CN204575880U - 一种基于纳米压印工艺的可见与近红外光吸收体 - Google Patents

一种基于纳米压印工艺的可见与近红外光吸收体 Download PDF

Info

Publication number
CN204575880U
CN204575880U CN201520316108.1U CN201520316108U CN204575880U CN 204575880 U CN204575880 U CN 204575880U CN 201520316108 U CN201520316108 U CN 201520316108U CN 204575880 U CN204575880 U CN 204575880U
Authority
CN
China
Prior art keywords
nano
layer
array
dielectric layer
visible
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN201520316108.1U
Other languages
English (en)
Inventor
朱锦锋
白彦强
蔡艺军
刘海
柳清伙
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Xiamen University
Original Assignee
Xiamen University
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Xiamen University filed Critical Xiamen University
Priority to CN201520316108.1U priority Critical patent/CN204575880U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN204575880U publication Critical patent/CN204575880U/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

一种基于纳米压印工艺的可见与近红外光吸收体,涉及电磁波吸收体。本实用新型为3层结构,从下至上依次为衬底、金属层和介电层,在介电层上设有金属微纳阵列。所述衬底采用单面抛光硅片。所述金属层可采用金层或银层;所述金属层的厚度可大于100nm。所述介电层采用介电氧化物层,所述介电氧化物层可选自Al2O3或SiO2;所述介电层的厚度可为10~50nm。采用电子束直写技术制作的纳米压印模板,其精密程度完全可以满足器件对阵列周期以及阵列直径的要求。精确模板的使用可以很好地保证每个阵列单元的一致性。由于纳米压印技术的采用,使器件的制作成本降低,且可用于工业中的大量生产。

Description

一种基于纳米压印工艺的可见与近红外光吸收体
技术领域
本实用新型涉及电磁波吸收体,尤其是涉及一种可用于光伏器件、光电探测器、热光伏器件和微测热辐射计的一种基于纳米压印工艺的可见与近红外光吸收体。
背景技术
不论在科学领域还是工业领域,人们都一直在探索寻找一种具有100%吸收率的电磁波吸收体,它可以用在各种光电器件上,把照向它的电磁波全部吸收,而不发生反射。完美吸收体,正是一种基于人工合成材料的电磁波吸收体,它的电磁参数和周围环境的电磁参数可实现阻抗匹配,因此其在特定频段下的吸收率为100%,且该频段可以通过调整吸收体的参数来改变。因此若将该频段调整成可见与近红外波段,则完美吸收体可以用来制作光伏电池、光电探测器等需要将电磁波高效率吸收的器件。不仅如此,通过改变完美吸收体的参数,还能对电磁波的吸收进行精确的调控,从而实现更多复杂而精密的光电技术,如热影像技术、可调节热光伏器件等。
而在现有技术中,主要难点在于大面积制作带有均匀排列的金属微纳阵列的完美吸收体。
如前所述,要保证完美吸收体性能良好,需要满足以下条件:
(1)金属阵列的周期在亚波长以下,且阵列单元自身的直径需是可调的。
(2)阵列必须均匀排列且每个阵列单元结构相同。
在现有制作完美吸收体的技术中:光刻技术可以较好制作均匀的阵列结构,但其精细化程度不够,由于衍射极限的存在,它通常制作的阵列单元结构在1μm以上;电子束光刻技术虽然克服了传统光刻技术中的衍射极限,也使得可以制作的阵列单元结构尺度在亚波长以下,但是,由于其工艺流程决定了它制作样品的速度很慢,不适合制作大面积的样品,而且由于每次加工都很耗时,也不能批量生产器件;基于聚苯乙烯胶体球掩膜体制作的阵列,虽然可以制作较小的阵列单元,但是由于无法保证每一个聚苯乙烯小球的尺寸大小都完全的一致,而且在实际中很难保证每一次自组装的聚苯乙烯小球都可以紧密排列,也就无法保证阵列的均匀性,阵列的周期性也就无法保证,而且实验的可重复性也比较差。综上可知,现有工艺很难满足工业化生产应用的要求。因此,如何低成本、大规模可重复性的制造大面积可见与近红外光完美吸收体,并实现对其模型尺寸的精确调控,是一个很值得探究的问题。
发明内容
本实用新型的目的在于针对上述技术缺陷,提供一种基于纳米压印工艺的可见与近红外光吸收体。
本实用新型为3层结构,从下至上依次为衬底、金属层和介电层,在介电层上设有金属微纳阵列。
所述衬底采用单面抛光硅片。
所述金属层可采用金层或银层;所述金属层的厚度可大于100nm。
所述介电层采用介电氧化物层,所述介电氧化物层可选自Al2O3或SiO2;所述介电层的厚度可为10~50nm。
本实用新型可采用以下方法制备:
1)在衬底上蒸镀金属层,采用射频磁控溅射的方法在金属层上沉积介电层;
2)在步骤1)所得的介电层上制备双层胶膜,所述双层胶膜由正性光刻胶底层和纳米压印胶顶层组成;所述正性光刻胶底层的厚度可为100nm,纳米压印胶顶层的厚度可为200nm。
3)将步骤2)中所得的基片置于纳米压印设备里,利用中间聚合物模板压印,然后脱模,得到压印图形;所述中间聚合物模板由镍模板经热纳米压印制得。
4)利用等离子刻蚀去除压印残留的纳米压印胶,利用正胶显影液浸泡去除露在外面的正性光刻胶;所述残留的纳米压印胶的厚度约为20nm。
5)在步骤4)的基片上蒸镀一层金属材料;所述蒸镀一层金属材料可采用电子束蒸发的方法,厚度视所加工吸收体而定。
6)去除多余的双层胶膜,得到金属微纳阵列。所述去除多余的双层胶膜的方法可将所得基片浸泡在正胶显影液中,浸泡的时间可为5~15h,随着残胶的去除,即可得到金属微纳阵列。
本实用新型采用纳米压印工艺制作,之所以可以用纳米压印的方法来制作完美吸收体,是因为它有如下特点:
(1)采用电子束直写技术制作的纳米压印模板,其精密程度完全可以满足器件对阵列周期以及阵列直径的要求。
(2)精确模板的使用可以很好地保证每个阵列单元的一致性。
(3)由于纳米压印技术的采用,使器件的制作成本降低,且可用于工业中的大量生产。
正是基于如上特点,纳米压印便可以在保证完美吸收体的工艺要求下,同时大面积的运用于廉价的工业生产中。让完美吸收体的应用更加广泛。
本实用新型不仅要求控制阵列单元的周期在亚波长以下,而且要求严格控制阵列单元的均匀性及一致性。不仅如此,还要求兼顾制作工艺的可重复性从而可以保证在工业生产中可以大量生产。
附图说明
图1是本实用新型基于纳米压印制备双层胶膜后的样品示意图。
图2是本实用新型基于纳米压印去除残胶后的样品示意图。
图3是本实用新型基于纳米压印镀膜后的样品示意图。
图4是本实用新型基于纳米压印制作的吸收体样品示意图。
图5是实施例样品的扫描电镜图。
图中,各标记为:1是衬底(单面抛光硅片);2是金属层(银);3是介电层(Al2O3);4是正性光刻胶;5是纳米压印胶;6是蒸镀的金属层(银);7是金属微纳阵列。
具体实施方式
以下实施例将结合附图对本实用新型作进一步的说明。
本实用新型为3层结构,从下至上依次为衬底1、金属层2和介电层3,在介电层3上设有金属微纳阵列7。
金属层为银层,厚度100nm;介电层为Al2O3层,厚度为10nm;均匀金属阵列材料为银,阵列直径250nm,高度50nm的完美吸收体,并测量其反射率。本实用新型可采用以下方法制备:
(1)选择单面抛光的硅片为基片,按照标准清洗流程清洁硅片。
(2)在基片用电子束蒸发的方法蒸镀100nm的银,然后用射频磁控溅射的方法沉积10nm的Al2O3。
(3)双层胶膜制备:将步骤(2)中做的基片置于涂胶机中,采用旋涂的方式将正性光刻胶均匀的涂在基片上,旋涂的转速为4000r/min,胶厚为100nm,然后将基片置于200℃的加热板上加热3min,加热完成待其冷却之后再涂纳米压印胶,旋涂的转速为2000r/min,胶厚200nm,95℃烘烤2min,在完成步骤(2)、(3)后,样品如图1所示。
(4)压印:将表面干净的中间聚合物软膜放在镍模板表面进行热纳米压印,得到中间聚合物软模板,在中间聚合物软模板表面得到与镍模板互补的纳米结构。以中间聚合物软模板为紫外纳米压印模板,将表面涂有双层胶膜的硅片置于纳米压印光刻系统样品台上进行紫外纳米压印,在纳米压印胶表面得到与中间聚合物模板互补的纳米结构。
(5)去残胶;紫外纳米压印后,采用型号为Q150的微波等离子体去胶机气相刻蚀残胶层,残胶刻蚀条件为:仪器Q150,功率300W,胶体压力60Pa,以氧气为除胶源,其流量为1000mL/min,氩气为保护气,其体积流量为100mL/min,刻蚀时间20min。然后将所得基片浸泡在正胶显影液中20s,随后用清水清洗,用氮气吹干,完成之后,样品如图2所示。
(6)镀膜:用电子束蒸发蒸镀一层银膜大约50nm厚,完成之后,样品如图3所示。
(7)剥离:将完成镀膜的基片浸泡于正胶显影液10h,然后用清水冲洗,氮气烘干。便得到了所要的样品:以硅片为衬底,在衬底之上分别有100nm银层、10nmAl2O3以及直径300nm、高度50nm、周期为500nm的完美吸收体,完成之后,样品如图4所示。
由图5的实例扫描电镜图可以清楚看到,阵列的均匀性很好,可以满足完美吸收体的要求。图中金属阵列的直径为250nm,周期500nm,达到了预期的效果。从而也证明了纳米压印可以应用于可见和近红外光超级吸收体的制作。

Claims (5)

1.一种基于纳米压印工艺的可见与近红外光吸收体,其特征在于为3层结构,从下至上依次为衬底、金属层和介电层,在介电层上设有金属微纳阵列。
2.如权利要求1所述一种基于纳米压印工艺的可见与近红外光吸收体,其特征在于所述衬底采用单面抛光硅片。
3.如权利要求1所述一种基于纳米压印工艺的可见与近红外光吸收体,其特征在于所述金属层采用金层或银层。
4.如权利要求1或3所述一种基于纳米压印工艺的可见与近红外光吸收体,其特征在于所述金属层的厚度大于100nm。
5.如权利要求1所述一种基于纳米压印工艺的可见与近红外光吸收体,其特征在于所述介电层的厚度为10~50nm。
CN201520316108.1U 2015-05-15 2015-05-15 一种基于纳米压印工艺的可见与近红外光吸收体 Expired - Fee Related CN204575880U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201520316108.1U CN204575880U (zh) 2015-05-15 2015-05-15 一种基于纳米压印工艺的可见与近红外光吸收体

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201520316108.1U CN204575880U (zh) 2015-05-15 2015-05-15 一种基于纳米压印工艺的可见与近红外光吸收体

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN204575880U true CN204575880U (zh) 2015-08-19

Family

ID=53868498

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201520316108.1U Expired - Fee Related CN204575880U (zh) 2015-05-15 2015-05-15 一种基于纳米压印工艺的可见与近红外光吸收体

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN204575880U (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104849783A (zh) * 2015-05-15 2015-08-19 厦门大学 基于纳米压印工艺的可见与近红外光吸收体及其加工方法
CN105480931A (zh) * 2015-12-14 2016-04-13 淮阴工学院 一种可见光双向吸收体结构
WO2018176270A1 (zh) * 2017-03-29 2018-10-04 香港中文大学(深圳) 完美吸收体

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104849783A (zh) * 2015-05-15 2015-08-19 厦门大学 基于纳米压印工艺的可见与近红外光吸收体及其加工方法
CN105480931A (zh) * 2015-12-14 2016-04-13 淮阴工学院 一种可见光双向吸收体结构
WO2018176270A1 (zh) * 2017-03-29 2018-10-04 香港中文大学(深圳) 完美吸收体

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN104849783A (zh) 基于纳米压印工艺的可见与近红外光吸收体及其加工方法
CN103868909B (zh) 蘑菇形阵列表面增强拉曼光谱活性基底及制备方法
CN103149615A (zh) 一种多层金属光栅的制备方法
CN107758607A (zh) 一种高深宽比高保形纳米级正型结构的制备方法
CN204575880U (zh) 一种基于纳米压印工艺的可见与近红外光吸收体
Zhang et al. Wafer‐Scale Highly Ordered Anodic Aluminum Oxide by Soft Nanoimprinting Lithography for Optoelectronics Light Management
CN110862088B (zh) 一种超高深宽比的硅纳米针阵列的制备方法
CN102707568B (zh) 多台阶器件结构底层表面的光刻方法
CN107857236A (zh) 一种高深宽比高保形纳米级负型结构的制备方法
CN105951049A (zh) 一种具有纳米级间隙的金属颗粒制造方法
CN102183875B (zh) 滚轮式紫外线软压印方法
CN102338986A (zh) 有机无机复合激光热刻蚀薄膜和微纳图形制备的方法
CN103226215A (zh) 具有宽度周期性渐变表面的全息光栅制备方法
WO2020220931A1 (zh) 一种校准用纳米几何量标准样板及其制备方法
CN105448800A (zh) 一种基于3d打印技术的曲面薄膜电路的制作方法
KR20240003445A (ko) 이중층 포토레지스트 기반의 포토리소그래피 방법
CN109179313A (zh) 一种基于afm的微纳流控芯片制备方法
CN106098843B (zh) 一种接近式软膜曝光微纳陷光结构的制备方法
CN105807557A (zh) 一种用于光学曝光的高分辨率柔性复合掩模板及其制备方法
CN106647187A (zh) 一种小周期阵列结构的制备方法
CN103303860B (zh) 一种在Si表面生成0‑50纳米任意高度纳米台阶的方法
CN113299541B (zh) 一种集成大面积二维材料器件制备工艺
CN102495526B (zh) 光学曝光方法及其用于制备硅材料竖直中空结构的方法
CN114749220A (zh) 一种超高品质因子的纳米光流控芯片、制备方法、及应用
KR102272003B1 (ko) 기판 상의 패턴 형성방법 및 이에 따라 제조되는 패턴이 형성된 기판

Legal Events

Date Code Title Description
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20150819

Termination date: 20180515

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee