CN206496748U - 一种改进型探针结构 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及测量型探头，尤其是指一种改进型探针结构。其包括有探针杆，所述探针杆的上端部设有用于与检测机台连接的探针连接部，所述探针杆的下端部设置有用于探测弧形轮廓的第一探针头和用于测量侧壁槽孔的第二探针头，所述第二探针头同轴设于第一探针头的下方。所述第一探针头对弧形轮廓探点一次即可获取该弧形轮廓的轮廓值，所述第二探针头不仅可直接上下取中点实现Z向测量，而且还可对产品的内腔侧壁进行X/Y向探测。本实用新型的结构简单，探测操作便利，对弧形轮廓、内腔侧壁的探测值更准确及稳定，适用于产品结构复杂部位的探测。

Description

一种改进型探针结构

技术领域

本实用新型涉及测量型探头，尤其是指一种改进型探针结构。

背景技术

探针，是一种用于CNC加工探测的工具。探针安装在检测机台使用，在检测机台的带动下触碰工件的轮廓，根据探针反馈给检测机台的位移信号，检测机台计算出工件的轮廓参数，并与预先记录于检测机台内的理论参考值进行比对，得出实际值和理论值的偏差值。根据该偏差值可以区分合格品和不良品，并且该偏差值能够用于对工件的轮廓进行修正，以挽救不良品。

传统的探针，其探头一般为圆柱形或者球形，对于轮廓形状为异形结构，如存在上倒角和下倒角的弧形轮廓的工件，因为上倒角和下倒角的倾斜面相反，导致圆柱形的探头和球形的探头都难以找到同时匹配上倒角和下倒角的接触点，导致检测机台计算出的轮廓参数值与实际值存在较大误差，测量精度下降。

另外，传统的柱形探针探测一般只能Z向探测，无法探测产品内腔壁上的结构，因产品装夹后会存在一定的形变量，导致无法准确探测到标准值，使加工存在偏位和过铣现象。

实用新型内容

本实用新型针对现有技术的问题提供一种改进型探针结构。

为了解决上述技术问题，本实用新型采用如下技术方案：

一种改进型探针结构，包括有探针杆，所述探针杆的上端部设有用于与检测机台连接的探针连接部，所述探针杆的下端部设置有用于探测弧形轮廓的第一探针头和用于测量侧壁槽孔的第二探针头，所述第二探针头同轴设于第一探针头的下方。

其中，所述第一探针头包括上测试部、过渡部和下测试部，所述上测试部呈圆台状设置，所述过渡部呈圆柱状设置，所述下测试部呈倒圆台状设置；所述上测试部、过渡部和下测试部的中轴线均与探针杆的中轴线重合；所述上测试部的上端与探针杆的下端部连接，上测试部的底端与过渡部的上端连接，过渡部的下端与下测试部的上端连接。

进一步的，所述下测试部与第二探针头之间设置有避空连接杆，所述避空连接杆的上端与下测试部的上端连接，避空连接杆的下端与第二探针头连接。

再进一步的，所述第二探针头的下端还设置有深度测试杆，所述深度测试杆的中轴线与第二探针头的中轴线重合。

作为优选的，所述第一探针头、避空连接杆、第二探针头和深度测试杆由同一根圆柱体加工成型，且构成多用途的探头主体；所述第一探针头的顶部中间设有螺纹连接段，所述探头主体通过螺纹连接段与探针杆的下端部可拆卸连接。

其中，所述第二探针头为圆形板，所述圆形板的直径大于避空连接杆的直径。

进一步的，所述圆形板的厚度为2mm,圆形板的直径为4mm。

本实用新型的有益效果：

本实用新型所提供的一种改进型探针结构，包括有探针杆，所述探针杆的上端部设有用于与检测机台连接的探针连接部，所述探针杆的下端部设置有用于探测弧形轮廓的第一探针头和用于测量侧壁槽孔的第二探针头，所述第二探针头同轴设于第一探针头的下方。所述第一探针头对弧形轮廓探点一次即可获取该弧形轮廓的轮廓值，所述第二探针头不仅可直接上下取中点实现Z向测量，而且还可对产品的内腔侧壁进行X/Y向探测。本实用新型的结构简单，探测操作便利，对弧形轮廓、内腔侧壁的探测值更准确及稳定，适用于产品结构复杂部位的探测。

附图说明

图1为本实用新型一种改进型探针结构的立体图。

图2为本实用新型一种改进型探针结构的主视图。

图3为本实用新型在更换不同探头主体时的结构分解图。

在图1至图3中的附图标记包括：

1—探针杆 2—探针连接部 3—第一探针头

31—上测试部 32—过渡部 33—下测试部

4—第二探针头 5—避空连接杆 6—深度测试杆

7—螺纹连接段。

具体实施方式

为了便于本领域技术人员的理解，下面结合实施例与附图对本实用新型作进一步的说明，实施方式提及的内容并非对本实用新型的限定。以下结合附图对本实用新型进行详细的描述。

本实用新型所提供的一种改进型探针结构，包括有探针杆1，所述探针杆1的上端部设有用于与检测机台连接的探针连接部2，所述探针杆1的下端部设置有用于探测弧形轮廓的第一探针头3和用于测量侧壁槽孔的第二探针头4，所述第二探针头4同轴设于第一探针头3的下方。所述探针杆1通过探针连接部2垂直固定安装在检测机台上，通过检测机台控制探针杆1的。在使用时，所述第一探针头3对弧形轮廓探点一次即可获取该弧形轮廓的轮廓值，所述第二探针头4不仅可直接上下取中点实现Z向测量，而且还可对产品的内腔侧壁进行X/Y向探测。本实用新型的结构简单，探测操作便利，对弧形轮廓、内腔侧壁的探测值更准确及稳定，适用于产品结构复杂部位的探测。

在本实用新型中，所述第一探针头3包括上测试部31、过渡部32和下测试部33，所述上测试部31呈圆台状设置，所述过渡部32呈圆柱状设置，所述下测试部33呈倒圆台状设置；所述上测试部31、过渡部32和下测试部33的中轴线均与探针杆1的中轴线重合；所述上测试部31的上端与探针杆1的下端部连接，上测试部31的底端与过渡部32的上端连接，过渡部32的下端与下测试部33的上端连接。

具体的，圆台状设置的上测试部31的母线处斜面可以与弧形轮廓的下倒角的倾斜方向匹配，使得第一探针头3可以准确测量出下倒角的轮廓值。倒圆台状设置的下测试部33的母线处斜面可以与弧形轮廓的上倒角形状的倾斜方向匹配，使得第一探针头3可以准确测量出上倒角的轮廓值。而第一探针头3只需触碰一次下倒角或上倒角即可获得对应的探测值，测量简单快捷，而且精度高。

进一步的，所述下测试部33与第二探针头4之间设置有避空连接杆5，所述避空连接杆5的上端与下测试部33的上端连接，避空连接杆5的下端与第二探针头4连接。在测量下倒角时，避空连接杆5提供了让第二探针头4避开弧形轮廓的上倒角和中心部分的避让空间，避免第二探针头4的主体碰撞到工件。探针杆1的直径比避空连接杆5的直径大，减少因避空连接杆5的直径太小而导致探针的强度不足而影响测量精度。

再进一步的，所述第二探针头4的下端还设置有深度测试杆6，所述深度测试杆6的中轴线与第二探针头4的中轴线重合。本实用新型通过深度测试杆6来探测Z向的深度，实现了工件X/Y/Z三个方向的测量。

如图3，作为优选的，所述第一探针头3、避空连接杆5、第二探针头4和深度测试杆6由同一根圆柱体加工成型，且构成多用途的探头主体；所述第一探针头3的顶部中间设有螺纹连接段7，所述探头主体通过螺纹连接段7与探针杆1的下端部可拆卸连接。将探针结构的探针杆1和探测使用的探头主体分割开来，通过螺牙的方式来连接使用。当加工产品需要更换探头主体时，只需要将探头主体拧下更换就可以实现探针互换。在采购探针时，无需申购整根探针，只需申请探头主体的结构就行，提升了探针杆1的使用率，降低了探针申购的成本。

在本实用新型中，所述第二探针头4为圆形板，所述圆形板的直径大于避空连接杆5的直径。进一步的，所述圆形板的厚度为2mm,圆形板的直径为4mm。

以上所述，仅是本实用新型较佳实施例而已，并非对本实用新型作任何形式上的限制，虽然本实用新型以较佳实施例公开如上，然而并非用以限定本实用新型，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本实用新型技术方案范围内，当利用上述揭示的技术内容作出些许变更或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本实用新型技术方案内容，依据本实用新型技术是指对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均属于本实用新型技术方案的范围内。

Claims (7)

1.一种改进型探针结构，包括有探针杆，所述探针杆的上端部设有用于与检测机台连接的探针连接部，其特征在于：所述探针杆的下端部设置有用于探测弧形轮廓的第一探针头和用于测量侧壁槽孔的第二探针头，所述第二探针头同轴设于第一探针头的下方。

2.根据权利要求1所述的一种改进型探针结构，其特征在于：所述第一探针头包括上测试部、过渡部和下测试部，所述上测试部呈圆台状设置，所述过渡部呈圆柱状设置，所述下测试部呈倒圆台状设置；所述上测试部、过渡部和下测试部的中轴线均与探针杆的中轴线重合；所述上测试部的上端与探针杆的下端部连接，上测试部的底端与过渡部的上端连接，过渡部的下端与下测试部的上端连接。

3.根据权利要求2所述的一种改进型探针结构，其特征在于：所述下测试部与第二探针头之间设置有避空连接杆，所述避空连接杆的上端与下测试部的上端连接，避空连接杆的下端与第二探针头连接。

4.根据权利要求3所述的一种改进型探针结构，其特征在于：所述第二探针头的下端还设置有深度测试杆，所述深度测试杆的中轴线与第二探针头的中轴线重合。

5.根据权利要求4所述的一种改进型探针结构，其特征在于：所述第一探针头、避空连接杆、第二探针头和深度测试杆由同一根圆柱体加工成型，且构成多用途的探头主体；所述第一探针头的顶部中间设有螺纹连接段，所述探头主体通过螺纹连接段与探针杆的下端部可拆卸连接。

6.根据权利要求1所述的一种改进型探针结构，其特征在于：所述第二探针头为圆形板，所述圆形板的直径大于避空连接杆的直径。

7.根据权利要求6所述的一种改进型探针结构，其特征在于：所述圆形板的厚度为2mm,圆形板的直径为4mm。