CN203605913U - 一种硅钢片厚度测量装置 - Google Patents

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赵军
李林峰
孔明
郭天太
王道档
刘维
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本实用新型提供一种硅钢片厚度测量装置,涉及测量技术领域。它包括上下两层结构的支架,支架上层设有一对压辊组件,支架下层可转动连接有支撑轴,支撑轴上方设有一对相距一定间距的压轮,压轮的轴线与支撑轴的轴线平行,压轮与支撑轴相压接,压轮与压辊组件可转动连接,支架顶部顶部连接有探测器固定板,探测器固定板设有探测器,探测器的位置与压轮间距的位置相对应。本实用新型解决了现有技术中薄片厚度测量存在误差影响测量精度的技术问题。本实用新型的有益效果是:厚度测量装置的支撑轴和压轮三点共线压紧被测硅钢片,确保测量精度。结构小巧紧凑,便于携带。探测器可按需要选用,使用范围广,适应性好。

Description

一种硅钢片厚度测量装置
技术领域
本实用新型涉及测量技术领域,尤其是涉及一种对硅钢片厚度的测量装置。 
背景技术
硅钢片是一种在电工领域被广泛使用的软磁材料,主要用于电动机、发电机、变压器、电磁机构、继电器电子器件及测量仪表中。电工用硅钢片通常轧制成标准尺寸的板材或带材使用。如果硅钢片的厚度差异太大,会影响到组装后的铁心厚度。不同的铁心厚度,其导磁特性变异也大,因此硅钢片的厚度均匀性是一项非常重要的品质特性。薄型钢板的厚度检测方法一般分为接触式测量和非接触式测量两种。由于接触式测厚装置会对板材造成一定的损伤,故适用于离线测量,在线测量一般采用非接触式测量。对用于大型变压器的硅钢片,硅钢片在生产之时宽度控制在四十毫米左右。其厚度一般不会出现急剧变化,但是会出现一定范围内的平稳变换。由于这种硅钢片表面涂层工艺精良,表面反射性较好,所以可采表面探测的方法测试厚度。中国专利授权公告号CN 202485637U,授权公告日2012年10月10日,名称为“一种板材在线动态非接触激光测厚系统”的实用新型专利,公开了一种板材在线动态非接触测厚结构。它包括位于板材挤出机输出端的其中一个滚轮上方的若干个激光测头,激光测头垂直照射于滚轮母线的上方,若干个激光测头均与一工控主机连接,工控主机的输出端分别与声光报警装置和一将板材与滚轮脱离的板材挤出机执行装置连接。该实用新型在板材挤出机输出端的其中一个滚轮上方安装有若干个激光测头,激光测头与工控主机连接,操作员可以在工控主机上设置产品的厚度上下限值,当厚度超限时会发出声光报警。该结构结构的板材不能保证完全贴紧滚轮而没有空隙,增加了引入误差项,测量的可信度较低。 
发明内容
为了解决现有技术中薄片厚度测量存在误差影响测量精度的技术问题,本实用新型提供一种只需要对硅钢片上表面测量就能测出硅钢片厚度的在线测厚装置。
本实用新型的技术方案是:一种硅钢片厚度测量装置,它包括上下两层结构的支架,支架上层设有一对压辊组件,支架下层可转动连接有支撑轴,支撑轴上方设有一对相距一定间距的压轮,压轮的轴线与支撑轴的轴线平行,压轮与支撑轴相压接,压轮与压辊组件可转动连接,支架顶部顶部连接有探测器固定板,探测器固定板设有探测器,探测器的位置与压轮间距的位置相对应。支架固定在硅钢片加工生产线上,被测硅钢片在支撑轴和压轮之间平移传输,探测器对硅钢片上表面探测,形成实时信号,通过连接的计算终端处理,显示并记录实时的硅钢片厚度。被测硅钢片被支撑轴和压轮三点共线压紧,确保测量精度。只需要一个探测器,节约成本。
作为优选,支架上层左右两端固定有上侧板,支架下层左右两端固定有下侧板,两个上侧板之间的距离小于两个下侧板之间的距离,上侧板设有导向槽,下侧板设有带法兰轴承,支撑轴通过带法兰轴承与下侧板连接。结构小巧紧凑,便于携带。
作为优选,压辊组件设有压辊,压辊由长方体和圆柱体连接呈柱状,压辊长方体的上、下表面分别连接有弹簧,弹簧与支架上层固定,压辊长方体的端面连接有导向杆,压辊圆柱体通过设置的轴承与压轮连接。既确保压轮能够压紧支撑轴上的被测硅钢片,又确保硅钢片不会被压死而不能移动或变形,保证了测量精度。使用带法兰轴承连接,方便安装时调节支撑轴,减小支撑轴位置误差。
作为优选,支撑轴为阶梯轴,支撑轴中间段的轴径大于两端轴径;方便支撑轴加工保证精度,同时支撑轴位置可以尽量上移,使得测厚装置结构更紧凑。
作为优选,导向杆嵌入导向槽;确保压轮只能上下移动。
作为优选,探测器可选择激光发射器和CCD接收器,激光发射器和CCD接收器位于两个压轮间距的上方。探测器也可选择电感式传感器,电感式传感器位于支撑轴上方两个压轮之间。适应性好。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:厚度测量装置的支撑轴和压轮三点共线压紧被测硅钢片,确保测量精度。结构小巧紧凑,便于携带。探测器可按需要选用,使用范围广,适应性好。
附图说明
附图1为本实用新型的正面结构示意图;
附图2为图1中A-A剖视图;
附图3为本实用新型又一个实施例的正面结构示意图。
图中:1-支架;2-支撑轴;3-被测硅钢片;4-压轮;5-压辊组件;6-CCD接收器;7-激光发射器;8-电感式传感器;11-下侧板;12-上侧板;13-探测器固定板;51-压辊;52-弹簧;53-导向杆;121-导向槽;131-前探测器孔;132-中探测器孔;133-后探测器孔。  
具体实施方式
下面通过实施例,并结合附图,对本实用新型的技术方案作进一步具体的说明。
实施例1:
如图1、2所示,一种硅钢片厚度测量装置,它包括上下两层结构的支架1。图1中:图左方为支架1的左端、图右方为支架1的右端;靠近读者的为支架1的前端,反之为支架1的后端;图上方为支架1的顶部、图下方为支架1的底部。支架1是由前板、后板、左板、右板、顶板和底板围成的框架结构。支架1中间设有水平的支架隔板,支架隔板中间断开,支架隔板将支架1间隔成左上、左下、右上和右下四个部分。支架1上层左右两端固定有上侧板12,支架1下层左右两端固定有下侧板11。为了结构紧凑,支架1的上侧板12和下侧板11错开设置,两个上侧板12之间的距离小于两个下侧板11之间的距离。上侧板12的下端与支架隔板固定,上侧板12的上端与顶板固定。上侧板12设有导向槽121,导向槽121为长槽,长槽从上往下垂直底板。导向槽121贯通上侧板12内外表面。底板左右两端伸出上侧板12外面。下侧板11的底部与底板端部的上表面固定。下侧板11设有带法兰轴承,带法兰轴承通过螺钉固定在下侧板11的内侧面。支架1上层设有一对压辊组件5,压辊组件5分别置于支架1的左上和右上部分。压辊组件5设有压辊51,压辊51由长方体和圆柱体连接而成呈柱状。压辊51长方体的上、下表面分别连接有弹簧52,弹簧52与支架1上层固定。本实施例压辊51长方体的上表面配备两个弹簧52、下表面也配备两个弹簧52,上下两个弹簧52为一组。一组弹簧52靠近压辊51长方体和圆柱体连接处,另一组弹簧52靠近压辊51长方体另外一个端部。压辊51长方体的端面连接有导向杆53,导向杆53嵌入导向槽121。支架1下层可转动连接有支撑轴2,支撑轴2通过带法兰轴承与下侧板11连接,支撑轴2的端部与法兰轴承内圈过盈配合。支撑轴2为阶梯轴,支撑轴2中间段的轴径大于两端轴径。隔板中间断开的距离大于支撑轴2中间大直径轴的长度。支撑轴2上方设有一对相距一定间距的压轮4,压轮4位置靠近支撑轴2中间大直径轴的端部,两个压轮4之间形成间距。压轮4的轴线与支撑轴2的轴线平行,压轮4与支撑轴2相压接。压轮4与压辊组件5可转动连接,压辊51圆柱体通过设置的轴承与压轮4连接。压轮4呈圆盘状,压轮4中心与轴承外圈固定,轴承内圈与压辊51圆柱体端部的侧壁固定。支架1顶部连接有探测器固定板13,探测器固定板13通过螺钉与顶板固定。探测器固定板13设有探测器,探测器为激光发射器7和CCD接收器6,激光发射器7和CCD接收器6位于两个压轮4间距的上方。探测器的位置与压轮4间距的位置相对应。探测器固定板13在压轮4间距相对应位置开两个孔,分别为前探测器孔131和后探测器孔133。前探测器孔131靠近支架1前端,后探测器孔133靠近支架1后端,两孔分别贯通探测器固定板13。前探测器孔131中安装CCD接收器6,后探测器孔133中设有激光发射架,激光发射架上安装激光发射器7。
将支架1放置在硅钢片生产的流水线上,支架1底板与流水线通过螺钉固定。被测硅钢片3放置在支撑轴2中间段大轴径轴的上部,压轮4压住被测硅钢片3两个边。激光发射器7通电,调整激光发射器7与CCD接收器6位置,使得激光发射器7发射的激光对准放置在支撑轴2轴线上方的被测硅钢片3的上表面,激光被被测硅钢片3的上表面反射后,CCD接收器6正好接收。图2中虚线表示激光发射、反射和接收的光路。CCD接收器6接收到的信号通过连接的计算机(图中未示)接收和处理,可以计算并记录在线生产过程中硅钢片的厚度变化。
实施例2:
如图3所示,探测器为电感式传感器,电感式传感器位于支撑轴上方两个压轮之间。探测器固定板13在前探测器孔131和后探测器孔133之间设有中探测器孔132(见图2),中探测器孔132的圆心与支撑轴2轴线对准。中探测器孔132贯通探测器固定板13。中探测器孔132中插入电感式传感器8。
将支架1底板与流水线通过螺钉固定。被测硅钢片3放置在支撑轴2中间段大轴径轴的上部,压轮4压住被测硅钢片3两个边。调节电感式传感器8插入在中探测器孔132的位置,将电感式传感器8探测头与被测硅钢片3上表面接触。电感式传感器8通过导线连接计算机(图中未示)。被测硅钢片3随着生产的流水线行进,计算机接收和处理电感式传感器8传输的信号,在线生产过程中,反映出即时的硅钢片厚度。 

Claims (7)

1.一种硅钢片厚度测量装置,其特征在于:它包括上下两层结构的支架(1),支架(1)上层设有一对压辊组件(5),支架(1)下层可转动连接有支撑轴(2),支撑轴(2)上方设有一对相距一定间距的压轮(4),压轮(4)的轴线与支撑轴(2)的轴线平行,压轮(4)与支撑轴(2)相压接,所述压轮(4)与所述压辊组件(5)可转动连接,所述支架(1)顶部连接有探测器固定板(13),探测器固定板(13)设有探测器,探测器的位置与压轮(4)间距的位置相对应。
2.根据权利要求1所述的一种硅钢片厚度测量装置,其特征在于:所述支架(1)上层左右两端固定有上侧板(12),支架(1)下层左右两端固定有下侧板(11),两个上侧板(12)之间的距离小于两个下侧板(11)之间的距离,所述上侧板(12)设有导向槽(121),所述下侧板(11)设有带法兰轴承,所述支撑轴(2)通过带法兰轴承与下侧板(11)连接。
3.根据权利要求1所述的一种硅钢片厚度测量装置,其特征在于:所述压辊组件(5)设有压辊(51),压辊(51)由长方体和圆柱体连接呈柱状,压辊(51)长方体的上、下表面分别连接有弹簧(52),弹簧(52)与支架(1)上层固定,压辊(51)长方体的端面连接有导向杆(53),所述压辊(51)圆柱体通过设置的轴承与所述压轮(4)连接。
4.根据权利要求1或2所述的一种硅钢片厚度测量装置,其特征在于:所述支撑轴(2)为阶梯轴,支撑轴(2)中间段的轴径大于两端轴径。
5.根据权利要求2或3所述的一种硅钢片厚度测量装置,其特征在于:导向杆(53)嵌入导向槽(121)。
6.根据权利要求1所述的一种硅钢片厚度测量装置,其特征在于:所述探测器为激光发射器(7)和CCD接收器(6),激光发射器(7)和CCD接收器(6)位于两个压轮(4)间距的上方。
7.根据权利要求1所述的一种硅钢片厚度测量装置,其特征在于:所述探测器为电感式传感器(8),电感式传感器(8)位于支撑轴(2)上方两个压轮(4)之间。
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