CN204925330U - 耐静电自动筛选系统 - Google Patents

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CN204925330U CN201520669524.XU CN201520669524U CN204925330U CN 204925330 U CN204925330 U CN 204925330U CN 201520669524 U CN201520669524 U CN 201520669524U CN 204925330 U CN204925330 U CN 204925330U
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林裕强
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Abstract

一种发光二极管的耐静电自动筛选系统,包括,检测承台,用于承载发光二极管,从而依序通过自动检测路径的静电放电区、点灯评估区及分类筛选区,静电放电区的静电放电装置将静电导入发光二极管,点灯评估区的点灯装置将点灯电源导入发光二极管,点灯评估区的点灯评估装置侦测点灯状况而产生一点灯评估信息至分类筛选区的分类筛选装置,从而使分类筛选装置自动筛选发光二极管,发光二极管的耐静电自动筛选系统能够有效率地检测发光二极管的耐静电特性,进而提升检测率及失效率的可信度。

Description

耐静电自动筛选系统
技术领域
本实用新型涉及一种发光二极管的耐静电测试的设计,特别是涉及一种发光二极管的耐静电自动筛选系统。
背景技术
静电放电(ElectroStaticDischarge,ESD)是因为两物质的相互接触或分开而产生,此过程称为摩擦起电(triboelectriccharging),是关于带有不同电位的两物质间电荷的迅速地转移。当电荷产生并残留在物体上,会产生静电放电。物体的电荷不平衡将产生电场。同时,累积的静电电场会因为电位能不同而造成电荷转移。此现象就称为静电放电(ESD)。静电放电是半导体业组件故障的主要原因之一。根据美国国家标准学会(ANSI)对半导体产业的调查显示,静电放电伤害导致的平均产品损失在8%~33%。
当高压的静电通过电子组件,将造成电子组件永久性的损害。静电放电造成电子组件的失效有许多模式,例如:漏电、短路、亮度下降或烧毁等。
机械放电模式(MachineModel,MM)是指累积有静电的机械触碰到电子组件,静电通过电子组件,使电子组件失效。机械放电模式的静电通常可以通过接地等方式消除累积于机械中的静电。
另一种最常见的静电放电是直接从人体将静电电荷转移到电子组件上,称为人体模式(HumanBodyModel,HBM),其也是最难以彻底消除的静电。人体本身的静电可达3kV,且人体所穿的衣物在气候干燥的环境中有时会累积到8kV以上的静电。当一个带有正电位或负电位的人碰触到一组件,瞬间将静电释放到组件上,使一非常高的电压或电流通过组件,而造成组件不可逆的破坏。因此,工作人员必须配备防静电装置。
目前发光二极管的耐静电特性测试方法通常是采用抽测的方式。通过工作人员手持静电枪将静电放电到发光二极管,再测试发光二极管的亮度或电阻值等特性,并依照抽测数量计算发光二极管的失效率。在高抽测率的情况下,计算出的失效率会近似于实际上的失效率。假设计算出的发光二极管具有较高的失效率,可预测大部份的发光二极管无法承受测试电压值的静电。反之,假设计算出的发光二极管具有较低的失效率低,可预测大部份的发光二极管可以承受测试电压值的静电。
实用新型内容
本实用新型所欲解决的技术问题
实施人力抽测须花费较多的劳力及时间成本,因此发光二极管的耐静电特性的抽测率难以提高,导致计算出的失效率与实际上的失效率之间有相当差异,造成计算出的失效率可信度低。
并且,虽然工作人员配备有防静电装置,仍有可能导致发光二极管受到人体模式的静电放电的伤害,而造成发光二极管的失效率增加。
因此,本实用新型的目的是提供一种耐静电自动筛选系统,用于自动化筛选发光二极管,以提高抽测率并同时降低劳力及时间成本,以改善现有技术的问题。
本实用新型解决问题的技术手段
本实用新型为解决现有技术的问题所采用的技术手段为一种发光二极管的耐静电自动筛选系统,包含:检测承台、静电放电装置、点灯装置、点灯评估装置、及分类筛选装置。检测承台,用于承载发光二极管,检测承台上设置有电性传导构件,检测承台沿着自动检测路径自动导送,自动检测路径依序包括静电放电区、点灯评估区及分类筛选区;静电放电区,设置有静电放电装置,静电放电装置在检测承台到达静电放电区时电连接电性传导构件,从而将具有测试电压值的静电通过电性传导构件传递至检测承台上的发光二极管;点灯评估区,设置有点灯装置及点灯评估装置,点灯装置在检测承台到达点灯评估区时电连接电性传导构件,将点灯电源通过电性传导构件传递至检测承台上的发光二极管,点灯评估装置电连接于发光二极管从而传送点灯评估信息;以及分类筛选区,设置有分类筛选装置,连接点灯评估装置,分类筛选装置依据接收的点灯评估信息从而将检测承台上的发光二极管自分类筛选区自动筛选至对应的出口收集区。
在本实用新型的一实施例中,检测承台还包括绝缘构件,电性传导构件设置于绝缘构件上。
在本实用新型的一实施例中,所述的静电放电区还包括正负极排序构件。
在本实用新型的一实施例中,所述的点灯评估区还包括正负极排序构件。
本实用新型相较于现有技术的有益的技术效果
通过本实用新型所采用的技术手段,能够批量化检测发光二极管的耐静电特性,并能够将抽测率大幅地提高到100%,更进一步地提升失效率的可信度,以事先预防交货后可能发生的失效现象,进而提升顾客满意度。
本实用新型所采用的具体实施例,将通过以下的实施例及附图作进一步的说明。
附图说明
图1为本实用新型的第一实施例的耐静电自动筛选系统的示意图。
图2为本实用新型的第一实施例的耐静电自动筛选系统运作过程中的状态示意图之一。
图3为本实用新型的第一实施例的耐静电自动筛选系统运作过程中的状态示意图之二。
图4为本实用新型的第一实施例的耐静电自动筛选系统运作过程中的状态示意图之三。
图5为本实用新型的第一实施例的耐静电自动筛选方法的流程图。
图6为本实用新型的第二实施例的耐静电自动筛选系统的示意图之一。
图7为本实用新型的第二实施例的耐静电自动筛选系统运作过程中的状态示意图之一。
图8为本实用新型的第二实施例的耐静电自动筛选系统运作过程中的状态示意图之二。
图9为本实用新型的第二实施例的耐静电自动筛选系统运作过程中的状态示意图之三。
图10为本实用新型的第二实施例的耐静电自动筛选方法的流程图。
【主要组件符号说明】
100、100a耐静电自动筛选系统
1检测承台
11电性传导构件
12绝缘构件
2静电放电区
21静电放电装置
211静电导件
22正负极排序构件
3点灯评估区
31点灯装置
311点灯导件
32正负极排序构件
33点灯评估装置
4分类筛选区
41分类筛选装置
421、422出口收集区
5静电消除区
51静电消除装置
511静电消除件
200发光二极管
D点灯评估信息
R自动检测路径
R’自动检测路径
具体实施方式
请同时参阅图1至图4所示,并结合图5,本实施例的说明如下。
在本实施例中,发光二极管的耐静电自动筛选系统100包括检测承台1、静电放电区2、点灯评估区3、及分类筛选区4。检测承台1上设置有发光二极管200,依序通过自动检测路径的静电放电区2、点灯评估区3及分类筛选区4。顺带一提,图1至图4中,发光二极管200的数量仅为示意,并非代表实际数量。
参阅图5所示,其为本实用新型的第一实施例的耐静电自动筛选方法的流程图。本实用新型的第一实施例的耐静电自动筛选方法包括以下步骤:将发光二极管设置于检测承台上(步骤S10);将发光二极管通过检测承台沿着自动检测路径自动导送(步骤S12);检测承台自动导送至静电放电区(步骤S20);静电导入检测承台上的发光二极管(步骤S21);检测承台自动导送至点灯评估区(步骤S30);消除发光二极管的静电(步骤S31);对应排序发光二极管的正负极(步骤S32);点灯电源导入发光二极管(步骤S33);回传点灯评估信息至分类筛选装置(步骤S34);检测承台自动导送至分类筛选区(步骤S40);以及自动筛选发光二极管至对应的出口收集区(步骤S41)。
首先,将发光二极管200设置于检测承台1上(步骤S10)。具体而言,检测承台1包括电性传导构件11及绝缘构件12,电性传导构件11设置于绝缘构件12上。将发光二极管200设置为与电性传导构件11电连接。其后,将发光二极管200通过检测承台1沿着自动检测路径R自动导送(步骤S12)。自动检测路径R依序包括静电放电区2、点灯评估区3及分类筛选区4。
而后,检测承台1自动导送至静电放电区2(步骤S20)。详细而言,静电放电区2设置有静电放电装置21,静电放电装置21可依据设定产生测试电压值的静电。静电放电装置21的静电导件211电连接电性传导构件11。静电导件211将静电通过电性传导构件11传递至检测承台1上的发光二极管200,使静电停留在发光二极管200(步骤S22)。
其后,检测承台1自动导送至点灯评估区3(步骤S30)。具体而言,点灯评估区3设置有点灯装置31、正负极排序构件32、及点灯评估装置33。点灯装置31的点灯导件311电连接电性传导构件11。在本实施例中,耐静电自动筛选系统100不需要装设静电消除装置,因为带有静电的发光二极管200与点灯导件311的电位不同,发光二极管200与点灯导件311相互平衡电位,所以点灯导件311将吸收发光二极管200的静电,从而将停留在发光二极管200的静电消除(步骤S31)。正负极排序构件32依据对应于点灯装置31的电流方向排序发光二极管200的正负极(步骤S32)。发光二极管200的正负极可预先由其他方式得知(例如:读取发光二极管的正负极标注或是以电表量测其电阻值),从而在发光二极管200设置于检测承台1时,可以先行将发光二极管200的正负极对应点灯装置31的电流方向排序,因此,正负极排序构件32为非必要的构件,且步骤S32亦为非必要的操作。点灯装置31可依据设定而产生点灯电源,并通过点灯导件311将点灯电源传递至检测承台1上的发光二极管200的正负极从而导通发光二极管200(步骤S33)。若通入点灯电源的发光二极管200能够被点亮,则表示发光二极管200能够承受静电。若通入点灯电源的发光二极管200能够被点亮,但是亮度不足,则表示静电使发光二极管200的性能衰退。若通入点灯电源的发光二极管200无法被点亮,则表示发光二极管200无法承受静电。点灯评估装置33电连接于所述的发光二极管200从而传送点灯评估信息,具体而言,通过点灯导件311而侦测发光二极管200的电阻值,回传对应每一发光二极管200亮灯状况的点灯评估信息D到分类筛选区4(步骤S34)。例如:发光二极管200的电阻值很小,点灯评估信息D则为优良、发光二极管200的电阻值很大,点灯评估信息D则为不合格、发光二极管200的电阻值介于两者之间,点灯评估信息则D为合格。
最后,检测承台1自动导送至分类筛选区4(步骤S40)。分类筛选区4设置有分类筛选装置41及二个出口收集区421、422。分类筛选装置41连接点灯评估装置33。分类筛选装置41依据点灯评估讯号D,将不合格的发光二极管200自分类筛选区4自动筛选至对应的出口收集区421,将合格的发光二极管200自分类筛选区4自动筛选至对应的另一出口收集区422,并将优良的发光二极管200留在检测承台1上,以便后续作业(步骤S41)。本实用新型并不以此为限,在其它实施例中,出口收集区可为一个或数个。
实用新型请同时参阅图6至图9所示,并结合图10,本实用新型的第二实施例的说明如下。
在本实施例中,发光二极管的耐静电自动筛选系统100a与第一实施例的发光二极管的耐静电自动筛选系统100大致相同,故对于相同的部分在此不再赘述,而相同的组件以相同符号表示。
参阅图6所示,其为本实用新型的第二实施例的耐静电自动筛选方法的流程图。本实用新型的第二实施例的耐静电自动筛选方法与第一实施例的耐静电自动筛选方法大致相同,故对于相同的部分于此不再赘述。其第一个差异点是:在步骤S20之后,增加一步骤S21:对应排序发光二极管的正负极。其第二个差异点是:在步骤S22之后,增加一步骤S23:检测承台自动导送至一静电消除区(步骤S23)、以及一步骤S24:消除发光二极管的静电(步骤S24)。其第三个差异点是,在步骤S30之后,减少一步骤S31:消除发光二极管的静电、以及一步骤S32:对应排序发光二极管的正负极。
其第一个差别在于耐静电自动筛选系统100a还包括静电消除区5,且静电消除区5设置有静电消除装置,使耐静电自动筛选系统100a相较于耐静电自动筛选系统100,能更快速地消除静电。自动检测路径R’依序包括静电放电区2、静电消除区5、点灯评估区3及分类筛选区4。发光二极管200通过检测承台1沿着自动检测路径R’自动导送(步骤S12)。
检测承台1自静电放电区2自动导送至静电消除区5(步骤S23)。静电消除装置51可产生高密度的正离子及负离子,可快速地平衡电位,使静电消除。静电消除装置51的静电消除件511通过电性传导构件11与发光二极管200电连接,从而将停留在发光二极管200中的静电消除(步骤S24)。其中,静电装置51亦可使用其他具有消除静电效果的装置取代,如:静电消除风扇等。
其第二个差别在于耐静电自动筛选系统100a的静电放电区2和包括正负极排序构件22,且点灯评估区3不包括正负极排序构件32。
检测承台1自动导送至静电放电区2(步骤S20),正负极排序构件22依据对应于点灯装置31的电流方向排序发光二极管200的正负极(步骤S21)。如前所述,发光二极管200的正负极可预先由其他方式得知,因此,正负极排序构件22为非必要的构件,且步骤S21亦为非必要的操作。而后相同地,将静电导入检测承台上的发光二极管200(步骤S22),使静电停留在发光二极管200。因此,在本实施例中,步骤S30之后不需要再次消除发光二极管200的静电(步骤S31),亦不需要再次对应排序发光二极管200的正负极(步骤S32),后续步骤如第一实施例中,执行步骤S33至结束。
由本实用新型的实施例可得知,耐静电自动筛选系统100及耐静电自动筛选系统100a相较于现有的技术手段,能够更有效率地检测发光二极管的耐静电特性,进而提升检测率及失效率的可信度。
以上的叙述仅为本实用新型的较佳实施例说明,本领域技术人员可依据上述的说明而作其它种种的改良,但这些改变仍属于本实用新型的创作精神及以下所界定的专利范围中。

Claims (4)

1.一种发光二极管的耐静电自动筛选系统,其特征在于,包含:
检测承台,用于承载发光二极管,所述的检测承台上设置有电性传导构件,所述的检测承台沿着一自动检测路径自动导送,所述的自动检测路径依序包括静电放电区、点灯评估区及分类筛选区;
所述的静电放电区,设置有静电放电装置,所述的静电放电装置在所述的检测承台到达所述的静电放电区时电连接所述的电性传导构件,从而将具有测试电压值的静电通过所述的电性传导构件传递至所述的检测承台上的所述的发光二极管;
所述的点灯评估区,设置有点灯装置及点灯评估装置,所述的点灯装置在所述的检测承台到达所述的点灯评估区时电连接所述的电性传导构件,将点灯电源通过所述的电性传导构件传递至所述的检测承台上的所述的发光二极管,所述的点灯评估装置电连接于所述的发光二极管从而传送点灯评估信息;以及
所述的分类筛选区,设置有分类筛选装置,且所述的分类筛选装置连接所述的点灯评估装置,所述的分类筛选装置依据接收的点灯评估信息从而将所述的检测承台上的所述的发光二极管自所述的分类筛选区筛选至对应的出口收集区。
2.如权利要求1所述的耐静电自动筛选系统,其特征在于,所述的检测承台还包括绝缘构件,所述的电性传导构件设置于所述的绝缘构件上。
3.如权利要求1所述的耐静电自动筛选系统,其特征在于,所述的静电放电区还包括正负极排序构件。
4.如权利要求1所述的耐静电自动筛选系统,其特征在于,所述的点灯评估区还包括正负极排序构件。
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