CN208239577U - 减少ggb探头损耗的pad - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种减少GGB探头损耗的PAD，包括设置于PCB板上的PAD本体和铜箔区，所述铜箔区呈匚形，所述PAD本体位于所述铜箔区的内侧，其特征在于，所述PAD本体的长度大于标准长度。本实用新型能有效降低GGB探头的损伤。
Description
技术领域
本实用新型涉及线路板领域，尤其是一种减少GGB探头损耗的PAD。
背景技术
对于高速线路板，出货需对每个料号都要进行insertionloss的测试，使用频率高，而对于GGB高精密度的测试探头，减少测试过程中的移动，可以大大降低GGB探头的损伤，延长GGB探头寿命。降低insertionloss在测试时因探针也PAD接触不良而导致的误测，提高测试数据的准确性。
发明内容
基于此，有必要提供一种减少GGB探头损耗的PAD，包括设置于PCB板上的PAD本体和铜箔区，所述铜箔区呈匚形，所述PAD本体位于所述铜箔区的内侧，其特征在于，所述PAD本体的长度大于标准长度。
其中标准长度为PAD本体具备其所需功能的原设计长度。
优选的，所述PAD本体的长度为标准长度的120%。
正常设计的PAD本体的长度因长度不够，其与其他测试点的的距离较长，会导致其与GGB探针接触不到，而增加GGB探头在测试过程中的移动距离，增加了GGB探头的损伤；本实用新型通过将其长度朝向GGB探测的方向增加到正常设计长度的120%，保证了GGB探针与PAD的接触良好，从而减少探针在测试过程中的移动，可以大大降低GGB探头的损伤，延长GGB探头寿命，同时，降低insertionloss在测试时因探针也PAD接触不良而导致的误测，提高测试数据的准确性。
进一步的，所述PAD本体的宽度与标准宽度一致。
其中标准宽度为PAD本体具备其所需功能的原设计长度。
下面结合上述技术方案对本实用新型的原理、效果进一步说明：
本实用新型通过增加PAD本体的长度，以保证PAD本体与GGB探针接触良好，大大降低GGB探头的损伤，从而降低insertionloss在测试时因探针也PAD接触不良而导致的误测，提高测试数据的准确性。
附图说明
图1为本实用新型实施例所述减少GGB探头损耗的PAD的结构示意图。
附图标记说明：
1-铜箔区1，2-PAD本体2。
具体实施方式
为了便于本领域技术人员理解，下面将结合附图以及实施例对本实用新型做进一步详细描述：
实施例1
一种减少GGB探头损耗的PAD，包括设置于PCB板上的PAD本体2和铜箔区1，所述铜箔区1呈匚形，所述PAD本体2位于所述铜箔区1的内侧，其特征在于，所述PAD本体2的长度大于标准长度。
其中标准长度为PAD本体2具备其所需功能的原设计长度。
优选的，所述PAD本体2的长度为标准长度的120%。
正常设计的PAD本体2的长度因长度不够，会导致其与GGB探针接触不到，而增加GGB探头在测试过程中的移动距离，增加了GGB探头的损伤；本实用新型通过将其长度增加道正常设计长度的120%，保证了GGB探针与PAD的接触良好，从而减少测试过程中的移动，可以大大降低GGB探头的损伤，延长GGB探头寿命，同时，降低insertionloss在测试时因探针也PAD接触不良而导致的误测，提高测试数据的准确性。
进一步的，所述PAD本体2的宽度与标准宽度一致。
其中标准宽度为PAD本体2具备其所需功能的原设计长度。
实施例2
一种减少GGB探头损耗的PAD，包括设置于PCB板上的PAD本体2和铜箔区1，所述铜箔区1呈匚形，所述PAD本体2位于所述铜箔区1的内侧，其特征在于，所述PAD本体2的长度大于标准长度。
其中标准长度为PAD本体2具备其所需功能的原设计长度。
优选的，所述PAD本体2的长度为标准长度的120%。
正常设计的PAD本体2的长度因长度不够，会导致其与GGB探针接触不到，而增加GGB探头在测试过程中的移动距离，增加了GGB探头的损伤；本实用新型通过将其长度增加道正常设计长度的120%，保证了GGB探针与PAD的接触良好，从而减少测试过程中的移动，可以大大降低GGB探头的损伤，延长GGB探头寿命，同时，降低insertionloss在测试时因探针也PAD接触不良而导致的误测，提高测试数据的准确性。
实施例3
一种减少GGB探头损耗的PAD，包括设置于PCB板上的PAD本体2和铜箔区1，所述铜箔区1呈匚形，所述PAD本体2位于所述铜箔区1的内侧，其特征在于，所述PAD本体2的长度大于标准长度。
其中标准长度为PAD本体2具备其所需功能的原设计长度。
以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (3)
1.一种减少GGB探头损耗的PAD，包括设置于PCB板上的PAD本体和铜箔区，所述铜箔区呈匚形，所述PAD本体位于所述铜箔区的内侧，其特征在于，所述PAD本体的长度大于原设计长度。
2.根据权利要求1所述的减少GGB探头损耗的PAD，其特征在于，所述PAD本体的长度为原设计长度的120%。
3.根据权利要求2所述的减少GGB探头损耗的PAD，其特征在于，所述PAD本体的宽度与原设计宽度一致。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201820598882.XU CN208239577U (zh) | 2018-04-25 | 2018-04-25 | 减少ggb探头损耗的pad |
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Publications (1)
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| CN208239577U true CN208239577U (zh) | 2018-12-14 |
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ID=64584262
Family Applications (1)
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| CN201820598882.XU Active CN208239577U (zh) | 2018-04-25 | 2018-04-25 | 减少ggb探头损耗的pad |
Country Status (1)
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2018
- 2018-04-25 CN CN201820598882.XU patent/CN208239577U/zh active Active
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Legal Events
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