CN207300544U - 一种dfb激光器测试装置 - Google Patents
一种dfb激光器测试装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN207300544U CN207300544U CN201720914691.5U CN201720914691U CN207300544U CN 207300544 U CN207300544 U CN 207300544U CN 201720914691 U CN201720914691 U CN 201720914691U CN 207300544 U CN207300544 U CN 207300544U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- distributed feedback
- platform
- feedback laser
- liv
- dimensional
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
实用新型涉及一种DFB激光器测试装置，包括一维移动台、设置于一维移动台上的二维调节台以及设置于二维调节台上的光电探测器和光纤透镜；所述二维调节台旁侧正对设有一散热台，所述散热台上安装有半导体制冷器，所述半导体制冷器的热端设有加热铜块，一个以上的DFB激光器沿着一维移动台的移动方向间隔设置于加热铜块上，并且正对光电探测器设置；还包括设置于一维移动台旁侧的光谱仪、电流源、LIV测试仪和PC机，所述电流源连接所述半导体制冷器和DFB激光器，所述光纤透镜与光谱仪连接，所述光电探测器与一LIV测试仪连接，所述LIV测试仪与PC机连接。本实用新型的有益效果在于：实现DFB激光器室温和高温下LIV曲线和光谱特性的自动测试。
Description
技术领域
本实用新型涉及激光器测试领域，尤其涉及一种DFB激光器测试装置。
背景技术
半导体激光器具有体积小、重量轻、寿命长、易于集成等显著特点，它的应用范围随着光通信产业的发展而更加广泛，DFB-LD（分布反馈半导体激光器）内藏光栅结构，在单色型和稳定性方面优于一般的LD（半导体激光器），可以实现动态单模，是实现高速大容量通信的基础。对于折射率耦合型DFB-LD来说由于光栅制作的工艺质量以及由于端面解离而产生的随机相位导致其成品率低，容易产生多模激射，在光谱上表现从单模到多模的跳变，在器件的电流-电压-光强曲线（LIV）上表现为Kink跳变点，因此需要在测试上将不良品剔除。
目前常规外购的测试台，价格昂贵，同时多数只适合室温测试，无法实现高温测试。
发明内容
本实用新型的目的是针对以上不足之处，提供了一种DFB激光器测试装置，实现高温下进行激光器的性能测试。
本实用新型解决技术问题所采用的方案是：一种DFB激光器测试装置，包括一维移动台、设置于一维移动台上的二维调节台以及设置于二维调节台上的光电探测器和光纤透镜；所述二维调节台旁侧正对设有一散热台，所述散热台上安装有半导体制冷器，所述半导体制冷器的热端设有加热铜块，一个以上的DFB激光器沿着一维移动台的移动方向间隔设置于加热铜块上，并且正对光电探测器设置；还包括设置于一维移动台旁侧的光谱仪、电流源、LIV测试仪、PC机， 所述电流源连接所述半导体制冷器和DFB激光器，所述光纤透镜与光谱仪连接，所述光电探测器与一LIV测试仪连接，所述LIV测试仪与PC机连接。
进一步的，所述加热铜块上设有若干个用于夹持DFB激光器的夹持卡块，所述夹持卡块与DFB激光器一一对应设置。
进一步的，所述光纤透镜和光电探测器分别经一夹持件固定于所述二维调节台上。
进一步的，所述一维移动台为横向丝杆机构，所述二维调节台包括纵向丝杆机构和竖向丝杆机构，所述纵向丝杆机构设置于横向设置机构的滑块上，所述竖向丝杆机构设置于纵向丝杆机构的滑块上，所述光纤透镜和光电探测器设置于竖向丝杆机构的滑块上。
与现有技术相比，本实用新型有以下有益效果：本实用新型采用自主搭建的测试装置，实现DFB激光器室温和高温下LIV 曲线和光谱特性的自动测试，搭建测试系统价格与外购相比成本低，能有效解决DFB的室温和高温测试问题。
附图说明
下面结合附图对本实用新型专利进一步说明。
图1为本实用新型实施例的测试装置的结构示意图。
图2为本实用新型实施例的测试装置的主视图。
图中：1-一维移动台；2-二维调节台；3-光电探测器；4-光纤透镜；5-散热台；6-半导体制冷器；7-DFB激光器；8-加热铜块；9-光谱仪；10-LIV测试仪；11-PC机。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式对本实用新型进一步说明。
如图1～2所示，本实施例的一种DFB激光器7测试装置，包括一维移动台1、设置于一维移动台1上的二维调节台2以及设置于二维调节台2上的光电探测器3和光纤透镜4；所述二维调节台2旁侧正对设有一散热台5，所述散热台5上安装有半导体制冷器6，所述半导体制冷器6的热端设有加热铜块，一个以上的DFB激光器7沿着一维移动台1的移动方向间隔设置于加热铜块上，并且正对光电探测器3设置；还包括设置于一维移动台1旁侧的光谱仪8、电流源、LIV测试仪9和PC机10， 所述电流源连接所述半导体制冷器6和DFB激光器7，所述光纤透镜4与光谱仪8连接，所述光电探测器3与一LIV测试仪9连接，所述LIV测试仪9与PC机10连接。
从上述可知，本实用新型的有益效果在于：电流源输出电流，DFB激光器7发出光，由光电探测器3接收对应DFB激光器7发出的光电流，光电探测器3将接收到的光电流传输至LIV测试仪9，输出LIV曲线，可以在PC机10中显示及分析；同时通过一维移动台1，切换光纤透镜4接收光信号，传输至光谱仪8中，获取对应DFB的光谱；通过调整一维移动台1和二维调节台2一侧对DFB激光器7进行测试；通过电流源输出电流控制半导体制冷器6进行加热，通过加热铜块进行传热，分别测试每个DFB激光器7在常温和不同温度下的LIV曲线和光谱。
在本实施例中，所述加热铜块上设有若干个用于夹持DFB激光器7的夹持卡块，所述夹持卡块与DFB激光器7一一对应设置。通过夹持卡块分别夹持每个DFB激光器7，可以实现多个DFB激光器7一起测量，提高测量的效率。
在本实施例中，所述光纤透镜4和光电探测器3分别经一夹持件固定于所述二维调节台2上。
在本实施例中，所述一维移动台1为横向丝杆机构，所述二维调节台2包括纵向丝杆机构和竖向丝杆机构，所述纵向丝杆机构设置于横向设置机构的滑块上，所述竖向丝杆机构设置于纵向丝杆机构的滑块上，所述光纤透镜4和光电探测器3设置于竖向丝杆机构的滑块上。通过调整一维移动台1和二维调节台2实现光电探测器3和光纤透镜4的切换测量，并且通过移动一维移动台1实现对每个DFB激光器7的测量。
综上所述，本实用新型提供的一种DFB激光器测试装置，结构简单，易于操作，成本低，可以实现DFB激光器室温和高温下LIV 曲线和光谱特性的自动测试。
上列较佳实施例，对本实用新型的目的、技术方案和优点进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (4)
1.一种DFB激光器测试装置，其特征在于：包括一维移动台、设置于一维移动台上的二维调节台以及设置于二维调节台上的光电探测器和光纤透镜；所述二维调节台旁侧正对设有一散热台，所述散热台上安装有半导体制冷器，所述半导体制冷器的热端设有加热铜块，一个以上的DFB激光器沿着一维移动台的移动方向间隔设置于加热铜块上，并且正对光电探测器设置；还包括设置于一维移动台旁侧的光谱仪、电流源、LIV测试仪和PC机，所述电流源连接所述半导体制冷器和DFB激光器，所述光纤透镜与光谱仪连接，所述光电探测器与一LIV测试仪连接，所述LIV测试仪与PC机连接。
2.根据权利要求1所述的一种DFB激光器测试装置，其特征在于：所述加热铜块上设有若干个用于夹持DFB激光器的夹持卡块，所述夹持卡块与DFB激光器一一对应设置。
3.根据权利要求1所述的一种DFB激光器测试装置，其特征在于：所述光纤透镜和光电探测器分别经一夹持件固定于所述二维调节台上。
4.根据权利要求3所述的一种DFB激光器测试装置，其特征在于：所述一维移动台为横向丝杆机构，所述二维调节台包括纵向丝杆机构和竖向丝杆机构，所述纵向丝杆机构设置于横向设置机构的滑块上，所述竖向丝杆机构设置于纵向丝杆机构的滑块上，所述光纤透镜和光电探测器设置于竖向丝杆机构的滑块上。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201720914691.5U CN207300544U (zh) | 2017-07-26 | 2017-07-26 | 一种dfb激光器测试装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201720914691.5U CN207300544U (zh) | 2017-07-26 | 2017-07-26 | 一种dfb激光器测试装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN207300544U true CN207300544U (zh) | 2018-05-01 |
Family
ID=62447455
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201720914691.5U Active CN207300544U (zh) | 2017-07-26 | 2017-07-26 | 一种dfb激光器测试装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN207300544U (zh) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109765473A (zh) * | 2019-01-14 | 2019-05-17 | 武汉光迅科技股份有限公司 | 一种大功率激光器测试系统及方法 |
| CN109975642A (zh) * | 2019-05-22 | 2019-07-05 | 北京中创为南京量子通信技术有限公司 | 一种dfb激光器的测试装置及其测试方法 |
| CN110646725A (zh) * | 2019-09-02 | 2020-01-03 | 深圳市极致兴通科技有限公司 | 一种激光器芯片半成品的快速测试装置及测试方法 |
| CN111224542A (zh) * | 2019-12-09 | 2020-06-02 | 北京航空航天大学 | 一种应用于小型化serf磁强计激光器电流源的电源模块 |
| CN111595558A (zh) * | 2020-06-15 | 2020-08-28 | 江苏飞格光电有限公司 | 5g／6g用光器件全温自动测试系统和方法 |
| CN111880087A (zh) * | 2020-09-28 | 2020-11-03 | 上海菲莱测试技术有限公司 | 一种激光器芯片老化和liv测试检测方法、系统 |
| CN111880080A (zh) * | 2020-07-31 | 2020-11-03 | 苏州猎奇智能设备有限公司 | 一种芯片光电测试机构及其测试方法 |
| CN114964726A (zh) * | 2022-07-27 | 2022-08-30 | 北京凯普林光电科技股份有限公司 | 一种激光器组件高温自动测试载具 |
-
2017
- 2017-07-26 CN CN201720914691.5U patent/CN207300544U/zh active Active
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109765473A (zh) * | 2019-01-14 | 2019-05-17 | 武汉光迅科技股份有限公司 | 一种大功率激光器测试系统及方法 |
| CN109975642A (zh) * | 2019-05-22 | 2019-07-05 | 北京中创为南京量子通信技术有限公司 | 一种dfb激光器的测试装置及其测试方法 |
| CN110646725A (zh) * | 2019-09-02 | 2020-01-03 | 深圳市极致兴通科技有限公司 | 一种激光器芯片半成品的快速测试装置及测试方法 |
| CN111224542A (zh) * | 2019-12-09 | 2020-06-02 | 北京航空航天大学 | 一种应用于小型化serf磁强计激光器电流源的电源模块 |
| CN111224542B (zh) * | 2019-12-09 | 2021-04-02 | 北京航空航天大学 | 一种应用于小型化serf磁强计激光器电流源的电源模块 |
| CN111595558A (zh) * | 2020-06-15 | 2020-08-28 | 江苏飞格光电有限公司 | 5g／6g用光器件全温自动测试系统和方法 |
| CN111880080A (zh) * | 2020-07-31 | 2020-11-03 | 苏州猎奇智能设备有限公司 | 一种芯片光电测试机构及其测试方法 |
| CN111880080B (zh) * | 2020-07-31 | 2023-11-24 | 苏州猎奇智能设备有限公司 | 一种芯片光电测试机构及其测试方法 |
| CN111880087A (zh) * | 2020-09-28 | 2020-11-03 | 上海菲莱测试技术有限公司 | 一种激光器芯片老化和liv测试检测方法、系统 |
| CN114964726A (zh) * | 2022-07-27 | 2022-08-30 | 北京凯普林光电科技股份有限公司 | 一种激光器组件高温自动测试载具 |
| CN114964726B (zh) * | 2022-07-27 | 2022-10-21 | 北京凯普林光电科技股份有限公司 | 一种激光器组件高温自动测试载具 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN207300544U (zh) | 一种dfb激光器测试装置 | |
| CN102109571B (zh) | 一种半导体激光器特性测试系统 | |
| CN209513218U (zh) | 半导体激光器综合性能测试系统 | |
| CN201993440U (zh) | 一种激光器特性测试装置 | |
| CN104142226B (zh) | 一种ccd器件量子效率测量装置及方法 | |
| CN203981377U (zh) | 一种led灯条的光学特性测试装置 | |
| CN100371725C (zh) | 半导体激光器参数测量装置 | |
| CN101701854A (zh) | 一种检测led灯具芯片结温的方法 | |
| CN105988069A (zh) | 一种半导体激光器的测试和老化装置及使用方法 | |
| CN102914323B (zh) | 一种光电探测器绝对光谱响应的校准方法 | |
| CN111044872A (zh) | 一种半导体激光器件测试装置 | |
| CN208283041U (zh) | 半导体激光器自动功能测试系统 | |
| KR101209082B1 (ko) | 엘이디 실시간 수명평가 장치 | |
| CN204241187U (zh) | 发光二极管分光检测装置 | |
| KR100754010B1 (ko) | 발광다이오드 어레이의 광학 및 열 특성 측정 시스템과 이를 이용한 제어방법 | |
| Chen et al. | Electrical and thermal effects of light-emitting diodes on signal-to-noise ratio in visible light communication | |
| CN103592590A (zh) | 一种led器件光电热集成的测试系统及方法 | |
| CN201751851U (zh) | 用于dfb/fp激光器的测试治具 | |
| CN109787554A (zh) | 一种热光伏发电系统关键部件的测试装置 | |
| CN207966928U (zh) | 一种to封装半导体芯片高温出光功率测试装置 | |
| CN103311800B (zh) | 线形光源生成装置和有价票据检测系统 | |
| CN205017331U (zh) | 一种高温测试台 | |
| CN205017330U (zh) | 一种低温测试台 | |
| Hamadani et al. | Fast and reliable spectral response measurements of PV cells using light emitting diodes | |
| KR101496335B1 (ko) | 광소자 특성의 측정 장치 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |