CN203616403U - 两级多工位石英晶体测试机构 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了两级多工位石英晶体测试机构,它包括测试托板和测试头，在测试托板上镶嵌固定有一级测试板，在一级测试板上安装有多个一级探针，测试头包括固定在测试托板上的测试固定块，二级测试板和探针导向块从下至上依次固定在测试固定块的底面上，在二级测试板底面上设置有多个导电触点，多个一级探针能够与多个导电触点一一对应接触以导通电路，在二级测试板顶面上安装有多个二级探针，在测试固定块的中间设置有通槽，测针导向板顶部通过设置在通槽内的多个弹簧与一个一体测试块的底部相连，在一体测试块上开有石英晶体凹槽，在每一个石英晶体凹槽内均设置有探针孔。本结构具有可更换的测试结构，能快速更换测试头。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种测试机构,尤其涉及石英晶体测试机构。
背景技术
石英晶体在生产加工过程中已经过各种要求标准的测试，但在其封装完成之前，仍需测试系统进行最终的确认筛选，以确保完善的品质。现有技术中，同类产品大多采用单、双工位的测试机构。在实际应用中，因为石英晶体为大批量生产的器件，单、双工位的测试机构显然满足不了当前的生产需求；更因石英晶体种类繁多，例如：石英晶体谐振器，石英晶体振荡器等，不同石英晶体原件的内部结构不尽相同，这样就导致了测试石英晶体时需要施加的外界条件不同，不同规格的石英晶体原件包含不同数量的引脚；不同规格的石英晶体原件，其引脚间距也不尽相同；在对石英晶体进行测试时测试探针必须接触石英晶体引脚方能测试其品质，因此，必须准备多种测试机构在检测相应的石英晶体时进行更换，对这种固定式的测试机构进行更换时，实际操作繁琐复杂，定位精度差，效率低，且准备多种测试机构成本高，不易维修。
发明内容
本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供一种能快速更换测试头、且结构简单，操作简便，降低成本，易于维修保养的两级多工位石英晶体测试机构。
为实现上述目的，本实用新型所采用的技术方案是：
本实用新型的两级多工位石英晶体测试机构,它包括测试托板和测试头，在所述的测试托板上沿水平方向镶嵌固定有一级测试板，在所述的一级测试板上安装有多个一级探针，所述的测试头包括固定在所述的测试托板上的测试固定块，二级测试板和探针导向块从下至上依次固定在所述的测试固定块的底面上，在所述的二级测试板底面上设置有多个导电触点，所述的多个一级探针能够与多个导电触点一一对应接触以导通电路，在所述的二级测试板顶面上安装有多个二级探针，在所述的测试固定块的中间设置有通槽，所述的测针导向板顶部通过设置在通槽内的多个弹簧与一个一体测试块的底部相连，所述的一体测试块设置在所述的通槽内并与通槽间隙配合，在所述的一体测试块上开有与二级探针数量一致的石英晶体凹槽，在每一个石英晶体凹槽内均设置有探针孔，所述的多个二级探针能够分别穿过探针导向板上的探针导向孔、石英晶体凹槽上的探针孔与安装在石英晶体凹槽内的石英晶体引脚接触设置。
采用本实用新型的有益效果是：具有可更换的测试结构，能快速更换测试头，从而适应多样化的石英晶体原件的检测，且结构简单，操作简便，降低成本，易于维修保养。
附图说明
图1为本实用新型的两级多工位石英晶体测试机构立体图；
图2为本实用新型的两级多工位石英晶体测试机构立体爆炸图；
图3为图1所示的机构中的测试头的爆炸图。
具体实施方式
下面结合具体的实施例，并参照附图，对本实用新型做进一步的说明：
如附图所示的本实用新型的两级多工位石英晶体测试机构,它包括测试托板201和测试头204，在所述的测试托板201上沿水平方向镶嵌固定有一级测试板202，在所述的一级测试板202上安装有多个一级探针203，所述的测试头204包括固定在所述的测试托板201上的测试固定块304，二级测试板301和探针导向块303从下至上依次固定在所述的测试固定块304的底面上，在所述的二级测试板301底面上设置有多个导电触点，所述的多个一级探针203能够与多个导电触点一一对应接触以导通电路，在所述的二级测试板301顶面上安装有多个二级探针302，在所述的测试固定块304的中间设置有通槽，所述的测针导向板顶部通过设置在通槽内的多个弹簧305与一个一体测试块306的底部相连，所述的一体测试块306设置在所述的通槽内并与通槽间隙配合，在所述的一体测试块上开有与二级探针数量一致的石英晶体凹槽，在每一个石英晶体凹槽内均设置有探针孔，所述的多个二级探针302能够分别穿过探针导向板303上的探针导向孔、石英晶体凹槽上的探针孔与安装在石英晶体凹槽内的石英晶体引脚接触设置。
优选的在所述的测试固定块的顶面的左右分别安装有一个测试限位块307，所述的测试限位块能够压紧一体测试块的顶面设置。一体测试块306回弹时接触到测试限位块307可防止其弹出。
优选的在所述的测试托板201上设置有销钉，在所述的测试固定块304上设置有销孔，所述的销钉能够插入所述的销孔设置，以便于两者准确定位。
优选的所述的二级探针302以及石英晶体凹槽为四个，优点是所述的二级探针302对应石英晶体凹槽分为四组，能同时为四颗石英晶体检测其优良品质。
本实用新型两级多工位石英晶体测试机构，通过更换测试头的方式，能快速兼容多样化的石英晶体，例如在测试规格为1612的石英晶体完成后需测试规格为2016的石英晶体，只需更换相对应的测试头即可，其结构简单大大降低了成本，更换方式定位精度高，无需二次调整，提高了生产效率，且易于维修保养，使用方便。
本装置的工作过程为：当石英晶体分别嵌入凹槽内后，只需施加垂直向下的力将石英晶体匀速下压，一体测试块306受到压力后压缩弹簧305形变后垂直向下运动，下方的二级探针302穿过一体测试块306凹槽内设置的探针孔接触到凹槽内的石英晶体引脚即可对石英晶体进行测试，所述的测试限位块307固定在测试固定块304上，一体测试块306回弹时接触到测试限位块307可防止其弹出。
Claims (4)
1.两级多工位石英晶体测试机构，其特征在于：它包括测试托板和测试头，在所述的测试托板上沿水平方向镶嵌固定有一级测试板，在所述的一级测试板上安装有多个一级探针，所述的测试头包括固定在所述的测试托板上的测试固定块，二级测试板和探针导向块从下至上依次固定在所述的测试固定块的底面上，在所述的二级测试板底面上设置有多个导电触点，所述的多个一级探针能够与多个导电触点一一对应接触以导通电路，在所述的二级测试板顶面上安装有多个二级探针，在所述的测试固定块的中间设置有通槽，所述的测针导向板顶部通过设置在通槽内的多个弹簧与一个一体测试块的底部相连，所述的一体测试块设置在所述的通槽内并与通槽间隙配合，在所述的一体测试块上开有与二级探针数量一致的石英晶体凹槽，在每一个石英晶体凹槽内均设置有探针孔，所述的多个二级探针能够分别穿过探针导向板上的探针导向孔、石英晶体凹槽上的探针孔与安装在石英晶体凹槽内的石英晶体引脚接触设置。
2.根据权利要求1所述的两级多工位石英晶体测试机构，其特征在于：在所述的测试固定块的顶面的左右分别安装有一个测试限位块，所述的测试限位块能够压紧一体测试块的顶面设置。
3.根据权利要求1或2所述的两级多工位石英晶体测试机构，其特征在于：在所述的测试托板上设置有销钉，在所述的测试固定块上设置有销孔，所述的销钉能够插入所述的销孔设置。
4.根据权利要求3所述的两级多工位石英晶体测试机构，其特征在于：所述的二级探针以及石英晶体凹槽为四个。
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Cited By (2)
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|---|---|---|---|---|
| CN115780318A (zh) * | 2023-01-30 | 2023-03-14 | 天津伍嘉联创科技发展股份有限公司 | 一种多功能石英晶体振荡器测试设备 |
| CN116400134A (zh) * | 2023-01-12 | 2023-07-07 | 广东惠伦晶体科技股份有限公司 | 一种钟振测试装置及电路 |
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| CN115780318A (zh) * | 2023-01-30 | 2023-03-14 | 天津伍嘉联创科技发展股份有限公司 | 一种多功能石英晶体振荡器测试设备 |
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