CN205102730U - 花键轴形位公差检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及机械零件检测技术领域，尤其是涉及一种花键轴形位公差检测装置，包括驱动总成、主轴、卡盘、花键套、测量固定架和百分表；所述驱动总成用于驱动所述主轴转动，所述驱动总成的动力输出轴与所述主轴的一端连接，所述主轴的另一端与所述卡盘连接；所述卡盘用于固定花键轴的圆轴段，所述花键套用于套设在所述花键轴的花键段上；所述百分表设置在所述测量固定架上，用于测量所述花键轴的形位公差。本实用新型结构简单、操作方便、检测结果具有较高的准确性。

Description

花键轴形位公差检测装置

技术领域

本实用新型涉及机械零件检测技术领域，尤其是涉及一种花键轴形位公差检测装置。

背景技术

目前类似于桥门式起重机上的运行车轮轴，其与减速机的连接是采用花键轴连接的形式。如果整个花键轴的跳动公差或圆柱度等形位公差不符合设计要求，当花键轴与减速机装配后，减速机会发生类似于振动筛工作时的摆动现象，而这将严重影响整机运行机构各零部件的寿命。因花键轴的花键段是整个圆周上分布的若干齿，所以加工完花键段后，很难对花键轴的花键段的跳动公差或圆柱度等形位公差进行准确测量。加工时对于一些对齿面要求不高的花键轴主要是采用先进行整体热处理，然后再进行花键段的加工，但对于一些对齿面要求较高的花键轴在花键段加工后还须对加工后的齿面单独再进行热处理，这样该花键轴发生跳动公差或圆柱度等形位公差超差的机率就更大。而目前对这类轴的检测主要是在加工花键之前在机床上进行检测，即很难保证加工完成后花键段的跳动公差或圆柱度等形位公差符合设计要求。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种花键轴形位公差检测装置，以解决现有技术中存在的难以保证加工完成后花键段的跳动公差或圆柱度公差符合设计要求的技术问题。

本实用新型提供的一种花键轴形位公差检测装置，包括驱动总成、主轴、卡盘、花键套、测量固定架和百分表；所述驱动总成用于驱动所述主轴转动，所述驱动总成的动力输出轴与所述主轴的一端连接，所述主轴的另一端与所述卡盘连接；所述卡盘用于固定花键轴的圆轴段，所述花键套用于套设在所述花键轴的花键段上；所述百分表设置在所述测量固定架上，用于测量所述花键轴的形位公差。

进一步地，还包括支架座，所述测量固定架设置在所述支架座上；所述驱动总成固定在所述支架座的下端面。

进一步地，所述测量固定架包括底板、导轨和滑座；所述底板与所述支架座连接，且所述底板能够沿所述支架座的径向移动；所述导轨与所述底板固定连接；所述滑座套设在所述导轨上，且所述滑座能够沿所述导轨的长度方向滑动；所述百分表安装在所述滑座上。

进一步地，所述支架座呈圆盘形，所述支架座的上端面设置有多个滑槽，多个所述滑槽沿所述支架座的周向均匀分布；所述底板滑动设置在所述滑槽中。

进一步地，所述卡盘的爪数为2～6个。

进一步地，所述支架座的下端面设置有多个支脚，多个所述支脚沿所述支架座的周向均匀分布。

进一步地，还包括轴承座；所述轴承座固定在所述支架座的上端面；所述轴承座的内部设置有两个轴承，两个所述轴承上下分布；所述主轴穿设在两个所述轴承上。

进一步地，所述花键套上还设置有挡板，所述挡板用于将所述花键套固定在所述花键轴的花键段上。

进一步地，所述形位公差包括跳动公差和/或圆柱度公差。

进一步地，所述滑槽的数量为4个。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果为：

本实用新型提供的花键轴形位公差检测装置，包括驱动总成、主轴、卡盘、花键套、测量固定架和百分表；驱动总成用于驱动主轴转动，驱动总成的动力输出轴与主轴的一端连接，主轴的另一端与卡盘连接；卡盘用于固定花键轴的圆轴段，花键套用于套设在花键轴的花键段上；百分表设置在测量固定架上，用于测量花键轴的形位公差。通过将加工完成后的花键轴的圆轴段安装在卡盘中，将花键套套设在花键轴的花键段上后，使百分表的测量头与花键套接触，当驱动总成工作时，驱动总成驱动主轴转动，主轴的转动带动卡盘中的花键轴转动，此时上下移动安装在测量固定架上的滑座，通过花键套间接地检测出该花键轴的花键段的形位公差；而对于该花键轴的圆轴段的形位公差可直接将百分表的测量头与检测部位接触，然后上下移动安装在测量固定架上的滑座，即可完成对该花键轴的圆轴段的形位公差的检测，从而完成对整个花键轴的形位公差的检测。本实用新型结构简单、操作方便、检测结果具有较高的准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例提供的花键轴形位公差检测装置的主视图；

图2为图1中沿A-A线的局部剖视图；

图3为本实用新型实施例提供的花键轴形位公差检测装置的俯视图。

附图标记：

101-驱动总成；102-主轴；

103-卡盘；104-花键套；105-百分表；

106-支架座；107-轴承座；108-底板；

109-导轨；110-滑座；111-锁紧螺栓；

112-滑槽；113-挡板；114-固定螺栓；

115-支脚；116-花键轴。

具体实施方式

下面将结合附图对本实用新型的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和显示出的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

实施例

参见图1至图3所示，本实用新型实施例提供了一种花键轴形位公差检测装置，包括驱动总成101、主轴102、卡盘103、花键套104、测量固定架和百分表105；驱动总成101用于驱动主轴102转动，驱动总成101的动力输出轴与主轴102的一端连接，主轴102的另一端与卡盘103连接；卡盘103用于固定花键轴116的圆轴段，花键套104用于套设在花键轴116的花键段上；百分表105设置在测量固定架上，用于测量花键轴的形位公差。本实用新型实施例提供的花键轴形位公差检测装置结构简单、操作方便、检测结果具有较高的准确性。通过将加工完成后的花键轴的圆轴段安装在卡盘中，将花键套套设在花键轴的花键段上后，使百分表的测量头与花键套接触，当驱动总成工作时，驱动总成驱动主轴转动，主轴的转动带动卡盘中的花键轴转动，此时上下移动安装在测量固定架上的滑座，通过花键套间接地检测出该花键轴的花键段的形位公差；而对于该花键轴的圆轴段的形位公差可直接将百分表的测量头与检测部位接触，然后上下移动安装在测量固定架上的滑座，即可完成对该花键轴的圆轴段的形位公差的检测，从而完成对整个花键轴的形位公差的检测。

本实施例中，花键轴形位公差检测装置还包括支架座106，测量固定架设置在支架座106上；驱动总成101固定在支架座106的下端面。具体的说，本实施例中，驱动总成101为现有技术，例如：驱动总成101包括电机和减速机，电机驱动减速机运转，减速机的动力输出轴与主轴102固定连接。通过设置减速机，实现对主轴102的转速的可控制；另外驱动总成101也可以为电机，电机为步进电机，步进电机构的动力输出轴与主轴102直接固定连接。

本实施例中，花键轴形位公差检测装置还包括轴承座107；轴承座107固定在支架座106的上端面；轴承座107的内部设置有两个轴承，两个轴承上下分布；主轴102穿设在两个轴承上，具体的说，轴承座107通过法兰与支架座106固定连接；主轴102与轴承的内圈固定连接，轴承的外圈与轴承座107固定连接，通过设置两个轴承，可以保证主轴102的轴线垂直度，以及主轴102转动时，主轴102的稳定性。

本实施例中，测量固定架包括底板108、导轨109和滑座110；底板108与支架座106连接，且底板108能够沿支架座106的径向移动；导轨109与底板108固定连接；滑座110套设在导轨109上，且滑座110能够沿导轨109的长度方向滑动；百分表105安装在滑座110上。具体的说，导轨109与底板108垂直连接，滑座110上还设置有锁紧螺栓111，通过设置锁紧螺栓111来锁紧滑座110，将滑座110固定在导轨109上的某一位置；锁紧螺栓111与百分表105相对设置在滑座110上，也就是说，锁锁紧螺栓111与百分表105分别固定在滑座110上相对的两侧。

本实施例中，支架座106呈圆盘形，支架座106的上端面设置有多个滑槽112，多个滑槽112沿支架座106的周向均匀分布；底板108滑动设置在滑槽112位置，也就是说，底板108与滑槽112连接，且底板能够沿滑槽走向滑动。具体的说，滑槽112的数量为4个；滑槽112为T型槽，T型槽中设置有T型螺栓，底板108通过T型螺栓固定在滑槽112中；通过设置滑槽112可以调节底板108在支架座106上的位置，以适用检测不同的型号和大小的花键轴。

本实施例中，花键套104上还设置有挡板113，挡板113用于将花键套104固定在花键轴的花键段上。具体的说，花键套104为管状，花键套104的内部设有与花键轴的花键段匹配的多个内齿。本实施例中，花键轴的上端部设置有螺纹孔，花键轴的圆轴段的直径大于花键套104的最大内径，挡板113通过固定螺栓114与螺纹孔连接，从而使花键套104固定在花键轴上；需要说明的是，本实施例中花键轴形位公差检测装置可以配置多个不同大小的花键套，以适用于不同的花键轴。

本实施例中，形位公差包括跳动公差和/或圆柱度公差。需要说明的是，本实施例中，花键轴形位公差检测装置可以用于检测花键轴的其它形式的形位公差；另外，跳动公差包括圆跳动公差和/或全跳动公差。

本实施例中，支架座106的下端面设置有多个支脚115，多个支脚115沿支架座106的周向均匀分布。具体的说，支脚115的数量为4个；需要说明的是，本实施例中，支脚的数量还可以为3个、5个或6个，也可以根据实际隔情况自由确定支脚的数量，对于其他形式的数量本实施例不再一一具体赘述。

本实施例中，卡盘103的爪数为2～6个。具体的说，卡盘103的数量为3个；主轴102通过法兰与卡盘103固定连接；需要说明的是，本实施例中，卡盘的爪数不仅局限于3个，当卡盘的数量越多，越能保证卡盘上花键轴的稳定性，防止花键轴晃动。

本实施例提供的花键轴形位公差检测装置的具体的工作原理为：

首先将加工完成后的花键轴的圆轴段安装在卡盘103中，将花键套104套设在花键轴上，并通过挡板113将花键套104固定在花键轴的花键段上，并使百分表105的测量头与花键套104接触；然后使驱动总成101工作，驱动总成101驱动主轴102转动，主轴102的转动带动卡盘103转动，卡盘103再带动花键轴转动，此时通过调节锁紧螺栓111和滑座110来调节百分表105在导轨109上的位置，这样通过花键套104便可间接地检测出该花键轴的花键段的跳动公差和/或圆柱度公差；当需要检测花键轴的圆轴段的跳动公差和/或圆柱度公差时，先使百分表105的测量头与花键轴的圆轴段的检测部位接触，再通过调节锁紧螺栓111和滑座110来调节百分表105在导轨109上的位置，即可完成对该花键轴的圆轴段的跳动公差和/或圆柱度公差的检测，从而完成对整个花键轴的形位公差的检测。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种花键轴形位公差检测装置，其特征在于，包括驱动总成、主轴、卡盘、花键套、测量固定架和百分表；所述驱动总成用于驱动所述主轴转动，所述驱动总成的动力输出轴与所述主轴的一端连接，所述主轴的另一端与所述卡盘连接；所述卡盘用于固定花键轴的圆轴段，所述花键套用于套设在所述花键轴的花键段上；所述百分表设置在所述测量固定架上，用于测量所述花键轴的形位公差。

2.根据权利要求1所述的花键轴形位公差检测装置，其特征在于，还包括支架座，所述测量固定架设置在所述支架座上；所述驱动总成固定在所述支架座的下端面。

3.根据权利要求2所述的花键轴形位公差检测装置，其特征在于，所述测量固定架包括底板、导轨和滑座；所述底板与所述支架座连接，且所述底板能够沿所述支架座的径向移动；所述导轨与所述底板固定连接；所述滑座套设在所述导轨上，且所述滑座能够沿所述导轨的长度方向滑动；所述百分表安装在所述滑座上。

4.根据权利要求3所述的花键轴形位公差检测装置，其特征在于，所述支架座呈圆盘形，所述支架座的上端面设置有多个滑槽，多个所述滑槽沿所述支架座的周向均匀分布；所述底板滑动设置在所述滑槽位置。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的花键轴形位公差检测装置，其特征在于，所述卡盘的爪数为2～6个。

6.根据权利要求2-4中任一项所述的花键轴形位公差检测装置，其特征在于，所述支架座的下端面设置有多个支脚，多个所述支脚沿所述支架座的周向均匀分布。

7.根据权利要求2-4中任一项所述的花键轴形位公差检测装置，其特征在于，还包括轴承座；所述轴承座固定在所述支架座的上端面；所述轴承座的内部设置有两个轴承，两个所述轴承上下分布；所述主轴穿设在两个所述轴承上。

8.根据权利要求1-4中任一项所述的花键轴形位公差检测装置，其特征在于，所述花键套上还设置有挡板，所述挡板用于将所述花键套固定在所述花键轴的花键段上。

9.根据权利要求1-4中任一项所述的花键轴形位公差检测装置，其特征在于，所述形位公差包括跳动公差和/或圆柱度公差。

10.根据权利要求4所述的花键轴形位公差检测装置，其特征在于，所述滑槽的数量为4个。