CN206420795U - 一种x射线无损检测装置 - Google Patents

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Abstract

本实用新型公开了一种X射线无损检测装置,包括机架,所述机架内设置有测量台,所述机架靠近测量台上方一侧设置有X射线枪,所述测量台底部设置有聚焦镜,所述聚焦镜下方设置有透射光线接收器,所述透射光线接收器连接有总接收器,所述测量台下方设置有机箱,所述机箱内固定连接有转动电机,所述机箱一侧固定连接有滑杆,所述滑杆远离机箱的一侧啮合有齿轮杆,所述齿轮杆远离滑杆的一端设置有通槽,所述通槽内穿设有固定块,所述固定块固定连接有凸轮,所述凸轮连接有间歇驱动机构。本实用新型具有以下有益效果:这种X射线无损检测装置能够在一次完整测量中就测量出被测物件的整体情况。

Description

一种X射线无损检测装置
技术领域
本实用新型涉及无损检测装置,特别涉及一种X射线无损检测装置。
背景技术
射线探伤是利用X射线在穿透被检物各部分时强度衰减的不同,检测被检物中缺陷的一种无损检测方法。利用X射线穿透性强的原理探测金属或铸件的密度或者厚度之间是否存在差异,从而测试被检物的加工缺陷。
公开号为CN203465226U的中国专利公开了一种X射线无损检测装置,包括测量台。测量台底部设置有步进电机,测量台上放置有被测物件,测量台下方设置有聚焦镜,聚焦镜下方设置有透射光线接收器。测量台一侧设置有反射光线接收器。通过透射光线接收器与反射光线接收器来成像获取被测物件的情况。这种X射线无损检测装置在一次完整测量中X射线直射到的被测物件部位的情况较为清晰,如果需要测量其他部位就需要挪动测量台的位置,不能在一次完整测量中就清晰的测量出被测物件的整体情况。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种X射线无损检测装置。这种X射线无损检测装置能够在一次完整测量中就测量出被测物件的整体情况。
本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的:一种X射线无损检测装置,包括机架,所述机架内设置有测量台,所述机架靠近测量台上方一侧设置有X射线枪,所述测量台底部设置有聚焦镜,所述聚焦镜下方设置有透射光线接收器,所述透射光线接收器连接有总接收器,所述测量台下方设置有机箱,所述机箱内固定连接有转动电机,所述机箱一侧固定连接有滑杆,所述滑杆远离机箱的一侧啮合有齿轮杆,所述齿轮杆远离滑杆的一端设置有通槽,所述通槽内穿设有固定块,所述固定块固定连接有凸轮,所述固定块位于凸轮的边缘,所述凸轮连接有间歇驱动机构。
通过采用上述技术方案后,在测量台上放置有被测物件,当X射线枪工作时,从X射线枪中射出的X射线到达测量台上。X射线的穿透能力较强,因此可以对物件的结构进行检测,从而检验出物件是否存在加工缺陷。测量台底部机箱内的转动电机驱动测量台缓缓转动,且当X射线枪对准物件上非轴心处的某一点时,测量台转动一周,可以检测物件上以该点为起点经过的一个围绕轴心处环形部位的结构。间歇驱动机构带动凸轮转动,使得固定块转动。固定块在通槽内向下滑移时,会对齿轮杆的其中一个侧边产生一定的力,从而使得齿轮杆向一个方向摆动,齿轮杆铰接柱以上的部分向着相反的方向摆动。当固定块在通槽内向上滑移时,齿轮杆与上述运动方向相反。最终使得齿轮杆处于摆动往复运动状态。齿轮杆摆动带动滑杆发生移动,从而带动与之固定连接的机箱移动,从而使得测量台移动。测量台上的物件与X射线接触的部位发生变化,且测量台循环往复运动,从而使得物件可以在一次测量中就能检测出整个物件内部情况。
本实用新型进一步设置为:所述间歇驱动机构包括转动轴,所述转动轴一端与凸轮轴心处固定连接,所述转动轴远离凸轮的一端固定连接有凸盘,所述凸盘内设置有安装槽,所述凸盘靠近安装槽边缘设置有多个空心槽,所述空心槽之间的距离相等,所述凸盘靠近空心槽一侧抵接有转盘,所述转盘上设置有与空心槽对应的凸块,所述转盘远离凸盘的一端固定连接有转轴,所述转轴远离转盘的一端固定连接有旋转电机。
通过采用上述技术方案后,旋转电机工作时,带动转轴转动,从而带动凸块转动。凸块上设置的凸块转动至与空心槽抵接时,可以驱动凸盘转动。当凸块转动至不与空心槽抵接时,凸盘不发生转动。当凸块转动一周,凸盘转动一定的角度。使得凸盘处于间歇运动状态。
本实用新型进一步设置为:所述测量台上方远离X射线枪的一端设置有反射光线接收器,所述反射光线接收器与总接收器连接。
通过采用上述技术方案后,反射光线接收器可以弥补透射光线接收器接收不到的一些信号,并且可以使得总接收器接收到的信号更为清晰,从而使得接收器上物件内部的情况显示的更为清晰。
本实用新型进一步设置为:所述X射线枪与反射光线接收器均与机架固定连接,且X射线枪与反射光线接收器在测量台上的延长线与测量台之间形成的角度相等。
通过采用上述技术方案后,反射光线接收器和X射线枪的延长线与测量台形成的角度相等可以使得反射光线接收器能够对准X射线反射的路径,使得接收到的信号最为清晰和完整,从而使得物件内部情况在总接收器上展示的更完整。
本实用新型进一步设置为:旋转电机的转动速率小于转动电机的转动速率。
通过采用上述技术方案后,旋转电机转动一周,滑杆在间歇传动机构的带动下移动,带动测量台移动一小段距离。然后转动电机转动速率大于旋转电机,从而使得测量台转动超过一周。这样设置的目的是当转动电机转动超过一周后,X射线将物件环形区域结构完成检测后,旋转电机驱动滑杆移动,依次测试不同位置处环形区域的结构。
本实用新型进一步设置为:所述X射线枪、转动电机、旋转电机均固定连接有同一个控制台。
通过采用上述技术方案后,X射线枪、转动电机、旋转电机均与同一个控制台连接,从而使得用一个控制台就能控制整个机构的运转。
综上所述,本实用新型具有以下有益效果:在测量台上放置有被测物件,当X射线枪工作时,从X射线枪中射出的X射线到达测量台上。X射线的穿透能力较强,因此可以对物件的结构进行检测,从而检验出物件是否存在加工缺陷。测量台底部机箱内的转动电机驱动测量台缓缓转动,且当X射线枪对准物件上非轴心处的某一点时,测量台转动一周,可以检测物件上以该点为起点经过的一个围绕轴心处环形部位的结构。间歇驱动机构带动凸轮转动,使得固定块转动。固定块在通槽内向下滑移时,会对齿轮杆的其中一个侧边产生一定的力,从而使得齿轮杆向一个方向摆动,齿轮杆铰接柱以上的部分向着相反的方向摆动。当固定块在通槽内向上滑移时,齿轮杆与上述运动方向相反。最终使得齿轮杆处于摆动往复运动状态。齿轮杆摆动带动滑杆发生移动,从而带动与之固定连接的机箱移动,从而使得测量台移动。测量台上的物件与X射线接触的部位发生变化,且测量台循环往复运动,从而使得物件可以在一次测量中就能检测出整个物件内部情况。
附图说明
图1为实施例的结构示意图;
图2为实施例去掉机架之后的结构示意图;
图3为实施例去掉机架、传动箱之后的结构示意图;
图4为实施例去掉机架、传动箱、控制台以及凸盘结构后的结构示意图;
图5为实施例中测量台、传动箱内结构、控制台的结构示意图;
图6为图5中的A区域放大图;
图7为图5中的B区域放大图。
附图标记:1、机架;2、控制台;3、电线;4、X射线枪;5、测量台;6、机箱;8、滑杆;9、齿轮槽;10、齿轮杆;11、传动箱;12、通槽;13、固定块;14、凸轮;15、转动轴;16、凸盘;17、安装槽;18空心槽;19、转轴;20、转盘;21、凸块;22、旋转电机;23、聚焦镜;24、固定杆;25、透射光线接收器;26、总接收器;27、反射光线接收器。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型作进一步详细说明。
本具体实施例仅仅是对本实用新型的解释,其并不是对本实用新型的限制,本领域技术人员在阅读完本说明书后可以根据需要对本实施例做出没有创造性贡献的修改,但只要在本实用新型的权利要求范围内都受到专利法的保护。
如图1所示,一种X射线无损检测装置,包括机架1。机架1一侧设置有控制台2,如图1、2所示,控制台2固定连接有多根电线3,其中一根电线3穿过机架1固定连接有X射线枪4。X射线枪4与机架1顶部固定连接。另一根电线3固定连接有转动电机,如图2、4、7所示,测量台5上放置有被测物件,测量台5底部固定连接有机箱6。机箱6内固定连接有转动电机,转动电机与测量台5固定连接。机箱6一侧固定连接有滑杆8,滑杆8远离机箱6的一端设置有齿轮槽9。齿轮槽9啮合有齿轮杆10,齿轮杆10铰接有传动箱11,齿轮杆10远离滑杆8的一侧设置有通槽12。通槽12内滑移连接有固定块13,固定块13固定连接有凸轮14。固定块13位于凸轮14的边缘,如图5、6所示,凸轮14的另一侧固定连接有转动轴15。转动轴15固定连接有凸盘16,转动轴15穿过凸盘16与传动箱11转动连接。凸盘16上设置有圆形安装槽17,凸盘16靠近安装槽17边缘设置有多个空心槽18。空心槽18之间的距离相等。凸盘16靠近空心槽18的一侧抵接有转盘20,转盘20位于空心槽18中,转盘20上设置有与空心槽18对应的凸块21。转盘20远离凸盘16的一侧固定连接有转轴19,转轴19远离转盘20的一端固定连接有旋转电机22,旋转电机22与传动箱11侧壁固定连接,旋转电机22连接有电线3,电线3与控制台2固定连接。
如图1、3所示,测量台5下端设置有聚焦镜23,聚焦镜23轴心处固定连接有固定杆24,固定杆24远离聚焦镜23的一侧固定连接有透射光线接收器25。固定杆24穿过透射光线接收器25的一端与机架1固定连接。透射光线接收器25上连接有电线3,电线3固定连接有总接收器26。总接收器26通过另一根电线3固定连接有反射光线接收器27,X射线枪4、反射光线接收器27的延长线与测量台5之间形成的角度相等。反射光线接收器27与机架1顶部固定连接。
工作过程:在测量台5上放置好被测物件,利用控制台2控制X射线枪4工作,使得X射线枪4中射出的X射线到达测量台5上。X射线穿过物件经过聚焦镜23的作用下被透射光线接收器25接收,一部分X射线经过物件的反射后被反射光线接收器27接收。透射光线接收器25与反射光线接收器27接收到的信号显示在总接收器26上。测量台5底部机箱6内的转动电机驱动测量台5缓缓转动,且当X射线枪4对准物件上非轴心处的某一点时,测量台5转动一周,可以检测物件上以该点为起点经过的一个围绕轴心处环形部位的结构。旋转电机22工作时,带动转轴19转动,从而带动凸块21转动。凸块21上设置的凸块21转动至与空心槽18抵接时,可以驱动凸盘16转动。当凸块21转动至不与空心槽18抵接时,凸盘16不发生转动。当凸块21转动一周,凸盘16转动一定的角度,使得凸盘16处于间歇运动状态。旋转电机22转动一周,滑杆8在间歇传动机构的带动下移动,带动测量台5移动一小段距离。转动电机转动速率大于旋转电机22,从而使得测量台5转动超过一周。这样设置的目的是当转动电机转动超过一周后,X射线将物件环形区域结构完成检测后,旋转电机22驱动滑杆8移动,依次测试不同位置处环形区域的结构。凸盘16带动转动轴15间歇转动,从而带动凸轮14转动,最终使得固定块13转动。固定块13在通槽12内向下滑移时,会对齿轮杆10的其中一个侧边产生一定的力,从而使得齿轮杆10向一个方向摆动,齿轮杆10铰接点以下的部分向着相反的方向摆动。当固定块13在通槽12内向上滑移时,齿轮杆10与上述运动方向相反。最终使得齿轮杆10处于摆动往复运动状态。齿轮杆10摆动带动滑杆8发生移动,从而带动与之固定连接的机箱6移动,从而使得测量台5移动。测量台5上的物件与X射线接触的部位发生变化,且测量台5循环往复运动,从而使得物件可以在一次测量中就能检测出整个物件内部情况。

Claims (6)

1.一种X射线无损检测装置,包括机架(1),所述机架(1)内设置有测量台(5),所述机架(1)靠近测量台(5)上方一侧设置有X射线枪(4),所述测量台(5)底部设置有聚焦镜(23),所述聚焦镜(23)下方设置有透射光线接收器(25),所述透射光线接收器(25)连接有总接收器(26),其特征是:所述测量台(5)下方设置有机箱(6),所述机箱(6)内固定连接有转动电机,所述机箱(6)一侧固定连接有滑杆(8),所述滑杆(8)远离机箱(6)的一侧啮合有齿轮杆(10),所述齿轮杆(10)远离滑杆(8)的一端设置有通槽(12),所述通槽(12)内穿设有固定块(13),所述固定块(13)固定连接有凸轮(14),所述固定块(13)位于凸轮(14)的边缘,所述凸轮(14)连接有间歇驱动机构。
2.根据权利要求1所述的一种X射线无损检测装置,其特征是:所述间歇驱动机构包括转动轴(15),所述转动轴(15)一端与凸轮(14)轴心处固定连接,所述转动轴(15)远离凸轮(14)的一端固定连接有凸盘(16),所述凸盘(16)内设置有安装槽(17),所述凸盘(16)靠近安装槽(17)边缘设置有多个空心槽(18),所述空心槽(18)之间的距离相等,所述凸盘(16)靠近空心槽(18)一侧抵接有转盘(20),所述转盘(20)上设置有与空心槽(18)对应的凸块(21),所述转盘(20)远离凸盘(16)的一端固定连接有转轴(19),所述转轴(19)远离转盘(20)的一端固定连接有旋转电机(22)。
3.根据权利要求1所述的一种X射线无损检测装置,其特征是:所述测量台(5)上方远离X射线枪(4)的一端设置有反射光线接收器(27),所述反射光线接收器(27)与总接收器(26)连接。
4.根据权利要求1所述的一种X射线无损检测装置,其特征是:所述X射线枪(4)与反射光线接收器(27)均与机架(1)固定连接,且X射线枪(4)与反射光线接收器(27)在测量台(5)上的延长线与测量台(5)之间形成的角度相等。
5.根据权利要求1所述的一种X射线无损检测装置,其特征是:旋转电机(22)的转动速率小于转动电机的转动速率。
6.根据权利要求1所述的一种X射线无损检测装置,其特征是:所述X射线枪(4)、转动电机、旋转电机(22)均固定连接有同一个控制台(2)。
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CN114018960A (zh) * 2022-01-05 2022-02-08 山东胜宁电器有限公司 一种基于x射线探伤图像的缺陷分析装置

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