CN205404750U - 厚膜混合集成电路测试系统 - Google Patents

Abstract

一种厚膜混合集成电路测试系统，监控装置包括电脑主机、显示器、系统电源、模拟总线背板、数字总线背板、模拟通用接口插槽、数字通用接口插槽、模拟测试选件模组、数字测试选件模组、器件接口板以及被测设备接口；检测装置包括一可闭合的夹具及设置于夹具上的检测仪表，所述夹具包括基座、上载板及下载板，所述基座上设有支架，所述支架上设有用以控制所述上载板上下运动的控制机构。其优点是结构简单、使用方便、可靠。不仅能够完成集成电路好坏的测试，而且，能够实现集成电路各种性能，比如频率测试、电流测试以及各种所需数据采集测试，操作简单，测试过程简单，效率较高。

Description

厚膜混合集成电路测试系统

技术领域

本实用新型涉及对电设备、线路或元件进行短路、断路、泄漏或不正确连接的测试，尤指一种厚膜混合集成电路测试系统。

背景技术

厚膜混合集成电路是一种微型电子功能部件，它是利用丝网印刷和烧结等厚膜工艺在同一基片上制作无源网络，并在其上组装分立的半导体器件芯片或单片集成电路或微型元件，再外加封装而成的混合集成电路。这种厚膜混合集成电路在制作完成之后，需要对厚膜混合集成电路进行性能测试，检测各项性能及参数，现有的测试系统，一般包括显控端及检测装置，显控端包括电脑主机及与电脑主机连接的显示器，检测装置包括一可闭合的夹具及设置于夹具上的检测仪表，检测仪表通过信号线与所述电脑主机信号连接，电脑主机中装有测试软件，将厚膜混合集成电路模块放置在夹具中，夹具闭合后，通过鼠标点击显示器中开始按钮，检测仪表开始检测，现有技术的厚膜混合集成电路测试系统操作复杂，测试过程繁锁，效率较低。

发明内容

针对现有技术的缺点，本实用新型的目的在于提供一种厚膜混合集成电路测试系统。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种厚膜混合集成电路测试系统，包括监控装置和检测装置，其特征在于：所述监控装置包括电脑主机、显示器、系统电源、模拟总线背板、数字总线背板、模拟通用接口插槽、数字通用接口插槽、模拟测试选件模组、数字测试选件模组、器件接口板以及被测设备接口，所述模拟总线背板上设有模拟通用接口插槽，模拟测试选件模组通过模拟通用接口插槽与模拟总线背板连接；数字总线背板上设有数字通用接口插槽，数字测试选件模组通过数字通用接口插槽与数字总线背板连接；电脑主机和系统电源均与模拟总线背板和数字总线背板连接；

所述检测装置包括一可闭合的夹具及设置于夹具上的检测仪表，该夹具用于装载待测试的厚膜混合集成电路，检测仪表通过信号线与所述电脑主机信号连接，用于检测夹具上厚膜混合集成电路的各种性能参数，所述夹具上设有上导电部和下导电部，所述上导电部与一引线的自由端连接，所述下导电部与另一引线的自由端连接，当夹具闭合时，所述上导电部与下导电部接触导通，在闭合夹具的同时，即启动了检测仪表，检测仪表开始检测，并将检测的数据发送至电脑主机通过所述显示器显示，所述夹具包括基座、上载板及下载板，所述基座上设有支架，所述支架上设有用以控制所述上载板上下运动的控制机构，所述下载板固定于所述基座上，且位于所述上载板的正下方，下载板上设有用于放置厚膜混合集成电路的放置区，该放置区是一低于下载板上表面的凹槽。

本实用新型在夹具上设置上导电部和下导电部，将上导电部和下导电部通过引线对应连接至鼠标右键，利用夹具的上载板与下载板闭合时，上导电部和下导电部接触来代替鼠标右键的点击动作，如此，只要闭合上载板与下载板，则上导电部和下导电部接触导通，相当于同时点击了鼠标右键，实现检测仪表的启动，相对于现有技术，同时闭合夹具后，在点击鼠标右键，省去了点击鼠标的动作，其操作变得更加简单，方便，减少了操作时间，明显提高了测试的效率；其二、利用上载板及下载板作为夹具，再通过控制机构控制其上载板上下运动，实现了夹具的闭合，同时通过导向机构可保证上载板与下载板完全贴合，保证测试的有效进行；其三、上导电部为弹性探针，下导电部为金属凸台，利用弹性探针的弹性，可使得弹性探针与金属凸台的良好接触，保证每次夹具闭合时，检测仪表能够正常启动。

本实用新型的有益效果是：结构简单、使用方便、可靠。能够实现厚膜集成电路各种性能，操作简单，测试过程简单，效率较高。

附图说明

下面结合附图对本实用新型作进一步的描述。

图1是本实用新型的结构示意图。

图2是本实用新型的电气结构方框图。

图中：1为监控装置、2为检测装置；

图1中：10为电脑主机、11为显示器、111为信号线、13为鼠标、121为右键、122为引线；

在检测装置2中：20为基座、201为金属凸台、21为支架、22为上载板、221为弹性探针、23为下载板、231为放置区、24为检测仪表、25为支撑臂、251为套筒、26为推杆、27为手柄、271为前端、28为导向柱、29为固定件。

具体实施方式

参见附图，本实用新型一种厚膜混合集成电路测试系统，包括监控装置1和检测装置2，其特征在于：

所述监控装置1包括电脑主机10、显示器11、系统电源112、模拟总线背板113A、数字总线背板113D、模拟通用接口插槽114A、数字通用接口插槽114D、模拟测试选件模组115A、数字测试选件模组115D、器件接口板116（DIB）以及被测设备(DUT)接口117，所述模拟总线背板113A上设有模拟通用接口插槽114A，模拟测试选件模组115A通过模拟通用接口插槽114A与模拟总线背板113A连接；数字总线背板113D上设有数字通用接口插槽114D，数字测试选件模组115D通过数字通用接口插槽114D与数字总线背板113D连接；电脑主机10和系统电源112均与模拟总线背板113A和数字总线背板113D连接；

也就是说，电脑主机10和系统电源112分别连接到模拟总线背板113A和数字总线背板113D上。

电脑主机10用于控制整个测试系统的工作，根据模拟测试选件模组115A和数字测试选件模组115D测量的数据，分析目标器件的各个测试参数是否符合预设的要求，判断目标器件是否合格，并与检测仪表24通讯，实现目标器件118的测试分选；

所述检测装置1包括一可闭合的夹具及设置于夹具上的检测仪表24，该夹具用于装载待测试的厚膜混合集成电路，检测仪表24通过信号线111与所述电脑主机10信号连接，用于检测夹具上厚膜混合集成电路的各种性能参数，所述夹具上设有上导电部和下导电部，所述上导电部与一引线122的自由端连接，所述下导电部与另一引线122的自由端连接，即相当于在鼠标12的右键上并联一个右键，该右键位于夹具上，当夹具闭合时，所述上导电部与下导电部接触导通，相对于点击了鼠标12的右键，因此，在闭合夹具的同时，即启动了检测仪表24，该检测仪表24开始检测，并将检测的数据发送至所述显示器11显示，而不需要闭合夹具，再单独点击鼠标12的右键才启动检测仪表24，夹具包括基座20、上载板22及下载板23，所述基座20上设有支架21，所述支架21上设有用以控制所述上载板22上下运动的控制机构，所述下载板23固定于所述基座20上，且位于所述上载板22的正下方，下载板23上设有用于放置厚膜混合集成电路的放置区231，该放置区231可以是一低于下载板23上表面的凹槽。在控制机构的控制下，上载板22向下运动即可与正下方的下载板23闭合，而检测仪表24则可设置于所述上载板22，这样，在上载板22与下载板23闭合时，检测仪表24刚好对应位于下载板23中厚膜混合集成电路的上方，以进行检测。

Claims (1)

1.一种厚膜混合集成电路测试系统，包括监控装置和检测装置，其特征在于：所述监控装置包括电脑主机、显示器、系统电源、模拟总线背板、数字总线背板、模拟通用接口插槽、数字通用接口插槽、模拟测试选件模组、数字测试选件模组、器件接口板以及被测设备接口，所述模拟总线背板上设有模拟通用接口插槽，模拟测试选件模组通过模拟通用接口插槽与模拟总线背板连接；数字总线背板上设有数字通用接口插槽，数字测试选件模组通过数字通用接口插槽与数字总线背板连接；电脑主机和系统电源均与模拟总线背板和数字总线背板连接；所述检测装置包括一可闭合的夹具及设置于夹具上的检测仪表，该夹具用于装载待测试的厚膜混合集成电路，检测仪表通过信号线与所述电脑主机信号连接，用于检测夹具上厚膜混合集成电路的各种性能参数，所述夹具上设有上导电部和下导电部，所述上导电部与一引线的自由端连接，所述下导电部与另一引线的自由端连接，当夹具闭合时，所述上导电部与下导电部接触导通，在闭合夹具的同时，即启动了检测仪表，检测仪表开始检测，并将检测的数据发送至电脑主机通过所述显示器显示，所述夹具包括基座、上载板及下载板，所述基座上设有支架，所述支架上设有用以控制所述上载板上下运动的控制机构，所述下载板固定于所述基座上，且位于所述上载板的正下方，下载板上设有用于放置厚膜混合集成电路的放置区，该放置区是一低于下载板上表面的凹槽。