CN207516471U - 基于紧缩场的天线测量系统 - Google Patents

基于紧缩场的天线测量系统 Download PDF

Info

Publication number
CN207516471U
CN207516471U CN201721661562.6U CN201721661562U CN207516471U CN 207516471 U CN207516471 U CN 207516471U CN 201721661562 U CN201721661562 U CN 201721661562U CN 207516471 U CN207516471 U CN 207516471U
Authority
CN
China
Prior art keywords
reflecting plate
turntable
measurement system
under test
device under
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201721661562.6U
Other languages
English (en)
Inventor
陈奕铭
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to CN201721661562.6U priority Critical patent/CN207516471U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN207516471U publication Critical patent/CN207516471U/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

本实用新型涉及一种基于紧缩场的天线测量系统,包括:安装架;承载于所述安装架并按照预定角度倾斜设置的反射板,所述反射板朝向地面一侧为反射面;承载于地面且位于所述反射板下方、用于承载待测器件的转台;以及,承载于所述安装架的一侧、用于向所述反射板发射检测信号的馈源,所述检测信号经反射板反射后辐射至待测器件上。本实用新型的基于紧缩场的天线测量系统可对大型的待测器件进行检测,同时待测器件直接放置在转台的承载面上即可进行测试,而无需使用夹具进行夹持固定,因此在更换测量面时省去了固定待测器件的过程,使测量过程更加快捷方便,尤其是对于PCB板等被测器件,进行大批量测试时更加方便。

Description

基于紧缩场的天线测量系统
技术领域
本实用新型涉及天线测试技术领域,更具体地说,它涉及一种基于紧缩场的天线测量系统。
背景技术
紧缩场测量技术是为解决室外远场测量遇到的对准困难、保密性差、测量对气候条件要求高等问题而提出的一种测量方式。
由于远场天线测量的条件是要使天线表面的最大相位差达到22.5°,即要使待测天线的最小距离大于临界值,这个距离随着天线运行频率的上升而不断增大。同时,在室外远场测量经常会遇到的对准困难、保密性差、测量对气候条件要求高等问题,由此提出了紧缩场测量技术以应对上述问题。
如图1所示,现有的紧缩场测量系统主要包括:反射板2、馈源4和转台3,反射板2垂直于地面以一定角度倾斜放置,其朝向转台3的一侧为反射面21,被测物通过夹具固定在转台3上。在使用的过程中,为了保证被测物放置于静区内,转台3载物面需要与地面保持一定的高度,由于一般紧缩场所用转台3承重杆承载能力在30KG以内,受转台3承重杆承载能力的限制,无法将大型被测物置于转台3上进行测试。同时,在测试时,天线每测试一个面需要重新固定一次被测物,操作较为繁琐,特别是对于PCB板等被测物每次测试需要借助夹具将其竖直固定于转台3上并使被侧面朝向反射面21,操作十分繁琐。
实用新型内容
针对现有技术存在的不足,本实用新型实施例的目的在于提供一种基于紧缩场的天线测量系统,具有承载能力好、操作简单的优点。
本实用新型实施例的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的:一种基于紧缩场的天线测量系统,包括:
安装架;
承载于所述安装架并按照预定角度倾斜设置的反射板,所述反射板朝向地面一侧为反射面;
承载于地面且位于所述反射板下方、用于承载待测器件的转台;
承载于所述安装架的一侧、用于向所述反射板发射检测信号的馈源,所述检测信号经反射板反射后辐射至待测器件上。
通过采用上述技术方案,安装架用于安装反射板和馈源,检测时,将待测器件放置在由馈源向反射板发射检测信号,经反射面反射后辐射至待测器件上,对待测器件进行测试;由于将转台设置在反射板的下方,测量静区的为转台和反射板所在的空间范围内,因此无需使待测器件与地面保持一定的高度,由此转台可选用承载能力更佳的转台,因此可对大型的待测器件进行检测,同时待测器件直接放置在转台的承载面上即可进行测试,而无需使用夹具进行夹持固定,因此在更换测量面时省去了固定待测器件的过程,使测量过程更加快捷方便,尤其是对于PCB板等被测器件,进行大批量测试时更加方便。
进一步的,所述安装架包括:竖直布置且位于所述转台两侧的立架;以及,承载于两所述立架的横架;所述反射板承载于横架,所述馈源承载于所述立架。
通过采用上述技术方案,使安装架具有较佳的承载能力,提高了反射板的稳定性。
进一步的,所述馈源位于所述转台的承载面所在平面以上。
通过采用上述技术方案,减少了馈源对待测器件的信号干扰。
进一步的,所述馈源采用标准喇叭天线。
通过采用上述技术方案,选用标准喇叭天线作为馈源,可以在照射角范围内能提供均匀的辐射方向图。
进一步的,所述标准喇叭天线可选用如下结构中的一种或多种组合使用:波纹喇叭天线或圆锥喇叭天线。
通过采用上述技术方案,选用波纹喇叭或圆锥喇叭作为馈源,其极化纯度高,各截面一致性好,轴对称性好,有利于测试场地的幅相均匀性。
进一步的,所述反射面呈卷边状或锯齿状。
通过采用上述技术方案,可以形成边缘衍射效应以提高静区的测试性能。
进一步的,所述安装架上布设有吸波结构。
通过采用上述技术方案,由吸波结构吸收外界杂波,使检测环境更加纯净,提高检测结果的精确度。
进一步的,所述转台采用车载转台。
通过采用上述技术方案,使转台具有较好的承载能力。
综上所述,本实用新型具有以下有益效果:
其一,如上设置,转台可选用承载能力更佳的转台,因此可对大型的待测器件进行检测;
其二,如上设置,将待测器件直接放置在转台的承载面上即可进行测试,而无需使用夹具进行夹持固定,因此在更换测量面时省去了固定待测器件的过程,使测量过程更加快捷方便,尤其是对于PCB板等被测器件,进行大批量测试时更加方便。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为现有技术中紧缩场测试系统的结构示意图;
图2为本实用新型实施例的主视图;
图3为本实用新型实施例的结构示意图。
图中:1、安装架;11、立架;12、横架;2、反射板;21、反射面;3、转台;4、馈源;5、吸波结构。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
实施例:
一种基于紧缩场的天线测量系统,如图1所示,包括:安装架1;承载于所安装架1并按照预定角度倾斜设置的反射板2,反射板2朝向地面一侧为反射面21;承载于地面且位于反射板2下方、用于承载待测器件的转台3;以及,承载于安装架1的一侧、用于向反射板2发射检测信号的馈源4,检测信号经反射板2反射后辐射至待测器件上。
具体的,安装架1包括:竖直布置且位于转台3两侧的立架11;以及,承载于两立架11的横架12;立架11放置在地面上或通过螺栓固定在地面上,横架12通过焊接或螺栓连接的方式与立架11相固定,立架11与横架12均为钢架结构,从而具有较佳的承载能力,对反射板2形成稳定的支撑。
反射板2固定在横架12上,在横架12上靠近中间的部分焊接有固定柱,反射板2通过螺栓固定在固定柱上,反射板2的倾斜角度根据转台3与馈源4的安装位置确定,能够使馈源4发出的检测信号经反射板2反射后基本垂直的辐射在转台3的承载面上即可;反射面21呈卷边状或锯齿状,从而可以形成边缘衍射效应以提高静区的测试性能。
转台3具有至少一个自由度,即可在水平面内进行360°转动,其通常包括驱动机构和载台,驱动机构为电机齿轮驱动机构,通过驱动组件驱动载台转动,如可采用承载能力较好的车载转台,转台3的结构为现有技术,在此不作赘述。
馈源4通过安装支架固定在一侧的立柱上,其安装位置位于转台3的承载面所在平面以上,从而减少了馈源4对待测器件的信号干扰;馈源4采用标准喇叭天线,可选用如下结构中的一种或多种组合使用:波纹喇叭天线或圆锥喇叭天线,本实施例中选用波纹喇叭天线,其极化纯度高,各截面一致性好,轴对称性好,有利于测试场地的幅相均匀性。
本实施例的天线测量系统通常设置在暗室中,且为了减少外界杂波的干扰,保持检测环境的纯净度,在安装架1上和转台3四周的地面上均布设有吸波结构5,吸波结构5由锯齿状的吸波材料制成。
检测时,将待测器件放置在由馈源4向反射板2发射检测信号,经反射面21反射后辐射至待测器件上,对待测器件进行测试;由于将转台3设置在反射板2的下方,测量静区的为转台3和反射板2所在的空间范围内,因此无需使待测器件与地面保持一定的高度,由此转台3可选用承载能力更佳的转台3,因此可对大型的待测器件进行检测,同时待测器件直接放置在转台3的承载面上即可进行测试,而无需使用夹具进行夹持固定,因此在更换测量面时省去了固定待测器件的过程,使测量过程更加快捷方便,尤其是对于PCB板等被测器件,进行大批量测试时更加方便。
在上述实施例中,对各个实施例的描述各有侧重,某个实施例中没有详述的部分,可以参见其他实施例的相关描述。
需要说明的是,对于前述的各方法实施例,为了简单描述,故将其都表述为一系列的动作组合,但是本领域技术人员应该知悉,本实用新型并不受所描述的动作顺序的限制,因为依据本实用新型,某些步骤可能采用其他顺序或者同时进行。其次,本领域技术人员也应该知悉,说明书中所描述的实施例均属于优选实施例,所述涉及的动作和模块并不一定是本实用新型所必须的。
本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的装置,可通过其他的方式实现。例如,以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如上述单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或通信连接可以是通过一些接口,装置或单元之间的间接耦合或通信连接,可以是电信或者其它的形式。
上述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
以上所述,以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案,而并非对其限制;尽管参照前述实施例对本实用新型进行详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (8)

1.一种基于紧缩场的天线测量系统,其特征在于,包括:
安装架(1);
承载于所述安装架(1)并按照预定角度倾斜设置的反射板(2),所述反射板(2)朝向地面一侧为反射面(21);
承载于地面且位于所述反射板(2)下方、用于承载待测器件的转台(3);
承载于所述安装架(1)的一侧、用于向所述反射板(2)发射检测信号的馈源(4),所述检测信号经反射板(2)反射后辐射至待测器件上。
2.根据权利要求1所述的基于紧缩场的天线测量系统,其特征在于,所述安装架(1)包括:竖直布置且位于所述转台(3)两侧的立架(11);以及,承载于两所述立架(11)的横架(12);所述反射板(2)承载于横架(12),所述馈源(4)承载于所述立架(11)。
3.根据权利要求2所述的基于紧缩场的天线测量系统,其特征在于,所述馈源(4)位于所述转台(3)的承载面所在平面以上。
4.根据权利要求1或2或3所述的基于紧缩场的天线测量系统,其特征在于,所述馈源(4)采用标准喇叭天线。
5.根据权利要求4所述的基于紧缩场的天线测量系统,其特征在于,所述标准喇叭天线可选用如下结构中的一种或多种组合使用:波纹喇叭天线或圆锥喇叭天线。
6.根据权利要求1或2所述的基于紧缩场的天线测量系统,其特征在于,所述反射面(21)呈卷边状或锯齿状。
7.根据权利要求1或2所述的基于紧缩场的天线测量系统,其特征在于,所述安装架(1)上布设有吸波结构(5)。
8.根据权利要求1或2所述的基于紧缩场的天线测量系统,其特征在于,所述转台(3)采用车载转台。
CN201721661562.6U 2017-12-04 2017-12-04 基于紧缩场的天线测量系统 Active CN207516471U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201721661562.6U CN207516471U (zh) 2017-12-04 2017-12-04 基于紧缩场的天线测量系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201721661562.6U CN207516471U (zh) 2017-12-04 2017-12-04 基于紧缩场的天线测量系统

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN207516471U true CN207516471U (zh) 2018-06-19

Family

ID=62543333

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201721661562.6U Active CN207516471U (zh) 2017-12-04 2017-12-04 基于紧缩场的天线测量系统

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN207516471U (zh)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN105866661A (zh) Pcba定位检测装置及检测机构
CN102589492B (zh) 一种大型曲面柔性检测装置
CN104637427A (zh) 检测治具
CN1700026A (zh) 检测导线故障的装置和方法
CN105842340A (zh) 油轮锚链无损检测装置及其检测方法
CN205643630U (zh) Pcba定位检测装置及检测机构
CN112946593A (zh) 毫米波雷达测试系统及方法
CN205157664U (zh) 一种多功能电磁兼容测试实验室
CN207516471U (zh) 基于紧缩场的天线测量系统
CN102478456B (zh) 一种用于测量滤光片透光率的工装夹具
CN109901312A (zh) 一种显示面板cell段的检测设备
CN108982601A (zh) 一种焊点检测设备和方法
CN107479226A (zh) 便携式缺陷检测仪
CN112197801A (zh) 机器人保险杠测试装置及测试设备
CN206066294U (zh) 裙板支架定位装置
CN205539808U (zh) 一种液晶屏测试工装
CN208239754U (zh) 一种屏幕检测装置
CN202452962U (zh) 一种大型曲面柔性检测装置
CN219015228U (zh) 一种验孔机检查检视装置
CN106323146A (zh) 一种用于l形弧形折弯件的检测装置
KR20150132679A (ko) 표시 패널의 검사 장치
CN105467175A (zh) 一种角度可调测试机
CN104698310A (zh) 一种双系统fpc测试装置及其测试方法
CN205593491U (zh) 光学检测装置
CN209485410U (zh) 一种多功能手机外观检测机构

Legal Events

Date Code Title Description
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant