CN203203901U - 一种用于贵金属快速检测的真空装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于贵金属快速检测的真空装置，包括真空箱体，真空箱体由隔板分为上腔和下腔，在下腔内设置真空泵和下水箱，在上腔内设置密闭的真空室，真空室内设置样品箱，真空泵的进气口通过气管与真空室内相通，下水箱通过水泵和与水泵连接的水管与样品箱内相通。该真空装置能同时对多个待测样品进行检测，从而获得最终的检测结论，保证了检测数据的准确性。

Description

一种用于贵金属快速检测的真空装置

技术领域

本实用新型涉及一种真空装置，尤其涉及一种用于贵金属快速检测的真空装置。

背景技术

针对贵金属饰品检测难度日益增大的现实，国内外的技术检测机构都在有针对性的开发新的检测方法及检测手段，这些技术包括X射线荧光光谱法、密度法、化学法等，以期能高速、有效、准确的解决在实际工作中碰到的难题。

目前，贵金属无损检测主要依赖X射线荧光光谱法和密度法，两种方法各有优缺点。X射线荧光光谱法的优点是操作简单，检测速度较快，缺点是仪器穿透力差，仅能对样品表面进行分析，对较厚样品的内部无法进行检测。密度法的本身的局限性以及对样品形状、工艺的要求非常高，且无法检测合金饰品，批量检测效率低，速度慢；而且采用密度法无损测量贵金属的真实密度时，由于复杂形状的样品和表面容易聚集微量空气，从而影响测量准确性。而化学法是有损检测法，且操作复杂，检测成本高，几乎没有应用。有鉴于实际检测工作中样品的多样性、复杂性和作假技术的日趋成熟，分别使用荧光光谱法和密度法两种检测方法不能完全应对。专利授权号：200820074914“贵金属无损检测系统”是将X荧光光谱仪连接计算机，密度测量仪连接在电子天平上再连接计算机。此系统特点是X荧光光谱仪除测量样品表面层的成分和各元素的含量外，要由此数据计算出含有该成分的合金密度，该合金密度再与密度测量仪测出的真实密度相比较，判断样品是实体金还是仅外层包裹有金，以解决对贵金属层的样品错误检测。但该贵金属无损检测系统只能对单个样品进行检测，不能对多个样品同时进行检测而无法实现快速检测的缺陷。

实用新型内容

针对上述现有技术中存在的不足之处，本实用新型提供了一种用于贵金属快速检测的真空装置。

为了解决上述技术问题，本实用新型采用了如下技术方案：

一种用于贵金属快速检测的真空装置，包括真空箱体，所述真空箱体由隔板分为上腔和下腔，在下腔内设置真空泵和下水箱，在上腔内设置密闭的真空室，所述真空室内设置样品箱，所述真空泵的进气口通过气管与真空室内相通，所述下水箱通过水泵和与水泵连接的水管与样品箱内相通。

作为本实用新型的一种优选方案，在真空箱体上设有可开启真空室的密闭门。

作为本实用新型的另一种优选方案，在水管上设置电磁阀。

与现有技术相比，本实用新型具有如下优点：

1、使用该真空装置进行贵金属检测，与X荧光光谱仪法和密度检测法相比，解决了X荧光光谱仪法仅检测到贵金属表层和较小区域的局限性，以及密度法对样品形状、工艺的要求高，批量检测效率低等缺点，扩大密度法的使用范围；该真空装置能同时对多个待测样品进行检测，从而获得最终的检测结论。

2、该真空装置可对贵金属进行快速、准确的检测。

附图说明

图1为一种用于贵金属快速检测的真空装置的结构示意图；

图2为使用该真空装置对贵金属进行检测的流程图。

附图中： 1—真空箱体； 2—隔板； 3—上腔； 4—下腔； 5—真空泵； 6—下水箱； 7—真空室； 8—样品箱； 9—密闭门； 10—电磁阀； 11—照明灯。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细地描述。

如图1所示，一种用于贵金属快速检测的真空装置，包括真空箱体1。真空箱体1由隔板2分为上腔3和下腔4，在下腔4内设置真空泵5和下水箱6，在上腔3内设置密闭的真空室7。真空室7内设置样品箱8，真空泵5的进气口通过气管与真空室7内相通，下水箱6通过水泵和与水泵连接的水管与样品箱8内相通，在水管上设置电磁阀10。在真空箱体1上设有可开启真空室7的密闭门9，在密闭门9处安装有照明灯11。当开启密闭门9时，照明灯11开启，便于操作者向真空室7内的样品箱8内放入被测样品。 

使用该真空装置对贵金属进行检测，其流程如图2所示：

1）采用精密天平先将多个被测样品在空气中秤取质量，再采用真空装置抽取被测样品周围的空气。

2）然后将被测样品通过吊具完全侵入蒸馏水中（通常通过细绳将被测样品吊放在蒸馏水中），用精密天平秤取这些被测样品在蒸馏水中的质量，并将该质量信号通过RS232接口传输输入计算机。

3）由计算机按下式同时计算出多个被测样品的实际密度：

ρ＝mρ ₁ /（m－m ₁ ＋m ₂ ）

式中：ρ—被测试样在温度t时刻的密度，单位：g/cm³；

m—被测试样在空气中的质量，单位：g；

m ₁ —被测试样侵入蒸馏水中的称量值，单位：g；

m ₂ —吊具在蒸馏水中的称量值，单位：g；

ρ ₁ —蒸馏水在温度t时刻的密度，单位：g/cm³。

4）利用X荧光光谱仪测得的多个被测样品中贵金属及杂质元素的含量并输入计算机，由计算机按下式同时计算出多个被测样品的理论密度：

   

式中：ρ _x —被测样品的理论密度，单位：g/cm³；

m _p —被测样品元素的摩尔原子质量，单位：g/mol；

w _p —待测样品中贵金属的含量（质量含量），‰；

W _i —待测样品中杂质元素含量（质量含量），‰；

m _i —待测样品中杂质元素的摩尔原子质量，单位：g/mol；

N ₀—阿伏伽德罗常数，6.022*10²³/mol；

a _x —待测样品晶格常数，单位：nm。

其中

式中：a _x —待测样品晶格常数，单位：nm；

a _p —贵金属的晶格常数，单位：nm；

a _i —待测样品中杂质元素的晶格常数，单位：nm；

x _p —贵金属在待测样品中的原子百分数。

5）由计算机按下式同时计算多个待测样品实际密度ρ与理论密度ρ _x 的误差Δ，若两者误差在5‰内，则被检样品测试数据准确；

Δ=ρ _x  -ρ/ρ _x  ；

计算机根据多个被检样品测试数据，同时出具检测报告。

最后说明的是，以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本实用新型进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本实用新型技术方案的宗旨和范围，其均应涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。

Claims (3)

1.一种用于贵金属快速检测的真空装置，其特征在于：包括真空箱体（1），所述真空箱体（1）由隔板（2）分为上腔（3）和下腔（4），在下腔（4）内设置真空泵（5）和下水箱（6），在上腔（3）内设置密闭的真空室（7），所述真空室（7）内设置样品箱（8），所述真空泵（5）的进气口通过气管与真空室（7）内相通，所述下水箱（6）通过水泵和与水泵连接的水管与样品箱（8）内相通。

2.根据权利要求1所述的一种用于贵金属快速检测的真空装置，其特征在于：在真空箱体（1）上设有可开启真空室（7）的密闭门（9）。

3.根据权利要求1或2所述的一种用于贵金属快速检测的真空装置，其特征在于：在水管上设置电磁阀（10）。

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