CN205711044U - 一种避免顶部保温中心测温孔堵塞的热场结构 - Google Patents

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郑清超
高宇
杨昆
李霄
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Hebei Tongguang Semiconductor Co.,Ltd.
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HEBEI TONGGUANG CRYSTAL CO Ltd
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Abstract

本实用新涉及一种避免顶部保温中心测温孔堵塞的热场结构,包括坩埚,测温孔护套、发热体、顶保温层、侧保温层、底保温层;所述的发热体位于坩埚外周、并包围住坩埚的侧面和底面;所述的顶保温层位于坩埚上方;所述的顶保温层中心开有测温孔;所述的测温孔护套安放在顶保温层测温孔内;所述的侧保温层、底保温层分别位于发热体外围和底部。本实用新型的有益效果是:测温孔护套阻隔坩埚泄露的SiC蒸汽沿测温孔的输运,避免了测温孔内因SiC结晶造成的堵塞,有利于保证在整个晶体生长过程能够准确的测量坩埚温度。

Description

一种避免顶部保温中心测温孔堵塞的热场结构
技术领域
本实用新型涉及一种碳化硅制备装置领域的热场结构,具体的涉及一种避免顶部保温中心测温孔堵塞的热场结构。
背景技术
在SiC晶体制备领域中,最为成熟的生长方法是物理气相传输法(PVT)。晶体生长使用的坩埚使用石墨材料,由于石墨材料具一定孔隙率,高温下SiC蒸汽可以穿透石墨坩埚并在坩埚外部的保温毡内沉积。由于测温需要,通常在顶部保温毡中心开孔,通过红外测温仪测量坩埚顶部温度,由于开孔位置气流阻力小,开孔位置会成为SiC蒸汽优先输运通道,在长晶过程初期,测温孔就会因SiC蒸汽沉积尔堵塞,影响及顶部散热,从尔影响后续晶体生长。
为此,如何提供一种避免顶部测温孔堵塞的结构,是本实用新型研究的目的。
发明内容
为克服现有技术问题,本实用新型提供一种避免顶部保温中心测温孔堵塞的热场结构,来阻隔坩埚泄露的SiC蒸汽沿测温孔的输运,避免测温孔内因SiC结晶造成的堵塞,保证了在整个晶体生长过程能够准确的测量坩埚温度。
为解决现有技术问题,本实用新型所采用的技术方案是:
一种避免顶部保温中心测温孔堵塞的热场结构,包括坩埚、测温孔护套、发热体、顶保温层、侧保温层和底保温层;所述的发热体位于坩埚外周、并包围住坩埚的侧面和底面;所述的顶保温层位于坩埚上方;所述的顶保温层中心开有测温孔;所述的测温孔护套安放在顶保温层测温孔内;所述的侧保温层、底保温层分别位于发热体外围和底部。
进一步的,所述的测温孔护套长度大于顶部保温层厚度,所述的测温孔护套下端距离坩埚顶部距离小于10mm,或直接与坩埚顶部连接在一起。
进一步的,所述的顶保温层、侧保温层、底保温层均采用石墨软毡或石墨硬毡材料。
本实用新型的有益效果是:测温孔护套阻隔坩埚泄露的SiC蒸汽沿测温孔的输运,避免了测温孔内因SiC结晶造成的堵塞,有利于保证在整个晶体生长过程能够准确的测量坩埚温度。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图。
其中:坩埚1,测温孔护套2、发热体3、顶保温层4、侧保温层5、底保温层6、感应圈7、碳化硅原料8、碳化硅晶体9。
具体实施方式
为了使本领域技术人员能够更加理解本实用新型技术方案,下面结合附图1对本实用新型做进一步分析。
一种用于制备碳化硅晶体的热场结构,包括坩埚1,测温孔护套2,发热体3,顶保温层4,侧保温层5和底保温层6;其中发热体3位于坩埚1外周、包围住坩埚1的侧面和底面,顶保温层4位于坩埚1上方,测温孔护套2安放在顶保温层4测温孔内,侧保温层5、底保温层6分别位于发热体3外围和底部。晶体生长过程中,由于测温孔护套2阻隔SiC蒸汽向测温孔输运通径,从而避免测温孔内部因SiC蒸汽结晶而堵塞。测温孔护套2下端与坩埚1顶部间距小于10mm或直接与坩埚顶部连接在一起。测温孔护套2表面可涂覆碳化钽等耐高温涂层,因涂层表面光滑且具有较高反射能力,可进一步减少测温孔护套2内壁结晶。
本实用新型所述结构阻隔坩埚泄露的SiC蒸汽沿测温孔的输运,从而避免测温孔内因SiC结晶造成的堵塞,有利于保证在整个晶体生长过程能够准确的测量坩埚温度。
以上对本申请所提供的技术方案进行了详细介绍,本文中应用了实施例对本申请的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想;同时,对于本领域的一般技术人员,依据本申请的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本申请的限制。

Claims (3)

1.一种避免顶部保温中心测温孔堵塞的热场结构,其特征在于:包括坩埚,测温孔护套、发热体、顶保温层、侧保温层和底保温层;所述的发热体位于坩埚外周、并包围住坩埚的侧面和底面;所述的顶保温层位于坩埚上方;所述的顶保温层中心开有测温孔;所述的测温孔护套安放在顶保温层测温孔内;所述的侧保温层、底保温层分别位于发热体外围和底部。
2.根据权利要求1所述的一种避免顶部保温中心测温孔堵塞的热场结构,其特征在于:所述的测温孔护套长度大于顶部保温层厚度,所述的测温孔护套下端距离坩埚顶部距离小于10mm,或直接与坩埚顶部连接在一起。
3.根据权利要求1所述的一种避免顶部保温中心测温孔堵塞的热场结构,其特征在于:所述的顶保温层、侧保温层、底保温层均采用石墨软毡或石墨硬毡材料。
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