CN207320063U - 一种芯片测试压块衬套防呆设计结构 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，包括测试压块本体，所述测试压块本体中间位置设有测试压头，所述测试压头外围设有梅花纹路，所述梅花纹路顶部设有连接块，所述连接块两侧分别设有腰型定位孔、圆形定位孔，所述腰型定位孔一侧设有第一衬套，所述圆形定位孔一侧设有第二衬套，所述第一衬套上设有第一衬套孔，所述第二衬套上设有第二衬套孔，所述第一衬套、第二衬套上均安装孔，所述测试压块本体四角均设置有凹槽，所述凹槽一侧均设置有螺纹安装孔，整体设计结构合理，不易磨损，减少材料成本及机器的有效使用率，两边衬套设为不同尺寸，进行防呆，便于辨识。

Description

一种芯片测试压块衬套防呆设计结构

技术领域

本实用新型涉及一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，属于IC检测技术领域。

背景技术

集成电路(integrated circuit)是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步，防呆(日语：ポカヨケ；英语：Fool-proofing)是一种预防矫正的行为约束手段，运用避免产生错误的限制方法，让操作者不需要花费注意力、也不需要经验与专业知识即可直接无误地完成正确的操作，在工业设计上，为了避免使用者的操作失误造成机器或人身伤害(包括无意识的动作或下意识的误动作或不小心的肢体动作)，会有针对这些可能发生的情况来做预防措施，称为防呆，现有的芯片测试压块是通过孔与导向PIN来对中测试，无方向性，易装错，现有技术的缺点/不足：孔易磨损，导致芯片测试偏位；无方向性，易装错，无法正确测试。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题克服现有的缺陷，提供一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，结构合理，不易磨损，减少材料成本及机器的有效使用率，两边衬套设为不同尺寸，进行防呆，便于辨识，可以有效解决背景技术中的问题。

为了解决上述技术问题，本实用新型提供了如下的技术方案：

一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，包括测试压块本体，所述测试压块本体中间位置设有测试压头，所述测试压头外围设有梅花纹路，所述梅花纹路顶部设有连接块，所述连接块两侧分别设有腰型定位孔、圆形定位孔，所述腰型定位孔一侧设有第一衬套，所述第一衬套上设有第一衬套孔，所述第二衬套上设有第二衬套孔，所述第一衬套、第二衬套上均设有安装孔，所述测试压块本体四角均设置有凹槽，所述凹槽一侧均设置有螺纹安装孔。

进一步而言，所述第一衬套、第二衬套均为聚四氟乙烯材质，且底部设有磨砂结构。

进一步而言，所述凹槽、螺纹安装孔的数目均为四个。

进一步而言，所述安装孔、螺纹安装孔均为沉头螺纹孔。

进一步而言，所述第一衬套上第一衬套孔的直径为12mm，所述第二衬套上第二衬套孔的直径为14mm。

本实用新型有益效果：一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，通过设置腰型定位孔以及圆形定位孔，通过在测试压头两侧设置第一衬套、第二衬套，两边衬套设置为不同尺寸，便于辨识，防呆效果好，通过将测试压块本体四角切除形成凹槽，节省了材料，节约了成本，利用设有磨砂结构的聚四氟乙烯材质的第一衬套和第二衬套提高了整体的耐磨性能，有效解决了孔易磨损导致芯片测试偏位的问题，使用寿命更长，检测精度更高，与现有技术相比，本设计结构简单合理，制造安装方便，便于区分方向，防呆效果好，不容易损坏。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。

图1是本实用新型一种芯片测试压块衬套防呆设计结构结构图。

图2是本实用新型一种芯片测试压块衬套防呆设计结构左视图。

图中标号：1、测试压块本体；2、测试压头；3、梅花纹路；4、腰型定位孔； 5、圆形定位孔；6、第一衬套；7、第二衬套；8、第一衬套孔；9、安装孔；10、螺纹安装孔；11、凹槽；12、连接块；13、第二衬套孔。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

如图1-2所示，一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，包括测试压块本体1，所述测试压块本体1中间位置设有测试压头2，用于固定待测试芯片，所述测试压头2外围设有梅花纹路3，便于芯片的分离，相比于平面结构更容易分离，所述梅花纹路3顶部设有连接块12，所述连接块12两侧分别设有腰型定位孔4、圆形定位孔5，所述腰型定位孔4一侧设有第一衬套6，所述圆形定位孔5一侧设有第二衬套7过设置腰型定位孔4以及圆形定位孔5，通过在测试压头2两侧设置第一衬套6、第二衬套7，两边衬套设置为不同尺寸，便于辨识，防呆效果好，所述第一衬套6上设有第一衬套孔8，所述第二衬套7上设有第二衬套孔13，所述第一衬套6、第二衬套7上均设有安装孔9，所述测试压块本体1四角均设置有凹槽11，所述凹槽11一侧均设置有螺纹安装孔10，便于整体的安装。

更具体而言，所述第一衬套6、第二衬套7均为聚四氟乙烯材质，且底部设有磨砂结构，耐磨性能较好，有效解决了孔易磨损导致芯片测试偏位的问题，使用寿命更长，所述凹槽11、螺纹安装孔10的数目均为四个，所述安装孔9、螺纹安装孔10均为沉头螺纹孔，防止干涉，所述第一衬套6上第一衬套孔8的直径为12mm，所述第二衬套7上第二衬套孔13的直径为14mm，两边衬套设置为不同尺寸，便于辨识，防呆效果好。

本实用新型改进于：一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，通过设置腰型定位孔4以及圆形定位孔5，通过在测试压头2两侧设置第一衬套6、第二衬套7，两边衬套设置为不同尺寸，便于辨识，防呆效果好，通过将测试压块本体1四角切除形成凹槽11，节省了材料，节约了成本，利用设有磨砂结构的聚四氟乙烯材质的第一衬套6和第二衬套7提高了整体的耐磨性能，有效解决了孔易磨损导致芯片测试偏位的问题，使用寿命更长，检测精度更高，与现有技术相比，本设计结构简单合理，制造安装方便，便于区分方向，防呆效果好，不容易损坏。

以上为本实用新型较佳的实施方式，本实用新型所属领域的技术人员还能够对上述实施方式进行变更和修改，因此，本实用新型并不局限于上述的具体实施方式，凡是本领域技术人员在本实用新型的基础上所作的任何显而易见的改进、替换或变型均属于本实用新型的保护范围。

Claims (5)

1.一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，包括测试压块本体(1)，其特征在于：所述测试压块本体(1)中间位置设有测试压头(2)，所述测试压头(2)外围设有梅花纹路(3)，所述梅花纹路(3)顶部设有连接块(12)，所述连接块(12)两侧分别设有腰型定位孔(4)、圆形定位孔(5)，所述腰型定位孔(4)一侧设有第一衬套(6)，所述圆形定位孔(5)一侧设有第二衬套(7)，所述第一衬套(6)上设有第一衬套孔(8)，所述第二衬套(7)上设有第二衬套孔(13)，所述第一衬套(6)、第二衬套(7)上均设有安装孔(9)，所述测试压块本体(1)四角均设置有凹槽(11)，所述凹槽(11)一侧均设置有螺纹安装孔(10)。

2.根据权利要求1所述一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，其特征在于：所述第一衬套(6)、第二衬套(7)均为聚四氟乙烯材质，且底部设有磨砂结构。

3.根据权利要求1所述一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，其特征在于：所述凹槽(11)、螺纹安装孔(10)的数目均为四个。

4.根据权利要求1所述一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，其特征在于：所述安装孔(9)、螺纹安装孔(10)均为沉头螺纹孔。

5.根据权利要求1所述一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，其特征在于：所述第一衬套(6)上第一衬套孔(8)的直径为12mm，所述第二衬套(7)上第二衬套孔(13)的直径为14mm。