CN207215973U - 一种可微调涨缩的复合测试治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种可微调涨缩的复合测试治具，包括面板、底板、微调板、治具板和位于微调板两侧的两块微调模块，面板和底板之间设有两块治具板，两块治具板之间设有微调板；微调模块包括固定块和微调滑块，面板的两侧、底板的两侧和治具板的两侧皆固定于两块固定块，微调板的两侧与两块微调滑块相抵触。本实用新型使定位销钉在1cm的范围内水平移动，解决电测过程中的涨缩偏移问题，无需拆卸面板，节省人力，增加电测效率。

Description

一种可微调涨缩的复合测试治具

技术领域

本实用新型属于电测治具技术领域，特别是涉及一种可微调涨缩的复合测试治具。

背景技术

PCB在生产过程中，难免因外在因素而造成短路、断路及漏电等电性上的瑕疵，再加上PCB不断朝高密度、细间距及多层次的演进，若未能及时将不良板筛选出来，而任其流入制程中，势必会造成更多的成本浪费，因此除了制程控制的改善外，提高测试的技术也是可以为PCB制造者提供降低报废率及提升产品良率的解决方案。

目前业内常规的PCB电测方式有三种：

一、微针测试：微针测试是目前业内较先进的测试设备，精度可达到50um。当线宽线距小于50um时，常用的电测设备已经无法测量，通常的做法是使用引线将需要测量的线路引导到板边，设置测试点测量。然而当PCB的设计图形过于密集，无法做出引线及测试点时，上述方法将完全失效；

二、飞针机测试：飞针机测试的优点在于，可通过输入不同的资料程序，测量不同设计的PCB，且测量精度较高，通常最小测量线宽/线距为75um，缺点在于测量速度较慢；

三、模具测试：模具的测量速度快，量产通常使用模具测量，但由于PCB存在尺寸涨缩，测针和测试点位置很容易出现偏差，每次需要测量涨缩偏移量，更换治具面板，手动塞纸进行对位，工作量大，严重影响电测效率。

实用新型内容

本实用新型主要解决的技术问题是提供一种可微调涨缩的复合测试治具，使定位销钉在1cm的范围内水平移动，解决电测过程中的涨缩偏移问题，无需拆卸面板，节省人力，增加电测效率。

为解决上述技术问题，本实用新型采用的一个技术方案是：一种可微调涨缩的复合测试治具，包括面板、底板、微调板、治具板和位于所述微调板两侧的两块微调模块，所述面板和所述底板之间设有两块所述治具板，两块所述治具板之间设有所述微调板；

所述微调模块包括固定块和微调滑块，所述面板的两侧、所述底板的两侧和所述治具板的两侧皆固定于两块所述固定块，所述微调板的两侧与两块所述微调滑块相抵触；

还包括测试板、定位销钉和测针，所述测试板位于所述面板的上方，所述定位销钉固定于所述微调板的微调销钉孔，所述定位销钉的上端依次穿过所述治具板的治具销钉孔和所述面板的面板销钉孔与所述测试板上的定位孔抵触，所述定位销钉的下端依次穿过所述治具板的治具销钉孔和所述底板的底板销钉孔，所述测针固定于所述测试治具，且位于所述定位销钉的内侧，所述测针的上端与所述测试板的下表面接触。

进一步地说，所述微调销钉孔的内径等于所述定位销钉的外径，所述面板销钉孔的内径和所述治具销钉孔的内径皆大于所述定位销钉的外径。

进一步地说，所述微调销钉孔的内径和所述定位销钉的外径皆为5mm。

进一步地说，所述面板销钉孔的内径和所述治具销钉孔的内径皆为6-8mm。

进一步地说，所述微调板设有测针微调孔。

进一步地说，所述测针微调孔的内径大于所述测针的外径以使所述微调板在微调滑块的驱动下水平移动。

进一步地说，所述面板的长度、所述底板的长度和所述治具板的长度相等。

进一步地说，所述微调板的长度小于所述面板的长度。

本实用新型的有益效果是：

本实用新型的测针固定于测试治具，测针的上端与测试板的下表面接触，微调板的两侧与两块微调滑块相抵触，定位销钉固定于微调板的微调销钉孔，定位销钉的上端依次穿过治具板的治具销钉孔和面板的面板销钉孔与测试板上的定位孔抵触，通过微调模块的微调滑块带动微调板，使定位销钉在1cm的范围内水平移动，解决电测过程中的涨缩偏移问题，无需拆卸面板，节省人力，增加电测效率。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是本实用新型的剖视图；

附图中各部分标记如下：

面板1、面板销钉孔11、底板2、底板销钉孔21、微调板3、微调销钉孔31、测针微调孔32、治具板4、治具销钉孔41、微调模块5、固定块51、微调滑块52、测试板6、定位孔61、定位销钉7和测针8。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型的较佳实施例进行详细阐述，以使本实用新型的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本实用新型的保护范围做出更为清楚明确的界定。

实施例：一种可微调涨缩的复合测试治具，如图1-图2所示，本实用新型包括面板1、底板2、微调板3、治具板4和位于所述微调板3两侧的两块微调模块5，所述面板1和所述底板2之间设有两块所述治具板4，两块所述治具板4之间设有所述微调板3；

所述微调模块5包括固定块51和微调滑块52，所述面板1的两侧、所述底板2的两侧和所述治具板4的两侧皆固定于两块所述固定块51，所述微调板3的两侧与两块所述微调滑块52相抵触；

还包括测试板6、定位销钉7和测针8，所述测试板6位于所述面板1的上方，所述定位销钉7固定于所述微调板3的微调销钉孔31，所述定位销钉7的上端依次穿过所述治具板4的治具销钉孔41和所述面板1的面板销钉孔11与所述测试板6上的定位孔61抵触，所述定位销钉的下端依次穿过所述治具板的治具销钉孔和所述底板的底板销钉孔21，所述测针8固定于所述测试治具，且位于所述定位销钉7的内侧，所述测针8的上端与所述测试板6的下表面接触。

具体实施时，所述测针8的下端穿过所述测试治具与电测机连接。

所述微调销钉孔31的内径等于所述定位销钉7的外径，所述面板销钉孔11的内径和所述治具销钉孔41的内径皆大于所述定位销钉7的外径。

所述微调销钉孔31的内径和所述定位销钉7的外径皆为5mm。

所述面板销钉孔11的内径和所述治具销钉孔41的内径皆为6-8mm。

本实施例中，所述定位销钉7的上端周向向内倾斜以使所述定位销钉7的上端插入定位孔61实现测试板6的固定。

所述微调板3设有测针微调孔32。

所述测针微调孔32的内径大于所述测针8的外径以使所述微调板3在微调滑块52的驱动下水平移动。

所述面板1的长度、所述底板2的长度和所述治具板4的长度相等。

所述微调板3的长度小于所述面板1的长度。

所述复合测试治具安放于电测机。

所述微调模块为现有技术，购自上海三甫科技发展有限公司，因此其原理和结构不加赘述。

本实用新型的工作原理如下，本实用新型的测针固定于测试治具，测针的上端与测试板的下表面接触，微调板的两侧与两块微调滑块相抵触，定位销钉固定于微调板的微调销钉孔，定位销钉的上端依次穿过治具板的治具销钉孔和面板的面板销钉孔与测试板上的定位孔抵触，通过微调模块的微调滑块带动微调板，使定位销钉在1cm的范围内水平移动，解决电测过程中的涨缩偏移问题，无需拆卸面板，节省人力，增加电测效率。

以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (8)

1.一种可微调涨缩的复合测试治具，其特征在于：包括面板(1)、底板(2)、微调板(3)、治具板(4)和位于所述微调板两侧的两块微调模块(5)，所述面板和所述底板之间设有两块所述治具板，两块所述治具板之间设有所述微调板；

所述微调模块包括固定块(51)和微调滑块(52)，所述面板的两侧、所述底板的两侧和所述治具板的两侧皆固定于两块所述固定块，所述微调板的两侧与两块所述微调滑块相抵触；

还包括测试板(6)、定位销钉(7)和测针(8)，所述测试板位于所述面板的上方，所述定位销钉固定于所述微调板的微调销钉孔(31)，所述定位销钉的上端依次穿过所述治具板的治具销钉孔(41)和所述面板的面板销钉孔(11)与所述测试板上的定位孔(61)抵触，所述定位销钉的下端依次穿过所述治具板的治具销钉孔和所述底板的底板销钉孔(21)，所述测针固定于所述测试治具，且位于所述定位销钉的内侧，所述测针的上端与所述测试板的下表面接触。

2.根据权利要求1所述的一种可微调涨缩的复合测试治具，其特征在于：所述微调销钉孔的内径等于所述定位销钉的外径，所述面板销钉孔的内径和所述治具销钉孔的内径皆大于所述定位销钉的外径。

3.根据权利要求2所述的一种可微调涨缩的复合测试治具，其特征在于：所述微调销钉孔的内径和所述定位销钉的外径皆为5mm。

4.根据权利要求2所述的一种可微调涨缩的复合测试治具，其特征在于：所述面板销钉孔的内径和所述治具销钉孔的内径皆为6-8mm。

5.根据权利要求1所述的一种可微调涨缩的复合测试治具，其特征在于：所述微调板设有测针微调孔(32)。

6.根据权利要求5所述的一种可微调涨缩的复合测试治具，其特征在于：所述测针微调孔的内径大于所述测针的外径以使所述微调板在微调滑块的驱动下水平移动。

7.根据权利要求1所述的一种可微调涨缩的复合测试治具，其特征在于：所述面板的长度、所述底板的长度和所述治具板的长度相等。

8.根据权利要求1所述的一种可微调涨缩的复合测试治具，其特征在于：所述微调板的长度小于所述面板的长度。