CN109116216A - 一种运算放大器失调电压温漂测试装置 - Google Patents

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焦贵忠
孙丽丽
卜令旗
田波
李苏苏
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North Electronic Research Institute Anhui Co., Ltd.
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North Electronic Research Institute Anhui Co., Ltd.
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Abstract

本发明公开一种运算放大器失调电压温漂测试装置，包括高低温试验箱，高低温试验箱内设有测试承载板，测试承载板的板面设有一组呈矩阵式分布的承载台，承载台用于放置待测试的运算放大器，测试承载板的板面中心设有测温模块；测试装置还包括矩阵开关、信号处理模块与上位机；上位机控制高低温试验箱的测试温度，并同步读取测温模块采集的温度数据；信号处理模块采集运算放大器的失调电压，并将失调电压数据发送给上位机；上位机根据读取的测试温度与失调电压计算运算放大器失调电压温漂系数；本发明解决了传统测试方法的失调电压温漂曲线线性度差，测试效率低，温度不准确，温漂曲线无法自动拟合的缺点。

Description

一种运算放大器失调电压温漂测试装置
技术领域
本发明涉及电子电路测试技术领域，具体是一种运算放大器失调电压温漂测试装置。
背景技术
运算放大器的失调电压温漂参数是指输入失调电压变化量与芯片温度变化量之比，这个参数规定了输入失调电压随温度的设计漂移值，通常每种运算放大器的datasheet上都会有Vos与温度变化的曲线图，用于指导用户使用。而对于像OP07A、OP77A、OP177这样的超低失调电压运算放大器，其自身优越的超低失调电压性能，是非斩波运算放大器中的佼佼者。所以，用户也特别关心失调电压温漂参数，此参数如何线性的测量计算，显得尤为重要。
目前，失调电压温漂参数通常的测试方法有两种：一、采用极端点测试的方法，在极端两个到三个温度点采集三点拟合曲线，计算失调电压的温漂参数；这种测试方法的特点是速度快，但是由于数据采集点非常的少，温漂曲线的线性度很差，非采集点外的失调电压是否突变或跳变，无法准确测得；二、利用高低温试验箱，调节并设置温度点，采用一定步进的方法，采集连续测量点，最后通过实测点拟合温漂曲线，计算失调电压的温漂参数；这种测试方法的特点是温漂曲线的线性度好，但是手动操作模式导致测试效率非常低。
发明内容
本发明的目的在于提供一种运算放大器失调电压温漂测试装置，该装置能够自动测量运算放大器在不同温度下的失调电压，计算失调电压温漂参数，测试效率高、线性度好。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：
一种运算放大器失调电压温漂测试装置，包括高低温试验箱，高低温试验箱内设有测试承载板，测试承载板的板面设有一组呈矩阵式分布的承载台，承载台用于放置待测试的运算放大器，测试承载板的板面中心设有测温模块；所述测试装置还包括位于高低温试验箱外的矩阵开关、信号处理模块与上位机；
信号处理模块包含依次电连接的信号采集电路、信号调理电路、A/D转换电路与单片机；
所述矩阵开关的一端通过排线与待测试的运算放大器引脚相连、另一端连接信号采集电路；所述单片机、高低温试验箱、测温模块分别与上位机通讯连接；
上位机控制高低温试验箱的测试温度，并同步读取测温模块采集的温度数据；所述信号采集电路采集运算放大器的失调电压，并依次通过信号调理电路与A/D转换电路发送给单片机，单片机将失调电压数据发送给上位机；上位机根据读取的测试温度与失调电压计算运算放大器失调电压温漂系数。
本发明的有益效果是，上位机控制高低温试验箱的测试温度,使得位于高低温试验箱内运算放大器的温度可以自动控制，并通过上位机读取运算放大器在各个测量温度下的失调电压数据，自动拟合曲线，计算失调电压温漂系数；本发明解决了传统测试方法的失调电压温漂曲线线性度差，测试效率低，温度不准确，温漂曲线无法自动拟合的缺点。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明：
图1是本发明的结构示意图。
具体实施方式
如图1所示，本发明提供一种运算放大器失调电压温漂测试装置，包括高低低温试验箱1，高低温试验箱1内设有测试承载板2，测试承载板2的板面设有一组呈矩阵式分布的承载台3，承载台3用于放置待测试的运算放大器4，测试承载板2的板面中心设有测温模块5；所述测试装置还包括位于高低温试验箱外的矩阵开关6、信号处理模块7与上位机8；
信号处理模块7包含依次电连接的信号采集电路71、信号调理电路72、A/D转换电路73与单片机74；
所述矩阵开关6的一端通过排线与待测试的运算放大器引脚相连、另一端连接信号采集电路71；所述单片机74、高低温试验箱1、测温模块5分别与上位机8通讯连接。
使用时，切换矩阵开关6，使其与待测试的运算放大器引脚相连，然后上位机8控制高低温试验箱1的测试温度，并同步读取测温模块5采集的温度数据；所述信号采集电路71采集运算放大器4的失调电压，并依次通过信号调理电路72与A/D转换电路73发送给单片机74，单片机74将失调电压数据发送给上位机8；上位机8根据读取的测试温度与失调电压计算运算放大器失调电压温漂系数。
上位机8可采用Labview软件来实现本测试装置的操控，通过Labview设置控制高低温试验箱1的测试温度点以及控温时间，上位机8根据读取的测试温度
来判断温度的稳定性及准确性，并由Labview进行进行失调电压温漂曲线的拟合以及失调电压温漂系数的计算。
以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制；任何熟悉本领域的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围情况下，都可利用上述揭示的方法和技术内容对本发明技术方案做出许多可能的变动和修饰，或修改为等同变化的等效实施例。因此，凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同替换、等效变化及修饰，均仍属于本发明技术方案保护的范围内。

Claims (1)

1.一种运算放大器失调电压温漂测试装置，其特征在于，包括高低温试验箱，高低温试验箱内设有测试承载板，测试承载板的板面设有一组呈矩阵式分布的承载台，承载台用于放置待测试的运算放大器，测试承载板的板面中心设有测温模块；所述测试装置还包括位于高低温试验箱外的矩阵开关、信号处理模块与上位机；
信号处理模块包含依次电连接的信号采集电路、信号调理电路、A/D转换电路与单片机；
所述矩阵开关的一端通过排线与待测试的运算放大器引脚相连、另一端连接信号采集电路；所述单片机、高低温试验箱、测温模块分别与上位机通讯连接；
上位机控制高低温试验箱的测试温度，并同步读取测温模块采集的温度数据；所述信号采集电路采集运算放大器的失调电压，并依次通过信号调理电路与A/D转换电路发送给单片机，单片机将失调电压数据发送给上位机；上位机根据读取的测试温度与失调电压计算运算放大器失调电压温漂系数。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112345119A (zh) * 2020-09-25 2021-02-09 华东光电集成器件研究所 一种半导体晶圆温度标定系统
WO2024032916A1 (en) * 2022-08-12 2024-02-15 Advantest Corporation Automated test equipment, method for testing a device under test and computer program using a fitting approach to obtain temperature control instructions

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103630772A (zh) * 2013-11-07 2014-03-12 天津大学 电容器温度特性自动测试系统及测试方法
CN103675651A (zh) * 2013-12-25 2014-03-26 工业和信息化部电子第五研究所 运算放大器输入失调电压长期稳定性的测试系统
US20170272038A1 (en) * 2016-03-17 2017-09-21 Fuji Electric Co., Ltd. Offset correction circuit and transconductance proportional current generation circuit
CN207198291U (zh) * 2017-03-31 2018-04-06 深圳市芯思杰智能物联网技术有限公司 雪崩光电二极管温度系数测试装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103630772A (zh) * 2013-11-07 2014-03-12 天津大学 电容器温度特性自动测试系统及测试方法
CN103675651A (zh) * 2013-12-25 2014-03-26 工业和信息化部电子第五研究所 运算放大器输入失调电压长期稳定性的测试系统
US20170272038A1 (en) * 2016-03-17 2017-09-21 Fuji Electric Co., Ltd. Offset correction circuit and transconductance proportional current generation circuit
CN207198291U (zh) * 2017-03-31 2018-04-06 深圳市芯思杰智能物联网技术有限公司 雪崩光电二极管温度系数测试装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
许茂祖等: "《电子技术基础知识500问》", 30 June 1996, 人民邮电出版社 *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112345119A (zh) * 2020-09-25 2021-02-09 华东光电集成器件研究所 一种半导体晶圆温度标定系统
WO2024032916A1 (en) * 2022-08-12 2024-02-15 Advantest Corporation Automated test equipment, method for testing a device under test and computer program using a fitting approach to obtain temperature control instructions

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