CN206863062U - 一种新型集成电路内部电容测试治具及电容测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了新型集成电路内部电容测试治具及电容测试装置，包括散热板，散热板的上部中间位置设置有电容载体，电容载体通过螺栓固定在散热板上，散热板的上端左右两侧边分别设置有第一偏压板组装体和第二偏压板组装体，散热板的上部前后中线位置分别设置有第一滑槽和第二滑槽，第一滑槽滑动连接有第一连接器组件，第二滑槽滑动连接有第二连接器组件，第一连接器组件通过第一线缆头外接第一线缆，所述第二连接器组件通过第二线缆头外接第二线缆。本实用新型有益效果：本实用新型设置有散热板、电容载体、第一连接器组件、第二连接器组件、第一偏压板组装体和第二偏压板组装体，散热板底部设置有若干个铝制散热片，铝制材料散热效果显著。
Description
技术领域
本实用新型涉及半导体器件的测试领域，尤其一种新型集成电路内部电容测试治具及电容测试装置。
背景技术
集成电路设计及制造的目的是采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、二极管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。变容二极管是利用PN结之间电容可变的原理制成的半导体器件，作为可变电容器，被广泛地应用于FM调谐器及TV调谐器等谐振电路和FM调制电路中。我们可以把它看成一个PN结，如果在PN结上加一个反向电压V，则N型半导体内的电子被引向正极，P型半导体内的空穴被引向负极，然后形成既没有电子也没有空穴的耗尽层，该耗尽层的宽度我们设为d，随着反向电压V的变化而变化。如此一来，反向电压V增大，则耗尽层d变宽，二极管的电容量C就减少(根据C＝kS/d)，而耗尽层宽d变窄，二极管的电容量变大。反向电压V的改变引起耗尽层的变化，从而改变了压控变容器的结容量C。
在集成电路测试中，对于设计在其内部的电容的测试一直都是一个难题，因为电容本身都比较小，对测试精度的要求又很高，通常需要芯片工作在一定的频率下进行测试，这对现有测试技术更提出了挑战。目前，业内常见的方法是采用测试机配备LCR测试仪，通过LCR测试仪测得容性数据反馈给测试机，由测试机整合测试资料，完成电容测试。其缺陷在于：采用LCR测试仪测量小电容，通常需要两块测试板，即测电容的和测直流的需要分开，这使得整个系统的测试时间变长，而且LCR测试仪成本非常高。
对集成电路的电性能的测试，现有的一种方法是根据不同的测试板定制一套测试治具，这样做不仅制作周期长，费用也非常高，而且导电体直接与测试电路板的焊盘接触，导电性能不稳定，经过多次测试后还会扎坏测试电路板的焊盘导致损坏测试电路板，无形中增加了制作和维修测试板的成本。
现有的另一种方法是电子产品开发公司设计一款测试主板(也叫验证板)，通过把测试座锁紧在测试主板上来对集成电路进行电性能的测试。测试主板采用镀金工艺，这样测试座内的导电体与测试主板上的镀金焊盘电连接，测试的稳定性好，但是这样做，测试主板的层数多，设计和制作的难度大，设计开发时间长，时间成本和制作成本很高。
因此，对于上述问题有必要提出一种新型集成电路内部电容测试治具及电容测试装置。
实用新型内容
本实用新型目的是克服了现有技术中的不足，提供了一种新型集成电路内部电容测试治具及电容测试装置。
为了解决上述技术问题，本实用新型是通过以下技术方案实现：
新型集成电路内部电容测试治具，包括散热板，所述散热板的上部中间位置设置有电容载体，所述电容载体通过螺栓固定在散热板上，所述散热板的上端左右两侧边分别设置有第一偏压板组装体和第二偏压板组装体，所述散热板的上部前后中线位置分别设置有第一滑槽和第二滑槽，所述第一滑槽滑动连接有第一连接器组件，所述第二滑槽滑动连接有第二连接器组件，所述第一连接器组件通过第一线缆头外接第一线缆，所述第二连接器组件通过第二线缆头外接第二线缆，所述散热板的上部与第一偏压板组装体连接处设置有第三滑槽，所述散热板的上部与第二偏压板组装体连接处设置有第四滑槽。
优选地，所述散热板的上部中央位置在电容载体的四周边均设置有滑动导向板。
优选地，所述第一偏压板组装体与第二偏压板组装体之间的结构形式相同。
优选地，所述第一偏压板组装体包括第一面板，所述第一面板的右端设置有第一方块，所述第一方块设置有若干个间隔分布的第一贯通孔。
优选地，每个所述第一贯通孔均插入有连接线并通过接地销固定连接。
优选地，所述第一连接器组件与第二连接器组件之间的结构形式相同。
优选地，所述第一连接器组件包括滑块，所述滑块的一端设置有压紧块，所述滑块的中间位置设置有立块，所述立块的另一端设置与第一线缆连接头连接的套筒。
优选地，所述滑块的四角边均设置有螺栓滑槽，所述立块与压紧块连接处设置有线缆连接孔。
优选地，所述散热板的底部设置有若干个间隔分布的散热片，所述散热片采用铝合金材料制成。
新型集成电路内部电容测试装置，包括测试电路板，所述新型集成电路内部电容测试装置还包括如权利要求1至9项中任意一项所述的新型集成电路内部电容测试治具，所述新型集成电路内部电容测试治具的散热板焊接在测试电路板上。
本实用新型有益效果：本实用新型设置有散热板、电容载体、第一连接器组件、第二连接器组件、第一偏压板组装体和第二偏压板组装体，散热板底部设置有若干个铝制散热片，铝制材料散热效果显著，散热板装在测试电路板上，测试电路板上的待测集成电路安装位置周边的电子元件与所述转接板之间发生干涉，从而方便将转接板焊接安装到测试电路板上，并提高电性能测试的可靠性，与现有测试治具相比，不需要针对集成电路测试治具定制测试电路板，从而大大地缩短整个集成电路测试装置的制作时间和制作成本，另外，导电体不与测试电路板直接接触，可避免导电体扎坏测试电路板的焊盘，从而提升了电性能测试的稳定性和寿命。
以下将结合附图对本实用新型的构思、具体结构及产生的技术效果作进一步说明，以充分地了解本实用新型的目的、特征和效果。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图；
图2是本实用新型的局部放大示意图；
图3是本实用新型实施例的第一连接器组件示意图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型的实施例进行详细说明，但是本实用新型可以由权利要求限定和覆盖的多种不同方式实施。
如图1并结合图2和图3所示，新型集成电路内部电容测试治具，包括散热板10，所述散热板10的上部中间位置设置有电容载体11，所述电容载体11 通过螺栓固定在散热板10上，所述散热板10的上端左右两侧边分别设置有第一偏压板组装体14和第二偏压板组装体19，所述散热板10的上部前后中线位置分别设置有第一滑槽1和第二滑槽2，所述第一滑槽1滑动连接有第一连接器组件13，所述第二滑槽2滑动连接有第二连接器组件3，所述第一连接器组件13通过第一线缆头12外接第一线缆8，所述第二连接器组件3通过第二线缆头20外接第二线缆9，所述散热板10的上部与第一偏压板组装体14连接处设置有第三滑槽，所述散热板10的上部与第二偏压板组装体17连接处设置有第四滑槽。
进一步的，所述散热板10的上部中央位置在电容载体的四周边均设置有滑动导向板，所述第一偏压板组装体14与第二偏压板组装体17之间的结构形式相同。
进一步的，所述第一偏压板组装体14包括第一面板，所述第一面板的右端设置有第一方块，所述第一方块设置有若干个间隔分布的第一贯通孔18，每个所述第一贯通孔18均插入有连接线15并通过接地销16固定连接。
进一步的，所述第一连接器组件13与第二连接器组件3之间的结构形式相同，所述第一连接器组件13包括滑块31，所述滑块31的一端设置有压紧块 22，所述滑块31的中间位置设置有立块41，所述立块41的另一端设置与第一线缆8头连接的套筒23。
进一步的，所述滑块31的四角边均设置有螺栓滑槽24，所述立块41与压紧块22连接处设置有线缆连接孔26，所述散热板10的底部设置有若干个间隔分布的散热片，所述散热片采用铝合金材料制成。
新型集成电路内部电容测试装置，包括测试电路板，所述新型集成电路内部电容测试装置还包括如权利要求1至9项中任意一项所述的新型集成电路内部电容测试治具，所述新型集成电路内部电容测试治具的散热板焊接在测试电路板上。
工作原理：本实用新型设置有散热板、电容载体、第一连接器组件、第二连接器组件、第一偏压板组装体和第二偏压板组装体，将电容器件21装载在电容载体上11，散热板底部设置有若干个铝制散热片，铝制材料散热效果显著，散热板装在测试电路板上，测试电路板上的待测集成电路安装位置周边的电子元件与所述转接板之间发生干涉，从而方便将转接板焊接安装到测试电路板上，并提高电性能测试的可靠性，与现有测试治具相比，不需要针对集成电路测试治具定制测试电路板，从而大大地缩短整个集成电路测试装置的制作时间和制作成本。另外，导电体不与测试电路板直接接触，可避免导电体扎坏测试电路板的焊盘，从而提升了电性能测试的稳定性和寿命。
以上详细描述了本实用新型的较佳具体实施例。应当理解，本领域的普通技术人员无需创造性劳动就可以根据本实用新型的构思做出诸多修改和变化。因此，凡本技术领域中技术人员依本实用新型的构思在现有技术的基础上通过逻辑分析、推理或者有限的实验可以得到的技术方案，皆应在由权利要求书所确定的保护范围内。
Claims (10)
1.一种新型集成电路内部电容测试治具，其特征在于：包括散热板，所述散热板的上部中间位置设置有电容载体，所述电容载体通过螺栓固定在散热板上，所述散热板的上端左右两侧边分别设置有第一偏压板组装体和第二偏压板组装体，所述散热板的上部前后中线位置分别设置有第一滑槽和第二滑槽，所述第一滑槽滑动连接有第一连接器组件，所述第二滑槽滑动连接有第二连接器组件，所述第一连接器组件通过第一线缆头外接第一线缆，所述第二连接器组件通过第二线缆头外接第二线缆，所述散热板的上部与第一偏压板组装体连接处设置有第三滑槽，所述散热板的上部与第二偏压板组装体连接处设置有第四滑槽。
2.如权利要求1所述的一种新型集成电路内部电容测试治具，其特征在于：所述散热板的上部中央位置在电容载体的四周边均设置有滑动导向板。
3.如权利要求1所述的一种新型集成电路内部电容测试治具，其特征在于：所述第一偏压板组装体与第二偏压板组装体之间的结构形式相同。
4.如权利要求1所述的一种新型集成电路内部电容测试治具，其特征在于：所述第一偏压板组装体包括第一面板，所述第一面板的右端设置有第一方块，所述第一方块设置有若干个间隔分布的第一贯通孔。
5.如权利要求4所述的一种新型集成电路内部电容测试治具，其特征在于：每个所述第一贯通孔均插入有连接线并通过接地销固定连接。
6.如权利要求1所述的一种新型集成电路内部电容测试治具，其特征在于：所述第一连接器组件与第二连接器组件之间的结构形式相同。
7.如权利要求1所述的一种新型集成电路内部电容测试治具，其特征在于：所述第一连接器组件包括滑块，所述滑块的一端设置有压紧块，所述滑块的中间位置设置有立块，所述立块的另一端设置与第一线缆连接头连接的套筒。
8.如权利要求7所述的一种新型集成电路内部电容测试治具，其特征在于：所述滑块的四角边均设置有螺栓滑槽，所述立块与压紧块连接处设置有线缆连接孔。
9.如权利要求1所述的一种新型集成电路内部电容测试治具，其特征在于：所述散热板的底部设置有若干个间隔分布的散热片，所述散热片采用铝合金材料制成。
10.一种新型集成电路内部电容测试装置，其特征在于：包括测试电路板，所述新型集成电路内部电容测试装置还包括如权利要求1至9项中任意一项所述的新型集成电路内部电容测试治具，所述新型集成电路内部电容测试治具的散热板焊接在测试电路板上。
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