CN202996318U - 一种氮化硼-石墨烯复合材料结构 - Google Patents

一种氮化硼-石墨烯复合材料结构 Download PDF

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Abstract

本实用新型涉及一种氮化硼-石墨烯复合材料结构,其包含两个单层氮化硼膜(8;10)和一个单层或多层石墨烯膜(9),其中所述石墨烯膜(9)位于两个氮化硼膜(8;10)之间。所述复合材料结构能够在不提高载流子密度的前提下,显著提高石墨烯的电导率。

Description

一种氮化硼-石墨烯复合材料结构
技术领域
本实用新型涉及一种氮化硼-石墨烯复合材料结构。 
背景技术
石墨烯具有优异的电学性能,且价廉易得,对环境友好,因此在透明电极领域展示出诱人的前景。然而,石墨烯膜被转移到某些基底(例如,石英、玻璃、聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)塑料)上后,其电学性能有明显的下降,从而限制了石墨烯膜在某些透明电极(例如,电子纸和发光二极管)中的应用。最近研究表明,将石墨烯放置在六方结构氮化硼(即h-BN)基底上的情况下,其导电性(更具体而言为载流子迁移率)有明显的提高。但这种六方结构氮化硼膜/石墨烯膜复合材料在有些情况下仍不能满足导电性的需求。 
实用新型内容
为进一步提高石墨烯的电导率,本实用新型提供了一种氮化硼-石墨烯复合材料结构,其包含两个单层氮化硼膜和一个单层或多层石墨烯膜,其中所述石墨烯膜位于两个氮化硼膜之间。 
在一个优选实施方案中,上述氮化硼-石墨烯复合材料结构还包含一个绝缘基底,该绝缘基底贴覆于其中一个氮化硼膜上。 
本实用新型的氮化硼-石墨烯复合材料结构能够在不提高载流子密度的前提下,显著提高石墨烯的电导率。 
附图说明
本实用新型的上述及其他的方面、优点和特征将通过附图进一步说明,各附图中相同的附图标记代表相同的组成部分。 
图1为本实用新型的氮化硼-石墨烯复合材料结构的一个示意图。 
图2为本实用新型一个实施方案的石墨烯膜转移的一个流程示意图。 
图3为本实用新型一个实施方案的氮化硼-石墨烯复合材料结构的制备过程。 
具体实施方式
在本实用新型中,除非另有指明,术语“氮化硼(或氮化硼膜)”是指六方结构氮化硼(或氮化硼膜)。 
下文将结合附图对本实用新型作进一步详细说明。但应理解的是,所述附图仅为示例性的,不应解释为限制本实用新型的范围。 
本实用新型提供了一种氮化硼-石墨烯复合材料结构,其包含两个单层氮化硼膜和一个单层或多层石墨烯膜,其中所述石墨烯膜位于两个氮化硼膜之间,即该复合材料结构为氮化硼膜/石墨烯膜/氮化硼膜。 
所述石墨烯膜为1-20层,优选1-10层,更优选1-5层。 
图1展示了本实用新型的氮化硼-石墨烯复合材料结构的一个示意图,其中该结构由两个单层氮化硼膜8和10和一个夹在这两个氮化硼膜之间的单层或多层石墨烯膜9组成。 
氮化硼膜8和10可使用镀覆法、化学气相沉积(CVD)法和物理气相沉积(PVD)法(例如溅射法)而制备,但不限于这些方法。优选由CVD法制备。 
石墨烯膜9可由微机械分离法、化学剥离法、取向附生法、加热碳化硅(SiC)法、CVD法和还原氧化法制备,但不限于这些方法。优选由CVD法制备。 
在一个具体的实施方案中,由CVD法生长石墨烯膜的典型过程如下:将铜箔1在氩气和氢气环境下(其中Ar:约95体积份,H2:约5体积份)1000℃预热处理1.5小时。然后通入甲烷,进行约20分钟的碳分解,从而生长出石墨烯膜。生长过程中第一步将通过气体流量和压力来控制石墨烯的成核密度,第二步再加大气体流量来获得连续均匀的单层石墨烯膜。 
在另一个具体的实施方案中,由CVD法生长氮化硼膜的典型过程如下:使用氨基硼烷(aminoborane)作为氮和硼的来源,在1000℃温度下由CVD法在金属箔表面生长出氮化硼膜。 
石墨烯膜的层数可通过调节生长温度和气氛浓度来控制,因此可以根 据需要,来生成合适层数的石墨烯膜。 
在本实用新型复合材料结构中,氮化硼膜8和10的厚度为0.5-500nm,优选0.5-50nm,更优选0.5-5nm;石墨烯膜9的厚度为0.35-10nm,优选0.35-3nm。更优选0.35-2.1nm。 
石墨烯膜和氮化硼膜之间以及多个石墨烯膜之间可以通过压制或抽真空而结合在一起。 
所述氮化硼膜和石墨烯膜可为正方形、长方形等任何适宜的形状。并且优选它们的大小与形状是相互匹配的。 
优选地,本实用新型的氮化硼-石墨烯复合材料结构还包含一个绝缘基底,该绝缘基底贴覆于其中一个氮化硼膜上。优选地,所述绝缘基底是透明的。 
所述绝缘基底可为无机绝缘材料、有机绝缘材料、及由这两种材料经过加工制成的混合绝缘材料。常用的无机绝缘材料有:云母、石棉、大理石、陶瓷、玻璃等。有机绝缘材料有:虫胶、树脂、橡胶等。 
对所述绝缘基底的厚度无特别要求,只要其足以支撑所述复合材料结构即可。 
在本实用新型的一个实施方案中,所述贴覆可按如下过程进行:将待贴覆的膜放入FeCl3中,膜由于表面张力而平铺于FeCl3的表面,用玻璃基底将其从FeCl3中捞起并使之平整无间隙地紧密贴覆于该基底表面;用同样的方法,可以在贴覆有膜的基底上再贴覆一个或多个膜。 
图2为本实用新型一个一个实施方案的石墨烯膜转移的一个流程示意图。 
在该实施方案中,在通过气相沉积法生成于铜箔1上的石墨烯膜的一个暴露表面4上涂覆聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)5的保护层,以防止在石墨烯膜转移过程中,铜箔被腐蚀后,石墨烯膜失去支撑而坍塌。用氧进行等离子体刻蚀,除去铜箔上的另一个表面4’的石墨烯膜从而使铜箔1暴露出来,然后在Fe(NO3)3腐蚀溶液6中腐蚀掉铜箔。 
在该实施方案中,将转移后的石墨烯膜贴覆于一个基底材料表面,所述贴覆过程如下: 
将腐蚀掉铜箔1的PMMA/石墨烯膜清洗后,放入FeCl3溶液中,由于溶液的表面张力,其会张开并平铺于溶液表面,然后将其用所需的基 底材料7从溶液中捞起,石墨烯膜通过范德瓦尔斯力作用而与基底材料7紧密贴覆在一起。 
所述铜箔还可用镍、铁、锌、钴等及其任意结合,以及以这些金属为主要成分的合金取代。 
涂覆保护层的方法包括旋涂、刮涂、棒涂、浸涂和喷涂等。 
所述腐蚀溶液示例性地包括酸、盐的水溶液,所述盐特别是指酸式盐。 
所述FeCl3溶液也可用其他任何能使石墨烯膜漂浮的溶液取代,例如用丙酮等有机溶剂,水,硝酸铁等无机溶液取代。 
在转移过程中,除PMMA之外也可使用其他合适物质作为膜的保护层,所述其他合适物质主要为有机聚合物,例如聚二甲基硅氧烷。 
氮化硼膜的转移和贴覆过程与石墨烯膜类似。 
图3展示了本实用新型一个实施方案的氮化硼膜/石墨烯膜/氮化硼膜复合材料结构的一个示例性制备过程: 
(1)在一个金属基底上由CVD法生长两个氮化硼膜; 
(2)在另一个金属基底上由CVD法生长一个石墨烯膜; 
(3)将由CVD法生长出的氮化硼膜和石墨烯膜的金属基底用腐蚀溶液腐蚀掉; 
(4)将腐蚀掉金属基底的氮化硼膜转移并贴覆到其他基底上,并将腐蚀掉金属基底的石墨烯膜转移并贴覆到该氮化硼膜上构成其他基底/氮化硼膜/石墨烯膜,其中膜的转移和贴覆可按上述方法进行; 
(5)通过普通的微电子制造过程,在石墨烯膜上制造出一定结构,此结构取决于透明电极在不同领域的应用;和 
(6)将另外一个氮化硼膜转移并贴覆到来自(5)的其他基底/氮化硼膜/石墨烯膜上构成其他基底/氮化硼膜/石墨烯膜/氮化硼膜复合材料结构。 
此处所述其他基底为绝缘基底。优选地,该绝缘基底是透明的。 
所述绝缘基底可为无机绝缘材料、有机绝缘材料、及由这两种材料经过加工制成的混合绝缘材料。常用的无机绝缘材料有:云母、石棉、大理石、陶瓷、玻璃等。有机绝缘材料有:虫胶、树脂、橡胶等。 
对所述绝缘基底的厚度无特别要求,只要其足以支撑所述复合材料结 构即可。 
优选地,在步骤(3)和(4)之间还包括将石墨烯膜图样化的步骤。 
所述图样化可采用常规的微电子制造过程进行,例如光刻或刻蚀的方法进行;或使用镂空模板,随后使用氧进行等离子刻蚀。图样结构取决于透明电极在不同领域的应用。 
本实用新型的氮化硼膜/石墨烯膜/氮化硼膜复合材料结构能够在不提高载流子密度且不牺牲石墨烯透光率的前提下,显著提高石墨烯的电导率。 
实施例 
下文将参照具体实施例和比较例对本实用新型进行更详细描述,但本实用新型不限于这些实施例。 
实施例1 
在铜箔上由文中所述CVD法生长出两个正方形氮化硼膜(厚度均为3nm,边长为5cm)和一个相同形状和大小的单层石墨烯膜(厚度为0.35nm)。在它们各自的一个表面上喷涂PMMA胶并固化,并对另一面用氧进行等离子刻蚀而使铜箔暴露,并浸入盐酸(20重量%)溶液中腐蚀掉铜箔。然后将其中一个氮化硼膜清洗后放入水中,该氮化硼膜由于表面张力而平铺于水的表面,用玻璃基底将其从水中捞起并使之平整无间隙地紧密贴覆于该基底表面;再将单层石墨烯膜清洗后平铺于水的表面,用该贴覆有氮化硼膜的玻璃基底将其从水中捞起并使之紧密贴覆于该氮化硼膜上;采用光刻对该石墨烯膜图样化;然后采用同样的方法将另一个氮化硼膜紧密贴覆于该图样化的石墨烯膜上,从而制得氮化硼膜/石墨烯膜/氮化硼膜复合材料结构。 
用SRM-14T非接触式平面电阻测量仪(购自德国NAGY仪器公司)通过平面电阻测量法测定该复合材料结构的平面电阻,结果如下表1所示。 
实施例2 
按与实施例1相同的方法制备氮化硼膜/石墨烯膜/氮化硼膜复合材料 结构,不同在于,所述氮化硼膜和石墨烯膜的厚度分别为5nm和1nm。 
用前述平面电阻测量仪通过平面电阻测量法测定该复合材料结构的平面电阻,结果如下表1所示。 
实施例3 
按与实施例1相同的方法制备氮化硼膜/石墨烯膜/氮化硼膜复合材料结构,不同在于,所述氮化硼膜和石墨烯膜的厚度分别为0.5nm和3.5nm。 
用前述平面电阻测量仪通过平面电阻测量法测定该复合材料结构的平面电阻,结果如下表1所示。 
实施例4 
按与实施例1相同的方法制备氮化硼膜/石墨烯膜/氮化硼膜复合材料结构,不同在于,所述氮化硼膜和石墨烯膜的厚度分别为50nm和10nm。 
用前述平面电阻测量仪通过平面电阻测量法测定该复合材料结构的平面电阻,结果如下表1所示。 
实施例5 
按与实施例1相同的方法制备氮化硼膜/石墨烯膜/氮化硼膜复合材料结构,不同在于,所述氮化硼膜和石墨烯膜的厚度分别为500nm和2.1nm。 
用前述平面电阻测量仪通过平面电阻测量法测定该复合材料结构的平面电阻,结果如下表1所示。 
实施例6-8 
按与实施例1相同的方法制备氮化硼膜/石墨烯膜/氮化硼膜复合材料结构,不同在于,将六方结构氮化硼膜分别改为菱方结构氮化硼(R-BN)膜、立方结构氮化硼(C-BN)膜和密排六方结构氮化硼(W-BN/纤锌矿氮化硼)膜。 
用前述平面电阻测量仪通过平面电阻测量法测定该复合材料结构的平面电阻,结果如下表1所示。 
比较例1-8 
分别按与实施例1-8相同的方法制备氮化硼膜/石墨烯膜复合材料结 构。用前述平面电阻测量仪通过平面电阻测量法测定该复合材料结构的平面电阻,结果如下表1所示。 
表1各实施例中复合材料结构的平面电阻和透光率 
实施例 平面电阻(ohm/sq) 透光率(%)
实施例1 110 93
实施例2 30 89
实施例3 11 73
实施例4 3 26
实施例5 21 81
实施例6 650 93
实施例7 220 90
实施例8 913 93
比较例1 230 94
比较例2 80 90
比较例3 27 73
比较例4 10 28
比较例5 36 83
比较例6 690 93
比较例7 459 91
比较例8 1237 94
虽然已参照特定实施方案对本实用新型进行了说明,但本领域技术人员应认识到的是,在不偏离本实用新型主旨和范围的情况下,可对所述实施方案进行改变或改进,本实用新型范围通过所附权利要求书限定。 

Claims (12)

1.一种氮化硼-石墨烯复合材料结构,其特征在于,其包含两个单层氮化硼膜(8,10)和一个单层或多层石墨烯膜(9),其中所述石墨烯膜(9)位于两个氮化硼膜(8,10)之间。 
2.根据权利要求1所述的复合材料结构,其特征在于,所述石墨烯膜(9)的厚度为0.35-10nm,所述氮化硼膜(8,10)的厚度为0.5-500nm。 
3.根据权利要求2所述的复合材料结构,其特征在于,所述石墨烯膜(9)的厚度为0.35-3nm。 
4.根据权利要求2所述的复合材料结构,其特征在于,所述石墨烯膜(9)的厚度为0.35-2.1nm。 
5.根据权利要求2所述的复合材料结构,其特征在于,所述氮化硼膜(8,10)的厚度为0.5-50nm。 
6.根据权利要求2所述的复合材料结构,其特征在于,所述氮化硼膜(8,10)的厚度为0.5-5nm。 
7.根据权利要求1所述的复合材料结构,其特征在于,所述氮化硼膜(8,10)和石墨烯膜(9)均通过CVD法制备。 
8.根据权利要求1所述的复合材料结构,其特征在于,所述氮化硼膜(8,10)和石墨烯膜(9)通过压制或抽真空而结合在一起。 
9.根据权利要求1所述的复合材料结构,其特征在于,其还包含一个绝缘基底,该绝缘基底贴覆于其中一个氮化硼膜上。 
10.根据权利要求8所述的复合材料结构,其特征在于,所述绝缘基底可为无机绝缘材料或有机绝缘材料。 
11.根据权利要求8所述的复合材料结构,其特征在于,所述绝缘基底为透明绝缘基底。 
12.根据权利要求1所述的复合材料结构,其特征在于,所述氮化硼膜(8,10)和石墨烯膜(9)的大小与形状相互匹配。 
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