CN208383099U - 一种用于陶瓷加工的测头 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于测量技术领域，公开了一种用于陶瓷加工的测头，包括后盖和与所述后盖可拆卸连接的主体外壳，还包括容置于所述主体外壳内的支架和与所述支架配合的调节元件，且所述支架的外壁沿所述支架轴向均匀开设有多个凹槽，所述调节元件连接有测量结构，所述测量结构包括测针座、安装于所述测针座上的白钢针探针，以及固设于所述白钢针探针端部的氧化锆探头。开有凹槽的支架与调节元件配合使测量元件快速复位，而且探头为氧化锆探头，直接与工件接触时探头不会有损伤，而且探针为白钢针，白钢针探针与氧化锆探头配合，能准确地测量工件的平整度及尺寸数据。

Description

一种用于陶瓷加工的测头

技术领域

本实用新型涉及测量技术领域，尤其涉及一种用于陶瓷加工的测头。

背景技术

测头是伴随着CNC加工的发展而逐步被采用的在机检测工具，测头安装在检测机台上，当探针与工件上的测量点接触时，探针触发测头产生测量信号，检测机台接受测量信号并算出工件的表面轮廓尺寸，与预先设定的理论值比对，并得出实际值和偏差值。而随着5G时代的到来，手机陶瓷后壳及其他陶瓷零件的应用更加广泛，陶瓷加工的精度控制也越发重要，然而现有技术中用于陶瓷加工中的测头不能准确的测量陶瓷的平整度。

因此，有必要提供一种能准确测量陶瓷加工时陶瓷平整度及尺寸的测头。

实用新型内容

本实用新型提供了一种用于陶瓷加工的测头，克服和解决了现有技术中陶瓷加工中测头不能准确测量陶瓷尺寸的问题，具有测量准确、操作简便的优点。

本实用新型为解决其技术问题提供的一种技术方案是：

一种用于陶瓷加工的测头，包括后盖和与所述后盖可拆卸连接的主体外壳，还包括容置于所述主体外壳内的支架和与所述支架配合的调节元件，且所述支架的外壁沿所述支架轴向均匀开设有多个凹槽，所述调节元件连接有测量结构，所述测量结构包括测针座、安装于所述测针座上的白钢针探针，以及固设于所述白钢针探针端部的氧化锆探头，所述氧化锆探头进行测量动作并在所述支架与所述调节元件的共同作用下复位。

作为上述技术方案的改进，所述调节元件包括调节锥、调节座、连接轴和第一调节弹簧，所述第一调节弹簧与所述支架的顶部抵持，且所述调节锥的一端与所述第一调节弹簧套接，另一端与所述调节座抵持，所述连接轴可拆卸地安装在所述调节座上；所述调节座上设有接通的三组柱形触点和三组球形触点，所述第一调节弹簧给予所述调节座压力并使所述柱形触点位于所述球形触点的固定位置上。

作为上述技术方案的进一步改进，所述支架开设有沿轴向贯穿所述支架的三组安装孔，所述安装孔内设置有与所述球形触点抵持的第二调节弹簧以辅助所述第一调节弹簧使所述氧化锆探头复位。

作为上述技术方案的进一步改进，所述支架上还设置有导向柱和容纳所述导向柱的通孔，所述凹槽设于所述安装孔和所述通孔之间。

作为上述技术方案的改进，还包括前盖，所述连接轴的外周套接有弹性件和盖板，所述弹性件的一端抵持在所述连接轴沿径向延伸的凸缘上，另一端抵持在盖板上，所述盖板容置于所述主体外壳内且与所述前盖的端部抵持。

作为上述技术方案的改进，所述连接轴与所述调节座的连接处还设有防水垫圈，所述调节座将所述防水垫圈的外沿压紧于所述主体外壳的内壁上，且所述防水垫圈的中心开有过孔，所述连接轴穿过所述过孔与所述调节座连接。

本实用新型的有益技术效果是：沿支架外壁开设有凹槽，相对于传统的支架质量减轻，在相等弹力作用下，质量减轻的支架更易回弹，以配合调节元件使得氧化锆探头复位，测量结构迅速复位，有利于提升探头的测量精度。探头为氧化锆探头，直接与工件接触时，工件对探头不会造成损伤，而且探针为白钢针，白钢针探针与氧化锆探头配合，具有材料易得的优点，既能准确地测量工件的平整度及尺寸数据，又能使用常见的白钢针与氧化锆探头搭配，节约了成本。

附图说明

为了更清楚的说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图做简单说明。

图1为本实用新型一个实施例的用于陶瓷加工的测头的分解示意图。

图2为图1中实施例的剖视图。

具体实施方式

以下结合实施例和附图对本实用新型的构思、具体结构及产生的技术效果进行清楚、完整地描述，以充分理解本实用新型的目的、方案和效果。需要说明的是，在不冲突的情况下本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。此外本实用新型中所使用的上、下、左、右等描述仅仅是相对图中本实用新型各组成部分相互位置关系来说的。

图1为本实用新型一个实施例的用于陶瓷加工的测头的分解示意图，图2为图1中实施例的剖视图。

图1至图2示出了一种用于陶瓷加工的测头，包括后盖100、主体外壳200，设于主体外壳200内的支架310和与支架310配合的调节元件，且支架310的外壁沿支架310轴向均匀开设有多个凹槽313，调节元件连接有测量结构，测量结构包括测针座410、安装于测针座410上的白钢针探针420，以及固设于白钢针探针420端部的氧化锆探头430，氧化锆探头430进行测量动作并在支架310与调节元件的共同作用下复位。

调节元件包括连接轴330、调节锥320、调节座340和第一调节弹簧350，第一调节弹簧350与支架310的顶部抵持，且调节锥320的一端与第一调节弹簧350套接，另一端与调节座340抵持，连接轴330可拆卸地安装在调节座340上，连接轴330的另一端连接有测量结构，测量结构包括测针座410、安装于测针座410上的白钢针探针420，以及固设于白钢针探针420端部的氧化锆探头430。

该测头用于陶瓷加工机床中工件平整度以及尺寸的测量，后盖100开有供安装在陶瓷机上的开孔。探头为氧化锆探头，直接与工件接触时，工件不会对探头造成损伤，而且探针为白钢针，白钢针探针与氧化锆探头配合，材料易得，价格低廉，既能准确地测量工件的平整度及尺寸数据，又能避免材料更难得的钨化碳探针。

调节座340上设有接通的三组柱形触点341和三组球形触点342，第一调节弹簧350给予调节座340压力并使柱形触点341位于球形触点342的固定位置上。

支架310开设有沿支架310轴向贯穿支架310的三组安装孔，安装孔内设置有第二调节弹簧311以辅助所述第一调节弹簧350使测针座410复位，且第二调节弹簧311与球形触点342抵持。

支架310上还设置有导向柱和容纳导向柱的通孔312，凹槽313设于安装孔和通孔312之间。本实施例中，通孔和安装孔贯穿支架，凹槽可设于支架的外壁或内壁，或贯穿支架的内壁和外壁，开有凹槽的支架质量减轻，在第一调节弹簧和第二调节弹簧具有相同的弹力时，有利于弹簧及时回弹，测量结构复位速度更快。

该用于陶瓷加工的测头还包括前盖500，连接轴330的外周套接有弹性件360和盖板370，连接轴与调节座的一端沿连接轴径向延伸有凸缘331，弹性件360卡设于凸缘331与盖板370之间，盖板370容置于主体外壳200内且与前盖500的端部抵持。

连接轴330与调节座340的连接处还设有防水垫圈600，调节座340将防水垫圈600的外沿压紧于主体外壳200的内壁上，且防水垫圈600的中心开有过孔，连接轴330穿过所述过孔与调节座340连接。

尽管结合优选实施方案具体展示和介绍了本实用新型，但所属领域的技术人员应该明白，在不脱离所述权利要求书所限定的本实用新型的精神和范围内，在形式上和细节上可以对本实用新型做出各种变化，均为本实用新型的保护范围。

Claims (6)

1.一种用于陶瓷加工的测头，包括后盖和与所述后盖可拆卸连接的主体外壳，其特征在于，还包括容置于所述主体外壳内的支架和与所述支架配合的调节元件，且所述支架的外壁沿所述支架轴向均匀开设有多个凹槽，所述调节元件连接有测量结构，所述测量结构包括测针座、安装于所述测针座上的白钢针探针，以及固设于所述白钢针探针端部的氧化锆探头，所述氧化锆探头进行测量动作并在所述支架、调节元件的共同作用下复位。

2.根据权利要求1所述的用于陶瓷加工的测头，其特征在于，所述调节元件包括调节锥、调节座、连接轴和第一调节弹簧，所述第一调节弹簧与所述支架的顶部抵持，且所述调节锥的一端与所述第一调节弹簧套接，另一端与所述调节座抵持，所述连接轴可拆卸地安装在所述调节座上；所述调节座上设有接通的三组柱形触点和三组球形触点，所述第一调节弹簧给予所述调节座压力并使所述柱形触点位于所述球形触点的固定位置上。

3.根据权利要求2所述的用于陶瓷加工的测头，其特征在于，所述支架开设有沿轴向贯穿所述支架的三组安装孔，所述安装孔内设置有与所述球形触点抵持的第二调节弹簧以辅助所述第一调节弹簧使所述氧化锆探头复位。

4.根据权利要求3所述的用于陶瓷加工的测头，其特征在于，所述支架上还设置有导向柱和容纳所述导向柱的通孔，所述凹槽设于所述安装孔和所述通孔之间。

5.根据权利要求2所述的用于陶瓷加工的测头，其特征在于，还包括前盖，所述连接轴的外周套接有弹性件和盖板，所述弹性件的一端抵持在所述连接轴沿径向延伸的凸缘上，另一端抵持在盖板上，所述盖板容置于所述主体外壳内且与所述前盖的端部抵持。

6.根据权利要求2所述的用于陶瓷加工的测头，其特征在于，所述连接轴与所述调节座的连接处还设有防水垫圈，所述调节座将所述防水垫圈的外沿压紧于所述主体外壳的内壁上，且所述防水垫圈的中心开有过孔，所述连接轴穿过所述过孔与所述调节座连接。