CN207198291U - 雪崩光电二极管温度系数测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种雪崩光电二极管温度系数测试装置，包括：控制器；高低温箱，与控制器电连接；测试组件，包括测试仪器和老化测试板，测试仪器与控制器电连接，老化测试板设有多个测试插口，每个测试插口与测试仪器串联，且多个测试插口之间并联，老化测试板放置于高低温箱中。通过本实用新型的技术方案，实现了雪崩光电二极管温度系数测试过程的自动化，能够有效控制高低温箱来提供合适的温度环境，以及控制每一个测试回路的通断，并记录多个温度值和在对应温度环境下测试得到的多个雪崩光电二极管的反向击穿电压，并进行分析计算，进而获得每个雪崩光电二极管的温度系数，提高了生产效率，节约了生产成本。

Description

雪崩光电二极管温度系数测试装置

技术领域

本实用新型涉及半导体领域，具体而言，涉及一种雪崩光电二极管温度系数测试装置。

背景技术

相关技术中，测试雪崩光电二极管温度系数时，需要通过机械开关去人工控制每一个回路的开关，效率较低，且造成人员的浪费，因此，相关技术中的测试装置至少存在以下缺陷：

(1)不能自动控制高低温箱的温度自动升降，需要手动调节；

(2)不能同时测试多个雪崩光电二极管的温度系数，导致高低温箱需要频繁的升降温，浪费时间，经济性低；

(3)缺少对每个测试回路的控制，不能实现雪崩光电二极管温度系数测试过程的自动化，导致成本上升，且生产效率低。

实用新型内容

本实用新型旨在至少解决现有技术或相关技术中存在的技术问题之一。

为此，本实用新型的一个目的在于提供一种雪崩光电二极管温度系数测试装置。

为实现上述目的，本实用新型的实施例提出了一种雪崩光电二极管温度系数测试装置，包括：控制器；高低温箱，与控制器电连接；测试组件，包括测试仪器和老化测试板，测试仪器与控制器电连接，老化测试板设有多个测试插口，每个测试插口与测试仪器串联，且多个测试插口之间并联，老化测试板放置于高低温箱中。

在该技术方案中，通过将高低温箱与控制器电连接，实现了高低温箱的温度控制，通过控制器可以随时调节高低温箱内的温度环境，以满足测试的温度条件，其中包括温度上升、下降以及保持恒温状态。

通过在老化测试板上设置多个测试插口，每个测试插口与测试仪器串联，且多个测试插口之间并联，并将老化测试板放置于高低温箱中，老化测试板可以长时间在高温环境下工作，进而通过测试仪器能够稳定测试不同温度下的多个雪崩光电二极管的反向击穿电压，有效提高了生产效率，节约了生产成本。

其中，测试仪器和高低温箱分别与控制器电连接，控制器能够记录多个温度值，以及在对应温度环境下测试得到的多个雪崩光电二极管的反向击穿电压，并进行分析计算，进而获得每个雪崩光电二极管的温度系数，实现了测试过程的自动化，提高了生产效率。

另外，本实用新型提供的上述实施例中的雪崩光电二极管温度系数测试装置还可以具有如下附加技术特征：

在上述技术方案中，优选地，测试组件还包括：控制板；多个电磁开关，设于控制板上，每个电磁开关设于每个测试插口与测试仪器之间，其中，每个电磁开关与控制器电连接。

在该技术方案中，通过在每个测试插口与测试仪器之间设置电磁开关，且每个电磁开关与控制器电连接，能够通过控制器来控制每个电磁开关的打开与闭合，进而能够有效控制每个测试回路的通断，准确连通不同的测试插口，对需要被检测的雪崩光电二极管进行测试。

在上述任一技术方案中，优选地，高低温箱包括：硬件控制卡，与控制器电连接，硬件控制卡响应于控制器发出的温控信号，调节高低温箱内的温度。

在该技术方案中，通过在高低温箱设置硬件控制卡，并将硬件控制卡与控制器电连接，当控制器发出温控信号时，硬件控制卡能够响应于控制器发出的温控信号，调节高低温箱内的温度，以提供测试所需的温度环境，进而提高了雪崩光电二极管温度系数的精确度，同时便于控制高低温箱的温度，减少了人力成本。

在上述任一技术方案中，优选地，高低温箱包括：箱体；盖体，设于箱体上，盖体上设有密封圈，盖体与箱体闭合时，高低温箱密封。

在该技术方案中，通过在盖体上设置密封圈，当盖体与箱体闭合时，实现了高低温箱的密封，有效降低了外部环境对高低温箱内的温度环境的影响，提高了高低温箱内温度的稳定性，进而提高了雪崩光电二极管温度系数测试装置的可靠性。

在上述任一技术方案中，优选地，还包括：安装架，设于高低温箱内，安装架包括固定连接的支撑架和固定托盘，支撑架固定于高低温箱底壁。

在该技术方案中，通过设置固定连接的支撑架和固定托盘，并将支撑架固定于高低温箱的底壁上，能够将雪崩光电二极管安装于高低温箱中间的温度稳定区，减小了温度不稳定的箱壁对雪崩光电二极管温度系数测试的影响。

在上述任一技术方案中，优选地，固定托盘包括：多个滑轨，均匀设于固定托盘上，相邻滑轨之间间距相同，多个卡位，滑动设于多个滑轨上，每个滑轨上对应设有两个卡位。

在上述任一技术方案中，优选地，老化测试板包括：多个卡扣，老化测试板通过卡扣与设于滑轨上的卡位配合，固定于安装架上。

在该技术方案中，通过在固定托盘上均匀设置多个滑轨，且在多个滑轨上设置多个卡位，老化测试板上设置多个卡扣，卡扣与设于滑轨上的卡位配合，将老化测试板固定在固定托盘上，在受到外力碰撞以及振动的情况下，老化测试板不会相对于高低温箱产生位移，提高了雪崩光电二极管温度系数测试装置的可靠性。

其中，每个滑轨上对应设有两个卡位，相邻滑轨之间间距相同，通过有效的设置卡位的数量以及相邻滑轨之间的间距，减小了生产成本，同时能够有效地将老化测试板固定在固定托盘上，提高了雪崩光电二极管温度系数测试装置的经济性。

在上述任一技术方案中，优选地，测试仪器包括：数字源表或源测量单元SMU。

在该技术方案中，通过数字源表或者源测量单元SMU，能够准确的测得雪崩光电二极管的反向击穿电压，并将该值反馈至控制器，进而提高了雪崩光电二极管温度系数测试结果的精确度。

在上述任一技术方案中，优选地，老化测试板的材料包括：耐高温FR-4、G-10或聚酰亚胺树脂。

在该技术方案中，通过选用耐高温FR-4材料、G-10材料或者聚酰亚胺树脂材料的老化测试板，能够很好的满足测试环境温度的要求，提高了老化测试板的可靠性，同时满足了经济性的要求。

在上述任一技术方案中，优选地，控制器包括：PC机、可编程控制器或单片机。

在该技术方案中，通过选用PC机、可编程控制器或者单片机来用作控制器，实现了测试过程的自动化，能够有效控制高低温箱来提供合适的温度环境，以及控制每一个测试回路的通断，并记录多个温度值和在对应温度环境下测试得到的多个雪崩光电二极管的反向击穿电压，并进行分析计算，进而获得每个雪崩光电二极管的温度系数，提高了生产效率，节约了生产成本。

本实用新型的附加方面和优点将在下面的描述部分中变得明显，或通过本实用新型的实践了解到。

附图说明

图1示出了根据本实用新型的雪崩光电二极管温度系数测试装置的一个实施例的装置示意图，

其中，图1中附图标记与部件名称之间的对应关系为：

102控制器，104测试仪器，106老化测试板，108高低温箱，110控制板，1062测试插口，1082硬件控制卡，1102电磁开关。

具体实施方式

为了能够更清楚地理解本实用新型的上述目的、特征和优点，下面结合附图和具体实施方式对本实用新型进行进一步的详细描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型，但是，本实用新型还可以采用其他不同于在此描述的其他方式来实施，因此，本实用新型的保护范围并不限于下面公开的具体实施例的限制。

下面结合图1对根据本实用新型的实施例的雪崩光电二极管温度系数测试装置进行具体说明。

如图1所示，本实用新型的实施例提出了一种雪崩光电二极管温度系数测试装置，包括：控制器102；高低温箱108，与控制器102电连接；测试组件，包括测试仪器104和老化测试板106，测试仪器104与控制器102电连接，老化测试板106设有多个测试插口1062，每个测试插口1062与测试仪器104串联，且多个测试插口1062之间并联，老化测试板106放置于高低温箱108中。

在该实施例中，通过将高低温箱108与控制器102电连接，实现了高低温箱108的温度控制，通过控制器102可以随时调节高低温箱108内的温度环境，以满足测试的温度条件，其中包括温度上升、下降以及保持恒温状态。

通过在老化测试板106上设置多个测试插口1062，每个测试插口1062与测试仪器104串联，且多个测试插口1062之间并联，并将老化测试板106放置于高低温箱108中，老化测试板106可以长时间在高温环境下工作，进而通过测试仪器104能够稳定测试不同温度下的多个雪崩光电二极管的反向击穿电压，有效提高了生产效率，节约了生产成本。

其中，测试仪器104和高低温箱108分别与控制器102电连接，控制器102能够记录多个温度值，以及在对应温度环境下测试得到的多个雪崩光电二极管的反向击穿电压，并进行分析计算，进而获得每个雪崩光电二极管的温度系数，实现了测试过程的自动化，提高了生产效率。

另外，本实用新型提供的上述实施例中的雪崩光电二极管温度系数测试装置还可以具有如下附加技术特征：

如图1所示，在上述实施例中，优选地，测试组件还包括：控制板110；多个电磁开关1102，设于控制板110上，每个电磁开关1102设于每个测试插口1062与测试仪器104之间，其中，每个电磁开关1102与控制器102电连接。

在该实施例中，通过在每个测试插口1062与测试仪器104之间设置电磁开关1102，且每个电磁开关1102与控制器102电连接，能够通过控制器102来控制每个电磁开关1102的打开与闭合，进而能够有效控制每个测试回路的通断，准确连通不同的测试插口1062，对需要被检测的雪崩光电二极管进行测试。

优选地，电磁开关1102为电磁继电器开关，控制板110上设有驱动电路，用于驱动每个电磁继电器开关，驱动电路输入端接数显直流电源，控制板110通过通信线连接至控制器102。

如图1所示，在上述任一实施例中，优选地，高低温箱108包括：硬件控制卡1082，与控制器102电连接，硬件控制卡1082响应于控制器102发出的温控信号，调节高低温箱108内的温度。

在该实施例中，通过在高低温箱108设置硬件控制卡1082，并将硬件控制卡1082与控制器102电连接，当控制器102发出温控信号时，硬件控制卡1082能够响应于控制器102发出的温控信号，调节高低温箱108内的温度，以提供测试所需的温度环境，进而提高了雪崩光电二极管温度系数的精确度，同时便于控制高低温箱108的温度，减少了人力成本。

在上述任一实施例中，优选地，高低温箱108包括：箱体；盖体，设于箱体上，盖体上设有密封圈，盖体与箱体闭合时，高低温箱108密封。

在该实施例中，通过在盖体上设置密封圈，当盖体与箱体闭合时，实现了高低温箱108的密封，有效降低了外部环境对高低温箱108内的温度环境的影响，提高了高低温箱108内温度的稳定性，进而提高了雪崩光电二极管温度系数测试装置的可靠性。

在上述任一实施例中，优选地，还包括：安装架，设于高低温箱108内，安装架包括固定连接的支撑架和固定托盘，支撑架固定于高低温箱108底壁。

在该实施例中，通过设置固定连接的支撑架和固定托盘，并将支撑架固定于高低温箱108的底壁上，能够将雪崩光电二极管安装于高低温箱108中间的温度稳定区，减小了温度不稳定的箱壁对雪崩光电二极管温度系数测试的影响。

在上述任一实施例中，优选地，固定托盘包括：多个滑轨，均匀设于固定托盘上，相邻滑轨之间间距相同，多个卡位，滑动设于多个滑轨上，每个滑轨上对应设有两个卡位。

在上述任一实施例中，优选地，老化测试板106包括：多个卡扣，老化测试板106通过卡扣与设于滑轨上的卡位配合，固定于安装架上。

在该实施例中，通过在固定托盘上均匀设置多个滑轨，且在多个滑轨上设置多个卡位，老化测试板106上设置多个卡扣，卡扣与设于滑轨上的卡位配合，将老化测试板106固定在固定托盘上，在受到外力碰撞以及振动的情况下，老化测试板106不会相对于高低温箱108产生位移，提高了雪崩光电二极管温度系数测试装置的可靠性。

其中，每个滑轨上对应设有两个卡位，相邻滑轨之间间距相同，通过有效的设置卡位的数量以及相邻滑轨之间的间距，减小了生产成本，同时能够有效地将老化测试板106固定在固定托盘上，提高了雪崩光电二极管温度系数测试装置的经济性。

在上述任一实施例中，优选地，测试仪器104包括：数字源表或源测量单元SMU。

在该实施例中，通过数字源表或者源测量单元SMU，能够准确的测得雪崩光电二极管的反向击穿电压，并将该值反馈至控制器102，进而提高了雪崩光电二极管温度系数测试结果的精确度。

在上述任一实施例中，优选地，老化测试板106的材料包括：耐高温FR-4、G-10或聚酰亚胺树脂。

在该实施例中，通过选用耐高温FR-4材料、G-10材料或者聚酰亚胺树脂材料的老化测试板106，能够很好的满足测试环境温度的要求，提高了老化测试板106的可靠性，同时满足了经济性的要求。

在上述任一实施例中，优选地，控制器102包括：PC机、可编程控制器102或单片机。

在该实施例中，通过选用PC机、可编程控制器102或者单片机来用作控制器102，实现了测试过程的自动化，能够有效控制高低温箱108来提供合适的温度环境，以及控制每一个测试回路的通断，并记录多个温度值和在对应温度环境下测试得到的多个雪崩光电二极管的反向击穿电压，并进行分析计算，进而获得每个雪崩光电二极管的温度系数，提高了生产效率，节约了生产成本。

以上结合附图详细说明了本实用新型的技术方案，本实用新型提供了一种雪崩光电二极管温度系数测试装置，实现了雪崩光电二极管温度系数测试过程的自动化，能够有效控制高低温箱来提供合适的温度环境，以及控制每一个测试回路的通断，并记录多个温度值和在对应温度环境下测试得到的多个雪崩光电二极管的反向击穿电压，来进行分析计算，进而获得每个雪崩光电二极管的温度系数，提高了生产效率，节约了生产成本。

在本实用新型中，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述的目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性；术语“多个”则指两个或两个以上，除非另有明确的限定。术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语均应做广义理解，例如，“连接”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；“相连”可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“左”、“右”、“前”、“后”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或单元必须具有特定的方向、以特定的方位构造和操作，因此，不能理解为对本实用新型的限制。

在本说明书的描述中，术语“一个实施例”、“一些实施例”、“具体实施例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或实例。而且，描述的具体特征、结构、材料或特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

以上仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种雪崩光电二极管温度系数测试装置，其特征在于，包括：

控制器；

高低温箱，与所述控制器电连接；

测试组件，包括测试仪器和老化测试板，所述测试仪器与所述控制器电连接，所述老化测试板设有多个测试插口，每个所述测试插口与所述测试仪器串联，且多个所述测试插口之间并联，所述老化测试板放置于所述高低温箱中；

安装架，设于所述高低温箱内，所述安装架包括固定连接的支撑架和固定托盘，所述支撑架固定于所述高低温箱底壁；

多个滑轨，均匀设于所述固定托盘上，相邻所述滑轨之间间距相同；

多个卡位，滑动设于所述多个滑轨上，每个所述滑轨上对应设有两个卡位；

多个卡扣，所述老化测试板通过所述卡扣与设于所述滑轨上的所述卡位配合，固定于所述安装架上。

2.根据权利要求1所述的雪崩光电二极管温度系数测试装置，其特征在于，所述测试组件还包括：

控制板；

多个电磁开关，设于所述控制板上，每个所述电磁开关设于每个所述测试插口与所述测试仪器之间，

其中，每个所述电磁开关与所述控制器电连接。

3.根据权利要求1所述的雪崩光电二极管温度系数测试装置，其特征在于，所述高低温箱包括：

硬件控制卡，与所述控制器电连接，所述硬件控制卡响应于所述控制器发出的温控信号，调节所述高低温箱内的温度。

4.根据权利要求1所述的雪崩光电二极管温度系数测试装置，其特征在于，所述高低温箱包括：

箱体；

盖体，设于所述箱体上，所述盖体上设有密封圈，所述盖体与所述箱体闭合时，所述高低温箱密封。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的雪崩光电二极管温度系数测试装置，其特征在于，

所述测试仪器包括：数字源表或源测量单元SMU。

6.根据权利要求1至4中任一项所述的雪崩光电二极管温度系数测试装置，其特征在于，

所述老化测试板的材料包括：耐高温FR-4、G-10或聚酰亚胺树脂。

7.根据权利要求1至4中任一项所述的雪崩光电二极管温度系数测试装置，其特征在于，

所述控制器包括：PC机、可编程控制器或单片机。