板固定设置有压板,分拣系统包括计数传感器、激光测距传感器、机械手,底板前侧远离检测仪一端固定设置有转杆,转杆顶端通过定位销活动设置有连接杆,连接杆与转杆之间通过安装座活动设置有液压杆,使用时通过控制芯片启动第一电机带动传送带转动,将待检测纳米晶片依次放置于传送带表面,气缸移动带动压板对晶片表面进行固定并通过检测板表面检测仪的接入端实现晶片的电性能测试,测试完成后传送带继续运转,计数传感器、激光测距传感器通过控制芯片调控机械手将测试完成后的合格品以及不合格品分类放置于收集盒内,操作简单,自动化程度高,工作质量好。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图。
图2为本实用新型的俯视图。
图中:1、底板;2、检测仪;3、控制芯片;4、气缸;5、检测板;6、压板;7、传送带;8、第一电机;9、计数传感器;10、激光测距传感器;11、机械手;12、转杆;13、连接杆;14、液压杆;15、限位板;16、第二电机;17、限位柱。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1~2,本实用新型实施例中,一种纳米晶片电性能自动测试系统,包括底板1、导入系统、检测仪2、分拣系统、控制芯片3,底板1顶部表面一端通过开设圆形状的安装孔固定设置有多个限位柱17,底板1顶部表面限位柱17一侧通过安装架纵向固定设置有气缸4,气缸4上方的安装架一端表面固定设置有检测板5,气缸4输出杆处通过安装板固定设置有压板6,导入系统包括传送带7、第一电机8,传送带7通过支撑杆纵向固定设置在底板1顶部表面上方,第一电机8通过安装座固定设置在传送带7下方支撑杆的一侧表面,检测仪2通过固定板固定设置在底板1前侧表面一端,分拣系统包括计数传感器9、激光测距传感器10、机械手11,计数传感器9、激光测距传感器10通过安装块分别固定设置有检测板5顶部表面安装槽外侧的传送带7左右两端,底板1前侧远离检测仪2一端通过定位座固定设置有转杆12,转杆12顶端通过定位销活动设置有连接杆13,连接杆13与转杆12之间通过安装座活动设置有液压杆14,机械手11通过滑轨活动设置在连接杆13底部表面,控制芯片3通过保护罩固定设置在底板1前侧表面检测仪2一侧,控制芯片3的输入端分别与计数传感器9、激光测距传感器10电性连接,控制芯片3的输出端分别与液压杆14、第一电机8的输入端、气缸4的输入端、机械手11的输入端电性连接;检测板5位于传送带7内部的一端表面开设有U形状的安装槽,传送带7穿过安装槽表面设置在底板1上方;气缸4输出杆穿过检测板5表面通过紧固件与压板6一端表面固定连接,压板6一侧的安装板通过安装孔活动设置在限位柱17的外表面;底板1表面至少设置有四个限位柱17,限位柱17位于压板6一侧安装板上方的一端表面规定设置有限位板15;第一电机8为步进电机,第一电机8输出端处的电机轴通过传动件与传送带7转轴的一端表面啮合连接;转杆12的一侧表面固定设置有第二电机16,第二电机16通过电机轴与转杆12内部转轮的表面啮合连接,第二电机16的输入端与控制芯片3的输出端电性连接。
本实用新型的工作原理是:底板1顶部表面限位柱17一侧通过安装架纵向固定设置有气缸4,气缸4上方的安装架一端表面固定设置有检测板5,气缸4输出杆处通过安装板固定设置有压板6,分拣系统包括计数传感器9、激光测距传感器10、机械手11,底板1前侧远离检测仪2一端固定设置有转杆12,转杆12顶端通过定位销活动设置有连接杆13,连接杆13与转杆12之间通过安装座活动设置有液压杆14,使用时通过控制芯片3启动第一电机8带动传送带7转动,将待检测纳米晶片依次放置于传送带7表面,气缸4移动带动压板6对晶片表面进行固定并通过检测板5表面检测仪2的接入端实现晶片的电性能测试,测试完成后传送带7继续运转,计数传感器9、激光测距传感器10通过控制芯片3调控机械手11将测试完成后的合格品以及不合格品分类放置于收集盒内,操作简单,自动化程度高,工作质量好。
对于本领域技术人员而言,显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节,而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下,能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此,无论从哪一点来看,均应将实施例看作是示范性的,而且是非限制性的,本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定,因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

Claims (6)

1.一种纳米晶片电性能自动测试系统,包括底板(1)、导入系统、检测仪(2)、分拣系统、控制芯片(3),其特征在于:所述底板(1)顶部表面一端通过开设圆形状的安装孔固定设置有多个限位柱(17),所述底板(1)顶部表面限位柱(17)一侧通过安装架纵向固定设置有气缸(4),所述气缸(4)上方的安装架一端表面固定设置有检测板(5),所述气缸(4)输出杆处通过安装板固定设置有压板(6),所述导入系统包括传送带(7)、第一电机(8),所述传送带(7)通过支撑杆纵向固定设置在底板(1)顶部表面上方,所述第一电机(8)通过安装座固定设置在传送带(7)下方支撑杆的一侧表面,所述检测仪(2)通过固定板固定设置在底板(1)前侧表面一端,所述分拣系统包括计数传感器(9)、激光测距传感器(10)、机械手(11),所述计数传感器(9)、激光测距传感器(10)通过安装块分别固定设置有检测板(5)顶部表面安装槽外侧的传送带(7)左右两端,所述底板(1)前侧远离检测仪(2)一端通过定位座固定设置有转杆(12),所述转杆(12)顶端通过定位销活动设置有连接杆(13),所述连接杆(13)与转杆(12)之间通过安装座活动设置有液压杆(14),所述机械手(11)通过滑轨活动设置在连接杆(13)底部表面,所述控制芯片(3)通过保护罩固定设置在底板(1)前侧表面检测仪(2)一侧,所述控制芯片(3)的输入端分别与计数传感器(9)、激光测距传感器(10)电性连接,所述控制芯片(3)的输出端分别与液压杆(14)、第一电机(8)的输入端、气缸(4)的输入端、机械手(11)的输入端电性连接。
2.根据权利要求1所述的一种纳米晶片电性能自动测试系统,其特征在于:所述检测板(5)位于传送带(7)内部的一端表面开设有U形状的安装槽,所述传送带(7)穿过安装槽表面设置在底板(1)上方。
3.根据权利要求1所述的一种纳米晶片电性能自动测试系统,其特征在于:所述气缸(4)输出杆穿过检测板(5)表面通过紧固件与压板(6)一端表面固定连接,所述压板(6)一侧的安装板通过安装孔活动设置在限位柱(17)的外表面。
4.根据权利要求1所述的一种纳米晶片电性能自动测试系统,其特征在于:所述底板(1)表面至少设置有四个限位柱(17),所述限位柱(17)位于压板(6)一侧安装板上方的一端表面规定设置有限位板(15)。
5.根据权利要求1所述的一种纳米晶片电性能自动测试系统,其特征在于:所述第一电机(8)为步进电机,所述第一电机(8)输出端处的电机轴通过传动件与传送带(7)转轴的一端表面啮合连接。
6.根据权利要求1所述的一种纳米晶片电性能自动测试系统,其特征在于:所述转杆(12)的一侧表面固定设置有第二电机(16),所述第二电机(16)通过电机轴与转杆(12)内部转轮的表面啮合连接,所述第二电机(16)的输入端与控制芯片(3)的输出端电性连接。
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