CN206649498U - 一种测试非标准pcie总线接口的测试治具 - Google Patents
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Abstract
一种测试非标准PCIE总线接口的测试治具，包括非标准PCIE测试接口I、测试夹具、示波器；测试夹具包括与非标准PCIE测试接口I插接的非标准PCIE测试接口II,若干输入输出接口单元；每个输入输出接口单元包括一对输入接口和一对输出接口；每个输入接口都与非标准PCIE测试接口II上的对应端子通过测试引出线连接；每个输出接口都与非标准PCIE测试接口II上的对应端子通过测试引出线连接；示波器包括一对输出口，一对输入口；测试夹具的任意一对输入接口通过信号线接示波器的输出口，同时，同一单元的一对输出接口通过信号线接示波器的输入口。
Description
技术领域
本实用新型属于PCB设计及仿真测试领域，具体涉及一种测试非标准PCIE总线接口的测试治具。
背景技术
测试领域中测试成本较高，测试工序复杂, 标准的PCIE总线接口的测试治具为协会规定的标准测试夹具，夹具是金手指的对外接口，可以插入标准PCIE连接器，但产品设计中也会有非标准接口的情况，例如有高速连接器接口,PCIE3.0信号从主板处理器出来，到高速连接器，高速连接器上方一般是接入一个转接卡，转接卡有转接芯片，将PCIE总线转为其他总线协议。这样从处理器到高速连接器这一段的PCIE就无法进行测试。
此为现有技术不足之处。因此，针对现有技术中的上述缺陷，提供设计一种测试非标准PCIE总线接口的测试治具，是非常有必要的。
发明内容
本实用新型的目的在于，针对上述非标准PCIE总线接口（高速连接器接口）无法测试的缺陷，提供一种测试非标准PCIE总线接口的测试治具，以解决上述技术问题。
为实现上述目的，本实用新型给出以下技术方案：
一种测试非标准PCIE总线接口的测试治具，包括非标准PCIE测试接口I、测试夹具、示波器；
测试夹具包括与非标准PCIE测试接口I插接的非标准PCIE测试接口II,若干输入输出接口单元；
每个输入输出接口单元包括一对输入接口和一对输出接口；
每个输入接口都与非标准PCIE测试接口II上的对应端子通过测试引出线连接；
每个输出接口都与非标准PCIE测试接口II上的对应端子通过测试引出线连接；每条测试引出线符合标准PCIE接口对应的通用测试夹具规范中对引出线S参数指标的定义；引出线S参数的设计为本领域公知常识，此处不再赘述。
示波器包括一对输出口，一对输入口；
测试夹具的任意一对输入接口通过信号线接示波器的输出口，同时，同一单元的一对输出接口通过信号线接示波器的输入口。
示波器可以同时连接测试夹具的输入接口和输出接口，由示波器提供信号，同时由示波器接收信号，测试夹具作为无源板。
进一步地，所述测试夹具包括8个输入输出接口单元。
进一步地，所述非标准PCIE测试接口I和非标准PCIE测试接口II采用FCI 4PAIR的12行90度连接器。
进一步地，所述测试夹具还包括一对时钟接口，示波器还包括一对时钟口，测试夹具的时钟接口与示波器的时钟口连接，根据测试的需要，有时需要同步，则需要测试夹具的时钟接口与示波器的时钟口连接，进行同步。
进一步地，所述测试夹具还包括电源供电端口，需要同时测试PCIE总线接口的电源信号时，需要在测试夹具上将电源供电端口引出来。
进一步地，所述非标准PCIE总线接口采用PCIE3.0协议。
进一步地，每对输入接口的输入为一对差分信号；每对输出接口的输出为一对差分信号，差分信号保证了信号的稳定性。
进一步地，示波器对测试治具一对输入接口进行眼图测试。
进一步的，示波器对测试治具一对输出接口进行误码率测试。
本实用新型还给出以下技术方案：
一种测试非标准PCIE总线接口的测试治具, 包括非标准PCIE测试接口I、测试夹具、示波器；
测试夹具包括与非标准PCIE测试接口I插接的非标准PCIE测试接口II,若干输入输出接口单元；
每个输入输出接口单元包括一对输入接口和一对输出接口；
每个输入接口都与非标准PCIE测试接口II上的对应端子通过测试引出线连接；
每个输出接口都与在非标准PCIE测试接口II上的对应端子通过测试引出线连接；
示波器包括一对输出口，一对输入口；
测试夹具的任意一对输入接口通过信号线接示波器的输出接口，或者测试夹具的任意一对输出接口通过信号线接示波器的输入接口。
示波器可以只连接测试夹具一对输入接口，由示波器提供信号，进行输入接口的测试；
示波器还可以只连接测试夹具一对输出接口，由示波器接收信号，进行输出接口的测试；
本实用新型的有益效果在于：本实用新型针对PCIE非标准接口，即计算主板上高速连接器接转接板卡，针对这种非标准的PCIE总线测试设计一种测试夹具，使非标准接口得以测试实现。
此外，本实用新型设计原理可靠，结构简单，具有非常广泛的应用前景。
由此可见，本实用新型与现有技术相比，具有实质性特点和进步，其实施的有益效果也是显而易见的。
附图说明
图1为本实用新型连接示意图；
其中，1.测试夹具；2.非标准PCIE测试接口I；3.非标准PCIE测试接口II；
4. 输入输出接口单元；5.示波器；RX1+.第一输入正接口；RX1-.第一输入负接口；TX1+.第一输出正接口；TX1-.第一输出负接口；RX2+.第二输入正接口；RX2-.第二输入负接口；TX2+.第二输出正接口；TX2-.第二输出负接口；RX3+.第三输入正接口；RX3-.第三输入负接口；TX3+.第三输出正接口；TX3-.第三输出负接口；RX4+.第四输入正接口；RX4-.第四输入负接口；TX4+.第四输出正接口；TX4-.第四输出负接口；RX5+.第五输入正接口；RX5-.第五输入负接口；TX5+.第五输出正接口；TX5-.第五输出负接口；RX6+.第六输入正接口；RX6-.第六输入负接口；TX6+.第六输出正接口；TX6-.第六输出负接口；RX7+.第七输入正接口；RX7-.第七输入负接口；TX7+.第七输出正接口；TX7-.第七输出负接口；RX8+.第八输入正接口；RX8-.第八输入负接口；TX8+.第八输出正接口；TX8-.第八输出负接口；RX+.示波器正输入口；RX-.示波器负输入口；TX+.示波器正输出口；TX-.示波器负输出口。
具体实施方式：
为使得本实用新型的目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本具体实施例中的附图，对本实用新型中的技术方案进行清楚、完整地描述。
如图1所示，本实用新型提供一种测试非标准PCIE总线接口的测试治具，包括非标准PCIE测试接口I 2、测试夹具1、示波器5；所述非标准PCIE总线接口采用PCIE3.0协议；
测试夹具1包括与非标准PCIE测试接口I 2 插接的非标准PCIE测试接口II 3,8个输入输出接口单元；非标准PCIE测试接口I 2和非标准PCIE测试接口II 3采用FCI 4PAIR的12行90度连接器；
第一输入输出接口单元包括第一输入正接口RX1+、第一输入负接口RX1-和第一输出正接口TX1+、第一输出负接口TX1-；
第二输入输出接口单元包括第二输入正接口RX2+、第二输入负接口RX2-和第二输出正接口TX2+、第二输出负接口TX2-；
第三输入输出接口单元包括第三输入正接口RX3+、第三输入负接口RX3-和第三输出正接口TX3+、第三输出负接口TX3-；
第四输入输出接口单元包括第四输入正接口RX4+、第四输入负接口RX4-和第四输出正接口TX4+、第四输出负接口TX4-；
第五输入输出接口单元包括第五输入正接口RX5+、第五输入负接口RX5-和第五输出正接口TX5+、第五输出负接口TX5-；
第六输入输出接口单元包括第六输入正接口RX6+、第六输入负接口RX6-和第六输出正接口TX6+、第六输出负接口TX6-；
第七输入输出接口单元包括第七输入正接口RX7+、第七输入负接口RX7-和第七输出正接口TX7+、第七输出负接口TX7-；
第八输入输出接口单元包括第八输入正接口RX8+、第八输入负接口RX8-和第八输出正接口TX8+、第八输出负接口TX8-；
每个输入接口都与非标准PCIE测试接口II 3上的对应端子通过测试引出线连接；
每个输出接口都与非标准PCIE测试接口II 3上的对应端子通过测试引出线连接；
每条测试引出线符合标准PCIE接口对应的通用测试夹具规范中通道S参数指标的定义；所述S参数指散射参数。是微波传输中的一个重要参数。S12为反向传输系数，也就是隔离。S21为正向传输系数，也就是增益。S11为输入反射系数，也就是输入回波损耗，S22为输出反射系数，也就是输出回波损耗。
示波器5包括一对输出口，示波器正输出口TX+,示波器负输出口TX-，一对输入口，示波器正输入口RX+,示波器负输入口RX-；
测试夹具1的第八输入正接口RX8+和第八输入负接口RX8-分别通过信号线接示波器正输出口TX+和示波器负输出口TX-，第八输出正接口TX8+与第八输出负接口TX8-分别通过信号线接示波器正输入口RX+和示波器负输入口RX-。每对输入接口的输入信号为一对差分信号；每对输出接口的输出信号为一对差分信号。示波器对测试治具一对输入接口进行眼图测试。示波器对测试治具一对输出接口进行误码率测试。
本实用新型的实施例是说明性的，而非限定性的，上述实施例只是帮助理解本实用新型，因此本实用新型不限于具体实施方式中所述的实施例，凡是由本领域技术人员根据本实用新型的技术方案得出的其他的具体实施方式，同样属于本实用新型保护的范围。
Claims (10)
1.一种测试非标准PCIE总线接口的测试治具，其特征在于，包括非标准PCIE测试接口I、测试夹具、示波器；
测试夹具包括与非标准PCIE测试接口I插接的非标准PCIE测试接口II,若干输入输出接口单元；
每个输入输出接口单元包括一对输入接口和一对输出接口；
每个输入接口都与非标准PCIE测试接口II上的对应端子通过测试引出线连接；
每个输出接口都与非标准PCIE测试接口II上的对应端子通过测试引出线连接；
示波器包括一对输出口，一对输入口；
测试夹具的任意一对输入接口通过信号线接示波器的输出口，同时，同一单元的一对输出接口通过信号线接示波器的输入口。
2.如权利要求1所述的一种测试非标准PCIE总线接口的测试治具，其特征在于，所述测试夹具包括8个输入输出接口单元。
3.如权利要求1所述的一种测试非标准PCIE总线接口的测试治具，其特征在于，所述非标准PCIE测试接口I和非标准PCIE测试接口II采用FCI 4PAIR的12行90度连接器。
4.如权利要求1所述的一种测试非标准PCIE总线接口的测试治具，其特征在于，所述测试夹具还包括一对时钟接口，示波器还包括一对时钟口，测试夹具的时钟接口与示波器的时钟口连接。
5.如权利要求1所述的一种测试非标准PCIE总线接口的测试治具，其特征在于，所述测试夹具还包括电源供电端口。
6.如权利要求1所述的一种测试非标准PCIE总线接口的测试治具，其特征在于，所述非标准PCIE总线接口采用PCIE3.0协议。
7.如权利要求1所述的一种测试非标准PCIE总线接口的测试治具，其特征在于，每对输入接口的输入为一对差分信号；每对输出接口的输出为一对差分信号。
8.如权利要求1所述的一种测试非标准PCIE总线接口的测试治具，其特征在于，
示波器对测试治具一对输入接口进行眼图测试。
9.如权利要求1所述的一种测试非标准PCIE总线接口的测试治具，其特征在于，示波器对测试治具一对输出接口进行误码率测试。
10.一种测试非标准PCIE总线接口的测试治具,其特征在于,
包括非标准PCIE测试接口I、测试夹具、示波器；
测试夹具包括与非标准PCIE测试接口I插接的非标准PCIE测试接口II,若干输入输出接口单元；
每个输入输出接口单元包括一对输入接口和一对输出接口；
每个输入接口都与非标准PCIE测试接口II上的对应端子通过测试引出线连接；
每个输出接口都与非标准PCIE测试接口II上的对应端子通过测试引出线连接；
示波器包括一对输出口，一对输入口；
测试夹具的任意一对输入接口通过信号线接示波器的输出口，或者测试夹具的任意一对输出接口通过信号线接示波器的输入口。
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| CN109738786A (zh) * | 2018-12-26 | 2019-05-10 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种gpu测试治具的设计方法与系统 |
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