CN203054112U - 接触式半自动ic卡检测装置 - Google Patents
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Abstract
一种接触式半自动IC卡检测装置,包括检测台、用于对所述检测台上的待检测卡片进行测试的检测组件、与待检测卡片形成接触的探针检测组件及控制所述探针检测装置与待检测卡片接触或分离的电磁制动组件。所述探针检测组件与所述检测组件连接,所述电磁制动组件与所述探针检测组件进行连接。所述电磁制动组件通过电磁力控制所述探针检测组件在与待检测卡片垂直的方向上与待检测卡片接触或分离。本实用新型的接触式半自动IC卡检测装置采用电磁制动组件驱动接触式探针检测组件进行垂直于IC卡芯片的上下运动,解决了传统读写机触点与芯片的横向滑动接触造成划痕,也无需在印刷后另外增加保护膜的工序。
Description
技术领域
本实用新型涉及检测装置,特别涉及一种接触式半自动IC卡检测装置。
背景技术
在现有的智能IC卡检验活动中,一般使用IC卡读写机设备进行检测。因此,在整个检验过程中由于人员手工操作,在插拔卡片的同时读写机的进卡口、读写机内读写触点等尖锐及金属部分都会对卡片及芯片表面存在一定的伤害,而这类伤害在客户看来,也属于无法接受的产品问题。另外,由于是手工使用读写机进行读写操作,长期进行插拔卡片的动作会导致读写触点磨损,而影响检测的准确度,进而影响产品的质量。
为了避免IC卡检验过程中的卡片及芯片表面的划伤问题。现有技术中一般采用在卡片印刷后对卡片进行增加一层保护膜的工序,降低卡片在生产检测环节造成的卡体划伤。然而,这种增加保护膜的做法弊端是,不仅增加了产品的成本,而且覆膜工序仅针对的是卡片本身的保护,无法做到对芯片的保护。
另一方面,对于检测用的读写机,在进行万次插拔动作后,就会因为设备磨损导致设备报废,也无形中增加了生产成本。另外卡片的保护膜在产品出厂前必须要揭下来,这样也增加了产品的人工成本。
实用新型内容
有鉴于此,为克服现有技术的不足,本实用新型提供一种可避免IC卡芯片表面划伤的接触式半自动IC卡检测装置。
一种接触式半自动IC卡检测装置,包括检测台、用于对所述检测台上的待检测卡片进行测试的检测组件、与待检测卡片形成接触的探针检测组件及控制所述探针检测装置与待检测卡片接触或分离的电磁制动组件。所述探针检测组件与所述检测组件连接,所述电磁制动组件与所述探针检测组件进行连接。所述电磁制动组件通过电磁力控制所述探针检测组件在与待检测卡片垂直的方向上与待检测卡片接触或分离。
优选地,所述检测台一旁设置有由待检测卡片触发的行程开关,所述行程开关与所述电磁制动组件相连控制所述电磁制动组件驱动所述探针检测组件在与待检测卡片垂直的方向上与待检测卡片接触或分离。
优选地,所述检测台上开设有放置待检测卡片的IC卡容槽,所述行程开关设置在所述IC卡容槽的后方。
优选地,所述探针检测组件包括检测探针及探针限位条,所述探针限位条设置在所述检测探针旁,所述探针限位条的下端略高于所述检测探针的末端以防止所述检测探针对待检测卡片的撞击。
优选地,所述探针检测组件包括探针垫块及探针安装板,所述探针垫块设置在所述检测探针与所述探针安装板之间。
优选地,所述电磁制动组件包括电磁铁固定板、电磁铁垫块及电磁铁,所述电磁铁固定板往上顺次安装所述电磁铁垫块及电磁铁。
优选地,所述接触式半自动IC卡检测装置包括设置在所述检测台后方的背板,所述电磁铁固定板固定在所述背板上,所述电磁铁固定板往下顺次安装有所述探针安装板、探针垫块及检测探针。
优选地,所述检测探针位于所述检测台的上方,所述检测探针采用5针探针。
优选地,所述电磁铁为ZYE1-1264的直流电磁铁,所述电磁铁在垂直于待检测卡片方向上的移动距离为10mm。
优选地,所述检测组件为电脑。
本实用新型的接触式半自动IC卡检测装置采用电磁制动组件驱动接触式探针检测组件进行垂直于IC卡芯片的上下运动,解决了传统读写机触点与芯片的横向滑动接触造成划痕,也无需在印刷后另外增加保护膜的工序。
附图说明
图1为本实用新型的优选实施例接触式半自动IC卡检测装置的结构示意图。
具体实施方式
为更好地理解本实用新型,以下将结合附图和具体实例对本实用新型进行详细的说明。
基于克服以上所述现有的检测装置的种种弊端的目的,本实用新型提供一种接触式半自动IC卡检测装置,以解决检测装置对卡片、芯片的划伤以及由于读写机频繁使用而导致手工操作时卡片放置不到位所造成的检测失误的技术问题。
本实用新型的优选实施例接触式半自动IC卡检测装置包括检测组件、探针检测组件及电磁制动组件。检测组件主要用于对待检测卡片进行测试。探针检测组件与检测组件连接,主要用于与待检测卡片形成接触,使检测组件能够进行检测。电磁制动组件与探针检测组件进行连接,通过电磁力控制探针检测组件与待检测卡片接触或分离。
请结合参阅图1,接触式半自动IC卡检测组件,检测台1、IC卡容槽2、背板3、电磁铁固定板4、探针安装板5、探针垫块6、检测探针7、电磁铁垫块8、电磁铁9及行程开关10。
检测台1是检测工作的作业平台,检测台1上部开设有可放置不同型号IC卡的IC卡容槽2。背板3设置在检测台1的后方,可安装控制电源件及其它部件。电磁铁固定板4固定在背板3上。电磁铁固定板4往下顺次安装有探针安装板5、探针垫块6及检测探针7,探针安装板5、探针垫块6及检测探针7组成探针检测组件。检测探针7位于IC卡容槽2的正上方。探针垫块6采用塑料材质,其设置在检测探针1与探针安装板5之间的主要目的是防止检测探针1的电路板与电磁铁9有直接接触而导致短路。电磁铁固定板4往上顺次安装有电磁铁垫块8及电磁铁9,电磁铁固定板4、电磁铁垫块8及电磁铁9组成电磁制动组件。电磁铁垫块8采用铝合金材质,由电磁铁9的轴是圆柱形的,电磁铁固定板4上切割出一个可以容纳将电磁铁8的轴与检测探针7紧固的螺丝的圆形孔,将紧固螺丝进行遮挡。检测台1的IC卡容槽2后设有行程开关10,行程开关10连接控制电源和电磁铁9。
进行检测时,当插入检测台1上的IC卡容槽2内的卡体安装到位的同时会碰触到检测台1后方的行程开关10。当IC卡容槽2内的卡片安装到位时,检测探针7的位置与卡片上IC芯片位置一致。行程开关10闭合后,通过控制电源启动电磁铁9在与IC卡垂直的方向向下动作,停在待检测卡片的IC芯片位置上,操作PC电脑系统对卡片进行读写操作。
检测完成后,控制电源启动电磁铁9带动检测探针7向上动作,离开待检测卡片的IC芯片。此时,可从IC卡容槽2的取出已完成检测的卡片,行程开关10复位。
在优选实施例中,为进一步防止检测探针7在意外情况下撞击待检测卡片,探针检测组件在检测探针7的一旁可设置探针限位条11。探针限位条11下端略高于检测探针7的末端。检测探针7可采用5针探针,电磁铁9可采用型号为ZYE1-1264的直流电磁铁(DC24V,8N),电磁铁9的移动距离为10mm。
在优选实施例中,检测组件可采用电脑。
本实用新型实施例提供的接触式半自动IC卡检测装置采用电磁制动组件驱动接触式探针检测组件进行垂直于IC卡芯片的上下运动,解决了传统读写机触点与芯片的横向滑动接触造成划痕。因为不需要在读写机中进行插拔卡片的动作,从而避免了卡片的划伤,也无需在印刷后另外增加保护膜的工序。
以上所述实施示例仅表达了本实用新型的部分实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本实用新型的保护范围。因此,本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (10)
1.一种接触式半自动IC卡检测装置,其特征在于:所述接触式半自动IC卡检测装置包括检测台、用于对所述检测台上的待检测卡片进行测试的检测组件、与待检测卡片形成接触的探针检测组件及控制所述探针检测装置与待检测卡片接触或分离的电磁制动组件,所述探针检测组件与所述检测组件连接,所述电磁制动组件与所述探针检测组件进行连接,所述电磁制动组件通过电磁力控制所述探针检测组件在与待检测卡片垂直的方向上与待检测卡片接触或分离。
2.根据权利要求1所述的接触式半自动IC卡检测装置,其特征在于:所述检测台一旁设置有由待检测卡片触发的行程开关,所述行程开关与所述电磁制动组件相连控制所述电磁制动组件驱动所述探针检测组件在与待检测卡片垂直的方向上与待检测卡片接触或分离。
3.根据权利要求2所述的接触式半自动IC卡检测装置,其特征在于:所述检测台上开设有放置待检测卡片的IC卡容槽,所述行程开关设置在所述IC卡容槽的后方。
4.根据权利要求2所述的接触式半自动IC卡检测装置,其特征在于:所述探针检测组件包括检测探针及探针限位条,所述探针限位条设置在所述检测探针旁,所述探针限位条的下端略高于所述检测探针的末端以防止所述检测探针对待检测卡片的撞击。
5.根据权利要求4所述的接触式半自动IC卡检测装置,其特征在于:所述探针检测组件包括探针垫块及探针安装板,所述探针垫块设置在所述检测探针与所述探针安装板之间。
6.根据权利要求5所述的接触式半自动IC卡检测装置,其特征在于:所述电磁制动组件包括电磁铁固定板、电磁铁垫块及电磁铁,所述电磁铁固定板往上顺次安装所述电磁铁垫块及电磁铁。
7.根据权利要求6所述的接触式半自动IC卡检测装置,其特征在于:所述接触式半自动IC卡检测装置包括设置在所述检测台后方的背板,所述电磁铁固定板固定在所述背板上,所述电磁铁固定板往下顺次安装有所述探针安装板、探针垫块及检测探针。
8.根据权利要求7所述的接触式半自动IC卡检测装置,其特征在于:所述检测探针位于所述检测台的上方,所述检测探针采用5针探针。
9.根据权利要求6所述的接触式半自动IC卡检测装置,其特征在于:所述电磁铁为ZYE1-1264的直流电磁铁,所述电磁铁在垂直于待检测卡片方向上的移动距离为10mm。
10.根据权利要求1至9中任一项所述的接触式半自动IC卡检测装置,其特征在于:所述检测组件为电脑。
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