CN205245982U - 热处理件的圆跳动检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种热处理件的圆跳动检测装置，包括底座，用于放置热处理件的支撑结构，以及电感比较仪；支撑结构包括第一支撑座与第二支撑座，以及导轨；热处理件的两端分别对应放置在第一支撑座与第二支撑座上；电感比较仪包括仪表盘、测头，以及调节支架；调节支架包括安装在底座上的立柱，以及安装在立柱上的伸缩杆；测头连接在伸缩杆远离立柱的一端。实施本实用新型的有益效果是：所述圆跳动检测装置采用可移动地安装在导轨上的第一支撑座与第二支撑座等结构，测量时，可根据热处理件的尺寸以调整第一支撑座与第二支撑座之间的距离，使得热处理件的支撑更加稳定，进而保证电感比较仪的测量精度。

Description

热处理件的圆跳动检测装置

技术领域

本实用新型涉及热处理件的检测仪器技术领域，更具体地说，涉及一种热处理件的圆跳动检测装置。

背景技术

现有技术中，热处理件的圆跳动检测装置采用电感比较仪测量轴类的热处理件的圆跳动公差。测量时，测量者通常将热处理件放置在两个支撑座上，用手推动热处理件沿其轴线转动，通过电感比较仪的测头测量热处理件的圆跳动量。由于两个支撑座通常保持固定的位置，当对不同尺寸的热处理件进行测量时，可能造成热处理件的支撑不稳定，从而影响测量精度。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种测量精度高的热处理件的圆跳动检测装置。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：构造了一种热处理件的圆跳动检测装置，包括底座，用于放置热处理件的支撑结构，以及电感比较仪；所述支撑结构包括平行设置的第一支撑座与第二支撑座，以及导轨；所述第一支撑座与所述第二支撑座均可移动地安装在所述导轨上；所述热处理件的两端分别对应放置在所述第一支撑座与所述第二支撑座上；所述电感比较仪包括仪表盘、与所述仪表盘连接的测头，以及调节支架；所述调节支架包括安装在所述底座上的立柱，以及安装在所述立柱上的伸缩杆；所述测头连接在所述伸缩杆远离所述立柱的一端。

在本实用新型所述的热处理件的圆跳动检测装置中，所述伸缩杆可升降地安装在所述立柱上。

在本实用新型所述的热处理件的圆跳动检测装置中，所述第一支撑座的顶部开设有第一放置槽，所述第二支撑座的顶部开设有第二放置槽；所述热处理件的两端分别对应放置在所述第一放置槽与所述第二放置槽中。

在本实用新型所述的热处理件的圆跳动检测装置中，所述第一放置槽与所述第二放置槽内均安装有一对支撑球；所述热处理件放置在所述支撑球上。

在本实用新型所述的热处理件的圆跳动检测装置中，所述支撑球为玻璃球。

在本实用新型所述的热处理件的圆跳动检测装置中，所述支撑结构还包括一端置于所述第一放置槽中的限位销。

在本实用新型所述的热处理件的圆跳动检测装置中，所述支撑结构还包括一对分别安装在所述导轨两端的固定座；所述固定座安装在所述底座上。

在本实用新型所述的热处理件的圆跳动检测装置中，所述第一放置槽与所述第二放置槽均为V形槽。

实施本实用新型的热处理件的圆跳动检测装置，具有以下有益效果：所述圆跳动检测装置采用可移动地安装在导轨上的第一支撑座与第二支撑座等结构，测量时，可根据热处理件的尺寸以调整第一支撑座与第二支撑座之间的距离，使得热处理件的支撑更加稳定，进而保证电感比较仪的测量精度；再者，采用上述结构，能够使得所述圆跳动检测装置测量不同尺寸的热处理件，使得圆跳动检测装置测量的适用范围更广，进而满足不同客户的检测需求。

附图说明

下面将结合附图及实施例对本实用新型作进一步说明，附图中：

图1是本实用新型较佳实施例提供的热处理件的圆跳动检测装置的立体结构示意图。

具体实施方式

为了对本实用新型的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图详细说明本实用新型的具体实施方式。

如图1所示，本实用新型的较佳实施例提供一种热处理件的圆跳动检测装置，其包括底座1、支撑结构2、以及电感比较仪3。支撑结构2、电感比较仪3均安装在底座1上。

具体地，如图1所示，该支撑结构2用于放置热处理件100，其包括第一支撑座21、第二支撑座22、导轨23、限位销24、支撑球25以及固定座26。其中，第一支撑座21与第二支撑座22的结构相同，其大致为方块状结构，两者平行设置，热处理件100的两端分别对应放置在第一支撑座21与第二支撑座22上。本实施例中，第一支撑座21的顶部开设有第一放置槽211，第二支撑座22的顶部开设有第二放置槽221，热处理件100的两端分别对应放置在第一放置槽211与第二放置槽221中，优选地，第一放置槽211与第二放置槽221均为V形槽。第一放置槽211与第二放置槽221内均安装有一对支撑球25，热处理件100放置在支撑球25上，优选地，该支撑球25为玻璃球，玻璃球具有强度高，耐磨等特性。采用该支撑球25的结构，热处理件100与支撑结构2的接触为点接触，测量时，热处理件100的转动更加顺畅，有利于提高测量精度。

该导轨23通过固定座26安装在底座1上，第一支撑座21与第二支撑座22均移动地安装在导轨23上。采用此结构，能够调整第一支撑座21与第二支撑座22之间的距离，以使得所述热处理件的圆跳动检测装置能够测量不同尺寸的热处理件100，从而满足不同客户的需求。

该限位销24安装在第一支撑座21远离第二支撑座22的一端，限位销24的一端置于第一放置槽211中。采用该限位销24的结构，热处理件100放置在支撑结构2上时，限位销24的一端可与热处理件100相互抵持，有效地防止热处理件100的轴向窜动，进而提高热处理件100的测量精度。

如图1所示，该电感比较仪3用于测量轴类等工件的圆跳动公差，其包括仪表盘31、与仪表盘31连接的测头32，以及调节支架33。该调节支架33包括安装在底座1上的立柱331，以及安装在立柱331上的伸缩杆332。测头32连接在伸缩杆332远离立柱331的一端。本实施例中，伸缩杆332可升降地安装在立柱331上。测量时，根据热处理件100的尺寸，操控调节支架33使得测头11与热处理件100的外壁相接触，热处理件100转动时，即可测量热处理件100的圆跳动公差。该电感比较仪3为现有技术常见的测量仪器，在此不再赘述。

使用如上实施例所述的热处理件的圆跳动检测装置，由于所述圆跳动检测装置采用可移动地安装在导轨23上的第一支撑座21与第二支撑座22等结构，测量时，可根据热处理件的尺寸以调整第一支撑座21与第二支撑座22之间的距离，使得热处理件的支撑更加稳定，进而保证电感比较仪的测量精度；再者，采用上述结构，能够使得所述圆跳动检测装置测量不同尺寸的热处理件，使得圆跳动检测装置测量的适用范围更广，进而满足不同客户的检测需求。再者，支撑结构2采用限位销24的结构，能够有效地防止热处理件100的轴向窜动，进而提高热处理件100的测量精度。

上面结合附图对本实用新型的实施例进行了描述，但是本实用新型并不局限于上述的具体实施方式，上述的具体实施方式仅仅是示意性的，而不是限制性的，本领域的普通技术人员在本实用新型的启示下，在不脱离本实用新型宗旨和权利要求所保护的范围情况下，还可做出很多形式，这些均属于本实用新型的保护之内。

Claims (8)

1.一种热处理件的圆跳动检测装置，其特征在于：包括底座(1)，用于放置热处理件(100)的支撑结构(2)，以及电感比较仪(3)；所述支撑结构(2)包括平行设置的第一支撑座(21)与第二支撑座(22)，以及导轨(23)；所述第一支撑座(21)与所述第二支撑座(22)均可移动地安装在所述导轨(23)上；所述热处理件(100)的两端分别对应放置在所述第一支撑座(21)与所述第二支撑座(22)上；所述电感比较仪(3)包括仪表盘(31)、与所述仪表盘(31)连接的测头(32)，以及调节支架(33)；所述调节支架(33)包括安装在所述底座(1)上的立柱(331)，以及安装在所述立柱(331)上的伸缩杆(332)；所述测头(32)连接在所述伸缩杆(332)远离所述立柱(331)的一端。

2.根据权利要求1所述的热处理件的圆跳动检测装置，其特征在于：所述伸缩杆(332)可升降地安装在所述立柱(331)上。

3.根据权利要求1所述的热处理件的圆跳动检测装置，其特征在于：所述第一支撑座(21)的顶部开设有第一放置槽(211)，所述第二支撑座(22)的顶部开设有第二放置槽(221)；所述热处理件(100)的两端分别对应放置在所述第一放置槽(211)与所述第二放置槽(221)中。

4.根据权利要求3所述的热处理件的圆跳动检测装置，其特征在于：所述第一放置槽(211)与所述第二放置槽(221)内均安装有一对支撑球(25)；所述热处理件(100)放置在所述支撑球(25)上。

5.根据权利要求4所述的热处理件的圆跳动检测装置，其特征在于：所述支撑球(25)为玻璃球。

6.根据权利要求3所述的热处理件的圆跳动检测装置，其特征在于：所述支撑结构(2)还包括一端置于所述第一放置槽(211)中的限位销(24)。

7.根据权利要求6所述的热处理件的圆跳动检测装置，其特征在于：所述支撑结构(2)还包括一对分别安装在所述导轨(23)两端的固定座(26)；所述固定座(26)安装在所述底座(1)上。

8.根据权利要求3所述的热处理件的圆跳动检测装置，其特征在于：所述第一放置槽(211)与所述第二放置槽(221)均为V形槽。