CN206161402U - 一种原位拉伸试样离子减薄样品台 - Google Patents
一种原位拉伸试样离子减薄样品台 Download PDFInfo
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Abstract
一种原位拉伸试样离子减薄样品台,它涉及一种试验器具,为解决现有离子减薄样品台无法加工原位拉伸试样的问题。本实用新型包括定位柱(1)、支撑台(2)、基台支架(3)、基台支柱(4)和基台底座(5);基台底座(5)为圆锥形,中心处设有圆形通孔,其上端与基台支柱(4)下端相连,基台支柱(4)为圆柱形,中心处设有圆形通孔,其上端左右两侧分别设有基台支架(3),基台支架(3)为L型支架,每个基台支架(3)上端分别设有支撑台(2),支撑台(2)为长方体,每个支撑台(2)前后两端分别设有两个定位柱(1),定位柱(1)为正方体。本实用新型用于原位拉伸试样离子减薄样品台。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种试验器具,具体涉及一种原位拉伸试样离子减薄样品台。
背景技术
离子减薄是制备透射电镜样品的主要方法之一,一般的离子减薄样品台只能用于加工较小尺寸的透射样品,而对于需要透射电镜观察的原位拉伸试样无法进行离子减薄。
发明内容
本实用新型为解决现有离子减薄样品台无法加工原位拉伸试样的问题,进而提供一种原位拉伸试样离子减薄样品台。
本实用新型为解决上述技术问题采取的技术方案是:
一种原位拉伸试样离子减薄样品台由定位柱(1)、支撑台(2)、基台支架(3)、基台支柱(4)和基台底座(5);基台底座(5)为圆锥形,中心处设有圆形通孔,其上端与基台支柱(4)下端相连,基台支柱(4)为圆柱形,中心处设有圆形通孔,其上端左右两侧分别设有基台支架(3),基台支架(3)为L型支架,每个基台支架(3)上端分别设有支撑台(2),支撑台(2)为长方体,每个支撑台(2)前后两端分别设有两个定位柱(1),定位柱(1)为正方体。
本实用新型具有以下有益效果:
一、利用本实用新型能够准确的对原位拉伸试样(6)的中心进行减薄;
二、本装置定位性较好,可重复性高,可重复对不同原位拉伸试样(6)的同一位置进行剪薄。
附图说明
图1是本实用新型的的主视图;图2是本实用新型的左视图;图3是本实用新型的俯视图;图4是本实用新型加工原位拉伸试样时的工作图。
具体实施方式
具体实施方式一:结合图1~图3说明本实施方式,本实施方式实用新型由定位柱(1)、支撑台(2)、基台支架(3)、基台支柱(4)和基台底座(5);基台底座(5)为圆锥形,中心处设有圆形通孔,其上端与基台支柱(4)下端相连,基台支柱(4)为圆柱形,中心处设有圆形通孔,其上端左右两侧分别设有基台支架(3),基台支架(3)为L型支架,每个基台支架(3)上端分别设有支撑台(2),支撑台(2)为长方体,每个支撑台(2)前后两端分别设有两个定位柱(1),定位柱(1)为正方体。
具体实施方式二:基台底座(5)上端直径与基台支柱(4)直径相同。其它与具体实施方式一相同。
具体实施方式三:基台底座(5)和基台支柱(4)上的圆形通孔直径相同,并且同心。其它与具体实施方式一和二相同。
工作原理
图1~图4说明本实用新型工作原理,将待加工的原位拉伸试样(6)两端分别放置在本实用新型两侧的定位柱(1)之间,通过定位柱(1)将原位拉伸试样(6)固定,然后将本实用新型放在离子减薄机器上,即可减薄。
Claims (3)
1.一种原位拉伸试样离子减薄样品台,其特征在于:由定位柱(1)、支撑台(2)、基台支架(3)、基台支柱(4)和基台底座(5)组成;基台底座(5)为圆锥形,中心处设有圆形通孔,其上端与基台支柱(4)下端相连,基台支柱(4)为圆柱形,中心处设有圆形通孔,其上端左右两侧分别设有基台支架(3),基台支架(3)为L型支架,每个基台支架(3)上端分别设有支撑台(2),支撑台(2)为长方体,每个支撑台(2)前后两端分别设有两个定位柱(1),定位柱(1)为正方体。
2.根据权利要求1所述的一种原位拉伸试样离子减薄样品台,其特征在于:基台底座(5)上端直径与基台支柱(4)直径相同。
3.根据权利要求1所述的一种原位拉伸试样离子减薄样品台,其特征在于:基台底座(5)和基台支柱(4)上的圆形通孔直径相同,并且同心。
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CN201621219328.3U CN206161402U (zh) | 2016-11-14 | 2016-11-14 | 一种原位拉伸试样离子减薄样品台 |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN110006927A (zh) * | 2019-03-21 | 2019-07-12 | 浙江大学 | 一种制备高强高导铜合金原位拉伸试样的装置及其使用方法 |
CN110018189A (zh) * | 2019-03-21 | 2019-07-16 | 浙江大学 | 一种研究高强高导铜合金强化机制的原位透射电镜方法 |
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2016
- 2016-11-14 CN CN201621219328.3U patent/CN206161402U/zh not_active Expired - Fee Related
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