CN206989863U - 一种双键槽组合检具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种双键槽组合检具，其特征在于：包括检具套(1)，该检具套(1)内壁一侧设有平键槽检测凸部(11)，该检具套(1)内壁另一侧设有沿径向贯通的塞块插口(12)；塞块(2)，该塞块(2)横截面与该塞块插口(12)相匹配，该塞块(2)一端设有半圆键槽检测部(21)。实用新型采用通过检具套和塞块组合检测，能完全模拟轴上双键槽的标准装配，因此可满足双键槽的各尺寸及各位置度等指标要求，且具有结构简单，检测快速，使用方便，成本低等优点。

Description

一种双键槽组合检具

技术领域

本实用新型涉及一种双键槽组合检具。

背景技术

针对于轴类零件(例如曲轴)，为了提高装配及传动精度，一般会在轴部上加工有双键槽，即在轴的一侧壁上加工有平键槽且在其另外一侧壁面上加工一个或两个半圆键槽。

由于轴部上的平键槽和半圆键槽在设计及安装时均具有对称度要求，且本身平键槽或/和半圆键槽具有深度，宽度及长度等尺寸要求，以该平键槽或/和半圆键槽沿其轴部的轴心线对称度要求等等。

而现有半圆槽测量检具，采用百分百与键槽接触，通过判断其指针的最大值而判断其深度，仅能检测深度。然而对于双键槽之间的位置度及对称度等要求，则仍然不能实现精准检测。因此有必要研发设计一款专用检具，能满足上述检测要求，且快速检测，操作简单，使用方便，成本低。

实用新型内容

有鉴于现有技术的上述的一个或多个缺陷，本实用新型提供一种双键槽组合检具，能同时检测多项指标，且检测快速，操作简单，使用方便，成本低。

为实现上述目的，本实用新型提供了一种双键槽组合检具，其特征在于：包括检具套(1)，该检具套(1)内壁一侧设有平键槽检测凸部(11)，该检具套(1)内壁另一侧设有沿径向贯通的塞块插口(12)；塞块(2)，该塞块(2)横截面与该塞块插口(12)相匹配，该塞块(2)一端设有半圆键槽检测部(21)。

采用上述方案，可将待测轴的轴部插入该检具套(1)内，该平键槽检测凸部(11)与轴部上的平键槽配合检测，另外，还可将塞块(2)插在塞块插口(12)内，其半圆键槽检测部(21)伸入轴部上的半圆键槽内，当该塞块(2)上的半圆键槽检测部(21)可完全伸入轴部上的半圆键槽内，即可判断该其双键槽合格。由于在检测时，采用通过检具套和塞块组合检测，能完全模拟轴上双键槽的标准装配，因此可满足双键槽的各尺寸及各位置度等指标要求，且具有结构简单，检测快速，使用方便，成本低等优点。

进一步地，所述检具套(1)上具有两个塞块插口(12)，该两个塞块插口(12)沿该检具套(1)中心线方向间隔设置；所述塞块(2)具有两个，该两个塞块(2)与该两个塞块插口(12)一一配合使用。

进一步地，所述塞块(2)为条形板，该半圆键槽检测部(21)设于该塞块(2)上位于其长度方向的一端。

进一步地，所述检具套(1)外壁上设有检测基准面(13)，该检测基准面(13)位于背离所述塞块插口(12)一侧设置。

进一步地，所述塞块(2)上设有刻线(22)。

本实用新型的有益效果是：实用新型通过检具套和塞块组合检测，能完全模拟轴上双键槽的标准装配，因此可满足双键槽的各尺寸及其形状和位置要求等指标要求，且具有结构简单，检测快速，使用方便，成本低等优点。

附图说明

图1是本实用新型在检测时的主视图。

图2是图1中A-A的剖视图。

图3是本实用新型的分体图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明：

在本实施例中，以曲轴N为例，该曲轴N的主轴颈N-1上加工有平键槽N-2和半圆键槽N-3，该平键槽N-2和半圆键槽N-3分布于该主轴颈N-1的两侧且与其中心线具有对称对要求。

参见图1-3，一种双键槽组合检具，包括检具套1及至少一个塞块2。

具体地，该检具套1为中空结构。而该检具套1外形可为块体或柱体等，该检具套1外形可不受限制。

优选地，在本实施例中，该检具套1为中空管体。

另外，该检具套1内孔11与标准曲轴主轴颈N-1外径相匹配，在检测时，该主轴颈N-1会插入检具套1的内孔11内进行检测，因此可用于检测曲轴N上的主轴颈N-1外径是否合格。

另外，检具套1内壁一侧设有平键槽检测凸部11，该平键槽检测凸部11与标准曲轴主轴颈N-1的平键槽N-2相匹配，因此可用于检测曲轴N上的平键槽N-2是否合格。

另外，该检具套1内壁另一侧设有沿径向贯通的塞块插口12，该塞块2横截面与该塞块插口12相匹配，该塞块2一端设有半圆键槽检测部21，该半圆键槽检测部21与标准曲轴主轴颈N-1的半圆键槽N-3相匹配。检测时，该塞块2插装在该塞块插口12上且将圆键槽检测部21伸入该半圆键槽N-3内进行检测，因此可用于检测曲轴上的半圆键槽N-3是否合格。

由于该平键槽检测凸部11与该塞块插口12的位置与标准的曲轴上平键槽N-2和半圆键槽N-3的位置一一对应。因此可通过塞块2上的半圆键槽21检测部21和平键槽检测凸部11检测双键槽之间的相互位置度及其各自沿主轴颈N-1中心线的对称度要求。

在本实施例中，在该主轴颈N-1上配有两个半圆键槽N-3，为了同时能满足检测要求。

另外，在所述检具套1上具有两个塞块插口12，该两个塞块插口12沿该检具套1中心线方向间隔设置；所述塞块2具有两个，该两个塞块2与该两个塞块插口12一一配合使用，该两个塞块插口12与该两个半圆键槽N-3位置一一对应。

另外，所述塞块2为条形板，该半圆键槽检测部21设于该塞块2上位于其长度方向的一端。

具体地，该塞块2的横截面与该半圆键槽N-3槽口外形相匹配，即，该塞块2宽度与半圆键槽N-3槽长相匹配，该塞块2厚度与该半圆键槽N-3宽度匹配。

另外，在所述检具套1外壁上设有检测基准面13，该检测基准面13位于背离所述塞块插口12一侧设置。在检测，该检具套1上的检测基准面13水平放置于检测平台上，该检具套1不会转动，操作方便。

另外，所述塞块2上设有刻线22。该塞块2上设有沿长度方向的垂直刻线和沿宽度方向的水平刻线。在本实施例中，该刻线22呈倒T字形。该水平刻线用于判断是否合格，该垂直刻线用于判断深度偏差大小。

为了方便观察，提高检测效率。另外，该检具套1外壁还设有判断基准面14，该判断基准面14设于该所述塞块插口12外口上。优选地，该判断基准面14与该检测基准面13相互平行设置。

检测时，首先将检具套1通过其检测基准面13平放在检测平台上，再将待测曲轴N的曲轴主轴颈N-1插入检具套1内，且该曲轴上平键槽N-2与平键槽检测凸部11配合滑动到底；然后再将塞块2插装在塞块插口12上，并内压塞块2而将其半圆键槽检测部2插入曲轴N的半圆键槽N-3内。其合格标准为：该塞块2上的水平刻线与该判断基准面14重合平齐。由于在检测时，采用通过检具套和塞块组合检测，能完全模拟轴上双键槽的标准装配，因此可满足双键槽的各尺寸及各位置度等指标要求，且具有结构简单，检测快速，使用方便，成本低等优点。

以上详细描述了本实用新型的较佳具体实施例。应当理解，本领域的普通技术人员无需创造性劳动就可以根据本实用新型的构思作出诸多修改和变化。因此，凡本技术领域中技术人员依本实用新型的构思在现有技术的基础上通过逻辑分析、推理或者有限的实验可以得到的技术方案，皆应在由权利要求书所确定的保护范围内。

Claims (5)

1.一种双键槽组合检具，其特征在于：包括

检具套(1)，该检具套(1)内壁一侧设有平键槽检测凸部(11)，该检具套(1)内壁另一侧设有沿径向贯通的塞块插口(12)；

塞块(2)，该塞块(2)横截面与该塞块插口(12)相匹配，该塞块(2)一端设有半圆键槽检测部(21)。

2.根据权利要求1所述的一种双键槽组合检具，其特征在于：所述检具套(1)上具有两个塞块插口(12)，该两个塞块插口(12)沿该检具套(1)中心线方向间隔设置；所述塞块(2)具有两个，该两个塞块(2)与该两个塞块插口(12)一一配合使用。

3.根据权利要求1所述的一种双键槽组合检具，其特征在于：所述塞块(2)为条形板，该半圆键槽检测部(21)设于该塞块(2)上位于其长度方向的一端。

4.根据权利要求1所述的一种双键槽组合检具，其特征在于：所述检具套(1)外壁上设有检测基准面(13)，该检测基准面(13)位于背离所述塞块插口(12)一侧设置。

5.根据权利要求1所述的一种双键槽组合检具，其特征在于：所述塞块(2)上设有刻线(22)。