CN205881927U - 一种明场光线下高精度硅片检测系统 - Google Patents

一种明场光线下高精度硅片检测系统 Download PDF

Info

Publication number
CN205881927U
CN205881927U CN201620662010.6U CN201620662010U CN205881927U CN 205881927 U CN205881927 U CN 205881927U CN 201620662010 U CN201620662010 U CN 201620662010U CN 205881927 U CN205881927 U CN 205881927U
Authority
CN
China
Prior art keywords
silicon chip
conveyer belt
module
high pixel
lamp
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201620662010.6U
Other languages
English (en)
Inventor
姚聪
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hui Zhong Wisdom Science And Technology Ltd Of Shenzhen
Original Assignee
Hui Zhong Wisdom Science And Technology Ltd Of Shenzhen
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hui Zhong Wisdom Science And Technology Ltd Of Shenzhen filed Critical Hui Zhong Wisdom Science And Technology Ltd Of Shenzhen
Priority to CN201620662010.6U priority Critical patent/CN205881927U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN205881927U publication Critical patent/CN205881927U/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

本实用新型公开一种明场光线下高精度硅片检测系统，包括计算机装置、高像素自动相机、触摸屏显示器、灯光控制器，灯源和传送带。所述的计算机装置由计算机控制器、速度分析模块、图像选型模块、图像缺陷分析模块、图像周长处理模块、下道工序提示模块、图像统计模块和灯光控制模块组成一体机，计算机控制器控制这几种模块的运行工作。本实用新型能够识别包括成品、半成品、单晶、多晶、混合硅片等不同色差不同种类型号的硅片，且误判率几乎为零，硅片在0.1mm内的缺陷破损都能识别检测到，精度高，稳定性好。不仅节约了人工成本，提高了生产效率，降低作业强度及有效的合理安排生产，达到最佳的流水作业，实现全自动化生产。

Description

一种明场光线下高精度硅片检测系统
技术领域
本实用新型涉及硅片检测技术领域，尤其涉及一种明场光线下高精度硅片检测系统。
背景技术
目前，硅片生产是太阳能光伏产业链条中的一个重要环节。经常有需要对硅片的完整性进行识别，国内硅片生产厂家检测大多采用人工方式，通过肉眼、接触等方式进行检测，采用人工方式容易造成破片，出现漏检、错检的情况，肉眼也无法准确的看出硅片内的缺陷破损。
实用新型内容
为了解决上述问题，本装置提供一种明场光线下高精度硅片检测系统，包括计算机装置、高像素自动相机、触摸屏显示器、灯光控制器，灯源和传送带；所述的计算机装置连接控制高像素自动相机、触摸屏显示器、灯光控制器；所述的高像素自动相机采集传送带上硅片的图像信息以及传送带上的标记信息，并将这些信息输出给计算机控制器；所述的触摸屏显示器能够经过触屏操作能显示出各段时间每个缺陷硅片的信息和图像信息以及合格硅片缺陷硅片的分段统计数据，所述的灯光控制器连接和控制灯源为传送带上的硅片提供合适的光照；
其中，所述的灯光控制模块能根据传送带移动速度和硅片上的图像数据自动驱动灯光控制器，通过灯光控制器调整灯源的亮度和色差。
其中，所述的高像素自动相机安装在传送带的前段，高像素自动相机能设置多个并且安装位置和拍摄角度能够调整。
其中，所述的传送带的传送速度能够调节。
实用新型的有益效果：本实用新型能够识别包括成品、半成品、单晶、多晶、混合硅片等不同色差不同种类型号的硅片，硅片在0.1mm内的缺陷破损都能识别检测到，精度高，稳定性好。不仅节约了人工成本，提高了生产效率，降低作业强度及有效的合理安排生产，达到最佳的流水作业，实现全自动化生产。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图实施例。
图2是本实用新型的控制系统框图示意图实施例。
图中1.计算机装置、2.高像素自动相机、3.触摸屏显示器、4.灯光控制器、5.灯源、6.传送带、7.硅片、11.计算机控制器、12速度分析模块、13.图像选型模块、14、图像缺陷分析模块、15.图像周长处理模块、16.下道工序提示模块、17.图像统计模块、18.灯光控制模块。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的和技术方案以及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型做进一步详细说明，应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以对本实用新型的解释，并不用于限定所述求的权利要求。
见实施例图1、图2所示，一种明场光线下高精度硅片检测系统，包括计算机装置1、高像素自动相机2、触摸屏显示器3、灯光控制器4，灯源5和传送带6；所述的计算机装置1连接控制高像素自动相机2、触摸屏显示器3、灯光控制器4；所述的高像素自动相机2采集传送带6上硅片7的图像信息以及传送带6上的标记信息，并将这些信息输出给计算机控制器11；所述的触摸屏显示器3能够经过触屏操作能显示出各段时间每个缺陷硅片的信息和图像信息以及合格硅片缺陷硅片的分段统计数据，所述的灯光控制器4连接和控制灯源5为传送带6上的硅片7提供合适的光照。
优选地，所述的灯光控制模块18能根据传送带6移动速度和硅片7上的图像数据自动驱动灯光控制器，通过灯光控制器调整灯源的亮度和色差。
优选地，所述的硅片7包括各种类型的硅片。
优选地，所述的高像素自动相机2安装在传送带6的前段，高像素自动相机2能设置多个并且安装位置和拍摄角度能够调整。
优选地，所述的传送带6的传送速度能够调节。
本实用新型能够识别包括成品、半成品、单晶、多晶、混合硅片等不同色差不同种类型号的硅片，硅片在0.1mm内的缺陷破损都能识别检测到，精度高，稳定性好。不仅节约了人工成本，提高了生产效率，降低作业强度及有效的合理安排生产，达到最佳的流水作业，实现全自动化生产。
尽管上述图文已经描述了本实用新型的优选实施例的说明，但本领域内的技术人员一旦得知了本创造性地概念，则可以对这些实施例做另外的变更和修改，所以，所附的权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本实用新型范围的所有变更及修改。显然，本领域的技术人员可以对本实用新型进行各种修改和变型而不脱离本实用新型的思想和范围，这样，尚若对本实用新型的这些修改和变形属于本实用新型权利要求及其等同技术范围之内，则本实用新型意图包含这些改动和变形在内。

Claims (1)

1.一种明场光线下高精度硅片检测系统，其特征在于：它包括计算机装置、高像素自动相机、触摸屏显示器、灯光控制器，灯源和传送带；所述的计算机装置连接控制高像素自动相机、触摸屏显示器、灯光控制器；所述的高像素自动相机采集传送带上硅片的图像信息以及传送带上的标记信息，并将这些信息输出给计算机控制器；所述的触摸屏显示器能够经过触屏操作能显示出各段时间每个缺陷硅片的信息和图像信息以及合格硅片缺陷硅片的分段统计数据，所述的灯光控制器连接和控制灯源为传送带上的硅片提供合适的光照；所述的灯光控制模块能根据传送带移动速度和硅片上的图像数据自动驱动灯光控制器，通过灯光控制器调整灯源的亮度和色差；所述的高像素自动相机安装在传送带的前段，高像素自动相机能设置多个并且安装位置和拍摄角度能够调整；所述的传送带的传送速度能够调节。
CN201620662010.6U 2016-06-28 2016-06-28 一种明场光线下高精度硅片检测系统 Active CN205881927U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201620662010.6U CN205881927U (zh) 2016-06-28 2016-06-28 一种明场光线下高精度硅片检测系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201620662010.6U CN205881927U (zh) 2016-06-28 2016-06-28 一种明场光线下高精度硅片检测系统

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN205881927U true CN205881927U (zh) 2017-01-11

Family

ID=57693814

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201620662010.6U Active CN205881927U (zh) 2016-06-28 2016-06-28 一种明场光线下高精度硅片检测系统

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN205881927U (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109709098A (zh) * 2018-12-21 2019-05-03 季华实验室 一种视觉识别布料瑕疵的控制系统

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109709098A (zh) * 2018-12-21 2019-05-03 季华实验室 一种视觉识别布料瑕疵的控制系统

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9524890B2 (en) Computer visual recognition output image-aided LED die sorting system and sorting method
CN204256083U (zh) 排线颜色顺序视觉检测机
CN106054421A (zh) 一种液晶面板缺陷的检测方法及装置
CN101539529A (zh) 基于led的小型水果在线检测光源系统
CN204656967U (zh) 一种钮扣检测装置
CN203629603U (zh) 一种基于图像识别技术的智能电能表检测装置
CN102854195B (zh) 彩色滤光片上缺陷坐标的检测方法
CN103616167A (zh) 一种背光源发光均匀性自动检测系统
CN104931505A (zh) 机器视觉表面检测系统
CN110044926A (zh) 一种透镜缺陷检测装置
CN202188958U (zh) 一种轴承和铆钉的检测设备
CN101676040A (zh) 用以分类太阳能电池的光学检测系统以及方法
CN205881927U (zh) 一种明场光线下高精度硅片检测系统
Kunze et al. Efficient deployment of deep neural networks for quality inspection of solar cells using smart labeling
CN205146709U (zh) 一种不合格产品的检测装置
CN101676696A (zh) 检测太阳能电池前期确认对比样本的光学检测系统及方法
CN104297259A (zh) 触摸屏保护玻璃外观缺陷检测方法
CN205209987U (zh) 一种芯片视觉检测系统
CN202262230U (zh) 一种贴片机
CN209894450U (zh) 显示屏检测系统
US8610889B2 (en) Automated optical inspection device and calibration method thereof
CN204007700U (zh) 一种电子电路板分选装置
CN214472828U (zh) 一种苹果表面缺陷自动检测装置
CN211263229U (zh) 一种瓶装液体检测光学系统
CN104251944A (zh) 一种led驱动模块的检测系统

Legal Events

Date Code Title Description
GR01 Patent grant