CN204903575U - 通用测试板 - Google Patents

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徐子昆
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Chengdu Si Timer Control Technology Co.
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Beijing Taimasi Measurement And Control Technology Co Ltd
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Abstract

本实用新型公开了一种通用测试板,包括板体,所述板体设有两排测试口,连接待测试产品的针脚,所述测试口的左右两侧设有两排DIP,每排DIP均设有3列;第1列为电源列针脚,所有针脚均与电源连接;第2列为测试通道针脚,与所述测试口对应连接;第3列为地线针脚;本实用新型的优点在于:能够通过转接板统一做成DIP双列直插封装的形式,再通过跳线来定义器件的电源地线来完成其通用性,大大节约了成本。

Description

通用测试板
技术领域
本实用新型涉及一种测试板,具体地说是一种通用测试板,属于测试板领域。
背景技术
传统的ATE测试过程中,因为DUT(被测器件)的封装类型不同,所以导致在测试时需要定做不同的Loadboard(测试板),从而导致测试成本的增加。
实用新型内容
为了解决上述问题,本实用新型设计了一种通用测试板,能够通过转接板统一做成DIP双列直插封装的形式,再通过跳线来定义器件的电源地线来完成其通用性,大大节约了成本。
本实用新型的技术方案为:
通用测试板,包括板体,所述板体设有两排测试口,连接待测试产品的针脚,所述测试口的左右两侧设有两排DIP,每排DIP均设有3列;第1列为电源列针脚,所有针脚均与电源连接;第2列为测试通道针脚,与所述测试口对应连接;第3列为地线针脚。
进一步地,所述板体的任意两个针脚上还设有跳线,跳线扣在任意两个针脚上,即为接通状态,用以完成设备的通电及测试。
本实用新型的优点在于:能够通过转接板统一做成DIP双列直插封装的形式,再通过跳线来定义器件的电源地线来完成其通用性,大大节约了成本。
下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明。
附图说明
图1为本实用新型实施例的结构示意图。
具体实施方式
以下对本实用新型的优选实施例进行说明,应当理解,此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
实施例1
如图1所示,一种通用测试板,包括板体1,所述板体1设有两排测试口2,连接待测试产品的针脚,所述测试口2的左右两侧设有两排DIP,每排DIP均设有3列;第1列为电源列针脚3,所有针脚均与电源连接;第2列为测试通道针脚4,与所述测试口对应连接;第3列为地线针脚5;所述板体的任意两个针脚上还设有跳线6,跳线扣在任意两个针脚上,即为接通状态,用以完成设备的通电及测试。

Claims (2)

1.通用测试板,其特征在于:包括板体,所述板体设有两排测试口,连接待测试产品的针脚,所述测试口的左右两侧设有两排DIP,每排DIP均设有3列;第1列为电源列针脚,所有针脚均与电源连接;第2列为测试通道针脚,与所述测试口对应连接;第3列为地线针脚。
2.根据权利要求1所述的通用测试板,其特征在于:所述板体的任意两个针脚上还设有跳线。
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Patentee after: Chengdu Si Timer Control Technology Co.

Address before: 100098, room 30, No. 219, West Third Ring Road, Haidian District, Beijing

Patentee before: BEIJING TAIMASI MEASUREMENT AND CONTROL TECHNOLOGY CO., LTD.

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Granted publication date: 20151223

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