CN205017330U - 一种低温测试台 - Google Patents
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Abstract
本实用新型适用于光通信行业内光模块测试的领域,提供了一种低温测试台,包括:TEC制冷片、水冷热沉和测试热沉;所述TEC制冷片的热端与所述水冷热沉紧贴连接,冷端与所述测试热沉紧贴连接;所述水冷热沉内设置有液体循环槽和两个水管安装孔,所述液体循环槽为中空管道,两端分别与两个所述水管安装孔连通;外部的恒温槽的水管通过水管接头安装到所述水管安装孔中;所述测试热沉上设置有测试板安装孔,测试板安装到所述测试板安装孔上。结构小巧成本低,低温操作与常温操作无异,相比利用烘箱进行低温测试,大大减轻了劳动强度并提高工效,相比冲击机进行低温测试,大大降低了设备成本,适用于诸如XFP、QSFP+等插拔类模块的-10℃~0℃度低温测试。
Description
技术领域
本实用新型属于光通信行业内光模块测试的技术领域,尤其涉及一种低温测试台。
背景技术
光模块是实现光电及电光转换并具有独立发射驱动和接收放大电路的光电子系统,是一种集光发射器、光接收器和驱动电路板于一体的小型带电可插拔产品。光模块在光纤长距离通信中起到了光中继器的作用。光模块的测试是保证产品性能和质量的前提,能否进行完整准确的测试直接决定产品的质量和成本。光模块的测试工序比较多,包括常温初测,终测,高温测试,低温测试。
传统的光模块低温测试是利用烘箱或者低温冲击机制造低温环境。利用烘箱操作时烘箱门在更换测试模块时需不停的关闭开启,浪费了工时,操作非常不方便且操作人员需保持站立状态,劳动强度大。低温冲击机操作时台位周围结霜严重,且冲击机价格昂贵。烘箱和低温冲击机体积大,一个测试工位包括一个烘箱或者一个低温冲击机和一个测试台位,占用过多的厂区空间。
实用新型内容
本实用新型实施例的目的在于提供一种低温测试台,至少可克服现有技术的部分缺陷。
本实用新型实施例涉及的一种低温测试台,包括:所述低温测试台包括:TEC制冷片、水冷热沉和测试热沉;
所述TEC制冷片的热端与所述水冷热沉紧贴连接,冷端与所述测试热沉紧贴连接;
所述水冷热沉内设置有液体循环槽和两个水管安装孔,所述液体循环槽为中空管道,两端分别与两个所述水管安装孔连通;外部的恒温槽的水管通过水管接头安装到所述水管安装孔中;
所述测试热沉上设置有测试板安装孔,测试板安装到所述测试板安装孔上。
作为实施例一涉及的一种低温测试台,所述TEC制冷片的外围和中间通过防静电电木隔离,调速阀通过螺纹连接在外围的所述防静电电木上。
所述水冷热沉为一种铝合金材质的金属块,设置于所述TEC制冷片的下方。
所述测试热沉为一种铝合金材质的金属块,所述测试板安装孔设置于所述TEC制冷片的上方。
所述测试热沉上还设置有热电偶安装孔,热电偶插入所述热电偶安装孔内对所述测试热沉进行温度测量;
所述热电偶安装孔开口位于所述测试热沉的背面上。
所述测试热沉还设置有位于上底面上的测试槽以及开口在前面上的预冷槽。
所述水冷热沉和测试热沉之间还设置有隔板,所述TEC制冷片位于所述隔板中间,所述隔板与所述低温测试仪的外壳接触。
所述隔板为防静电材质的长方形板状,上下底面上设置有分别与测试热沉和水冷热沉固定连接的测试热沉安装孔和水冷热沉安装孔,
所述隔板与所述低温测试台的外壳的接触的侧面上设置有外围板安装孔。
本实用新型实施例提供的一种低温测试台的有益效果包括:
本实用新型实施例提供的一种低温测试台,设置TEC制冷片、水冷热沉和测试热沉,TEC制冷片在通电时一面可以制冷,另一面则发热,具有恒定的温度差,将TEC制冷片制冷端与测试热沉相连,测试板通过螺钉安装到测试热沉的测试板安装孔上,对通过该测试板进行供电和信号连接的光模块进行低温测试,同时TEC制冷片的热端与水冷热沉连接,水冷热沉内设与外部的恒温槽连通的液体循环槽,构成一个循环系统,恒温槽利用压缩机将槽内液体温度降低,被恒温槽冷却的液体通过水管接头进入液体循环槽,液体循环槽与冷却的液体大面积接触,冷却的液体不断循环带走水冷热沉的热量,降低水冷热沉的温度,可以取代烘箱和冲击机操作,减小占地空间,提高生产效率,降低生产成本。
结构小巧成本低,低温操作与常温操作无异,相比利用烘箱进行低温测试,大大减轻了劳动强度并提高工效,相比冲击机进行低温测试,大大降低了设备成本,适用于诸如XFP、QSFP+等插拔类模块的-10℃~0℃度低温测试。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本实用新型实施例提供的一种低温测试台的测试部分装配图;
图2是本实用新型实施例提供的一种低温测试台的水冷热沉的轮廓图;
图3是本实用新型实施例提供的一种低温测试台的测试热沉的轮廓图;
图4是本实用新型实施例提供的一种低温测试台的隔板的轮廓图;
图中,1为TEC制冷片,2为水冷热沉,2-1为水管安装孔,2-2为液体循环槽,3为测试热沉,3-1测试板安装孔,3-2为热电偶安装孔,3-3为测试槽,3-4为预冷槽,4为隔板,4-1为水冷热沉安装孔,4-2为测试热沉安装孔,4-3为外围板安装孔。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
为了说明本实用新型所述的技术方案,下面通过具体实施例来进行说明。
如图1所示为本实用新型提供的一种低温测试台的测试部分装配图,所述低温测试台包括:TEC(ThermoelectricCooler,半导体致冷器)制冷片1、水冷热沉2和测试热沉3。
TEC制冷片1的热端与水冷热沉2紧贴连接,冷端与测试热沉3紧贴连接。
水冷热沉2内设置有液体循环槽2-2和两个水管安装孔2-1,该液体循环槽2-2为中空管道,两端分别与两个水管安装孔2-1连通;外部的恒温槽的水管通过水管接头安装到该水管安装孔2-1中。
测试热沉3上设置有测试板安装孔3-1,测试板安装到该测试板安装孔3-1上。
本实用新型实施例提供的一种低温测试台,设置TEC制冷片、水冷热沉和测试热沉,TEC制冷片在通电时一面可以制冷,另一面则发热,具有恒定的温度差,将TEC制冷片制冷端与测试热沉相连,测试板通过螺钉安装到测试热沉的测试板安装孔上,对通过该测试板进行供电和信号连接的光模块进行低温测试,同时TEC制冷片的热端与水冷热沉连接,水冷热沉内设与外部的恒温槽连通的液体循环槽,构成一个循环系统,恒温槽利用压缩机将槽内液体温度降低,被恒温槽冷却的液体通过水管接头进入液体循环槽,液体循环槽与冷却的液体大面积接触,冷却的液体不断循环带走水冷热沉的热量,降低水冷热沉2的温度,可以取代烘箱和冲击机操作,减小占地空间,提高生产效率,降低生产成本。
进一步的,TEC制冷片1的外围和中间通过防静电电木隔离,调速阀通过螺纹连接在该外围的防静电电木上,调速阀利用螺纹调整气源速度,通入干燥气体实现干燥低温测试环境。
进一步的,如图2所示为本实用新型提供的一种低温测试台的水冷热沉的轮廓图,由图1和图2可知,水冷热沉2为一种铝合金材质的金属块,设置于TEC制冷片1的下方。
如图3所示为本实用新型提供的一种低温测试台的测试热沉的轮廓图,在本实用新型实施例中,测试热沉3为一种铝合金材质的金属块,测试板安装孔3-1设置于TEC制冷片的上方。
测试热沉3上还设置有热电偶安装孔3-2,热电偶插入该热电偶安装孔3-2内并通过紧定螺钉紧固,保证接触,对测试热沉3进行温度测量,该热电偶安装孔3-2开口位于测试热沉3的背面上。
进一步的,测试热沉3还设置有位于上底面上的测试槽3-3以及开口在前面上的预冷槽3-4。
在本实用新型实施例中,水冷热沉2和测试热沉3之间还设置有隔板4,TEC制冷片1位于隔板4中间,隔板4与低温测试仪的外壳接触。
如图4所示为本实用新型提供的一种低温测试台的隔板的轮廓图,由图4可知,该隔板4为防静电材质的长方形板状,上下底面上设置有分别与测试热沉3和水冷热沉2固定连接的测试热沉安装孔4-2和水冷热沉安装孔4-1,可以固定和隔离水冷热沉2和测试热沉3,与低温测试台的外壳的接触的侧面上设置有外围板安装孔4-3,实现隔板4与低温测试台的外围板的固定连接。
本实用新型提供的一种低温测试台的优点是结构小巧成本低,低温操作与常温操作无异。相比利用烘箱进行低温测试,大大减轻了劳动强度并提高工效。相比冲击机进行低温测试,大大降低了设备成本,适用于诸如XFP、QSFP+等插拔类模块的-10℃~0℃度低温测试。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种低温测试台,其特征在于,所述低温测试台包括:TEC制冷片(1)、水冷热沉(2)和测试热沉(3);
所述TEC制冷片(1)的热端与所述水冷热沉(2)紧贴连接,冷端与所述测试热沉(3)紧贴连接;
所述水冷热沉(2)内设置有液体循环槽(2-2)和两个水管安装孔(2-1),所述液体循环槽(2-2)为中空管道,两端分别与两个所述水管安装孔(2-1)连通;外部的恒温槽的水管通过水管接头安装到所述水管安装孔(2-1)中;
所述测试热沉(3)上设置有测试板安装孔(3-1),测试板安装到所述测试板安装孔(3-1)上。
2.如权利要求1所述的低温测试台,其特征在于,所述TEC制冷片(1)的外围和中间通过防静电电木隔离,调速阀通过螺纹连接在外围的所述防静电电木上。
3.如权利要求1所述的低温测试台,其特征在于,所述水冷热沉(2)为一种铝合金材质的金属块,设置于所述TEC制冷片(1)的下方。
4.如权利要求1所述的低温测试台,其特征在于,所述测试热沉(3)为一种铝合金材质的金属块,所述测试板安装(3-1)设置于所述TEC制冷片(1)的上方。
5.如权利要求1所述的低温测试台,其特征在于,所述测试热沉(3)上还设置有热电偶安装孔(3-2),热电偶插入所述热电偶安装孔(3-2)内对所述测试热沉(3)进行温度测量;
所述热电偶安装孔(3-2)开口位于所述测试热沉(3)的背面上。
6.如权利要求1所述的低温测试台,其特征在于,所述测试热沉(3)还设置有位于上底面上的测试槽(3-3)以及开口在前面上的预冷槽(3-4)。
7.如权利要求1所述的低温测试台,其特征在于,所述水冷热沉(2)和测试热沉(3)之间还设置有隔板(4),所述TEC制冷片(1)位于所述隔板(4)中间,所述隔板(4)与所述低温测试仪的外壳接触。
8.如权利要求7所述的低温测试台,其特征在于,所述隔板(4)为防静电材质的长方形板状,上下底面上设置有分别与测试热沉(3)和水冷热沉(2)固定连接的测试热沉安装孔(4-2)和水冷热沉安装孔(4-1),
所述隔板(4)与所述低温测试台的外壳的接触的侧面上设置有外围板安装孔(4-3)。
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CN201520773967.3U CN205017330U (zh) | 2015-10-08 | 2015-10-08 | 一种低温测试台 |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN112556987A (zh) * | 2020-09-21 | 2021-03-26 | 武汉联特科技有限公司 | 一种光模块高低温测试装置和方法 |
CN115333619A (zh) * | 2022-10-14 | 2022-11-11 | 武汉普赛斯电子技术有限公司 | 光模块的温度测试装置 |
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2015
- 2015-10-08 CN CN201520773967.3U patent/CN205017330U/zh active Active
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