CN203993539U - 用于电子探针检测硅钢金相试样缺陷位置的找准夹具 - Google Patents
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Abstract
用于电子探针检测硅钢金相试样缺陷位置的找准夹具，其由凸形夹板一、与凸形夹板一相对布局的凸形夹板二、设于凸形夹板一及凸形夹板二之间的齿形标尺板、设于凸形夹板一及凸形夹板二上的螺孔，置于螺孔内的螺杆组成。本实用新型方便、快速、牢靠的夹装硅钢片金相试样，使其得以顺利的被磨制，解决了硅钢片涂层粘连等缺陷，同时还具有结构简单、适用范围广、操作过程中安全可靠。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种物件夹具，具体属于用于电子探针检测硅钢金相试样缺陷位置的找准夹具。
背景技术
在硅钢片成品表面，往往出现凹坑、氧化铁皮等异物压入、线状条痕、折叠、疤状类、划痕和空洞等缺陷。如何准确分析缺陷产生的原因并根据分析结果进行工艺的改进，是保证硅钢片质量的重要环节。电子探针是准确分析硅钢缺陷产生原因的大形仪器及工具手段。电子探针分析的第一步，就是要求样品磨制成高质量的截面金相光片，然后在电镜中能准确找到缺陷位置并进行分析。
常规的硅钢类成品板的厚度尺寸均小于1㎜，表面有磷酸盐类绝缘涂层，而大多数表面缺陷为既薄又浅的一层，从表面分析方式已经不能准确找到缺陷产生的根源。因此需要对缺陷部位的截面进行取样分析。然而在硅钢缺陷样品截面取样中，特别是线状缺陷，肉眼看时是一条连续直线，但在微观下观察，其往往是不连续的一条线，并且其宽度为微米级别，故就需要对指定的部位观测多个金相截面制样。
在传统的制样过程中，常采用下面两种方法进行：一是将试样有人工直接磨制：即采用手工对每片试样从粗到细的砂纸逐级的磨制和抛光。其不足是试样容易倒边并且容易割伤手指，且对操作人员的磨制技术要求非常高；如果需要对多片试样进行磨制，则费时费工，还会造成磨料的浪费。二是将试样镶嵌后磨制：目前对试样进行镶嵌的方法有冷镶嵌和热镶嵌；对于硅钢薄片试样采用冷、热镶嵌的试样，由于为多片式一起研磨，由于硅钢片表面有磷酸盐类绝缘涂层，在磨制过程中，会使试样片与试样片之间表面粘连在一起，而导致磨制的试样报废。这种情况下就需要重新截取取硅钢片加工试样，这样不仅影响试样的试验周期，而且重新加工试样浪费人力、物力和时间，特别是对于有些硅钢成品的试样的缺陷细小，或具有唯一性时，如报废，则不具有再显性，无法再找到同类的缺陷，导致无法判断该缺陷产生的原因。
经检索：中国专利号为CN200320111005.9的专利文献，其公开了一种磨制金相试样夹具。其结构：由固定夹座、活动夹座组成，其虽然可方便、快速、牢靠的装夹金相试样，使其得以顺利的被磨制， 但其磨床在磨制过程中存在油污、磨削液对试样的腐蚀，而不能有效保护需要观察的部位。
中国专利公开号为CN202479960U的文献，其公开了一种用于薄片状金相试样磨制的夹具，该文献涉及薄片状金相试样磨制的夹具，该夹具为圆柱状的铝合金块，其端面上加工有长方形通槽，在铝合金块侧面加工有与长方形通槽相通的便于固定金相试样的螺钉孔。其不足是只方便了薄片试样的镶嵌、磨制和抛光，不能准确定位薄片试样上的缺陷部位，特别是不能与电子探针分析配合使用。
中国专利公开号为CN 2430680的文献，公开了一种磨小金相试样夹具，其由兼作试样夹条的金属圆筒和拧紧试样夹条的装置组成。其存在在磨制过程中调节试样伸出时，容易将试样板面需要分析的部位划伤等，导致分析结果的不完整性。
上述公开的“试样磨制”专利技术都只适合进行块状、薄片状金相组织的观测，而不适合于电子探针观察的硅钢片金相试样的磨制。因此开发一种适合硅钢表面缺陷分析试样的金相磨制夹具是非常有意义的。
实用新型内容
本发明的目的就是要克服现有技术所存在的镶嵌磨制方式费时费事并容易使试样报废从而无法用电子探针观察的缺陷不足，提供一种方便、快速、牢靠的夹装硅钢片金相试样，及解决硅钢片涂层粘连缺陷，操作过程中安全可靠的用于电子探针观察的硅钢金相试样磨制夹具。
实现上述目的的技术措施：
用于电子探针检测硅钢金相试样缺陷位置的找准夹具，其在于：其由凸形夹板一、与凸形夹板一相对布局的凸形夹板二、设于凸形夹板一及凸形夹板二之间的齿形标尺板、设于凸形夹板一及凸形夹板二上的螺孔，置于螺孔内的螺杆组成。
其特征在于：齿形标尺板上的齿与齿之间的距离、每个齿的宽度为定值，且齿为均匀布局。
本实用新型的特点：方便、快速、牢靠的夹装硅钢片金相试样，使其得以顺利的被磨制，解决了硅钢片涂层粘连等缺陷，同时还具有结构简单、适用范围广、操作过程中安全可靠。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图；
图2为图1中凸形夹板一或凸形夹板二的高度方向结构示意图；
图3为图2的俯视图；
图4为图1中齿形标尺板的结构示意图；
图5为图4的俯视图；
图中：1—凸形夹板一，2—凸形夹板二，3—齿形标尺板，4—螺孔，5—螺杆。
具体实施方式
下面结合附图做进一步描述：
用于电子探针检测硅钢金相试样缺陷位置的找准夹具：其由凸形夹板一1、与凸形夹板一1相对布局的凸形夹板二2、设于凸形夹板一1及凸形夹板二2之间的齿形标尺板3、设于凸形夹板一1及凸形夹板二2上的螺孔4，装于螺孔4内的螺杆5组成。凸形夹板一1及凸形夹板二2采用铜质材料制作。
为保证缺陷查找的准确性及方便和快捷性，齿形标尺板3上的齿与齿之间的距离、每个齿的宽度为相同的定值，且齿为均匀布局。
使用时，将铜质的凸形夹板一1及凸形夹板二2布局好后，在前两者之间每两个齿形标尺板3之间放置硅钢金相试样；硅钢金相试样可以适当放置几个，只是每两个齿形标尺板3之间智能放置一个硅钢金相试样。将螺杆5上的螺母拧紧，使凸形夹板一1与凸形夹板二2将中间的试样及齿形标尺板3夹紧即可。
本具体实施方式仅为最佳例举，并非对本实用新型技术方案的限制性实施。
Claims (2)
1.用于电子探针检测硅钢金相试样缺陷位置的找准夹具，其特征在于：其由凸形夹板一、与凸形夹板一相对布局的凸形夹板二、设于凸形夹板一及凸形夹板二之间的齿形标尺板、设于凸形夹板一及凸形夹板二上的螺孔，置于螺孔内的螺杆组成。
2.如权利要求1所述的用于电子探针检测硅钢金相试样缺陷位置的找准夹具，其特征在于：齿形标尺板上的齿与齿之间的距离、每个齿的宽度为定值，且齿为均匀布局。
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|---|---|---|---|
| CN201420467490.1U CN203993539U (zh) | 2014-08-19 | 2014-08-19 | 用于电子探针检测硅钢金相试样缺陷位置的找准夹具 |
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| CN203993539U true CN203993539U (zh) | 2014-12-10 |
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Country Status (1)
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|---|---|
| CN (1) | CN203993539U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114518376A (zh) * | 2022-02-18 | 2022-05-20 | 中国核动力研究设计院 | 一种放射性试样的电子探针屏蔽样品座 |
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2014
- 2014-08-19 CN CN201420467490.1U patent/CN203993539U/zh not_active Expired - Fee Related
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|---|---|---|---|---|
| CN114518376A (zh) * | 2022-02-18 | 2022-05-20 | 中国核动力研究设计院 | 一种放射性试样的电子探针屏蔽样品座 |
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