CN205767345U - 模仁检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种模仁检测装置，包括显示屏、支架以及设置在支架上的图像传感器；其中，支架固定在模板上，且图像传感器位于模仁的上方，图像传感器用于获取位于模板内的模仁的图像信息；显示屏固定在模板上，图像传感器获取的图像信息传输至显示屏。利用上述实用新型，能够在成型机上对模仁进行检测，并根据获取的模仁的图像信息对模仁进行清洁，节省上下模仁的时间。

Description

模仁检测装置

技术领域

本实用新型涉及模具技术领域，更为具体地，涉及一种模仁检测装置。

背景技术

在目前摄像头塑料镜片成型过程中，由于原物料污染或者成型模次数过多发生黏模，会导致模具的模仁受到脏污或者白点沾附，从而导致成型后的镜片外观不良。

现有对模仁的清洁主要是采用模具下模，并利用影像设备辅助取下的模仁进行清洁，但是，由于模仁的尺寸较小，人的肉眼无法识别，在根据这种方法进行模仁清洁时无法有效确保模仁的清洁质量，且下模后拆装模具耗时耗力，成本较高，清洁效率较低。

实用新型内容

鉴于上述问题，本实用新型的目的是提供一种模仁检测装置，以克服目前模仁尺寸较小，在对其进行清洗或检测时，需要取下模仁并利用影像设备进行辅助的缺点。

本实用新型提供的模仁检测装置，包括显示屏、支架以及设置在支架上的图像传感器；其中，支架固定在模板上，且图像传感器位于模仁的上方，图像传感器用于获取位于模板内的模仁的图像信息；显示屏固定在模板上，图像传感器获取的图像信息传输至显示屏。

此外，优选的结构是，支架通过电磁铁吸附、真空吸附、静电吸附固定在模板上。

此外，优选的结构是，显示屏通过电磁铁吸附、真空吸附、静电吸附固定在模板上。

此外，优选的结构是，支架为“匚”型结构，支架的两端吸附固定在模板上。

此外，优选的结构是，图像传感器与显示屏通过数据线连接。

此外，优选的结构是，图像传感器为CCD或者CMOS。

此外，优选的结构是，根据模仁的图像信息获取模仁的未清洁部位的位置信息，以对模仁进行清洁。

从上面的技术方案可知，本实用新型的模仁检测装置，在不下模的情况下，能够利用图像传感器获取模仁的图像信息，然后将图像传感器获取的图像信息通过显示屏显示，方便模仁清洁人员或者是检测人员能够观测模仁的图像信息，从而在不拆装模具的情况下，实现对模仁的检测或者清洁，省时省力，清洁质量及效率均可得到大幅度提高。

附图说明

通过参考以下结合附图的说明及权利要求书的内容，并且随着对本实用新型的更全面理解，本实用新型的其它目的及结果将更加明白及易于理解。在附图中：

图1为根据本实用新型实施例的模仁检测装置结构示意图。

其中的附图标记包括：显示屏1、模仁2、模板3、第一电磁铁4、支架5、图像传感器6、第二电磁铁7。

在所有附图中相同的标号指示相似或相应的特征或功能。

具体实施方式

为详细描述本实用新型的模仁检测装置结构，以下将结合附图对本实用新型的具体实施例进行详细描述。

图1示出了根据本实用新型实施例的模仁检测装置结构。

如图1所示，本实用新型实施例的模仁检测装置，包括显示屏1、支架5以及设置在支架5上的图像传感器6；其中，支架5固定在模板3上，并使得支架5上的图像传感器6位于模仁2的上方，图像传感器6用于获取位于模板3内的模仁2的图像信息；显示屏1固定在模板3上，图像传感器6获取的图像信息传输至显示屏1显示，以供操作人员实时观测模仁的状态信息。

在本实用新型的一个具体实施方式中，支架5可以通过电磁铁吸附、真空吸附、静电吸附等方式固定在模板3上。如附图1所示，支架5为“匚”型结构，在支架5的两端设置有第一电磁铁4，支架5通过第一电磁铁4吸附固定在模板3上，从而确保位于支架5上的图像传感器6能够采集模仁2的信息，其中，图像传感器6在支架5上的位置，以及支架5固定在模板3的位置均可根据模仁2的位置情况进行调整。

同理，本实用新型中的显示屏1也可以通过电磁铁吸附、真空吸附、静电吸附等方式固定在模板3上。如附图1所示，在显示屏1的下方设置有第二电磁铁7，显示屏1通过第二电磁铁7吸附固定在模板3上，并通过数据线或者传输线等与图像传感器6相导通。可知，在本实用新型的模仁检测装置中，显示屏1可以为视觉屏幕或者触摸屏等，能够使操作人员清楚地获取图像传感器6传输的模仁图像信息皆可。

在本实用新型的另一具体实施方式中，图像传感器6可以采用CCD(Charge-coupled Device，电荷耦合元件图像传感器)或者是CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor，互补金属氧化物半导体图像传感器)等。其中，CCD与CMOS图像传感器光电转换的原理相同，最主要的差别在于信号的读出过程不同；由于CCD仅有一个(或少数几个)输出节点统一读出，其信号输出的一致性非常好；而CMOS芯片中，每个像素都有各自的信号放大器，各自进行电荷-电压的转换，其信号输出的一致性相对较差一些。但是，CCD为了读出整幅图像信号，要求输出放大器的信号带宽较宽，而在CMOS芯片中，每个像元中的放大器的带宽要求较低，能够大大降低芯片的功耗。在具体应用过程中，操作人员可以根据对模仁2的检测要求或者生产需求自行选取。

需要说明的是，根据本实用新型实施例的模仁检测装置，能够通过图像传感器6获取模仁2在模板3内的图像信息，并将该信息通过显示屏1实时呈现，可知，该模仁检测装置可以结合外部清洁装置或者是操作人员手工对模仁2进行清洁，换言之，清洁模仁的装置或者是操作人员可以根据模仁的图像信息对模仁进行清洁，通过显示屏1获取模仁未清洁到的部位的位置信息，从而提高模仁的清洁质量和清洁效率。

此外，本申请的模仁检测装置还可以应用于模仁2的维修或者更换等其他操作中，辅助操作人员观测模仁2的图像信息和在模板3内的位置信息，避免模具的拆卸和重装，省时省力。

通过上述实施方式可以看出，本实用新型提供的模仁检测装置，通过支架将图像传感器设置在模仁上方，通过图像传感器获取模仁的图像信息并进行显示，方便操作人员获取模仁的信息，方便对其检测或者是清洁，从而节省模具拆装的过程，省时省力、方便高效。

如上参照附图以示例的方式描述了根据本实用新型提出的模仁检测装置。但是，本领域技术人员应当理解，对于上述本实用新型所提出的模仁检测装置，还可以在不脱离本实用新型内容的基础上做出各种改进。因此，本实用新型的保护范围应当由所附的权利要求书的内容确定。

Claims (7)

1.一种模仁检测装置，其特征在于，包括显示屏、支架以及设置在所述支架上的图像传感器；其中，

所述支架固定在模板上，且所述图像传感器位于所述模仁的上方，所述图像传感器用于获取位于所述模板内的所述模仁的图像信息；

所述显示屏固定在所述模板上，所述图像传感器获取的所述图像信息传输至所述显示屏。

2.如权利要求1所述的模仁检测装置，其特征在于，

所述支架通过电磁铁吸附、真空吸附、静电吸附固定在所述模板上。

3.如权利要求1所述的模仁检测装置，其特征在于，

所述显示屏通过电磁铁吸附、真空吸附、静电吸附固定在所述模板上。

4.如权利要求1所述的模仁检测装置，其特征在于，

所述支架为“匚”型结构，所述支架的两端吸附固定在所述模板上。

5.如权利要求1所述的模仁检测装置，其特征在于，

所述图像传感器与所述显示屏通过数据线连接。

6.如权利要求1所述的模仁检测装置，其特征在于，

所述图像传感器为CCD或者CMOS。

7.如权利要求1所述的模仁检测装置，其特征在于，

根据所述模仁的图像信息获取所述模仁的未清洁部位的位置信息，以对所述模仁进行清洁。