CN206601695U - 一种检测并指示目标芯片状态的烧录装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种检测并指示目标芯片状态的烧录装置，包括主控电路和指示电路，所述主控电路分别与目标芯片的电源端口V_DD、端口P₀、通讯端口P₂及指示电路连接，用于对目标芯片进行烧录并检测目标芯片状态，所述指示电路用于指示目标芯片的状态。本实用新型通过主控电路对目标芯片进行烧录并检测目标芯片状态，同时通过指示电路对检测到的目标芯片的状态做出相应的指示。整个烧录过程可视化，减少了由于人为造成的失误，提高了工作效率，同时降低了人工成本。

Description

一种检测并指示目标芯片状态的烧录装置

技术领域

本实用新型涉及集成电路技术领域，具体涉及一种检测并指示目标芯片状态的烧录装置。

背景技术

随着集成电路产业的快速发展，电子产品的竞争愈发激烈。芯片的设计、生产及测试影响了IC的生产周期，进而影响了相关产品迭代的周期。在消费电子产品更新换代如此迅捷的今天，任何环节的延误都可能导致产品销售惨淡，企业亏损。众所周知，所有的芯片都要经过测试环节，而所有可编程的芯片(如OTP，Flash等)都需要对IC进行烧录程序才能够让芯片实现相应的功能。

目前烧录程序大多数都是人工完成，而为了节省人力成本，一个操作员常常需要同时烧录多个IC。操作员同时操作多个烧录设备时，很容易出现人为的失误，比如某个烧录设备中已烧录完成的芯片忘记取走，或者某个烧录设备放入了芯片却忘记按下按键等。给芯片的烧录引入了很多人为的失误，影响了工作效率，进而影响产品的良率及备货周期，使得企业在竞争中有所掣肘，难以长远发展。

实用新型内容

为了克服上述现有技术存在的不足，本实用新型的主要目的在于提供一种检测并指示芯片是否烧录成功及芯片是否放置于烧录装置中的烧录装置。

本实用新型提供一种检测并指示芯片状态的烧录装置，目标芯片包括电源端口V_DD、通讯端口P₂和端口P₀，且目标芯片内还包括寄生二极管D₀，所述寄生二极管D₀的负极接所述电源端口V_DD，所述寄生二极管D₀的正极接所述端口P₀；所述烧录装置包括主控电路和指示电路；所述主控电路分别与目标芯片的电源端口V_DD、端口P₀、通讯端口P₂及指示电路连接，用于对目标芯片进行烧录并检测目标芯片的状态；所述指示电路用于指示目标芯片的状态。

优选地，所述指示电路包括指示灯L_A、指示灯L_B0、指示灯L_B1和指示灯L_C；所述指示灯L_A用于指示目标芯片是否放入烧录装置，所述指示灯L_B0和指示灯L_B1用于指示目标芯片是否烧录成功，所述指示灯L_C用于指示目标芯片烧录成功后是否取出。

优选地，包括输入装置，所述输入装置用于向所述主控电路输入一个使烧录装置开始工作的触发信号。

优选地，所述指示电路包括指示灯L_A、指示灯L_B0、指示灯L_B1和指示灯 L_C；所述指示灯L_A用于指示所述主控电路是否有触发信号的输入，所述指示灯L_B0和指示灯L_B1用于指示目标芯片是否烧录成功，所述指示灯L_C用于指示目标芯片烧录成功后是否取出及目标芯片烧录成功且取出后，是否再次放入目标芯片。

优选地，所述主控电路设置有滤波模块，所述滤波模块用于对所述输入装置的触发信号进行过滤，使所述主控电路的输入信号处于预设的频率范围内。

优选地，所述主控电路包括控制芯片和外围电路，所述外围电路包括开关S₀、电阻R₀、电阻R₁、电容C₀和电源V_PWR1；所述控制芯片的控制端口V_CTL接开关S₀的第三端，开关S₀的第一端接电源V_PWR1，开关S₀的第二端接电阻 R₀的一端、电容C₀的一端及目标芯片的电源端口V_DD，所述电阻R₀、电容C₀的另一端接地；所述控制芯片的检测端口P₁接电阻R₁的一端及目标芯片的端口P₀，所述电阻R₁的另一端接电源V_PWR1；所述控制芯片的通讯端口P₃接目标芯片的通讯端口P₂；所述控制芯片的端口V_PWR接电源V_PWR1。

优选地，所述电源V_PWR1的电压大于0.7V。

优选地，所述电阻R₁的阻值大于电阻R₀的阻值。

本实用新型的目标芯片包括电源端口V_DD、通讯端口P₂和端口P₀，且目标芯片内还包括寄生二极管D₀，所述寄生二极管D₀的负极接所述电源端口V_DD，所述寄生二极管D₀的正极接所述端口P₀。

相比于现有技术，本实用新型的烧录装置设置有主控电路和指示电路，并将主控电路分别与目标芯片的电源端口V_DD、端口P₀、通讯端口P₂及指示电路连接，通过主控电路对目标芯片进行烧录，并通过检测目标芯片的端口 P₀的电压来检测目标芯片的状态。其中目标芯片的状态包括目标芯片是否放置于烧录装置中、目标芯片是否烧录成功等，使主控电路能够根据检测结果控制指示电路对应于目标芯片不同的状态做出相应的指示，使整个烧录过程可视化。减少了由于人为造成的失误，提高了工作效率，同时降低了人工成本。

附图说明

图1为本实用新型实施例1的烧录装置电路框图；

图2为本实用新型实施例1的主控电路电路图；

图3为本实用新型实施例1的指示电路的电路图；

图4为本实用新型实施例1的自动模式烧录流程图；

图5为本实用新型实施例2的烧录装置电路框图；

图6为本实用新型实施例2的手动模式烧录流程图；

图中，10、主控电路；101、控制芯片；102、外围电路；20、指示电路； 30、目标芯片；40、输入装置。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

实施例1

如图1所示，本实用新型提供一种检测并指示芯片状态的烧录装置，包括主控电路10和指示电路20。主控电路10用于对目标芯片30进行烧录及检测目标芯片30的烧录状态，并根据检测结果输出控制信号至指示电路20，从而控制指示电路20的指示状态。

现有芯片的IO口ESD防护电路中几乎都存在有寄生二极管。在本实施例中，目标芯片30的IO口ESD防护电路中的寄生二极管为寄生二极管D₀，该寄生二极管D₀的正极与目标芯片30的端口P₀连接，其负极与目标芯片30的电源端口V_DD连接。

如图2所示，主控电路10包括控制芯片101和外围电路102。外围电路包括开关S₀、电阻R₀、电阻R₁、电容C₀和电源V_PWR1。控制芯片101的控制端口V_CTL接开关S₀的第三端，开关S₀的第一端接电源V_PWR1，开关S₀的第二端接电阻R₀的一端、电容C₀的一端及目标芯片30的电源端口V_DD，电阻R₀、电容C₀的另一端接地。控制芯片101的检测端口P₁接电阻R₁的一端及目标芯片30的端口P₀，电阻R₁的另一端接电源V_PWR1。控制芯片101的通讯端口 P₃接目标芯片30的通讯端口P₂。控制芯片101的端口V_PWR接电源V_PWR1。

在本实施例中，利用目标芯片30端口P₀的ESD防护电路中寄生二极管D₀作为电路的一个连接器，通过检测控制芯片101的端口P₁输入电压的高低来判断目标芯片30是否放置于烧录装置。

正常进行烧录时，主控电路10中的检测电路不使能，主控电路10中烧录电路使能。此时控制信号V_CTL控制开关S₀闭合，同时根据控制需要使控制芯片101的端口P₁此时为输入或者输出模式，使程序通过控制芯片101的通讯端口P₃到P₂端口，对目标芯片30烧录程序。当烧录结束，V_CTL控制开关 S₀断开，此时目标芯片30的电源端V_DD断电，取出或者放入目标芯片30就不存在热插拔的问题，降低了芯片被损坏的风险。然后再控制控制芯片101的端口P₁及P₃此时为输入模式，开始使能主控电路10中的检测电路。

当目标芯片30存在烧录装置中时，电流经过R₁、D₀、R₀与C₀的并联流到地。N点电压的表达式为：

其中V_D0≈0.7V，V_N为目标芯片端口P₂的电压值，R₀为电阻R₀的阻值，R₁为电阻R₁的阻值，V_D0为寄生二极管的压降值。

当目标芯片30不在烧录装置中时，由于缺少寄生二极管D₀作为连接，因此无电流通路，此时N点电压的表达式为：

V_N＝V_PWR1

其中，V_PWR1为电源V_PWR1的电压值。

为了区分目标芯片30存在与不存在烧录装置中的两种情况，可以通过区分两种情况下V_N的电压值来间接表示。本实施例中取R₁＝20R₀，V_PWR1＝3.3V。则有电流回路时，V_N≈0.7V；而无电流回路时V_N＝3.3V，因此轻易就可以分辨两种不同情况下N点的电压值。

在本实施例中，外围电路102中电容C₀的作用是在开关S₀闭合时，稳定 V_DD电压的。本实施例中电阻R₁和电阻R₀的比例也可以换成别的数值，只需要保证R₁的阻值远大于R₀的阻值即可，同时V_PWR1的取值也可以换成5V或其他电压值，只要能满足目标芯片30在与不在烧录装置中的两种情况下的V_N的差异大到能够被区分即可。同时当控制芯片101与目标芯片的电源电压不相同，即V_PWR端口外接电压不等于V_PWR1时，只需在控制芯片101与外围电路102间加入电平转换芯片即可。

如图3所示，指示电路20包括指示灯L_A、指示灯L_B0、指示灯L_B1和指示灯L_C。主控电路10根据其检测结果产生四个控制信号分别控制指示灯L_A、指示灯L_B0、指示灯L_B1和指示灯L_C的状态。而在另一个实施例中，指示电路也可以通过喇叭提示音或者显示屏等易被观测到的信息来提示目标芯片的状态。

本实施例烧录装置为自动模式，当主控电路10检测到目标芯片放入，烧录装置即开始工作。如图4所示，本实施例的芯片自动烧录及检测方法包括以下骤：

步骤A1，检测目标芯片是否放入烧录装置。

当检测结果为否时，则进行步骤A2，保持指示灯L_C的状态，表示未检测到目标芯片放入，同时跳转回步骤A1。

当检测结果为是时，则进行步骤A3，控制指示灯L_C熄灯，控制指示灯L_A亮灯，给目标芯片上电，表示检测到目标芯片放入。

步骤A4，给目标芯片烧录程序。

步骤A5，判断目标芯片烧录是否成功。

当步骤A5判断为否时，则进行步骤A6，控制指示灯L_B0亮灯，控制指示灯L_A熄灯，使目标芯片掉电，表示目标芯片烧录失败，同时跳转回步骤A1。

当步骤A5判断为是时，则进行步骤A7，控制指示灯L_B1亮灯，控制指示灯L_A熄灯，使目标芯片掉电，表示芯片烧录成功。

步骤A8，判断烧录成功的目标芯片是否被取出烧录装置。

当判断为否时，则进行步骤A9，保持指示灯L_B1状态，表示芯片烧录成功但未取出，跳转回步骤A8。

当判断为是时，则进行步骤A10，控制指示灯L_C亮灯，控制指示灯L_B1熄灯，表示芯片烧录成功且已取出，自动烧录装置烧录完成，然后跳转回步骤A1。

实施例2

本实施例与实施例1的电路实现原理基本相同，不同之处在于，本实施例的烧录装置为手动模式。

如图5所示，本实施例的烧录装置还包括输入装置40，输入装置40用于向主控电路10输入一个使烧录装置开始工作的触发信号，可以是按键或者高电平脉冲等。在本实施例中，主控电路10设置有滤波模块，该滤波模块用于对输入装置40输入的触发信号进行过滤，从而选择一定频率的输入信号为使烧录装置开始工作的触发信号，防止非人为输入的高频信号使烧录装置开始工作，以大限度地降低误触发的概率。

如图6所示为本实施例的芯片手动烧录及检测方法，具体包括以下骤：

步骤B1，检测主控电路是否有信号送入。

当检测结果为否时，则进行步骤B2，保持指示灯L_C的状态，表示此时无信号送入，同时跳转回步骤B1。

当检测结果为是时，则进行步骤B3，控制指示灯L_C熄灯，控制指示灯L_A亮灯，给目标芯片上电，表示此时主控电路有信号送入。

步骤B4，给目标芯片烧录程序。

步骤B5，判断目标芯片烧录是否成功。

当步骤B5判断为否时，则进行步骤B6，控制指示灯L_B0亮灯，控制指示灯L_A熄灯，使目标芯片掉电，表示对目标芯片的烧录失败，同时跳转回步骤 B1。

当步骤B5判断为是时，则进行步骤B7，控制指示灯L_B1亮灯，控制指示灯L_A熄灯，使目标芯片掉电，表示目标芯片烧录已成功。

步骤B8，判断目标芯片烧录成功后是否取出烧录装置。

当判断为否时，则进行步骤B9，保持指示灯L_B1的状态，表示目标芯片烧录成功，但未取出，同时跳转回步骤B8；

当判断为是时，则进行步骤B10，控制指示灯L_C亮灯，控制指示灯L_B1熄灯，表示目标芯片烧录成功，且已取出。

步骤B11，判断目标芯片烧录成功且被取出后，是否有目标芯片再次放入烧录装置。

当判断为否时，则进行步骤B12，保持指示灯L_C的状态，表示芯片烧录成功且被取出后，无芯片放入。

当判断为是时，则进行步骤B13，控制指示灯L_C闪烁，表示前一个芯片烧录成功且被取出后，又有一颗芯片被放入，同时跳转回步骤B1。

以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。

Claims (8)

1.一种检测并指示目标芯片状态的烧录装置，其特征在于，目标芯片包括电源端口V_DD、通讯端口P₂和端口P₀，且目标芯片内还包括寄生二极管D₀，所述寄生二极管D₀的负极接所述电源端口V_DD，所述寄生二极管D₀的正极接所述端口P₀；所述烧录装置包括主控电路和指示电路；所述主控电路分别与目标芯片的电源端口V_DD、端口P₀、通讯端口P₂及指示电路连接，用于对目标芯片进行烧录并检测目标芯片的状态；所述指示电路用于指示目标芯片的状态。

2.根据权利要求1所述的检测并指示目标芯片状态的烧录装置，其特征在于，所述指示电路包括指示灯L_A、指示灯L_B0、指示灯L_B1和指示灯L_C；所述指示灯L_A用于指示目标芯片是否放入烧录装置，所述指示灯L_B0和指示灯L_B1用于指示目标芯片是否烧录成功，所述指示灯L_C用于指示目标芯片烧录成功后是否取出。

3.根据权利要求1所述的检测并指示目标芯片状态的烧录装置，其特征在于，包括输入装置，所述输入装置用于向所述主控电路输入一个使烧录装置开始工作的触发信号。

4.根据权利要求3所述的检测并指示目标芯片状态的烧录装置，其特征在于，所述指示电路包括指示灯L_A、指示灯L_B0、指示灯L_B1和指示灯L_C；所述指示灯L_A用于指示所述主控电路是否有触发信号的输入，所述指示灯L_B0和指示灯L_B1用于指示目标芯片是否烧录成功，所述指示灯L_C用于指示目标芯片烧录成功后是否取出及目标芯片烧录成功且取出后，是否再次放入目标芯片。

5.根据权利要求3所述的检测并指示目标芯片状态的烧录装置，其特征在于，所述主控电路设置有滤波模块，所述滤波模块用于对所述输入装置的触发信号进行过滤，使所述主控电路的输入信号处于预设的频率范围内。

6.根据权利要求1至5其中任一项所述的检测并指示目标芯片状态的烧录装置，其特征在于，所述主控电路包括控制芯片和外围电路，所述外围电路包括开关S₀、电阻R₀、电阻R₁、电容C₀和电源V_PWR1；所述控制芯片的控制端口V_CTL接开关S₀的第三端，开关S₀的第一端接电源V_PWR1，开关S₀的第二端接电阻R₀的一端、电容C₀的一端及目标芯片的电源端口V_DD，所述电阻R₀、电容C₀的另一端接地；所述控制芯片的检测端口P₁接电阻R₁的一端及目标芯片的端口P₀，所述电阻R₁的另一端接电源V_PWR1；所述控制芯片的通讯端口P₃接目标芯片的通讯端口P₂；所述控制芯片的端口V_PWR接电源V_PWR1。

7.根据权利要求6所述的检测并指示目标芯片状态的烧录装置，其特征在于，所述电源V_PWR1的电压大于0.7V。

8.根据权利要求6所述的检测并指示目标芯片状态的烧录装置，其特征在于，所述电阻R₁的阻值大于电阻R₀的阻值。