CN203535080U - Sma型rf测试探针 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供了一种SMA型RF测试探针，其特征在于，包括RF测试探针针芯，所述的RF测试探针针芯包括探针本体、金属弹簧和SMA型母接口，探针本体的后端连接金属弹簧，金属弹簧连接SMA型母接口，探针本体的外侧设有绝缘介质以及位于绝缘介质后侧的绝缘支撑架，RF测试探针针芯、绝缘介质和绝缘支撑架设于屏蔽外罩中，探针本体的前端具有针头，针头露出屏蔽外罩。本实用新型的全部针头都能伸缩且测试高频时针的频率对应的阻抗特性较好。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种SMA型RF测试探针，SMA型RF测试探针主要用于测试RF能量，能通过探针拾取到的射频能量通过传输电缆到频谱仪或者矢量网络分析仪，以实时知道被测物体的辐射量。
背景技术
现在市场上的SMA型RF测试探针的针头直径只有0.4mm，长度3.6mm，能全部内缩(既探针内部结构有弹簧，针头可伸缩3.6mm)或者探针针头直径只有0.36mm，长度8mm，但是不能完全内缩，无法保护针头。
发明内容
本实用新型所要解决的技术问题是提供一种具有1mm粗，10mm长的针头、全部针头都能伸缩且测试高频时针的频率对应的阻抗特性较好的SMA型RF测试探针，以满足测试时需要RF测试探针触及到超过8mm且其直径有要求到1mm的需要。
为了解决上述技术问题，本实用新型的技术方案是提供了一种SMA型RF测试探针，其特征在于，包括RF测试探针针芯，所述的RF测试探针针芯包括探针本体、金属弹簧和SMA型母接口，探针本体的后端连接金属弹簧，金属弹簧连接SMA型母接口，探针本体的外侧设有绝缘介质以及位于绝缘介质后侧的绝缘支撑架，RF测试探针针芯、绝缘介质和绝缘支撑架设于屏蔽外罩中，探针本体的前端具有针头，针头露出屏蔽外罩。
优选地，所述的针头的直径为1mm，长度为10mm。
优选地，所述的屏蔽外罩包括第一铜壳体、第二铜壳体和底座，第二铜壳体的前端固定在第一铜壳体的后端外侧，第二铜壳体的后端固定连接底座，绝缘介质设于第一铜壳体中，绝缘支撑架设于第二铜壳体中，SMA型母接口设于底座中。
更优选地，所述的第二铜壳体的前端与第一铜壳体的后端之间设有RF测试探针针芯固定金属装置。
优选地，所述的屏蔽外罩上设有固定螺丝孔。
优选地，所述的SMA型母接口包括RF测试探针尾部以及与之相连的RF测试探针根部，所述的RF测试探针尾部为实心结构，与金属弹簧相连，RF测试探针根部与外部SMA型RF线缆连接。
与现有技术相比，本实用新型的优点是：
1、本实用新型的SMA型RF测试探针，尾部是SMA型母接口，以方便与测试电缆及测试仪器连接。探针本体连接金属弹簧，使得针头可收缩，防止人员误操作带来损坏探针的风险，探针的针头1mm粗，10mm长，能更好的呈现出更优异的电气性能，针头1mm粗，能更好的防止针头过细而出现弯曲的现象，另探针有10mm长，能完全伸缩，这样能涉及到测试物体的尺寸更大。SMA型RF测试探针在用于两金属样片绝缘测试时具备随着射频频率的变大，其金属间的搭接特性阻抗会与频率的变化相反，既变小，且随金属间绝缘间隔距离增大，金属间的搭接特性阻抗变小的优点。
2、本实用新型的高频特性好，第一铜壳体和第二铜壳体的材质都是铜材质以达到更好的电气连接及防止外界的电磁干扰。SMA型RF测试探针整体材料至少是铜材料，以保证良好的电气性能。
3、第一铜壳体与探针之间设有塑胶材质的绝缘介质，绝缘介质的长度等于第一铜壳体的长度，这样防止壳体易变形及探针与壳体接触到短路。绝缘介质与绝缘支撑架使得测试时针头与外壳不能导通。
4、本实用新型结构简单，更换探针头时，只需旋开外壳，取下并更换好的测试探针头即可。
附图说明
图1为SMA型RF测试探针结构示意图。
图2为SMA型RF测试探针的开路测试图。
具体实施方式
为使本实用新型更明显易懂，兹以优选实施例，并配合附图作详细说明如下。
实施例
如图1所示，为SMA型RF测试探针结构示意图，所述的SMA型RF测试探针，包括RF测试探针针芯，所述的RF测试探针针芯包括探针本体、金属弹簧6和SMA型母接口，探针本体的后端连接金属弹簧6，金属弹簧6可实现10mm的压缩，金属弹簧6连接SMA型母接口，探针本体的外侧设有绝缘介质3以及位于绝缘介质3后侧的绝缘支撑架5，RF测试探针针芯、绝缘介质3和绝缘支撑架5设于屏蔽外罩中，探针本体的前端具有针头1，针头1的直径为1mm，长度为10mm，针头1露出屏蔽外罩。
所述的屏蔽外罩包括第一铜壳体10、第二铜壳体11和底座2，第二铜壳体11的前端固定在第一铜壳体10的后端外侧，第二铜壳体11的后端固定连接底座2，绝缘介质3设于第一铜壳体10中，绝缘支撑架5设于第二铜壳体11中，SMA型母接口设于底座2中。所述的第二铜壳体11的前端与第一铜壳体10的后端之间设有RF测试探针针芯固定金属装置4。RF测试探针针芯固定金属装置4可防止RF测试探针针芯左右晃动，以免损坏，RF测试探针针芯固定金属装置4为金属材质，与第一铜壳体10和第二铜壳体11形成电气连接，可更好屏蔽外界信号，不易形变。所述的屏蔽外罩2上设有固定螺丝孔7。所述的SMA型母接口包括RF测试探针尾部8以及与之相连的RF测试探针根部9，为了实现更好的电气连接以及50欧姆特性阻抗，所述的RF测试探针尾部8为实心结构，与金属弹簧6相连，RF测试探针根部9与外部SMA型RF线缆连接。
本实用新型的SMA型RF测试探针在两个金属样片间放一层带一定厚度的绝缘材质，然后进行金属间的搭接阻抗测试，由于金属样片间存在绝缘介质，从而形成电容效应，根据电容值得计算公式C＝εS/d，可知在绝缘介质厚度增大的情况下，金属样片间的容值变小，再根据计算容抗公式XC＝1/2πFC，可得知，在频率不变的情况下，绝缘介质厚度增加，容值变小，阻抗变大，而在容值相同情况下(即同一绝缘介质)，频率变大，阻抗变小。
如图2所示，本实用新型的SMA型RF测试探针在用于两金属样片开路即绝缘测试时具备随着射频频率的变大，其金属间的搭接特性阻抗会与频率的变化相反，既变小，且随金属间绝缘间隔距离增大，金属间的搭接特性阻抗变小的优点。
Claims (6)
1.一种SMA型RF测试探针，其特征在于，包括RF测试探针针芯，所述的RF测试探针针芯包括探针本体、金属弹簧(6)和SMA型母接口，探针本体的后端连接金属弹簧(6)，金属弹簧(6)连接SMA型母接口，探针本体的外侧设有绝缘介质(3)以及位于绝缘介质(3)后侧的绝缘支撑架(5)，RF测试探针针芯、绝缘介质(3)和绝缘支撑架(5)设于屏蔽外罩中，探针本体的前端具有针头(1)，针头(1)露出屏蔽外罩。
2.如权利要求1所述的SMA型RF测试探针，其特征在于，所述的针头(1)的直径为1mm，长度为10mm。
3.如权利要求1所述的SMA型RF测试探针，其特征在于，所述的屏蔽外罩包括第一铜壳体(10)、第二铜壳体(11)和底座(2)，第二铜壳体(11)的前端固定在第一铜壳体(10)的后端外侧，第二铜壳体(11)的后端固定连接底座(2)，绝缘介质(3)设于第一铜壳体(10)中，绝缘支撑架(5)设于第二铜壳体(11)中，SMA型母接口设于底座(2)中。
4.如权利要求3所述的SMA型RF测试探针，其特征在于，所述的第二铜壳体(11)的前端与第一铜壳体(10)的后端之间设有RF测试探针针芯固定金属装置(4)。
5.如权利要求1所述的SMA型RF测试探针，其特征在于，所述的屏蔽外罩(2)上设有固定螺丝孔(7)。
6.如权利要求1所述的SMA型RF测试探针，其特征在于，所述的SMA型母接口包括RF测试探针尾部(8)以及与之相连的RF测试探针根部(9)，所述的RF测试探针尾部(8)为实心结构，与金属弹簧(6)相连，RF测试探针根部(9)与外部SMA型RF线缆连接。
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2013
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