CN208044006U - 耐压测试治具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供了一种耐压测试治具,包括:操作台,包括多个水平探针和多个竖直探针,所述多个水平探针平行于所述操作台的表面设置,所述多个竖直探针垂直于所述操作台并凸出所述操作台的表面设置;支撑部件,用于支撑和定位待测产品,所述待测产品包括多个引脚,其中,所述多个水平探针设置于所述支撑部件的两侧并且可以远离或者靠近所述支撑部件移动,所述多个竖直探针靠近所述支撑部件并且环绕所述支撑部件的底部设置,每个所述引脚同时与对应的一个所述水平探针和一个所述竖直探针电导通。根据本实用新型提供的耐压测试治具,通过同时检测所有引脚的所能承受的电压值,提升了生产效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及检测技术领域,特别涉及一种耐压测试治具。
背景技术
电子产品中,关键的电连接组件往往具有多个金属针引脚,例如电表的伸出端(如图1所示),引脚所能承受的电压值决定了产品是否合格。在实际生产制造中,引脚承受电压值的检测成为了电表伸出端的生产制造过程中的重要环节。但是由于引脚数量多,并且环绕伸出端的四周设置,在检测过程中非常不便,导致生产效率低。
实用新型内容
本实用新型有鉴于上述的现有状况而完成的,其目的在于提供一种耐压测试治具,通过同时检测所有引脚的所能承受的电压值,提升了生产效率。
为了实现上述目的,本实用新型实施方式提供如下技术方案:
本实用新型提供一种耐压测试治具,包括:操作台,包括多个水平探针和多个竖直探针,所述多个水平探针平行于所述操作台的表面设置,所述多个竖直探针垂直于所述操作台并凸出所述操作台的表面设置;支撑部件,用于支撑和定位待测产品,所述待测产品包括多个引脚,其中,所述多个水平探针设置于所述支撑部件的两侧并且可以远离或者靠近所述支撑部件移动,所述多个竖直探针靠近所述支撑部件并且环绕所述支撑部件的底部设置,每个所述引脚同时与对应的一个所述水平探针和一个所述竖直探针电导通。
其中,所述支撑部件凸设于所述操作台的表面,所述支撑部件具有相对的两个侧壁,所述水平探针贯穿所述侧壁,
其中,所述支撑部件具有多个垂直于所述支撑部件并贯穿所述支撑部件的通孔,用于穿过所述待测产品的所述引脚,所述水平探针贯穿所述侧壁至所述通孔并从侧面与所述引脚接触,所述竖直探针从所述支撑部件的底部垂直于所述支撑部件伸入所述通孔,所述竖直探针与所述引脚的端部接触。
其中,所述支撑部件的两侧还具有移动部,所述移动部可以远离或者靠近所述支撑部移动,所述水平探针贯穿所述移动部后贯穿所述侧壁,所述移动部与所述侧壁之间设有若干弹簧。
其中,所述操作台的表面还设有若干挡块,所述挡块抵持所述移动部并限定所述移动部的位置。
其中,所述支撑部件的两端具有定位柱,用于定位所述待测产品。
其中,还包括压块,所述压块扣装于所述待测产品的表面。
其中,所述支撑部件还包括与所述两个侧壁垂直并且相对设置的支撑块。
根据本实用新型提供的耐压测试治具,通过多个水平探针和多个竖直探针分别与各个引脚接触并形成回路,可以同时对各个引脚进行电压承受能力测试,提升了生产效率。
附图说明
图1示出了伸出端(待测产品)的立体结构示意图;
图2示出了本实用新型的实施方式所涉及的耐压测试治具的立体结构示意图;
图3示出了图2所示的耐压测试治的局部结构示意图;
图4示出了图2所示的耐压测试治的俯视结构示意图;
图5示出了图2所示的耐压测试治的侧视结构示意图;
图6示出了图5所示的耐压测试治的局部结构示意图。
具体实施方式
以下,参考附图,详细地说明本实用新型的优选实施方式。在下面的说明中,对于相同的部件赋予相同的符号,省略重复的说明。另外,附图只是示意性的图,部件相互之间的尺寸的比例或者部件的形状等可以与实际的不同。
如图2、图3和图5所示,本实施方式所涉及的耐压测试治具1包括操作台10和支撑部件20。所述操作台具有表面11。所述操作台包括多个水平探针13和多个竖直探针14。水平探针13平行于操作台10的表面11设置。竖直探针14垂直于操作台10并凸出于所述操作台11的表面设置。所述支撑部件20用于支撑和定位待测产品100。待测产品100具有多个引脚110。多个探针13设置于支撑部件20的两侧,并且可以远离或者靠近支撑部件20移动。多个竖直探针靠近支撑部件20并且环绕支撑部件20的底部设置。每个引脚110同时与对应的一个水平探针13和一个竖直探针14电导通。在这种情况下,水平探针13、引脚110、竖直探针14形成测试回路,可以同时对多个引脚110进行电压承受能力测试,从而提升了检测的效率,进而提升生产效率。
另外,在一些示例中,待测产品可以具有基座120。多个引脚110凸出于基座120的表面并且环绕基座120的四周设置。基座120的两端还可以具有安装孔121。
另外,本实施方式中,操作台10可以大体呈矩形箱体状。
在本实施方式中,如图2和图6所示,支撑部件20凸设于操作台10的表面11。支撑部件20具有相对的两个侧壁22,水平探针13贯穿侧壁22。具体而言,每个侧壁22的外部均设有水平探针13。水平探针13从侧壁22的外部向内贯穿侧壁22。
另外,在本实施方式中,如图6所示,支撑部件20具有多个垂直于支撑部件20并贯穿支撑部件20的通孔19,用于穿过待测产品100的引脚110。水平探针13贯穿侧壁22至通孔19并从侧面与引脚110接触。具体而言,引脚110可以具有杆部和端部,水平探针13从引脚110的侧面与杆部接触。竖直探针14从支撑部件20的底部垂直于支撑部件20伸入通孔19。竖直探针14与引脚110的端部接触。在这种情况下,水平探针13、引脚110与竖直探针14电导通并形成回路,从而可以测试引脚110的耐电压性能。
另外,在本实施方式中,如图3至图5所示,支撑部件20的两侧还具有移动部12。具体而言,移动部12为两个,支撑部20的两侧各对应一个移动部12。移动部12可以远离或者靠近支撑部件20移动。水平探针13贯穿移动部12后贯穿侧壁22。具体而言,移动部12可以具有多个贯通的通孔,水平探针13分别穿过通孔,移动部12可以带动水平探针13靠近或者远离支撑部件20移动。移动部12与侧壁22之间设有若干弹簧15。在这种情况下,弹簧15可以使水平探针13靠近引脚110时承受一定的阻力,避免因移动力过大而损坏引脚110。
在本实施方式中,操作台10的表面11还设有若干挡块17。挡块17抵持移动部12并限定移动部12的位置。具体而言,挡块17可以对应弹簧15所在的位置设置。移动部12位于挡块17与弹簧15之间。
另外,在本实施方式中,支撑部件20的两端可以具有定位柱21,用于定位待测产品100。具体而言,定位柱21可以伸入待测产品100的安装孔121中。在这种情况下,将待测产品100定位。
在本实施方式中,耐压测试治具1还包括压块30。压块30扣装于待测产品100的表面。在这种情况下,可以使引脚110的端部与竖直探针14良好接触。
另外,在一些示例中,再次参见图3,支撑部件20还可以包括与两个侧壁22垂直并且相对设置的支撑块23。支撑块23与侧壁22可以围成“回”字形区域。弹簧15安装在支撑块23上。
以上所述的实施方式,并不构成对该技术方案保护范围的限定。任何在上述实施方式的精神和原则之内所作的修改、等同更换和改进等,均应包含在该技术方案的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种耐压测试治具,其特征在于,包括:
操作台,包括多个水平探针和多个竖直探针,所述多个水平探针平行于所述操作台的表面设置,所述多个竖直探针垂直于所述操作台并凸出所述操作台的表面设置;
支撑部件,用于支撑和定位待测产品,所述待测产品包括多个引脚,
其中,所述多个水平探针设置于所述支撑部件的两侧并且可以远离或者靠近所述支撑部件移动,所述多个竖直探针靠近所述支撑部件并且环绕所述支撑部件的底部设置,每个所述引脚同时与对应的一个所述水平探针和一个所述竖直探针电导通。
2.如权利要求1所述的耐压测试治具,其特征在于,所述支撑部件凸设于所述操作台的表面,所述支撑部件具有相对的两个侧壁,所述水平探针贯穿所述侧壁。
3.如权利要求2所述的耐压测试治具,其特征在于,所述支撑部件具有多个垂直于所述支撑部件并贯穿所述支撑部件的通孔,用于穿过所述待测产品的所述引脚,所述水平探针贯穿所述侧壁至所述通孔并从侧面与所述引脚接触,所述竖直探针从所述支撑部件的底部垂直于所述支撑部件伸入所述通孔,所述竖直探针与所述引脚的端部接触。
4.如权利要求3所述的耐压测试治具,其特征在于,所述支撑部件的两侧还具有移动部,所述移动部可以远离或者靠近所述支撑部移动,所述水平探针贯穿所述移动部后贯穿所述侧壁,所述移动部与所述侧壁之间设有若干弹簧。
5.如权利要求4所述的耐压测试治具,其特征在于,所述操作台的表面还设有若干挡块,所述挡块抵持所述移动部并限定所述移动部的位置。
6.如权利要求1所述的耐压测试治具,其特征在于,所述支撑部件的两端具有定位柱,用于定位所述待测产品。
7.如权利要求1所述的耐压测试治具,其特征在于,还包括压块,所述压块扣装于所述待测产品的表面。
8.如权利要求1所述的耐压测试治具,其特征在于,所述支撑部件还包括与所述两个侧壁垂直并且相对设置的支撑块。
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