CN205074246U - 一种集成电路分选机测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及集成电路测试领域，目的是提供一种集成电路分选机测试装置。一种集成电路分选机测试装置，包括：上端设有横向面板的机架；所述的一种集成电路分选机测试装置还包括：设有位于横向面板上侧的横向导板的横向运动组件，两个竖滑轨，两个各通过一个竖滑轨与横向导板相对两侧端连接的升降立杆，两个各设有一个竖向导板的竖向运动组件，两个取放器，两个横滑轨；每个升降立杆的上端通过一个横滑轨与一个竖向导板连接；每个升降立杆的下端穿过横向面板与一个取放器连接。该集成电路分选机测试装置受力对称，当测试压力较大时不易产生变形，延长使用寿命。
Description
技术领域
本实用新型涉及集成电路测试领域，尤其是一种集成电路分选机测试装置。
背景技术
分选机的测试装置用于准确抓取被试集成电路并准确进入测试位；分选机测试装置的结构可从中国专利申请号：CN201520264263.3的实用新型公开的一种分选机测试装置获得了解；分选机的测试装置具有形状为L型的机架，安装在机架侧面的竖向运动装置和安装在型机架底端的取放器；传统的分选机的测试装置存在受力不对称，机架、取放器和竖向滑轨在测试压力较大时易产生变形，缩短使用寿命的不足；因此，设计一种受力对称，当测试压力较大时不易产生变形，延长使用寿命的一种集成电路分选机测试装置，成为亟待解决的问题。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了克服目前的分选机的测试装置存在受力不对称，机架、取放器和竖向滑轨在测试压力较大时易产生变形，缩短使用寿命的不足，提供一种受力对称，当测试压力较大时不易产生变形，延长使用寿命的一种集成电路分选机测试装置。
本实用新型的具体技术方案是：
一种集成电路分选机测试装置，包括：上端设有横向面板的机架；所述的一种集成电路分选机测试装置还包括：设有位于横向面板上侧的横向导板的横向运动组件，两个竖滑轨，两个各通过一个竖滑轨与横向导板相对两侧端连接的升降立杆，两个各设有一个竖向导板的竖向运动组件，两个取放器，两个横滑轨；每个升降立杆的上端通过一个横滑轨与一个竖向导板连接；每个升降立杆的下端穿过横向面板与一个取放器连接。该集成电路分选机测试装置使用时，横向运动组件的横向导板带动两个升降立杆横向同步运动，两个升降立杆始终对称位于横向导板的相对两侧，当测试压力较大时受力对称，不易产生变形；每个竖向驱动装置的竖向导板带动一个升降立杆升降；该集成电路分选机测试装置受力对称，当测试压力较大时不易产生变形，延长使用寿命。
作为优选，所述的横向运动组件包括：与横向面板枢接的横向丝杆，与横向丝杆螺纹连接的横向螺母，横向驱动装置，设于横向导板和横向面板之间并与横滑轨平行的至少一个横导轨；横向螺母与横向导板连接。横向运动组件结构简单实用；横滑轨和与横滑轨平行的横导轨使升降立杆横向运动精度高且平稳。
作为优选，所述的横向驱动装置包括：与横向面板连接的横向驱动步进电机，与横向驱动步进电机的输出轴连接的横向驱动主动同步带轮，与横向丝杆一端连接的横向驱动从动同步带轮，分别与横向驱动主动同步带轮和横向驱动从动同步带轮传动连接的横向驱动同步带。横向驱动装置由横向驱动步进电机驱动，控制方便且精度高。
作为优选，所述的竖向运动组件包括：设有竖板并与横向面板上端连接的立架，与竖板枢接的竖向丝杆，与竖向丝杆螺纹连接的竖向螺母，竖向驱动装置，设于竖向导板和竖板之间并与竖滑轨平行的两个竖导轨；竖向螺母与竖向导板连接。竖向运动组件结构简单实用；竖滑轨和与竖滑轨平行的竖导轨使升降立杆竖向运动精度高且平稳。
作为优选，所述的竖向驱动装置包括：与立架连接的竖向驱动步进电机，与竖向驱动步进电机的输出轴连接的竖向驱动主动同步带轮，与竖向丝杆一端连接的竖向驱动从动同步带轮，分别与竖向驱动主动同步带轮和竖向驱动从动同步带轮传动连接的竖向驱动同步带。竖向驱动装置由竖向驱动步进电机驱动，控制方便且精度高。
作为优选，所述的取放器包括转接组件和吸嘴；转接组件包括：两个分别位于升降立杆相对两侧的转块，两个分别位于升降立杆另两侧的补块，分别与两个补块下端连接的底板，四个调节螺钉和四个调整螺钉；每个转块设有两个调节通孔；调节通孔的直径大于调节螺钉的螺杆直径且小于调节螺钉头部的直径；每个调节螺钉的螺杆穿过一个调节通孔并与升降立杆螺纹连接；每个补块设有两个调整通孔；调整通孔的直径大于调整螺钉的螺杆直径且小于调整螺钉头部的直径；每个调整螺钉的螺杆穿过一个调整通孔并与一个转块的一端螺纹连接：吸嘴与底板下端连接。通过调节通孔与调节螺钉的螺杆之间具有的间隙和调整通孔与调整螺钉的螺杆之间具有的间隙，可以调整底板的水平位置，从而使吸嘴处于准确方位。
作为优选，所述的一种集成电路分选机测试装置还包括与升降立杆上端连接的调整块；横滑轨包括与竖向导板连接的滑轨体和与调整块连接的滑块。通过调节滑块可以方便升降立杆安装，使升降立杆运动时不产生干涉。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该集成电路分选机测试装置使用时，横向运动组件的横向导板带动两个升降立杆横向同步运动，两个升降立杆始终对称位于横向导板的相对两侧，当测试压力较大时受力对称，不易产生变形；每个竖向驱动装置的竖向导板带动一个升降立杆升降；该集成电路分选机测试装置受力对称，当测试压力较大时不易产生变形，延长使用寿命。横向运动组件结构简单实用；横滑轨和与横滑轨平行的横导轨使升降立杆横向运动精度高且平稳。横向驱动装置由横向驱动步进电机驱动，控制方便且精度高。竖向运动组件结构简单实用；竖滑轨和与竖滑轨平行的竖导轨使升降立杆竖向运动精度高且平稳。竖向驱动装置由竖向驱动步进电机驱动，控制方便且精度高。通过调节通孔与调节螺钉的螺杆之间具有的间隙和调整通孔与调整螺钉的螺杆之间具有的间隙，可以调整底板的水平位置，从而使吸嘴处于准确方位。通过调节滑块可以方便升降立杆安装，使升降立杆运动时不产生干涉。
附图说明
图1是本实用新型的一种结构示意图；
图2是横向运动组件的结构示意图；
图3是竖向运动组件的结构示意图；
图4是转接组件和升降立杆的结构示意图；
图5是调整块和升降立杆的结构示意图。
图中：横向面板-1、机架-2、横向导板-3、竖滑轨-4、升降立杆-5、竖向导板-6、横滑轨-7、横向丝杆-8、横向螺母-9、横导轨-10、横向驱动步进电机-11、横向驱动主动同步带轮-12、横向驱动从动同步带轮-13、横向驱动同步带-14、竖板-15、立架-16、竖向丝杆-17、竖向螺母-18、竖导轨-19、竖向驱动步进电机-20、竖向驱动主动同步带轮-21、竖向驱动从动同步带轮-22、竖向驱动同步带-23、转块-24、补块-25、底板-26、调节螺钉-27、调整螺钉-28、调整块-29、滑轨体-30、滑块-31、立杆通孔-32。
具体实施方式
下面结合附图所示对本实用新型进行进一步描述。
如附图1、附图2、附图3、附图4、附图5所示：一种集成电路分选机测试装置，包括：上端设有横向面板1的机架2，设有位于横向面板1上侧的横向导板3的横向运动组件，两个竖滑轨4，两个各通过一个竖滑轨4与横向导板3相对两侧端连接的升降立杆5，两个各设有一个竖向导板6的竖向运动组件，两个取放器，两个横滑轨7；每个升降立杆5的上端通过一个横滑轨7与一个竖向导板6连接；每个升降立杆5的下端穿过横向面板1与一个取放器连接。
所述的横向运动组件包括：与横向面板1通过轴承枢接的横向丝杆8，与横向丝杆8螺纹连接的横向螺母9，横向驱动装置，设于横向导板3和横向面板1之间并与横滑轨7平行的两个横导轨10；两个横导轨10各位于横向丝杆8的一侧；横向螺母9与横向导板3螺钉连接。横向面板1设有位于两个横导轨10之间并套设在两个升降立杆5外的立杆通孔32。
所述的横向驱动装置包括：与横向面板1螺钉连接的横向驱动步进电机11，与横向驱动步进电机11的输出轴键连接的横向驱动主动同步带轮12，与横向丝杆8一端键连接的横向驱动从动同步带轮13，分别与横向驱动主动同步带轮12和横向驱动从动同步带轮13传动连接的横向驱动同步带14。
所述的竖向运动组件包括：设有竖板15并与横向面板1上端螺钉连接的立架16，与竖板15通过轴承枢接的竖向丝杆17，与竖向丝杆17螺纹连接的竖向螺母18，竖向驱动装置，设于竖向导板6和竖板15之间并与竖滑轨4平行的两个竖导轨19；两个竖导轨19各位于竖向丝杆17的一侧；竖向螺母18与竖向导板6螺钉连接。两个竖向运动组件各位于一个横导轨10的外侧。
所述的竖向驱动装置包括：与立架16螺钉连接的竖向驱动步进电机20，与竖向驱动步进电机20的输出轴键连接的竖向驱动主动同步带轮21，与竖向丝杆17一端键连接的竖向驱动从动同步带轮22，分别与竖向驱动主动同步带轮21和竖向驱动从动同步带轮22传动连接的竖向驱动同步带23。
所述的取放器包括转接组件和吸嘴（附图中未画出）；转接组件包括：两个分别位于升降立杆5相对两侧的转块24，两个分别位于升降立杆5另两侧的补块25，分别与两个补块25下端连接的底板26，四个调节螺钉27和四个调整螺钉28；每个转块24设有两个调节通孔（附图中未画出）；调节通孔的直径大于调节螺钉27的螺杆直径且小于调节螺钉27头部的直径；每个调节螺钉27的螺杆穿过一个调节通孔并与升降立杆5螺纹连接；每个补块25设有两个调整通孔（附图中未画出）；调整通孔的直径大于调整螺钉28的螺杆直径且小于调整螺钉28头部的直径；每个调整螺钉28的螺杆穿过一个调整通孔并与一个转块24的一端螺纹连接：吸嘴与底板26下端连接。
本实施例中，所述的一种集成电路分选机测试装置还包括与升降立杆5上端螺钉连接的调整块29；横滑轨7包括与竖向导板6螺钉连接的滑轨体30和与调整块29螺钉连接的滑块31。
该集成电路分选机测试装置使用时，横向运动组件的横向导板3带动两个升降立杆5横向同步运动；每个竖向驱动装置的竖向导板6带动一个升降立杆5升降。
本实用新型的有益效果是：该集成电路分选机测试装置使用时，横向运动组件的横向导板带动两个升降立杆横向同步运动，两个升降立杆始终对称位于横向导板的相对两侧，当测试压力较大时受力对称，不易产生变形；每个竖向驱动装置的竖向导板带动一个升降立杆升降；该集成电路分选机测试装置受力对称，当测试压力较大时不易产生变形，延长使用寿命。横向运动组件结构简单实用；横滑轨和与横滑轨平行的横导轨使升降立杆横向运动精度高且平稳。横向驱动装置由横向驱动步进电机驱动，控制方便且精度高。竖向运动组件结构简单实用；竖滑轨和与竖滑轨平行的竖导轨使升降立杆竖向运动精度高且平稳。竖向驱动装置由竖向驱动步进电机驱动，控制方便且精度高。通过调节通孔与调节螺钉的螺杆之间具有的间隙和调整通孔与调整螺钉的螺杆之间具有的间隙，可以调整底板的水平位置，从而使吸嘴处于准确方位。通过调节滑块可以方便升降立杆安装，使升降立杆运动时不产生干涉。
本实用新型可改变为多种方式对本领域的技术人员是显而易见的，这样的改变不认为脱离本实用新型的范围。所有这样的对所述领域的技术人员显而易见的修改，将包括在本权利要求的范围之内。
Claims (7)
1.一种集成电路分选机测试装置，包括：上端设有横向面板的机架；其特征是，所述的一种集成电路分选机测试装置还包括：设有位于横向面板上侧的横向导板的横向运动组件，两个竖滑轨，两个各通过一个竖滑轨与横向导板相对两侧端连接的升降立杆，两个各设有一个竖向导板的竖向运动组件，两个取放器，两个横滑轨；每个升降立杆的上端通过一个横滑轨与一个竖向导板连接；每个升降立杆的下端穿过横向面板与一个取放器连接。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路分选机测试装置，其特征是：所述的横向运动组件包括：与横向面板枢接的横向丝杆，与横向丝杆螺纹连接的横向螺母，横向驱动装置，设于横向导板和横向面板之间并与横滑轨平行的至少一个横导轨；横向螺母与横向导板连接。
3.根据权利要求2所述的一种集成电路分选机测试装置，其特征是：所述的横向驱动装置包括：与横向面板连接的横向驱动步进电机，与横向驱动步进电机的输出轴连接的横向驱动主动同步带轮，与横向丝杆一端连接的横向驱动从动同步带轮，分别与横向驱动主动同步带轮和横向驱动从动同步带轮传动连接的横向驱动同步带。
4.根据权利要求1所述的一种集成电路分选机测试装置，其特征是：所述的竖向运动组件包括：设有竖板并与横向面板上端连接的立架，与竖板枢接的竖向丝杆，与竖向丝杆螺纹连接的竖向螺母，竖向驱动装置，设于竖向导板和竖板之间并与竖滑轨平行的两个竖导轨；竖向螺母与竖向导板连接。
5.根据权利要求4所述的一种集成电路分选机测试装置，其特征是：所述的竖向驱动装置包括：与立架连接的竖向驱动步进电机，与竖向驱动步进电机的输出轴连接的竖向驱动主动同步带轮，与竖向丝杆一端连接的竖向驱动从动同步带轮，分别与竖向驱动主动同步带轮和竖向驱动从动同步带轮传动连接的竖向驱动同步带。
6.根据权利要求1或2或3或4或5所述的一种集成电路分选机测试装置，其特征是：所述的取放器包括转接组件和吸嘴；转接组件包括：两个分别位于升降立杆相对两侧的转块，两个分别位于升降立杆另两侧的补块，分别与两个补块下端连接的底板，四个调节螺钉和四个调整螺钉；每个转块设有两个调节通孔；调节通孔的直径大于调节螺钉的螺杆直径且小于调节螺钉头部的直径；每个调节螺钉的螺杆穿过一个调节通孔并与升降立杆螺纹连接；每个补块设有两个调整通孔；调整通孔的直径大于调整螺钉的螺杆直径且小于调整螺钉头部的直径；每个调整螺钉的螺杆穿过一个调整通孔并与一个转块的一端螺纹连接：吸嘴与底板下端连接。
7.根据权利要求1或2或3或4或5所述的一种集成电路分选机测试装置，其特征是：还包括与升降立杆上端连接的调整块；横滑轨包括与竖向导板连接的滑轨体和与调整块连接的滑块。
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| CN205074246U true CN205074246U (zh) | 2016-03-09 |
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105268651A (zh) * | 2015-09-21 | 2016-01-27 | 杭州长川科技股份有限公司 | 集成电路分选机测试装置 |
| CN108163263A (zh) * | 2017-12-10 | 2018-06-15 | 杭州长川科技股份有限公司 | 集成电路编带取放装置及取放方法 |
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- 2015-09-21 CN CN201520731943.1U patent/CN205074246U/zh active Active
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