CN220400207U - 一种显示屏测试转接板及测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种显示屏测试转接板及测试装置，该显示屏测试转接板包括PCB板体，设于PCB板体上的显示测试组件及TP测试组件：显示测试组件包括设于PCB板体上的控制芯片模块、点亮测试机接口及显示模块接口；TP测试组件包括分别与控制芯片模块连接的第一测试电路、第二测试电路、第一测试接口及第二测试接口。通过在PCB板体上设置显示测试组件及TP测试组件形成显示屏测试转接板，以实现显示屏的点亮测试及TP触控测试；通过在PCB板体上设置与不同型号芯片TP测试板，对应的测试接口，在测试工序中不需要针对每个新型产品都重新设计治具，通过设置不同的接口即可满足不同芯片TP测试板的对插连接，从而提高测试效率。

Description

一种显示屏测试转接板及测试装置

技术领域

本实用新型涉及显示屏技术领域，特别涉及一种显示屏测试转接板及测试装置。

背景技术

在显示屏的制造过程中，需要对显示屏的功能进行测试，包括LCM显示测试及TP测试等。

现有技术当中，通常测试方法都是通过设计不同的治具，通过接口来连接显示屏，独立进行显示测试或TP测试，而且针对不同厂商的芯片TP，需要采用不同的接口，需要重新针对该芯片TP的测试转接板进行治具设计，测试效率较低。

实用新型内容

针对现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供一种显示屏测试转接板及测试装置，旨在解决现有技术中，测试效率较低的技术问题。

为了实现上述目的，本实用新型是通过如下技术方案来实现的：一种显示屏测试转接板，包括PCB板体，设于PCB板体上的显示测试组件及TP测试组件：所述显示测试组件包括设于所述PCB板体上的控制芯片模块、与所述控制芯片模块连接的点亮测试机接口，及用于连接显示屏的显示模块接口，所述显示测试组件还包括一端连接所述显示模块接口的热插拔开关，所述热插拔开关的另一端通过所述控制芯片模块连接所述点亮测试机接口；所述TP测试组件包括分别与所述控制芯片模块连接的第一测试电路及第二测试电路，所述第一测试电路的一侧设有第一测试接口，所述第二测试电路的一侧设有第二测试接口，所述TP测试组件还包括一端连接所述第一测试电路及所述第二测试电路的继电器，所述继电器的另一端通过所述控制芯片模块连接点亮测试机，所述继电器用于使所述第一测试电路与所述点亮测试机同步供/断电，或使所述第二测试电路与所述点亮测试机同步供/断电。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果在于：通过在PCB板体上设置显示测试组件及TP测试组件形成显示屏测试转接板，以实现显示屏的点亮测试及TP触控测试，显示测试组件包括设于PCB板体上的控制芯片模块、与控制芯片模块连接的点亮测试机接口，及用于连接显示屏的显示模块接口，显示测试组件还包括一端连接显示模块接口的热插拔开关，热插拔开关的另一端通过控制芯片模块连接点亮测试机接口，在需要进行点亮显示测试时，只需将显示屏接入显示模块接口，并在点亮测试机接口处连接点亮测试机，可以实现产品点亮检测各种功能不良，并可以根据客户的需求烧录/VCOM/ID/One Gamma；使产品达到最佳状态效果，当上述热插拔开关未闭合时，点亮测试机上的IOVCC/VSP/VSN三路电源不会上电，只有当热插拔开关闭合后，电量测试机上的各路电源才会上电，可以防止产线作业人员带电操作烧坏产品；TP测试组件包括分别与控制芯片模块连接的第一测试电路及第二测试电路，第一测试电路的一侧设有第一测试接口，第二测试电路的一侧设有第二测试接口，TP测试组件还包括一端连接第一测试电路及第二测试电路的继电器，继电器的另一端通过控制芯片模块连接点亮测试机，继电器用于使第一测试电路与点亮测试机同步供/断电，或使第二测试电路与点亮测试机同步供/断电，通过在PCB板体上设置与不同型号芯片TP测试板，对应的测试接口，在测试工序中不需要针对每个新型产品都重新设计治具，通过设置不同的接口即可满足不同芯片TP测试板的对插连接，从而提高测试效率，同时通过在测试接口与点亮测试机之间设置继电器，当点亮测试机断电时，测试接口处的TP测试板同时断电，当点亮测试机上电时，测试接口处的TP测试板同时上电，可以确保TP测试板具备稳定复位的作用。

根据上述技术方案的一方面，所述TP测试组件还包括设于所述第一测试电路/所述第二测试电路与所述继电器之间的第一TVS管。

根据上述技术方案的一方面，所述TP测试组件还包括设于所述第一测试电路/所述第二测试电路与所述继电器之间的第一保险丝。

根据上述技术方案的一方面，所述显示测试组件还包括设于所述显示模块接口与所述点亮测试机接口之间的电阻。

根据上述技术方案的一方面，所述显示测试组件还包括设于所述显示模块接口与所述点亮测试机接口之间的第二保险丝。

根据上述技术方案的一方面，所述显示测试组件还包括设于所述显示模块接口与所述点亮测试机接口之间的第二TVS管。

根据上述技术方案的一方面，所述第一测试接口为I2C接口，所述第二测试接口为SPI接口。

根据上述技术方案的一方面，所述控制芯片模块设于所述PCB板体右侧上部，所述显示模块接口设于所述控制芯片模块相对一侧，所述点亮测试机接口设于所述控制芯片模块与所述显示模块接口之间，所述TP测试组件设于所述PCB板体的左侧。

根据上述技术方案的一方面，所述点亮测试机接口为40PIN连接器，所述显示模块接口为50PIN连接器，所述第一测试接口为16PIN连接器，所述第一测试接口为14PIN连接器。

另一方面，本实用新型还提供了一种显示屏测试装置，包括上述技术方案中的显示屏测试转接板，还包括与所述点亮测试机接口连接的点亮测试机，及与所述第一测试接口/第二测试接口连接的TP测试板。

附图说明

图1为本实用新型一实施例中显示屏测试转接板的结构示意图；

图2为图1中A部放大图；

图3为图1中B部放大图；

图4为图1中C部放大图；

主要元件符号说明：

控制芯片模块10、点亮测试机接口11、显示模块接口12、热插拔开关13、第一测试接口14、第二测试接口15、继电器16、第一TVS管17、第一保险丝18、第二TVS管19、电阻20、第二保险丝21；

如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本实用新型。

具体实施方式

为了便于理解本实用新型，下面将参照相关附图对本实用新型进行更全面的描述。附图中给出了本实用新型的若干实施例。但是，本实用新型可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本实用新型的公开内容更加透彻全面。

需要说明的是，当元件被称为“固设于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本实用新型。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

请参阅图1，所示为本实用新型第一实施例中的显示屏测试转接板，包括PCB板体，设于PCB板体上的显示测试组件及TP测试组件。

所述显示测试组件包括设于所述PCB板体上的控制芯片模块10、与所述控制芯片模块10连接的点亮测试机接口11，及用于连接显示屏的显示模块接口12，所述显示测试组件还包括一端连接所述显示模块接口12的热插拔开关13，所述热插拔开关13的另一端通过所述控制芯片模块10连接所述点亮测试机接口11。

具体来说，在本实施例中，上述显示模块接口12采用50PIN连接器卡，针对不同型号的显示屏连接，通过更换连接线即可实现全型号产品的连接，上述点亮测试机接口11采用40PIN牛角插座，通过连接点亮测试机，实现产品点亮检测各种功能不良；并可以根据客户的需求烧录/VCOM/ID/One Gamma；使产品达到最佳状态显示效果。

所述TP测试组件包括分别与所述控制芯片模块10连接的第一测试电路及第二测试电路，所述第一测试电路及所述第二测试电路的一端设有继电器16，所述第一测试电路的一侧设有第一测试接口14，所述第二测试电路的一侧设有第二测试接口15，所述TP测试组件还包括一端连接所述第一测试电路及所述第二测试电路的继电器16，所述继电器16的另一端通过所述控制芯片模块10连接点亮测试机，所述继电器16用于使所述第一测试电路与所述点亮测试机同步供/断电，或使所述第二测试电路与所述点亮测试机同步供/断电。

优选地，在本实施例中，上述第一测试接口14为I2C接口，上述第二测试接口15为SPI接口。上述第一测试接口14采用16PIN双排连接器，所述第一测试接口15采用14PIN单排连接器。需要说明地，上述I2C接口及SPI接口均为常用的显示屏接口，针对不同厂商的TP测试板的连接使用，上述第一测试接口14或第二测试接口15还可以为UART接口等，可以理解地，在其中一些实施例中，上述TP测试组件还包括第三测试接口，上述第三测试接口为UART接口。

在本实施例中，上述控制芯片模块10设于所述PCB板体右侧上部，所述显示模块接口12设于所述控制芯片模块10相对一侧，所述点亮测试机接口11设于所述控制芯片模块10与所述显示模块接口12之间，所述TP测试组件设于所述PCB板体的左侧，其中第一测试接口14设于PCB板体的左侧一端，第二测试接口15设于第一测试接口14与控制芯片模块10之间。

在其中一些实施例中，上述TP测试组件还包括设于所述第一测试电路/所述第二测试电路与所述继电器16之间的第一TVS管17。上述第一TVS管17可以防止静电击伤第一测试接口14/第二测试接口15处的TP测试板。

在其中一些实施例中，上述TP测试组件还包括设于所述第一测试电路/所述第二测试电路与所述继电器16之间的第一保险丝18。上述第一保险丝18可以防止电流过大击伤第一测试接口14/第二测试接口15处的TP测试板。

在其中一些实施例中，上述显示测试组件还包括设于所述显示模块接口12与所述点亮测试机接口11之间的电阻20。上述电阻20对显示模块一侧的显示屏进行过流保护。

在其中一些实施例中，上述显示测试组件还包括设于所述显示模块接口12与所述点亮测试机接口11之间的第二保险丝21。上述第二保险丝21可以防止电流过大击伤显示模块接口12一侧的显示屏。

在其中一些实施例中，上述显示测试组件还包括设于所述显示模块接口12与所述点亮测试机接口11之间的第二TVS管19。上述第二TVS管19可以防止静电击伤显示模块接口12一侧的显示屏。

综上，本实用新型上述实施例当中的显示屏测试转接板，通过在PCB板体上设置显示测试组件及TP测试组件形成显示屏测试转接板，以实现显示屏的点亮测试及TP触控测试，显示测试组件包括设于PCB板体上的控制芯片模块10、与控制芯片模块10连接的点亮测试机接口11，及用于连接显示屏的显示模块接口12，显示测试组件还包括一端连接显示模块接口12的热插拔开关13，热插拔开关13的另一端通过控制芯片模块10连接点亮测试机接口11，在需要进行点亮显示测试时，只需将显示屏接入显示模块接口12，并在点亮测试机接口11处连接点亮测试机，可以实现产品点亮检测各种功能不良，并可以根据客户的需求烧录/VCOM/ID/One Gamma；使产品达到最佳状态效果，当上述热插拔开关13未闭合时，点亮测试机上的IOVCC/VSP/VSN三路电源不会上电，只有当热插拔开关13闭合后，电量测试机上的各路电源才会上电，可以防止产线作业人员带电操作烧坏产品；TP测试组件包括分别与控制芯片模块10连接的第一测试电路及第二测试电路16，第一测试电路的一侧设有第一测试接口14，第二测试电路的一侧设有第二测试接口15，TP测试组件还包括一端连接第一测试电路及第二测试电路的继电器16，继电器16的另一端通过控制芯片模块10连接点亮测试机，继电器16用于使第一测试电路与点亮测试机同步供/断电，或使第二测试电路与点亮测试机同步供/断电，通过在PCB板体上设置与不同型号芯片TP测试板，对应的测试接口，在测试工序中不需要针对每个新型产品都重新设计治具，通过设置不同的接口即可满足不同芯片TP测试板的对插连接，从而提高测试效率，同时通过在测试接口与点亮测试机之间设置继电器16，当点亮测试机断电时，测试接口处的TP测试板同时断电，当点亮测试机上电时，测试接口处的TP测试板同时上电，可以确保TP测试板具备稳定复位的作用。

本实用新型的第二实施例还提供了一种显示屏测试装置，包括上述实施例中的显示屏测试转接板，上述显示屏测试装置还包括与点亮测试机接口11连接的点亮测试机，及与所述第一测试接口14/第二测试接口15连接的TP测试板。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种显示屏测试转接板，其特征在于，包括：

PCB板体；

显示测试组件，所述显示测试组件包括设于所述PCB板体上的控制芯片模块、与所述控制芯片模块连接的点亮测试机接口，及用于连接显示屏的显示模块接口，所述显示测试组件还包括一端连接所述显示模块接口的热插拔开关，所述热插拔开关的另一端通过所述控制芯片模块连接所述点亮测试机接口；

TP测试组件，所述TP测试组件包括分别与所述控制芯片模块连接的第一测试电路及第二测试电路，所述第一测试电路的一侧设有第一测试接口，所述第二测试电路的一侧设有第二测试接口，所述TP测试组件还包括一端连接所述第一测试电路及所述第二测试电路的继电器，所述继电器的另一端通过所述控制芯片模块连接点亮测试机，所述继电器用于使所述第一测试电路与所述点亮测试机同步供/断电，或使所述第二测试电路与所述点亮测试机同步供/断电。

2.根据权利要求1所述的显示屏测试转接板，其特征在于，所述TP测试组件还包括设于所述第一测试电路/所述第二测试电路与所述继电器之间的第一TVS管。

3.根据权利要求1所述的显示屏测试转接板，其特征在于，所述TP测试组件还包括设于所述第一测试电路/所述第二测试电路与所述继电器之间的第一保险丝。

4.根据权利要求1所述的显示屏测试转接板，其特征在于，所述显示测试组件还包括设于所述显示模块接口与所述点亮测试机接口之间的电阻。

5.根据权利要求1所述的显示屏测试转接板，其特征在于，所述显示测试组件还包括设于所述显示模块接口与所述点亮测试机接口之间的第二保险丝。

6.根据权利要求1所述的显示屏测试转接板，其特征在于，所述显示测试组件还包括设于所述显示模块接口与所述点亮测试机接口之间的第二TVS管。

7.根据权利要求1所述的显示屏测试转接板，其特征在于，所述第一测试接口为I2C接口，所述第二测试接口为SPI接口。

8.根据权利要求1-7任一项所述的显示屏测试转接板，其特征在于，所述控制芯片模块设于所述PCB板体右侧上部，所述显示模块接口设于所述控制芯片模块相对一侧，所述点亮测试机接口设于所述控制芯片模块与所述显示模块接口之间，所述TP测试组件设于所述PCB板体的左侧。

9.根据权利要求8所述的显示屏测试转接板，其特征在于，所述点亮测试机接口为40PIN连接器，所述显示模块接口为50PIN连接器，所述第一测试接口为16PIN连接器，所述第一测试接口为14PIN连接器。

10.一种显示屏测试装置，其特征在于，包括根据权利要求1-9任一项所述的显示屏测试转接板，所述显示屏测试装置还包括与所述点亮测试机接口连接的点亮测试机，及与所述第一测试接口/第二测试接口连接的TP测试板。