CN207817115U - 一种芯片卡座测试仪 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种芯片卡座测试仪,其包括:底座(11)、安装在底座上的测试电路、安装在底座上的用以安放待测试芯片卡座(19)的定位槽(13)、设置在定位槽内的可连通待测试芯片卡座与测试电路的探针组(14)、安装在定位槽上方的可上下往返移动的压杆(1)、固定在压杆底端的压板(2)、通过导线(17)与测试电路连接的测试芯片卡(16),所述测试芯片卡可插入待测试芯片卡座内;本实用新型可以检测SIM和TF卡座管脚之间有无短路、虚焊和开路,测试时只需观察LED灯就可以判别是否为良品,具有通用性强、操作简便、效率高、对操作人员素质要求不高的特点。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子产品测试设备,尤其涉及一种对芯片卡座进行测试的装置。
背景技术
消费电子产品的ID发展越来越薄,在结构设计时有时就需要将SIM卡或TF卡不放在主板上,而单独分开放置,就会有独立的SIM卡和TF卡座。因分离出的SIM卡和TF卡座,在生产制造过程中会出现少量不良品,不良现象主要表现为焊脚短路或开路。这些不良品在生产过程中又没有有效的检测手段来保证品质,组装成品后常常因SIM卡或TF卡座的问题导致功能缺陷,造成成品返工,从而产生极大浪费。
因此有必要提供一种能测试SIM卡和TF卡座的测试装置,让SIM卡和TF卡座在组装前进行测试,保证产品组装的品质,从而保证产品的直通率,提高生产效率。
实用新型内容
本实用新型是要解决现有技术的上述问题,提出一种芯片卡座测试仪。
为解决上述技术问题,本实用新型提出的技术方案是设计一种芯片卡座测试仪,其包括:底座、安装在底座上的测试电路、安装在底座上的用以安放待测试芯片卡座的定位槽、设置在定位槽内的可连通待测试芯片卡座与测试电路的探针组、安装在定位槽上方的可上下往返移动的压杆、固定在压杆底端的压板、通过导线与测试电路连接的测试芯片卡,所述测试芯片卡可插入待测试芯片卡座内。
所述待测试芯片卡座具有设置在卡座内部的可以触接所述测试芯片卡的多个金属弹片、以及伸出卡座外部可焊接在电路板上的多个PIN脚,所述金属弹片与PIN脚一一对应连通,所述PIN脚与所述探针组可对应触接。
所述测试电路具有直流电源模块、选择开关、第一LED灯组、第二LED灯组,所述选择开关将直流电源模块中的直流电源分成第一电源和第二电源并择一送出,第一和第二电源通过所述导线和测试芯片卡连接到待测试芯片卡座上,第一和第二电源向相邻的所述金属弹片交错供电,第一电源连接待测试芯片卡座中一半数量的金属弹片和PIN脚以及第一LED灯组中的LED灯珠,形成多条回路;第二电源连接待测试芯片卡座中另一半数量的金属弹片和PIN脚以及第二LED灯组中的LED灯珠,亦成多条回路。
所述直流电源模块为USB电源插座。
所述待测试芯片卡座为SIM卡座、或TF卡座、或SIM与TF联合卡座;所述测试芯片卡的外形结构采用SIM卡外形结构、和/或TF卡外形结构。
与现有技术相比,本实用新型可以检测SIM和TF卡座管脚之间有无短路、虚焊和开路,测试时只需观察LED灯就可以判别是否为良品,具有通用性强、操作简便、效率高、对操作人员素质要求不高的特点。
附图说明
图1为测试仪结构示意图;
图2为测试仪电路连接示意图;
图3为测试电路的电路图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型作进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
本实用新型揭示了一种芯片卡座测试仪,参看图1示出的测试仪结构示意图,其包括:底座11、安装在底座上的测试电路、安装在底座上的用以安放待测试芯片卡座19的定位槽13、设置在定位槽内的可连通待测试芯片卡座与测试电路的探针组14、安装在定位槽上方的可上下往返移动的压杆1、固定在压杆底端的压板2、通过导线17与测试电路连接的测试芯片卡16,所述测试芯片卡可插入待测试芯片卡座内。
使用时,先将测试芯片卡16插入待测试芯片卡座19内,然后将待测试芯片卡座放入定位槽13中,拉下压杆1,压板2按在待测试芯片卡座的上表面,待测试芯片卡座与探针组14电连接,测试电路通过导线17、测试芯片卡16、探针组14再连接回测试电路,形成测试回路,藉此完成测试。
参看图2示出的电路连接示意图,所述待测试芯片卡座19具有设置在卡座内部的可以触接所述测试芯片卡16的多个金属弹片、以及伸出卡座外部可焊接在电路板上的多个PIN脚,所述金属弹片与PIN脚一一对应连通,所述PIN脚与所述探针组14可对应触接。测试电路通过导线17、测试芯片卡16、金属弹片、PIN脚、探针组14再连接回测试电路,形成回路,从而完成测试。
图3示出了测试电路的电路图,结合图1和图2,所述测试电路具有直流电源模块、选择开关15、第一LED灯组、第二LED灯组,所述选择开关将直流电源模块中的直流电源分成第一电源VCC1和第二电源VCC2并择一送出,第一和第二电源通过所述导线17和测试芯片卡16连接到待测试芯片卡座19上,第一和第二电源向相邻的所述金属弹片交错供电,第一电源连接待测试芯片卡座中一半数量的金属弹片和PIN脚以及第一LED灯组中的LED灯珠,形成多条回路;第二电源连接待测试芯片卡座中另一半数量的金属弹片和PIN脚以及第二LED灯组中的LED灯珠,亦成多条回路。在待测试芯片卡座中金属弹片有多条、且相邻紧密排列,金属弹片通过内部的线路连接相应的PIN脚。由于卡座窄小,内部线路相邻较近,在制作过程中容易出现短路、虚焊和开路等故障。
图3为较佳实施例的电路图,其中的U1为TF卡外形的测试芯片卡,U2为SIM卡外形的测试芯片卡,U3为测试电路连接测试芯片卡的导线17的插头。检测时拨动选择开关(SW1)选通第一电源,第一电源通过一半数量的金属弹片、一半数量的PIN脚、第一LED灯组,形成多条回路。当所检测的金属弹片和PIN脚完好正常时,第一LED灯组中的LED灯珠会被全部点亮(第二LED灯组中的LED灯珠熄灭),如某一回路中的任意点出现虚焊、开路时,相应的回路就会断开,相应的LED灯珠会熄灭;如某一回路与邻近的回路短路时,在第二LED灯组中相应的LED灯珠会被点亮;藉此可以直观的看出待测试芯片卡座是否为良品。检测完第一组回路后,拨动选择开关选通第二电源,第二电源通过另一半数量的金属弹片、另一半数量的PIN脚、第二LED灯组,形成多条回路,即可检测这些回路上的金属弹片和PIN脚是否为良品。
在较佳实施例中,所述直流电源模块为USB电源插座(18),可从外部引入5v直流电源。
所述待测试芯片卡座19为SIM卡座、或TF卡座、或SIM与TF联合卡座。所述SIM与TF联合卡座是一种兼有SIM卡座和TF卡座的卡座,可同时插入SIM卡和TF卡。所述测试芯片卡16的外形结构采用SIM卡外形结构、和/或TF卡外形结构。根据测试仪的测试方案,测试仪可以制成SIM卡座测试仪、或者TF卡座测试仪、或者SIM与TF联合卡座测试仪。
以上实施例仅为举例说明,非起限制作用。任何未脱离本申请精神与范畴,而对其进行的等效修改或变更,均应包含于本申请的权利要求范围之中。
Claims (5)
1.一种芯片卡座测试仪,其特征在于包括:底座(11)、安装在底座上的测试电路、安装在底座上的用以安放待测试芯片卡座(19)的定位槽(13)、设置在定位槽内的可连通待测试芯片卡座与测试电路的探针组(14)、安装在定位槽上方的可上下往返移动的压杆(1)、固定在压杆底端的压板(2)、通过导线(17)与测试电路连接的测试芯片卡(16),所述测试芯片卡可插入待测试芯片卡座内。
2.如权利要求1所述的芯片卡座测试仪,其特征在于:所述待测试芯片卡座(19)具有设置在卡座内部的可以触接所述测试芯片卡(16)的多个金属弹片、以及伸出卡座外部可焊接在电路板上的多个PIN脚,所述金属弹片与PIN脚一一对应连通,所述PIN脚与所述探针组(14)可对应触接。
3.如权利要求2所述的芯片卡座测试仪,其特征在于:所述测试电路具有直流电源模块、选择开关(15)、第一LED灯组、第二LED灯组,所述选择开关将直流电源模块中的直流电源分成第一电源(VCC1)和第二电源(VCC2)并择一送出,第一和第二电源通过所述导线(17)和测试芯片卡(16)连接到待测试芯片卡座(19)上,第一和第二电源向相邻的所述金属弹片交错供电,第一电源连接待测试芯片卡座中一半数量的金属弹片和PIN脚以及第一LED灯组中的LED灯珠,形成多条回路;第二电源连接待测试芯片卡座中另一半数量的金属弹片和PIN脚以及第二LED灯组中的LED灯珠,亦成多条回路。
4.如权利要求3所述的芯片卡座测试仪,其特征在于:所述直流电源模块为USB电源插座。
5.如权利要求1至4任一项所述的芯片卡座测试仪,其特征在于:所述待测试芯片卡座(19)为SIM卡座、或TF卡座、或SIM与TF联合卡座;所述测试芯片卡(16)的外形结构采用SIM卡外形结构、和/或TF卡外形结构。
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CN201820125907.4U CN207817115U (zh) | 2018-01-25 | 2018-01-25 | 一种芯片卡座测试仪 |
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Cited By (1)
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CN108226696A (zh) * | 2018-01-25 | 2018-06-29 | 深圳市恒晨电器有限公司 | 一种芯片卡座测试仪 |
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2018
- 2018-01-25 CN CN201820125907.4U patent/CN207817115U/zh active Active
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