CN204330833U - 线束智能测试机探针插架保护结构 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了线束智能测试机探针插架保护结构，包括插架本体，所述插架本体包括插架插入槽、本体安装部和线缆绕挂部，所述插架插入槽位于插架本体中部，所述插架插入槽包括上部的插架导向锥台槽、中部的探针头部避让槽和下部的金属套环依次连接而成，线束智能测试机的测试探针就插入在插架插入槽中，测试探针的线缆或引线能够缠绕或披挂在线缆绕挂部。本实用新型能够全方位保护好线束智能测试机脆弱的探针，包括防止碰、撞、擦、插等机械式损伤，防止探针线缆损伤，防止探针化学锈蚀，防止探针电化腐蚀，大幅维持探针的形状和使用寿命。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种探针保护工具，具体涉及线束智能测试机探针插架保护结构。
背景技术
线束生产厂家使用的线束回路检测设备进行线束导通的检测，线束回路检测设备上面有线束测试验证用的探针，在正常测试过程中不会十分频繁用到探针，但每天需要用到探针的情况总次数还是蛮多的，在频繁的插拔过程中，探针往往因插拔不小心，插入后被其他物品碰撞，产生损伤、变形、弯曲、断裂等缺陷，或探针插入孔非通孔，底部容易残留或吸附有碎渣，废液等物质，与探针头部产生化学腐蚀或电化腐蚀，大幅缩短探针的寿命和灵敏度。
发明内容
本实用新型的目的在于克服现有技术存在的以上问题，提供线束智能测试机探针插架保护结构，本实用新型能够全方位保护好线束智能测试机脆弱的探针，包括防止碰、撞、擦、插等机械式损伤，防止探针线缆损伤，防止探针化学锈蚀，防止探针电化腐蚀，大幅维持探针的形状和使用寿命。
为实现上述技术目的，达到上述技术效果，本实用新型通过以下技术方案实现：
线束智能测试机探针插架保护结构，包括插架本体（1），所述插架本体（1）包括插架插入槽（2）、本体安装部（3）和线缆绕挂部（4），所述插架插入槽（2）位于插架本体（1）中部，所述插架插入槽（2）包括上部的插架导向锥台槽（5）、中部的探针头部避让槽（7）和下部的金属套环（8）依次连接而成，线束智能测试机的测试探针（12）就插入在插架插入槽（2）中，测试探针的线缆或引线能够缠绕或披挂在线缆绕挂部（4）。
进一步的，所述本体安装部（3）设置有连接螺丝孔柱（9）及加强筋组。
进一步的，所述插架本体（1）的上部两侧分别设置有U型开放窗（11）和闭合通孔窗（10）。
进一步的，所述插架导向锥台槽（5）与探针头部避让槽（7）之间设置有探针托台（6），所述插架导向锥台槽（5）表面的母线与旋转轴的夹角为10-40°。
进一步的，所述探针头部避让槽（7）与测试探针（12）为间隙配合，间隙尺寸为0.15-3mm。
进一步的，所述金属套环（8）表面镀银，镀银的厚度为5-12μm。本实用新型的有益效果是:
能够全方位保护好线束智能测试机脆弱的探针，包括防止碰、撞、擦、插等机械式损伤，防止探针线缆损伤，防止探针化学锈蚀，防止探针电化腐蚀，大幅维持探针的形状和使用寿命。
上述说明仅是本实用新型技术方案的概述，为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本实用新型的较佳实施例并配合附图详细说明如后。本实用新型的具体实施方式由以下实施例及其附图详细给出。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，构成本申请的一部分，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：
图1是本实用新型的主视剖视示意图；
图2是本实用新型的侧面示意图；
图3是本实用新型的顶视示意图；
图4是本实用新型的测试探针示意图；
图5是本实用新型测试探针与插架主体组装后的主视剖视图；
图6是本实用新型测试探针与插架主体组装后轴侧观察图。
图中标号说明：1、插架本体，2、插架插入槽，3、本体安装部，4、线缆绕挂部，5、插架导向锥台槽，6、探针托台，7、探针头部避让槽，8、金属套环，9、连接螺丝孔柱，10、闭合通孔窗，11、U型开放窗，12、测试探针。
具体实施方式
下面将参考附图并结合实施例，来详细说明本实用新型。
参照图1-图6所示，线束智能测试机探针插架保护结构，包括插架本体1，所述插架本体1包括插架插入槽2、本体安装部3和线缆绕挂部4，所述插架插入槽2位于插架本体1中部，所述插架插入槽2包括上部的插架导向锥台槽5、中部的探针头部避让槽7和下部的金属套环8依次连接而成，线束智能测试机的测试探针12就插入在插架插入槽2中，测试探针的线缆或引线能够缠绕或披挂在线缆绕挂部4。
进一步的，所述本体安装部3设置有连接螺丝孔柱9及加强筋组。
进一步的，所述插架本体1的上部两侧分别设置有U型开放窗11和闭合通孔窗10。
进一步的，所述插架导向锥台槽5与探针头部避让槽7之间设置有探针托台6，所述插架导向锥台槽5表面的母线与旋转轴的夹角为10-40°。
进一步的，所述探针头部避让槽7与测试探针12为间隙配合，间隙尺寸为0.15-3mm。
进一步的，所述金属套环8表面镀银，镀银的厚度为5-12μm。本实施例的工作原理如下：
将测试探针12插入插架本体1的插架插入槽2中，因插架导向锥台槽5表面的母线与旋转轴的夹角为10-40°，很容易直接插入到底部，受探针托台6限制，测试探针12局部被固定，但其他部位悬空，由于探针头部避让槽7和金属套环8均为通孔，不能容留残液，且金属套环8具有银涂层，自身不容易锈蚀，且不吸附可损害测试探针12的物质，测试探针12头部受到了良好的保护，插好测试探针12后，再理顺测试探针12后面的连接线缆，用U型开放窗11、闭合通孔窗10和线缆绕挂部4保护和固定连接线缆，防止连接线缆产生不必要的损坏。
以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (6)
1.线束智能测试机探针插架保护结构，其特征在于，包括插架本体（1），所述插架本体（1）包括插架插入槽（2）、本体安装部（3）和线缆绕挂部（4），所述插架插入槽（2）位于插架本体（1）中部，所述插架插入槽（2）包括上部的插架导向锥台槽（5）、中部的探针头部避让槽（7）和下部的金属套环（8）依次连接而成，线束智能测试机的测试探针（12）就插入在插架插入槽（2）中，测试探针的线缆或引线能够缠绕或披挂在线缆绕挂部（4）。
2.根据权利要求1所述的线束智能测试机探针插架保护结构，其特征在于：所述本体安装部（3）设置有连接螺丝孔柱（9）及加强筋组。
3.根据权利要求1所述的线束智能测试机探针插架保护结构，其特征在于：所述插架本体（1）的上部两侧分别设置有U型开放窗（11）和闭合通孔窗（10）。
4.根据权利要求1所述的线束智能测试机探针插架保护结构，其特征在于：所述插架导向锥台槽（5）与探针头部避让槽（7）之间设置有探针托台（6），所述插架导向锥台槽（5）表面的母线与旋转轴的夹角为10-40°。
5.根据权利要求4所述的线束智能测试机探针插架保护结构，其特征在于：所述探针头部避让槽（7）与测试探针（12）为间隙配合，间隙尺寸为0.15-3mm。
6.根据权利要求1所述的线束智能测试机探针插架保护结构，其特征在于：所述金属套环（8）表面镀银，镀银的厚度为5-12μm。
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