CN203799148U - 一种基板宏观检测机 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种基板宏观检测机，属于显示装置制造技术领域，其可解决现有的基板宏观检测机容易造成视觉盲点进而影响操作人员正常判断宏观缺陷的问题。本实用新型的基板宏观检测机包括两个相对设置的边框和多个支撑杆，每个支撑杆的两端分别设于两个相对设置的边框上，支撑杆上设有多个用于吸附基板的吸附单元，其中，两边框的多个相对位置设有多个用于固定支撑杆的固定结构，所述基板宏观检测机还包括用于驱动支撑杆在不同位置的固定结构间运动的支撑杆运动单元。本实用新型可用于对基板上的缺陷进行检测。

Description

一种基板宏观检测机

技术领域

本实用新型属于显示装置制造技术领域，具体涉及一种基板宏观检测机。

背景技术

在薄膜晶体管液晶显示器（Thin Film Transistor Liquid CrystalDisplay，简称TFT-LCD）生产过程中，需要使用宏观检测机对玻璃基板上的mura（显示器亮度不均）类缺陷进行检测。宏观检测机的机台为长方形的框架结构，框架结构的边框上设有用于承重的支撑杆，支撑杆上设有用于吸附玻璃基板的吸附垫。当玻璃基板的尺寸较大（比如8.5代线的玻璃基板）以及重量较重时，相应地，支撑杆与吸附垫的尺寸和数量也要相应增加。目前，对玻璃基板（比如彩膜基板）进行检测是由操作人员操作宏观检测机进行人眼检测。当操作人员发现缺陷时，将宏观检测机机台调成与地面垂直的状态，利用与玻璃基板垂直的光源照射玻璃基板，从而判断该缺陷是否引起漏光。

发明人发现现有技术中至少存在如下问题：当操作员在检测大尺寸玻璃基板时，由于支撑杆尺寸大以及吸附垫数量多，缺陷有很大的概率出现在吸附垫或支撑杆的位置上。此时，吸附垫或支撑杆对光源的光线形成遮挡，光线无法垂直照射到缺陷上，从而造成了视觉盲点的出现，导致操作员无法观察、判断此缺陷是否漏光，影响了操作人员对宏观缺陷的正常判断。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题包括，针对现有的宏观检测机容易造成视觉盲点进而影响操作人员正常判断宏观缺陷的问题，提供一种消除视觉盲点的基板宏观检测机。

解决本实用新型技术问题所采用的技术方案一种基板宏观检测机，包括两个相对设置的边框和多个支撑杆，每个支撑杆的两端分别设于两个相对设置的边框上，支撑杆上设有多个用于吸附基板的吸附单元，其中，

两边框的多个相对位置设有多个用于固定支撑杆的固定结构，所述基板宏观检测机还包括用于驱动支撑杆在不同位置的固定结构间运动的支撑杆运动单元。

本实用新型的基板宏观检测机包括支撑杆运动单元，当基板上的宏观缺陷被支撑杆遮住时，支撑杆运动单元驱动该支撑杆改变位置，从而操作人员能够对上述宏观缺陷进行正常判断，确定该宏观缺陷是否会引起漏光，进而降低了操作员出现错检与漏检的可能，提升了宏观缺陷检测的准确率，保证了产品的质量。

优选的是，两个所述边框相互平行。

优选的是，所述边框长度方向上具有槽型结构，所述固定结构为沿边框长度方向分布的卡接结构，所述卡接结构设于所述槽型结构上，所述槽型结构由弹性材料制成。

进一步优选的是，所述卡接结构为相对的凹陷部，所述支撑杆的端部设有与凹陷部相配合的凸起，所述凹陷部用于固定支撑杆。

更进一步优选的是，所述运动单元包括驱动单元和对位元件，所述对位元件设有用于和所述凹陷部配合的对位凸起，所述对位元件与所述支撑杆连接，所述驱动单元用于驱动对位元件在所述不同位置的凹陷部之间运动。

再优选的是，所述驱动单元包括汽缸，所述汽缸设于所述边框内。

优选的是，多个所述吸附单元在支撑杆的长度方向上均匀间隔设置。

优选的是，所述支撑杆的一侧表面设有滑槽，滑槽中设有移动板，移动板表面设有所述吸附单元，且移动板能沿所述滑槽移动。

进一步优选的是，所述基板宏观检测机还包括移动板运动单元，所述移动板运动单元与所述移动板连接，用于驱动移动板沿所述滑槽移动。

优选的是，所述吸附单元包括吸附盘或吸附垫。

附图说明

图1为本实用新型的实施例1的宏观检测机的边框和支撑杆的结构示意图；

图2为本实用新型的实施例1的边框和支撑杆的组装的结构示意图；

图3为本实用新型的实施例1的支撑杆和支撑杆运动单元的结构示意图；

图4为本实用新型的实施例1的边框的结构示意图；

图5和图6为本实用新型的实施例1的通过改变吸附单元位置检测粒状缺陷的示意图；

图7和图8为本实用新型的实施例1的通过改变支撑杆位置检测线性缺陷的示意图。

其中附图标记为：1、边框；2、支撑杆；3、对位元件；31、对位凸起；4、汽缸；5、凹陷部；6、吸附单元；7、粒状缺陷；8、线性缺陷；9、移动板。

具体实施方式

为使本领域技术人员更好地理解本实用新型的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细描述。

实施例1：

本实施例提供一种基板宏观检测机，可用于液晶显示器制造过程中对玻璃基板（比如彩膜基板）上的宏观缺陷进行检测。如图1至图4所示，基板宏观检测机包括两个相对设置的边框1和多个支撑杆2，每个支撑杆2的两端分别设于两个相对设置的边框1上，支撑杆2上设有多个用于吸附基板的吸附单元6，其中，

两边框1的多个相对位置设有多个用于固定支撑杆2的固定结构，也就是说，每个支撑杆2的两端均设有上述固定结构，所述基板宏观检测机还包括用于驱动支撑杆2在不同位置的固定结构间运动的运动单元，从而能够改变支撑杆2在边框1上的位置。当支撑杆2或吸附单元6遮挡住宏观缺陷的位置时，通过改变支撑杆2在边框1上的位置，可以使操作人员准确地对宏观缺陷进行检测。

本实施例中，两个边框1和多个支撑杆2共同用于承载基板。当然还可以增加两个边框，从而形成四边形的框架结构。

优选的，两个边框1相互平行设置。这样更容易实现支撑杆2在边框1上的固定，工艺较为简单。

优选的，所述边框1长度方向上具有槽型结构，所述固定结构为沿边框长度方向分布的卡接结构，所述卡接结构设于所述槽型结构上，所述槽型结构由弹性材料制成，也即利用弹性材料的形变既可以使支撑杆2能够在槽型结构中运动，又可以实现对支撑杆2的夹持固定。

进一步优选的，所述卡接结构包括多组相对的凹陷部51，所述支撑杆2的端部设有与凹陷部5相配合的凸起（附图中未示出），所述凹陷部5用于固定支撑杆2，即通过凸起与凹陷部5的配合实现对支撑杆2的固定。容易理解的是，弹性材料制成的槽型结构的形变使得支撑杆2（包括凸起）能够在槽型结构中运动，当凸起与凹陷部5的位置对应时，凸起与凹陷部5的配合实现对支撑杆2的固定。

更进一步优选的，所述运动单元包括驱动单元和对位元件3，所述驱动单元再进一步优选包括汽缸4，汽缸4设于边框1内，当然汽缸4也可以设于边框1外，显然汽缸4设于边框1内时会使结构更为紧凑，节省空间。所述对位元件3设有用于和所述凹陷部5配合的对位凸起31，所述对位元件3与所述支撑杆2连接，所述驱动单元用于驱动对位元件3在所述槽型结构上的不同位置的凹陷部5之间运动。同样容易理解的是，弹性材料制成的槽型结构的形变使得对位元件3（包括对位凸起31）能够在槽型结构中运动，当对位凸起31与凹陷部5的位置对应时，对位凸起31与凹陷部5的配合实现对支撑杆2的固定。

当吸附单元6遮挡住宏观缺陷的位置时，还可以通过在支撑杆2的长度方向上改变吸附单元6的吸附基板的位置，从而确保操作人员准确检测缺陷。

具体地，如图5和图6所示，所述支撑杆2的一侧表面优选设有滑槽（附图中未示出），滑槽中设有移动板9，移动板9表面设有吸附单元6，且移动板9能沿所述滑槽移动。也即是通过改变移动板9的位置，从而可以改变移动板9上的吸附单元6的吸附基板的位置。

进一步优选的，所述基板宏观检测机还包括移动板运动单元，所述移动板运动单元与移动板9连接，用于驱动移动板9沿所述滑槽移动。这样，通过移动板运动单元可以很方便地改变移动板9的位置。

在本实施例中，优选的，所述吸附单元6包括吸附盘或吸附垫。进一步优选的，多个所述吸附单元6在支撑杆2的长度方向上均匀间隔设置。间隔设置吸附单元6能够使吸附力更为均匀，吸附效果更好。

下面以检测彩膜基板为例，说明如何对通过改变支撑杆2的位置或吸附单元6的位置，从而实现对宏观缺陷的准确检测。

薄膜晶体管液晶显示器制造过程中，操作人员操作基板宏观检测机对彩膜基板进行人眼检测。两个边框1和多个支撑杆2共同形成机台，彩膜基板通过吸附单元6与支撑杆2固定在一起。当操作人员发现缺陷时，旋转机台，使机台与地面垂直，利用垂直于机台的背部光源垂直照射机台，从而判断此缺陷是否引起漏光。

如图5和图6所示，宏观缺陷为粒状缺陷7，当吸附单元6遮住粒状缺陷7时，通过改变移动板9的位置，从而改变移动板9上的被吸附单元6的位置，从而使得光线能直射在粒状缺陷7上，不影响对粒状缺陷7的正常判定。

显然可以理解的是，此种情形也可以通过改变支撑杆2在边框1上的位置来改变吸附单元6的位置，从而实现对粒状缺陷6的正常判定。

如图7和图8所示，宏观缺陷为线性缺陷8，当支撑杆2遮住线性缺陷8时，通过支撑杆运动单元改变支撑杆2在边框1上的位置，从而使得光线能够直射到线性缺陷8上，不影响对线性缺陷8的正常判定。

本实用新型的基板宏观检测机包括支撑杆运动单元，当基板上的宏观缺陷被支撑杆2遮住时，支撑杆运动单元驱动支撑杆2改变位置，从而操作人员能够对上述宏观缺陷进行正常判断，确定该宏观缺陷是否会引起漏光，进而降低了操作员出现错检与漏检的可能，提升了宏观缺陷检测的准确率，保证了产品的质量。

可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本实用新型的原理而采用的示例性实施方式，然而本实用新型并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本实用新型的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本实用新型的保护范围。

Claims (10)

1.一种基板宏观检测机，包括两个相对设置的边框和多个支撑杆，每个支撑杆的两端分别设于两个相对设置的边框上，支撑杆上设有多个用于吸附基板的吸附单元，其特征在于，

两边框的多个相对位置设有多个用于固定支撑杆的固定结构，所述基板宏观检测机还包括用于驱动支撑杆在不同位置的固定结构间运动的支撑杆运动单元。

2.根据权利要求1所述的基板宏观检测机，其特征在于，两个所述边框相互平行。

3.根据权利要求1所述的基板宏观检测机，其特征在于，所述边框长度方向上具有槽型结构，所述固定结构为沿边框长度方向分布的卡接结构，所述卡接结构设于所述槽型结构上，所述槽型结构由弹性材料制成。

4.根据权利要求3所述的基板宏观检测机，其特征在于，所述卡接结构为相对设置的凹陷部，所述支撑杆的端部设有与凹陷部相配合的凸起，所述凹陷部用于固定支撑杆。

5.根据权利要求4所述的基板宏观检测机，其特征在于，所述运动单元包括驱动单元和对位元件，所述对位元件设有用于和所述凹陷部配合的对位凸起，所述对位元件与所述支撑杆连接，所述驱动单元用于驱动对位元件在所述不同位置的凹陷部之间运动。

6.根据权利要求5所述的基板宏观检测机，其特征在于，所述驱动单元包括汽缸，所述汽缸设于所述边框内。

7.根据权利要求1所述的基板宏观检测机，其特征在于，多个所述吸附单元在支撑杆的长度方向上均匀间隔设置。

8.根据权利要求1所述的基板宏观检测机，其特征在于，所述支撑杆的一侧表面设有滑槽，滑槽中设有移动板，移动板表面设有所述吸附单元，且移动板能沿所述滑槽移动。

9.根据权利要求8所述的基板宏观检测机，其特征在于，所述基板宏观检测机还包括移动板运动单元，所述移动板运动单元与所述移动板连接，用于驱动移动板沿所述滑槽移动。

10.根据权利要求1至9任意一项所述的基板宏观检测机，其特征在于，所述吸附单元包括吸附盘或吸附垫。