CN206038793U - 测试机构 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种测试机构，上述测试机构包括驱动器、凸轮、滑轨、第一滑动组件、第二滑动组件、第一探针和第二探针。凸轮与驱动器的连接，驱动器驱动凸轮转动；滑轨相对驱动器固定；第一滑动组件和第二滑动组件均滑动连接在滑轨上，第一滑动组件和第二滑动组件均与凸轮连接，凸轮带动第一滑动组件和第二滑动组件沿滑轨相对靠近或相对远离；第一探针固定在第一滑动组件上，第二探针固定在第二滑动组件上。第一、第二滑动组件通过凸轮联动，使得运动更加精准，在第一、第二滑动组件最靠近的位置，第一、第二探针之间的距离是精准不变的，因此，可以减小第一、第二探针之间的位置偏差，可以准确、稳定的与电子元件的引脚接触，提高测试效果。

Description

测试机构

技术领域

本实用新型涉及电气元件测试的技术领域，特别是涉及一种测试机构。

背景技术

在表面贴装加工过程中，一般需要在贴装之前，对贴片电子元件进行测试。一般的测试设备，在切换被测试元件时需要移动探针，在测试元件时，探针的位置容易存在偏差，探针与元件的引脚接触不良，影响测试效果。特别是在测试极小的元件时，探针的偏差对测试效果的影响更为严重。

实用新型内容

基于此，有必要针对上述问题，提供一种能够提高测试效果的测试机构。

一种测试机构，包括：

驱动器；

凸轮，所述凸轮与所述驱动器的连接，所述驱动器驱动所述凸轮转动；

滑轨，所述滑轨相对所述驱动器固定；

第一滑动组件和第二滑动组件，所述第一滑动组件和所述第二滑动组件均滑动连接在所述滑轨上，所述第一滑动组件和所述第二滑动组件均与所述凸轮连接，所述凸轮带动所述第一滑动组件和所述第二滑动组件沿所述滑轨相对靠近或相对远离；以及

第一探针和第二探针，所述第一探针固定在所述第一滑动组件上，所述第二探针固定在所述第二滑动组件上。

在其中一个实施例中，所述凸轮上开设有滑槽；

所述第一滑动组件包括第一滑台、第一连接臂和第一轴承，所述第一滑台与所述第一连接臂固定连接，所述第一轴承设置在所述第一连接臂的端部，所述第一滑台滑动连接在所述滑轨上，所述第一轴承位于所述滑槽内与所述凸轮滑动连接；

所述第二滑动组件包括第二滑台、第二连接臂和第二轴承，所述第二滑台与所述第二连接臂固定连接，所述第二轴承设置在所述第二连接臂的端部，所述第二滑台滑动连接在所述滑轨上，所述第二轴承位于所述滑槽内与所述凸轮滑动连接。

在其中一个实施例中，所述滑槽的相对的两侧壁为相互平行的两个平面，所述第一轴承分别与所述两个平面抵接，所述第二轴承分别与所述两个平面抵接，所述凸轮的转动轴心位于所述第一轴承的轴心和所述第二轴承的轴心之间。

在其中一个实施例中，所述第一轴承和所述第二轴承均为滚针轴承。

在其中一个实施例中，所述第一滑动组件还包括第一滑块，所述第一滑块上开设有第一凹槽，所述滑轨位于所述第一凹槽内，所述第一滑块与所述滑轨滑动连接，所述第一滑台固定连接在所述第一滑块上；

所述第二滑动组件还包括第二滑块，所述第二滑块上开设有第二凹槽，所述滑轨位于所述第二凹槽内，所述第二滑块与所述滑轨滑动连接，所述第二滑台固定连接在所述第二滑块上。

在其中一个实施例中，所述第一滑动组件还包括第一探针座，所述第一探针座固定连接在所述第一滑台上，所述第一探针座夹持固定所述第一探针；

所述第二滑动组件还包括第二探针座，所述第二探针座固定连接在所述第二滑台上，所述第二探针座夹持固定所述第二探针。

在其中一个实施例中，所述第一探针和所述第二探针的数量均为多个，多个所述第一探针并列设置，多个所述第二探针并列设置。

在其中一个实施例中，还包括安装板，所述驱动器设置在所述安装板的第一侧，所述凸轮和所述滑轨设置在所述安装板的第二侧，所述驱动器的输出轴穿过所述安装板与所述凸轮连接。

在其中一个实施例中，还包括缓冲垫，所述缓冲垫设置在所述滑轨的末端。

在其中一个实施例中，还包括传感器，所述传感器固定在所述安装板的第二侧，所述传感器用于感应所述第一滑动组件和/或所述第二滑动组件的位置。

上述测试机构，第一探针和第二探针用于与电子元件的引脚接触，对电子元件进行测试，特别适合用于测试极小的表面贴片电子元件。第一滑动组件和第二滑动组件通过凸轮联动，使得运动更加精准，在第一滑动组件和第二滑动组件最靠近的位置，第一探针和第二探针之间的距离是精准不变的，因此，可以减小第一探针和第二探针之间的位置偏差，可以准确、稳定的与电子元件的引脚接触，提高测试效果。同时，上述测试机构具有结构简单、制造成本低的优点。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他实施例的附图。

图1为一实施例中测试机构的主视图；

图2为图1所示测试机构的俯视图。

具体实施方式

为了便于理解本实用新型，下面将参照相关附图对测试机构进行更全面的描述。附图中给出了测试机构的首选实施例。但是，测试机构可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对测试机构的公开内容更加透彻全面。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在测试机构的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本实用新型。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

如图1、图2所示，一实施方式的测试机构100包括驱动器110、凸轮120、滑轨130、第一滑动组件140、第二滑动组件150、第一探针160和第二探针170。凸轮120与驱动器110的连接，驱动器110驱动凸轮120转动，滑轨130相对驱动器110固定，一实施例的驱动器110可以是伺服电机。第一滑动组件140和第二滑动组件150均滑动连接在滑轨130上，第一滑动组件140和第二滑动组件150均与凸轮120连接，凸轮120带动第一滑动组件140和第二滑动组件150沿滑轨130相对靠近或相对远离。第一探针160固定在第一滑动组件140上，第二探针170固定在第二滑动组件150上。

第一探针160和第二探针170用于与电子元件的引脚接触，对电子元件进行测试，特别适合用于测试极小的表面贴片电子元件。第一滑动组件140和第二滑动组件150通过凸轮120联动，使得运动更加精准，在第一滑动组件140和第二滑动组件150最靠近的位置，第一探针160和第二探针170之间的距离是精准不变的，因此，可以减小第一探针160和第二探针170之间的位置偏差，可以准确、稳定的与电子元件的引脚接触，提高测试效果。同时，上述测试机构100具有结构简单、制造成本低的优点。第一探针160和第二探针170的数量可以均为一个，也可以均为多个，多个第一探针160并列设置，多个第二探针170并列设置，以提高测试效率。

在其中一个实施例中，凸轮120上开设有滑槽122。第一滑动组件140包括第一滑台142、第一连接臂144和第一轴承146，第一滑台142与第一连接臂144固定连接，第一轴承146设置在第一连接臂144的端部，第一滑台142滑动连接在滑轨130上，第一轴承146位于滑槽122内与凸轮120滑动连接。第二滑动组件150包括第二滑台152、第二连接臂154和第二轴承156，第二滑台152与第二连接臂154固定连接，第二轴承156设置在第二连接臂154的端部，第二滑台152滑动连接在滑轨130上，第二轴承156位于滑槽122内与凸轮120滑动连接。驱动器110带动凸轮120转动时，第一轴承146和第二轴承156在滑槽122中滑动，分别通过第一连接臂144和第二连接臂154带动第一滑台142和第二滑台152在滑轨130上滑动。

进一步的，在一实施例中，滑槽122的相对的两侧壁为相互平行的两个平面124，第一轴承146分别与两个平面124抵接，第二轴承156分别与两个平面124抵接，凸轮120的转动轴心位于第一轴承146的轴心和第二轴承156的轴心之间。第一轴承146和第二轴承156均分别抵接滑槽122的上述两个平面124，可以进一步提高运动精度。在一实施例中，第一轴承146和第二轴承156可以均为滚针轴承。

在一实施例中，第一滑动组件140还包括第一滑块148，第一滑块148上开设有第一凹槽(图中未示出)，滑轨130位于第一凹槽内，第一滑块148与滑轨130滑动连接，第一滑台142固定连接在第一滑块148上。第二滑动组件150还包括第二滑块158，第二滑块158上开设有第二凹槽(图中未示出)，滑轨130位于第二凹槽内，第二滑块158与滑轨130滑动连接，第二滑台152固定连接在第二滑块158上。第一滑块148和第二滑块158骑在滑轨130上，与滑轨130的连接更加稳定。

在一实施例中，第一滑动组件140还可以包括第一探针座149，第一探针座149固定连接在第一滑台142上，第一探针座149夹持固定第一探针160。第二滑动组件150还可以包括第二探针座159，第二探针座159固定连接在第二滑台152上，第二探针座159夹持固定第二探针170。分别通过第一探针座149和第二探针座159固定第一探针160和第二探针170，使第一探针160和第二探针170固定的更加牢固，避免与电子元件的引脚接触后发生位移，影响测量的准确性。

一实施例中的测试机构100还可以包括安装板180，驱动器110设置在安装板180的第一侧，凸轮120和滑轨130设置在安装板180的第二侧，驱动器110的输出轴穿过安装板180与凸轮120连接。利用安装板180，使测试机构100中的其他元件布局更合理，连接更可靠。进一步的，驱动器110可以安装在安装板180的中间位置。进一步的，测试机构100还可以包括安装座190，安装板180固定在安装座190上，安装座190用于连接外部的其他机构。在一实施例中，测试机构100还可以包括传感器210，传感器210固定在安装板180的第二侧，传感器210用于感应第一滑动组件140和/或第二滑动组件150的位置。

本实施例中，第一探针160和第二探针170实现测试的位置，即与电子元件的引脚接触的位置，第一探针160和第二探针170在上述位置时，第一滑动组件140和第二滑动组件150位于在凸轮120联动中二者最靠近的位置。在第一滑动组件140和第二滑动组件150相对远离运动到一定位置后，二者转向相对靠近运动，因此，可以在第一滑动组件140和/或第二滑动组件150转向运动的位置设置缓冲元件，减弱第一探针160和/或第二探针170的振动。在一实施例中，测试机构100还可以包括缓冲垫220，缓冲垫220可以设置在滑轨130的其中一个末端或两个末端，以缓冲第一滑动组件140和/或第二滑动组件150。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种测试机构，其特征在于，包括：

驱动器；

凸轮，所述凸轮与所述驱动器的连接，所述驱动器驱动所述凸轮转动；

滑轨，所述滑轨相对所述驱动器固定；

第一滑动组件和第二滑动组件，所述第一滑动组件和所述第二滑动组件均滑动连接在所述滑轨上，所述第一滑动组件和所述第二滑动组件均与所述凸轮连接，所述凸轮带动所述第一滑动组件和所述第二滑动组件沿所述滑轨相对靠近或相对远离；以及

第一探针和第二探针，所述第一探针固定在所述第一滑动组件上，所述第二探针固定在所述第二滑动组件上。

2.根据权利要求1所述的测试机构，其特征在于，所述凸轮上开设有滑槽；

所述第一滑动组件包括第一滑台、第一连接臂和第一轴承，所述第一滑台与所述第一连接臂固定连接，所述第一轴承设置在所述第一连接臂的端部，所述第一滑台滑动连接在所述滑轨上，所述第一轴承位于所述滑槽内与所述凸轮滑动连接；

所述第二滑动组件包括第二滑台、第二连接臂和第二轴承，所述第二滑台与所述第二连接臂固定连接，所述第二轴承设置在所述第二连接臂的端部，所述第二滑台滑动连接在所述滑轨上，所述第二轴承位于所述滑槽内与所述凸轮滑动连接。

3.根据权利要求2所述的测试机构，其特征在于，所述滑槽的相对的两侧壁为相互平行的两个平面，所述第一轴承分别与所述两个平面抵接，所述第二轴承分别与所述两个平面抵接，所述凸轮的转动轴心位于所述第一轴承的轴心和所述第二轴承的轴心之间。

4.根据权利要求2所述的测试机构，其特征在于，所述第一轴承和所述第二轴承均为滚针轴承。

5.根据权利要求2所述的测试机构，其特征在于，所述第一滑动组件还包括第一滑块，所述第一滑块上开设有第一凹槽，所述滑轨位于所述第一凹槽内，所述第一滑块与所述滑轨滑动连接，所述第一滑台固定连接在所述第一滑块上；

所述第二滑动组件还包括第二滑块，所述第二滑块上开设有第二凹槽，所述滑轨位于所述第二凹槽内，所述第二滑块与所述滑轨滑动连接，所述第二滑台固定连接在所述第二滑块上。

6.根据权利要求2所述的测试机构，其特征在于，所述第一滑动组件还包括第一探针座，所述第一探针座固定连接在所述第一滑台上，所述第一探针座夹持固定所述第一探针；

所述第二滑动组件还包括第二探针座，所述第二探针座固定连接在所述第二滑台上，所述第二探针座夹持固定所述第二探针。

7.根据权利要求1所述的测试机构，其特征在于，所述第一探针和所述第二探针的数量均为多个，多个所述第一探针并列设置，多个所述第二探针并列设置。

8.根据权利要求1所述的测试机构，其特征在于，还包括安装板，所述驱动器设置在所述安装板的第一侧，所述凸轮和所述滑轨设置在所述安装板的第二侧，所述驱动器的输出轴穿过所述安装板与所述凸轮连接。

9.根据权利要求8所述的测试机构，其特征在于，还包括缓冲垫，所述缓冲垫设置在所述滑轨的末端。

10.根据权利要求8所述的测试机构，其特征在于，还包括传感器，所述传感器固定在所述安装板的第二侧，所述传感器用于感应所述第一滑动组件和/或所述第二滑动组件的位置。