CN202256598U - 具有探针清洁功能的点测机 - Google Patents

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温俊熙
李聪明
白智亮
吴柏汉
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Abstract

一种具有探针清洁功能的点测机，包含工作盘、至少一探针、吹气装置、集尘装置以及控制结构；工作盘的顶面用以承放一待测物；探针设置于该工作盘的顶面上方；吹气装置设置于该工作盘的一侧，以朝平行于该工作盘的一第一方向产生一气流；集尘装置设置于该工作盘的一侧，以接收该第一方向的该气流。

Description

具有探针清洁功能的点测机
技术领域
本实用新型涉及一种点测机，尤其涉及一种具有探针清洁功能的点测机。
背景技术
发光二极管(LED)的技术日益成熟，应用的领域也越来越广，例如一般住宅所使用的壁灯、辅助照明灯与庭园灯等，或者是运用于显示器的背光源。
然而随着发光二极管的快速成长，除了发光二极管本身具有的高亮度、高功率、较长寿命等优点，要如何维持发光二极管的质量也相当重要，因此发光二极管制造完成后，必须检测发光二极管的发光特性，以判断发光二极管的质量是否良好。
发光二极管在制造时会成长于圆片(晶圆)之上，再利用激光切割形成多个LED芯片于圆片上。LED芯片进行检测时，则是以点测机的一个探针组进行，以致能LED芯片位于同一侧面的两个电极，使得受测的单颗LED芯片发光，并据以感测LED芯片的发光特性。
在点测的过程当中，由于探针在使用一段时间之后，会于探针的外周缘积卡尘埃或污物，进而影响测试的可靠度，并使得产品的质量降低。
现有技术中，已有利用在机台的上设置清洁片，并定时的以探针碰触清洁片来进行清洁，然而在探针碰触清洁片的时候，可能会导致探针损伤，且清洁片若没有适时更换，反而会造成探针的二次污染。
实用新型内容
本实用新型所欲解决的技术问题与目的：
缘此，本实用新型的主要目的在于提供一种具有探针清洁功能的点测机，此点测机可以非接触的方式清洁探针，进而避免清洁探针过程时遭受二次污染的机会。
本实用新型解决问题的技术手段：
一种具有探针清洁功能的点测机，包含：
一工作盘，该工作盘的顶面用以承放一待测物；
至少一探针，设置于该工作盘的顶面上方；
一吹气装置，设置于该工作盘的一侧，以朝平行于该工作盘的一第一方向产生一气流；以及
一集尘装置，设置于该工作盘的一侧，以接收该第一方向的该气流。
上述的具有探针清洁功能的点测机，其中还包含一本体，其中该工作盘及该探针安装于该本体上。
上述的具有探针清洁功能的点测机，其中还包含一控制结构，用以控制该工作盘的上下左右位移。
上述的具有探针清洁功能的点测机，其中该待测物为一发光二极管芯片。
上述的具有探针清洁功能的点测机，其中还包含一太阳能板，设置于该工作盘的顶面上方，以接收该发光二极管芯片所产生的光线。
上述的具有探针清洁功能的点测机，其中该集尘装置内部具有一集尘袋，以过滤该气流所带走的脏污。
上述的具有探针清洁功能的点测机，其中该集尘装置内部具有一抽气机，以朝该第一方向抽取该气流。
上述的具有探针清洁功能的点测机，其中该吹气装置与该集尘装置间隔一清洁空间，用以容纳该探针。
本实用新型对照现有技术的功效：
相较于现有的点测机，本实用新型利用一吹气装置与一集尘装置，达到可靠的非接触式清洁，探针上的脏污不易散播到他处，且也可避免探针于清洁过程中因接触而产生的二次污染。
以下结合附图和具体实施例对本实用新型进行详细描述，但不作为对本实用新型的限定。
附图说明
图1为本实用新型的具有探针清洁功能的点测机结构图；以及
图2为集尘装置的剖视图。
其中，附图标记
工作盘11
顶面111
探针13
吹气装置14
集尘装置15
集尘袋151
控制结构16
太阳能板17
待测物200
第一方向S1
气流F
清洁空间A
具体实施方式
本实用新型涉及一种点测机，尤其涉及一种具有探针清洁功能的点测机。以下兹列举一较佳实施例以说明本实用新型，然本领域技术人员均知此仅为一举例，而并非用以限定实用新型本身。有关此较佳实施例的内容详述如下。
请参阅图1与图2，图1为本实用新型的具有探针清洁功能的点测机结构图，图2为集尘装置的剖视图。本实用新型揭露一种具有探针清洁功能的点测机，该点测机包含工作盘11、至少一探针13、吹气装置14以及集尘装置15。
工作盘11的顶面111是用以承放一待测物200；其中，于本实用新型的一较佳实施例中，该待测物200是可以为一发光二极管芯片。
探针13设置于工作盘11的顶面111上方。
吹气装置14设置于该工作盘11的一侧，以朝平行于该工作盘11的一第一方向S1产生一气流F。
集尘装置15是设置于该工作盘11的一侧，以接收该第一方向S1的该气流F；其中，于本实用新型的一较佳实施例中，该集尘装置15内部还以具有一集尘袋151，以过滤该气流F所带走的脏污；更进一步，该集尘装置15内部是具有一抽气机，以朝该第一方向S1抽取该气流F。
于本实用新型的一较佳实施例中，点测机可以另外包含一本体，其中该工作盘11及该探针13是安装于该本体上。
于本实用新型的一较佳实施例中，点测机可以另外包含控制结构16，控制结构16是用以控制该工作盘11的上下左右位移；在点测过程中，若判定探针13需要进行清洁，控制结构16即可控制该工作盘11移动，使探针13受吹气装置14所产生的气流F吹拂，藉以将探针13上的脏污吹掉，并利用集尘装置15接收带有脏污的气流F；于本实用新型的一较佳实施例中，其中该吹气装置14与该集尘装置15间隔一清洁空间A，用以容纳该探针13，当探针13需要进行清洁时，控制结构16即可控制该工作盘11移动，使探针13处于清洁空间A中。
于本实用新型的一较佳实施例中，点测机还可以包含一太阳能板17，是设置于该工作盘11的顶面111上方，以接收待测物200例如发光二极管芯片所产生的光线。
综合以上所述，相较于现有的点测机，本实用新型利用一吹气装置14与一集尘装置15，达到可靠的非接触式清洁，探针13上的脏污不易散播到他处，且也可避免探针13于清洁过程中因接触而产生的二次污染。
当然，本实用新型还可有其它多种实施例，在不背离本实用新型精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本实用新型作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本实用新型所附的权利要求的保护范围。

Claims (8)

1.一种具有探针清洁功能的点测机，其特征在于，包含：
一工作盘，该工作盘的顶面用以承放一待测物；
至少一探针，设置于该工作盘的顶面上方；
一吹气装置，设置于该工作盘的一侧，以朝平行于该工作盘的一第一方向产生一气流；以及
一集尘装置，设置于该工作盘的一侧，以接收该第一方向的该气流。
2.根据权利要求1所述的具有探针清洁功能的点测机，其特征在于，还包含一本体，其中该工作盘及该探针安装于该本体上。
3.根据权利要求1所述的具有探针清洁功能的点测机，其特征在于，还包含一控制结构，用以控制该工作盘的上下左右位移。
4.根据权利要求1所述的具有探针清洁功能的点测机，其特征在于，该待测物为一发光二极管芯片。
5.根据权利要求4所述的具有探针清洁功能的点测机，其特征在于，还包含一太阳能板，设置于该工作盘的顶面上方，以接收该发光二极管芯片所产生的光线。
6.根据权利要求1所述的具有探针清洁功能的点测机，其特征在于，该集尘装置内部具有一集尘袋，以过滤该气流所带走的脏污。
7.根据权利要求1所述的具有探针清洁功能的点测机，其特征在于，该集尘装置内部具有一抽气机，以朝该第一方向抽取该气流。
8.根据权利要求1所述的具有探针清洁功能的点测机，其特征在于，该吹气装置与该集尘装置间隔一清洁空间，用以容纳该探针。
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