CN203688739U - 一种环形振荡器测试系统 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 62
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 claims abstract description 17
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 9
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 17
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 7
- 230000008901 benefit Effects 0.000 abstract description 5
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 description 1
- 238000013100 final test Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 1
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Abstract
本实用新型提供了一种环形振荡器测试系统，包括：输入电压源，通过稳压部分与环形振荡器的输入端相连；稳压部分，分别与输入电压源和环形振荡器的输入端相连；示波器，与环形振荡器的输出端相连，其特征是环形振荡器的输出端就近引出。与现有技术相比，采用本实用新型提供的技术方案具有如下优点：通过采用在输入端加入稳压部分，同时在输出端就近引出的方法，可以减少寄生电容的影响，从而在测试成本较低的情况下得到较好的测试效果。
Description
技术领域
本实用新型涉及半导体技术领域，尤其涉及一种环形振荡器测试系统。
背景技术
环形振荡器是常见的电路之一，通过将奇数个反相器首尾相连，即可构成环形振荡器(loop oscillator)。在环形振荡器的输入端加直流电压后，环形振荡器振荡，产生正弦信号。环形振荡器的特点是线路简单，起振容易，如果不加延迟网络则不需要阻容元件，便于集成化。因此常常通过环形振荡器来衡量一种工艺的成熟度，环振器包括的反相器个数越多，说明工艺的成熟度越高。
因此对环形振荡器的精确测量显得尤为重要。环形振荡器测量包括在片测试和封装后测试两种，本实用新型所讨论的是在片测试领域。对于在片测试，一般方法是是电源通过三轴线以及探针加到环形振荡器输入上，环形振荡器输出经探针以及三轴线接到示波器上。但采用这种方法由于连线寄生电容电感的影响，测试出来的环形振荡器输出图形不好，难以出现方波，如图5所示。还有一种方法就是采用有源高频探针测试系统的方法，这种方法测试准确，但缺点是成本高，而且由于有源高频探针特别细，不易操作，容易损坏。
因此，希望提出一种环形振荡器测试系统，可以在较低的成本内得到较好的测试效果。
实用新型内容
本实用新型提供了一种可以解决上述问题的环形振荡器测试系统，包括：
输入电压源，通过稳压部分与环形振荡器的输入端相连；
稳压部分，分别与输入电压源和环形振荡器的输入端相连；
示波器，与环形振荡器的输出端相连，其特征是环形振荡器的输出端就近引出。
与现有技术相比，采用本实用新型提供的技术方案具有如下优点：通过采用在输入端加入稳压部分，同时在输出端就近引出的方法，可以减少寄生电容的影响，从而在测试成本较低的情况下得到较好的测试效果。
附图说明
通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本实用新型的其它特征、目的和优点将会变得更明显。
图1为根据本实用新型的实施例的环形振荡器测试系统示意图；
图2为根据本实用新型的实施例的环形振荡器测试系统电路图；
图3为采用本测试系统的环形振荡器测试结果；
图4为未采用本测试系统的环形振荡器测试结果。
具体实施方式
下面详细描述本实用新型的实施例。
所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相
同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本实用新型，而不能解释为对本实用新型的限制。下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本实用新型的不同结构。为了简化本实用新型的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本实用新型。此外，本实用新型可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。此外，本实用新型提供了 的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的可应用于性和/或其他材料的使用。
本实用新型提供了一种环形振荡器测试系统。下面，将结合图2至图4通过本实用新型的一个实施例对图1的环形振荡器测试系统进行具体描述。如图1所示，本实用新型所提供的环形振荡器测试系统包括以下部分：
输入电压源101，通过稳压部分102与环形振荡器100的输入端相连；
稳压部分102，分别与输入电压源101和环形振荡器100的输入端相连；
示波器103，与环形振荡器100的输出端相连，其特征是环形振荡器的输出端就近引出。
具体地，在本实用新型的实施例中，在所述普通测试系统的基础上增加了一个分频器，形成带分频器的环形振荡器测试系统，分频器(divider)的作用是将输入的无线射频(RF)信号分频后输出，用来在不同频率下对环形振荡器进行测试。本领域技术人员可根据需要自行选择不同标准的分频器。
在本实用新型的实施例中，通过将普通环形振荡器测试系统和带分频器的环形振荡器测试系统做在同一个测试板上，可以起到互相验证的作用，如果带分频器的环形振荡器的测试结果确实是不带分频器的频率的分频倍数，那么就可以同时验证两个系统的正确性。
虽然普通环形振荡器测试系统和带分频器的环形振荡器测试系统做在同一个测试板上，但在使用过程中是相互独立的，即可以各自分别使用，而不会影响最终的测试结果。在其他实施例中也可以只做单独的普通环形振荡器测试系统或者只做带分频器的环形振荡器测试系统。
在本实用新型的实施例中，所述的测试系统制作在一块PCB（印刷电路板）上，在其他实施例中，本领域技术人员也可使用其它的系统集成方式来制作本测试系统。
在本实用新型的实施例中，所述环形振荡器测试系统还包括一个使能端和一个接地端，所述使能端用于与环形振荡器的使能端相连，为其提供使能信号。对于带分频器的环形振荡器测试系统来首，还包括一个分频器的电源端，用于为分频器提供电源。
所述输入电压源101采用的是半导体参数测试仪keithley4200，它通过稳压部分与待测环形振荡器的输入端相连，为了方便利用半导体参数测试仪keithley4200加电压，待测环形振荡器的输入端通过SMA（Sub-Miniature-A）接头引出。
所述稳压部分102由稳压电容器构成，分别与输入电压源101和环形振荡器100的输入端相连。为了进一步减小其它输入电压可能带来的影响，在本实用新型的实施例中，为所有的输入电压都加了稳压部分，包括测试系统的使能端，以及带分频器的环形振荡器测试系统中分频器的电源端。
所述环形振荡器100的输出端在距离探针最近的位置引出，此距离由印刷电路板的工艺所决定，然后通过无源高频探头与示波器103相连，采用无源探头的原因是因为其成本远远低于有源高频探头，可以极大的缩减测试成本。
图3为采用本测试系统测试得到的环形振荡器的输出，可以看出得到了比较好的方波图形。而图4为未采用本系统测试的环形振荡器输出，效果比较差，几乎为正弦波。
采用本实用新型提供的技术方案具有如下优点：通过采用在输入端加入稳压部分，同时在输出端就近引出的方法，可以减少寄生电容的影响，从而在测试成本较低的情况下得到较好的测试效果。
虽然关于示例实施例及其优点已经详细说明，应当理解在不脱离本实用新型的精神和所附权利要求限定的保护范围的情况下，可以对这些实施例进行各种变化、替换和修改。对于其他例子，本领域的普通技术人员应当容易理解在保持本实用新型保护范围内的同时，工艺步骤的次序可以变化。
此外，本实用新型的应用范围不局限于说明书中描述的特定实施 例的工艺、机构、制造、物质组成、手段、方法及步骤。从本实用新型的公开内容，作为本领域的普通技术人员将容易地理解，对于目前已存在或者以后即将开发出的工艺、机构、制造、物质组成、手段、方法或步骤，其中它们执行与本实用新型描述的对应实施例大体相同的功能或者获得大体相同的结果，依照本实用新型可以对它们进行应用。因此，本实用新型所附权利要求旨在将这些工艺、机构、制造、物质组成、手段、方法或步骤包含在其保护范围内。
Claims (10)
1.一种环形振荡器测试系统，包括：
输入电压源（101），通过稳压部分（102）与环形振荡器（100）的输入端相连；
稳压部分（102），分别与输入电压源（101）和环形振荡器（100）的输入端相连；
示波器（103），与环形振荡器（100）的输出端相连，其特征是环形振荡器的输出端就近引出。
2.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述输入电压源（101）是半导体参数测试仪keithley4200。
3.根据权利要求1所述的测试系统，其中环形振荡器（100）的输入端通过SMA接头引出。
4.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述稳压部分(102）通过稳压电容来实现。
5.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述环形振荡器（100）的输出端通过无源高频探头与示波器（103）相连。
6.根据权利要求1所述的测试系统，其特征是还包括一个使能端和一个接地端。
7.根据权利要求6所述的测试系统，其特征是使能端也通过一个稳压部分与待测环形振荡器相连。
8.根据权利要求1所述的测试系统，其特征是整个测试系统做在一个印刷电路板上。
9.根据权利要求1或6所述的测试系统，其中所述环形振荡器的输出端就近引出距离为印刷电路板工艺所允许的最小距离。
10.根据权利要求1所述的测试系统，其特征是在本测试系统的基础上再设置一个分频器，形成带分频器的测试系统。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201320833795.5U CN203688739U (zh) | 2013-12-17 | 2013-12-17 | 一种环形振荡器测试系统 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201320833795.5U CN203688739U (zh) | 2013-12-17 | 2013-12-17 | 一种环形振荡器测试系统 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN203688739U true CN203688739U (zh) | 2014-07-02 |
Family
ID=51010624
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201320833795.5U Expired - Lifetime CN203688739U (zh) | 2013-12-17 | 2013-12-17 | 一种环形振荡器测试系统 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN203688739U (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107132392A (zh) * | 2016-02-26 | 2017-09-05 | 特克特朗尼克公司 | 用于探头或附件的动态输出钳位 |
| CN107703437A (zh) * | 2017-09-14 | 2018-02-16 | 西安交通大学 | 一种基于半频静电激振的高频体模态谐振器测试方法 |
-
2013
- 2013-12-17 CN CN201320833795.5U patent/CN203688739U/zh not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107132392A (zh) * | 2016-02-26 | 2017-09-05 | 特克特朗尼克公司 | 用于探头或附件的动态输出钳位 |
| CN107703437A (zh) * | 2017-09-14 | 2018-02-16 | 西安交通大学 | 一种基于半频静电激振的高频体模态谐振器测试方法 |
| CN107703437B (zh) * | 2017-09-14 | 2019-08-13 | 西安交通大学 | 一种基于半频静电激振的高频体模态谐振器测试方法 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| C41 | Transfer of patent application or patent right or utility model | ||
| TR01 | Transfer of patent right |
Effective date of registration: 20160704 Address after: 300304 Tianjin District of Dongli City Huaming High-tech Zone HuaFeng Road No. 6 E1 Patentee after: Zhongke Huayi (Tianjin) Microelectronics Co.,Ltd. Address before: 100029 Beijing city Chaoyang District Beitucheng West Road No. 3 Patentee before: Institute of Microelectronics of the Chinese Academy of Sciences |
|
| TR01 | Transfer of patent right | ||
| TR01 | Transfer of patent right |
Effective date of registration: 20230621 Address after: 100029 Beijing city Chaoyang District Beitucheng West Road No. 3 Patentee after: Institute of Microelectronics of the Chinese Academy of Sciences Address before: 300304 E1, No. 6 Huafeng Road, Huaming High tech Zone, Dongli District, Tianjin City Patentee before: Zhongke Huayi (Tianjin) Microelectronics Co.,Ltd. |
|
| CX01 | Expiry of patent term | ||
| CX01 | Expiry of patent term |
Granted publication date: 20140702 |