CN203643487U - 一种射频测试治具 - Google Patents

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张中会
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Abstract

一种射频测试治具,包括电控箱(1)、屏蔽箱(3)和测试箱(4),测试箱(4)可移除地放置于屏蔽箱(3)内,并与电控箱(1)电连接,其特征在于:还包括测试模组(5),所述测试模组(5)包括底板(58)、屏蔽门(55)、载板(54)、压板(52)和转接针板(51),底板(58)上放置载板(54),其优点是通用性强、体积小、使用方便、不会对待测工件造成损坏。

Description

一种射频测试治具
【技术领域】
本实用新型涉及测试装置,尤指一种射频测试治具。主要用于手机和平板电脑等电子产品的PCBA板的射频测试。
【背景技术】
在手机和平板电脑等电子产品的PCBA板的射频测试中常常要用到测试治具。现有技术的射频测试治具,都是一种治具针对一种产品特别定制的,测试治具的模块性划分不强,待测产品的小的改动,都有可能需要重新定制测试治具,这样造成了很大的时间和财力的浪费,修改和更换都不方便。另外,目前的射频测试治具,都是将待测产品放到载板上,然后由气缸带动载板进入治具中,然后探针压合,开始测试。在载板进入气缸过程中,如果存在震动,有可能导致产品没放到位。在这个时候探针压合,会损坏待测物和探针。
【发明内容】
针对现有技术的缺点,本实用新型的目的在于提供一种通用性强、使用方便、不会对待测工件造成损坏的射频测试治具。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:提供一种射频测试治具,包括电控箱、屏蔽箱和测试箱,测试箱可移除地放置于屏蔽箱内,并与电控箱电连接,其特征在于:还包括测试模组,所述测试模组包括底板、屏蔽门、载板、压板和转接针板,底板上放置载板,载板上有导轨与测试箱上的导轨槽相适配,载板通过导轨与导轨槽的配合可移动地装于测试箱内,待测件可移除地放置于载板上,压板盖于待测件上将待测件固定,屏蔽门与底板垂直;所述测试箱上有测试架,所述测试架可上下移动地与气缸连接,测试架上固定有射频测试探针,射频测试探针可于测试架下移与压板接触后通过压板上的通孔与待测件电接触,射频测试探针与下挡板上的转接针电连接,所述转接针通过信号转接板与滤波器电连接,滤波器与电控箱电连接。
使用时先将待测件固定在测试模组的载板上,用压板将之压紧,再将测试模组推入测试箱内,将测试箱推入电磁屏蔽箱即可进行测试。测试箱里可以放多个待测件。
测试模组的压板和载板可以采用铝铣槽制作而成,压合后单个待测件之间一般为20dB的隔离度。
本实用新型的有益效果是:通用性强、体积小、使用方便、不会对待测工件造成损坏。
【附图说明】
下面结合附图对本实用新型作进一步的描述。
图1是本实用新型的结构分解图。
图2是本实用新型的测试模组结构图。
图3是本实用新型的测试箱结构图。
图中:1为电控箱、2为滤波器、3为屏蔽箱、4为测试箱、5为测试模组、6为待测件;
在屏蔽箱3中:31为上盖、32为箱体;
在测试箱4中:41为侧板、42为气缸、43为上部射频探针、44为下部射频探针、45为导轨槽、46为下挡板、47为DB9接头、48为控制板、49为信号转接板;
在测试模组5中:51为转接针板、52为压板、53为导轨、54为载板、55为屏蔽门、56为后部转接Pad点、57为导位孔、58为底板、59为卡扣。
【具体实施方式】
参见附图,本实用新型一种射频测试治具,包括电控箱1、屏蔽箱3和测试箱4,测试箱4可移除地放置于屏蔽箱3内,并与电控箱1电连接,其特征在于:还包括测试模组5,所述测试模组5包括底板58、屏蔽门55、载板54、压板52和转接针板51,底板58上放置载板54,载板54上有导轨53与测试箱4上的导轨槽45相适配,载板54通过导轨53与导轨槽45的配合可移动地装于测试箱4内,待测件6可移除地放置于载板54上,压板52盖于待测件6上将待测件6固定,屏蔽门55与底板58垂直;所述测试箱4上有测试架,所述测试架可上下移动地与气缸42连接,测试架上固定有射频测试探针43,射频测试探针43可于测试架下移与压板52接触后通过压板52上的通孔与待测件6电接触,射频测试探针43与下挡板46上的转接针电连接,所述转接针通过信号转接板49与滤波器2电连接,滤波器2与电控箱1电连接。

Claims (1)

1.一种射频测试治具,包括电控箱(1)、屏蔽箱(3)和测试箱(4),测试箱(4)可移除地放置于屏蔽箱(3)内,并与电控箱(1)电连接,其特征在于:还包括测试模组(5),所述测试模组(5)包括底板(58)、屏蔽门(55)、载板(54)、压板(52)和转接针板(51),底板(58)上放置载板(54),载板(54)上有导轨(53)与测试箱(4)上的导轨槽(45)相适配,载板(54)通过导轨(53)与导轨槽(45)的配合可移动地装于测试箱(4)内,待测件(6)可移除地放置于载板(54)上,压板(52)盖于待测件(6)上将待测件(6)固定,屏蔽门(55)与底板(58)垂直;所述测试箱(4)上有测试架,所述测试架可上下移动地与气缸(42)连接,测试架上固定有射频测试探针(43),射频测试探针(43)可于测试架下移与压板(52)接触后通过压板(52)上的通孔与待测件(6)电接触,射频测试探针(43)与下挡板(46)上的转接针电连接,所述转接针通过信号转接板(49)与滤波器(2)电连接,滤波器(2)与电控箱(1)电连接。
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