CN202210138U - 用于打印耗材芯片的测试机、写码机以及写码/测试一体机 - Google Patents
用于打印耗材芯片的测试机、写码机以及写码/测试一体机 Download PDFInfo
- Publication number
- CN202210138U CN202210138U CN2011202937580U CN201120293758U CN202210138U CN 202210138 U CN202210138 U CN 202210138U CN 2011202937580 U CN2011202937580 U CN 2011202937580U CN 201120293758 U CN201120293758 U CN 201120293758U CN 202210138 U CN202210138 U CN 202210138U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- probe
- chip
- pcb board
- probe card
- socket
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 73
- 238000007639 printing Methods 0.000 title description 9
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 234
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 52
- 238000004804 winding Methods 0.000 claims description 52
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 36
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 36
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 36
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 abstract description 5
- 238000003466 welding Methods 0.000 abstract description 3
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 12
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000003044 adaptive effect Effects 0.000 description 3
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 3
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 3
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 238000005086 pumping Methods 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000012467 final product Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 239000000047 product Substances 0.000 description 1
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011669 selenium Substances 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
本实用新型提供一种芯片测试机，包括测试主板；探针板，探针板上设有多个探针孔；PCB板，PCB板相对探针板固定，PCB板上具有与多个探针孔在铅垂方向一一对应的通孔；一组探针，每一探针对应地分别穿过并固定在一个探针孔及一个通孔上，且探针的下端伸出探针板的下表面；排线座，固定在PCB板上，每一探针通过PCB板敷铜线连接至排线座；排插，排插与测试主板的输入/输出端连接，排插与排线座相适配。还提供了相似结构的芯片写码机以及芯片写码/测试一体机。其三者均利用PCB板的敷铜线将探针与主板排线之间的焊接连接转换成排插、排线座的插接方式，使得连接可靠、操作简单，易于维护。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片加工设备，尤其是对打印耗材芯片进行测试的测试机，对打印耗材芯片进行写码的写码机以及写码/测试一体机。
背景技术
打印耗材指的是打印机所用的消耗性产品，如：喷墨打印机上使用的墨盒和墨水，激光打印机上使用的碳粉盒、碳粉，等等。
目前，打印机的打印耗材上大多设有用于供打印机主控制器进行识别及与打印机主控制器进行通讯的芯片。通常，芯片内存储有打印耗材的生产日期、制造厂商、设备代码等出厂信息，还存储并更新打印过程中打印耗材的消耗量、记录打印页数等数据。常见的有，墨盒芯片、碳粉盒芯片或硒鼓芯片等。
在打印耗材芯片的生产过程中，通常需要通过写码机将程序写入芯片中，通过测试机对制作好的芯片进行测试，以验证芯片是否合格。写码机和测试机可分别制作成独立的机体，也可制作成写码/测试一体机。一般，写码机内含有测试功能，因为写码机将程序写入芯片后，再读出，以验证是否写码成功。而测试机，只是读出芯片内的数据，以验证芯片能否正常通信。
大批量进行芯片生产时，为了提高写码和测试效率，通常采用多路写码机和多路测试机。多路写码机可同时对多片芯片分别写码，多路测试机可同时对多片芯片分别测试。
参见图1，图1示出了现有的一种多路写码/测试一体机的结构。其包括一个控制箱1，控制箱1内设有具有写码和测试功能的主板，在控制箱壳体上安装有LED显示屏3、模式及开关按钮2。还包括一连接架5，用于实现待测的芯片4与主板的电连接。连接架5由起固定支撑作用的竖板以及通过一调节阀6活动连接竖板的活动支架组成，活动支架可相对于控制箱工作面上、下移动。活动支架上可拆卸地固定一探针板7，探针板7上安插若干探针。探针的上端通过排线8与主板电连接，探针的下端从探针板7下表面向下伸出，以便于与放置在工作面上的芯片4的触点对应地电连接。当探针板7随着活动支架向下移动时，探针的下端与芯片4上的触点慢慢靠近，最后接触连接。从而芯片4与主板之间电连接，启动写码/测试按钮2，可对芯片4进行写码/测试，LED显示屏3上显示工作状态以及测试结果。
参见图2，图2示出了图1中探针板7的平面结构图。探针板7为一块矩形板，其上设有多个探针孔71，以及安装孔72。
参见图3，图3示出图1中探针板7上安装探针9的结构图。探针9穿过探针孔并固定其中，探针9的上端焊接排线8的引线，且在探针9与引线的焊接部位设置热缩管10，以保证探针9与引线之间电连接可靠，探针的下端用于与芯片的触点接触。写码/测试过程中，每一根探针对应地连接排线的一根引线、芯片的一个触点。
其实，单独的测试机或者写码机与上述的写码/测试一体机结构相似，只不过控制箱内设置的主板是测试主板或者写码主板。
通常，一片芯片的测试或者写码，少则要用到4个触点，多则用到10个触点。多路同时测试或者写码时，芯片数量多，触点就更多，相应地探针更多。所有的探针都需要与对应地引线焊接，且需要加上热缩管。在探针孔布置较密集的情况下，焊接难度较大。而且，对于维修或者更换新的探针板很不方便。
发明内容
本实用新型的主要目的是提供一种使用可靠、方便维护的芯片测试机；
本实用新型的另一目的是提供一种使用可靠、方便维护的芯片写码机；
本实用新型的还一目的是提供一种使用可靠、方便维护的芯片写码/测试一体机。
为实现上述的主要目的，本实用新型提供的芯片测试机包括测试主板；探针板，探针板上设有多个探针孔；PCB板，PCB板相对探针板固定，PCB板上具有与多个探针孔在铅垂方向一一对应的通孔；一组探针，每一探针对应地分别穿过并固定在一个探针孔及一个通孔上，且探针的下端伸出探针板的下表面；排线座，固定在PCB板上，每一探针通过PCB板敷铜线连接至排线座；排插，排插与测试主板的输入/输出端连接，排插与排线座相适配。
由上述方案可见，探针与测试主板之间的电连接，可通过排插与排线座的插接方式实现。当测试机测试芯片时，芯片的触点与探针接触，排插与排线座插接，测试主板产生的激励信号通过排插、排线座输送至PCB板上的敷铜线，再经过探针，最后到达芯片触点，芯片在激励信号下产生响应信号，响应信号从芯片触点引出，经过探针、敷铜线，再到排线座、插排，最后被测试主板接收，从而实现了测试主板与芯片之间的通信。采用带有敷铜线的PCB板，将探针与排线之间的焊接连接转变成排线座和排插之间的插接连接，使得测试操作方便、可靠。一旦探针板发生损坏，可拔下排插，更换新的探针板以及与其连在一起的探针、PCB板、排线座，使得维护方便。
一个具体的方案是，PCB板为单层敷铜板或者多层敷铜板。若探针数量合适，PCB板可使用单层敷铜板制作出结构合理的敷铜线；若探针数量较大，单层敷铜板会使得敷铜线过于密集，此时采用双层敷铜板较为方便。
本实用新型还提供的芯片写码机包括写码主板；探针板，探针板上设有多个探针孔；PCB板，PCB板相对探针板固定，PCB板上具有与多个探针孔在铅垂方向一一对应的通孔；一组探针，每一探针对应地分别穿过并固定在一个探针孔及一个通孔上，且探针的下端伸出探针板的下表面；排线座，固定在PCB板上，每一探针通过PCB板敷铜线连接至排线座；排插，排插与写码主板的输入/输出端连接，排插与排线座相适配。
本实用新型还提供的芯片写码/测试一体机包括控制主板；探针板，探针板上设有探针孔；PCB板，PCB板相对探针板固定，PCB板上具有与多个探针孔在铅垂方向一一对应的通孔；一组探针，每一探针对应地分别穿过并固定在一个探针孔及一个通孔上，且探针的下端伸出探针板的下表面；排线座，固定在PCB板上，每一探针通过PCB板敷铜线连接至排线座；排插，排插与控制主板的输入/输出端连接，排插与排线座相适配。
本实用新型还提供的芯片写码机和芯片写码/测试一体机，与本实用新型提供的芯片测试机，结构相似，均采用PCB板上设置敷铜线将探针与主板之间的连接转变成排插和排线座的插接方式，使得操作简单、维护方便。
同样的，芯片写码机或者芯片写码/测试机的进一步方案是，PCB板为单层敷铜板或者多层敷铜板。
附图说明
图1是现有芯片写码/测试一体机结构示意图；
图2是图1中探针板的结构示意图；
图3是图1中探针板上安插探针的结构示意图；
图4是本实用新型实施例测试机、写码机和写码/测试一体机的探针板及探针与主板之间的连接结构图；
图5是图4中PCB板的结构图。
以下结合附图及各实施例对本实用新型作进一步说明。
具体实施方式
本实用新型是针对具有相似结构的测试机、写码机和写码/测试一体机的相同部位进行的改进，主要改进点在于探针板上探针与主板之间的连接结构。为了清楚说明本实用新型的改进之处，本实用新型实施例的附图主要示出了改进部位的结构，测试机、写码机和写码/测试一体机其余部分的结构可参见图1，以及背景技术中关于此部分的说明。
芯片测试机实施例
参见图4，图4示出了芯片测试机的探针板及探针与主板之间的连接结构。
芯片测试机，包括测试主板，测试主板输入/输出端通过排线8连接至一排插13；探针板7，其上根据芯片的触点分布情况对应布置多个探针孔71（参见图2）；PCB板14，其置于探针板7的正上方，且其上具有与探针孔在铅垂方向一一对应的通孔，即过孔焊盘；一组探针9，其具有与芯片触点个数一致的数量，每一探针9对应地分别穿过一个探针孔及一个过孔焊盘，且探针9的下端伸出探针板7的下表面。探针9通过焊锡11固定在PCB板14上，且探针9紧固在探针板7上，所以PCB板14相对于探针板7固定。
通常，探针板7上设置的探针孔的直径与探针9的直径相比为相同或略小，以使得探针9紧固在探针板7上，而且探针9的下端用于贴靠在探针板7下表面的位置设置一凸起（图中未示出），用于抵挡在探针板7下表面，防止探针9受到向上的作用力后从探针板7脱出。在测试机使用状态，探针9被芯片触点向上顶起，探针9受向上的作用力影响。
还有一排线座12，其固定于PCB板14上，且排线座12与排插13适配。
参见图5，图5示出了PCB板的详细结构。
PCB板14，其上布置若干过孔焊盘141，且其中一部分过孔焊盘141与排线座12通过敷铜线142连接。连接有敷铜线142的过孔焊盘141，其与探针以及芯片触点一一对应。如此，探针的下端用于与芯片触点对应接触，探针的上端通过过孔焊盘141、敷铜线142连接至排线座12。
可结合图1，芯片测试机，还包括连接架，其上设置芯片安装位，以及活动架，探针板可拆卸地固定在活动支架上且位于芯片安装位的正上方，探针板随着活动支架作上下移动以远离或者靠近芯片安装位。将芯片置于芯片安装位，当探针板靠近芯片时，探针的下端与芯片触点一一对应接触连接，将排插与排线座插接，测试主板即可对芯片进行测试；当探针板远离芯片时，可将芯片取出。
芯片写码机实施例
参见图4，图4示出了芯片写码机的探针板及探针与主板之间的连接结构。
芯片写码机，包括写码主板，写码主板输入/输出端通过排线8连接至一排插13；探针板7，其上根据芯片的触点分布情况对应布置多个探针孔71（参见图2）；PCB板14，其置于探针板7的正上方，且其上具有与探针孔在铅垂方向一一对应的通孔，即过孔焊盘；一组探针9，其具有与芯片触点个数一致的数量，每一探针9对应地分别穿过一个探针孔及一个过孔焊盘，且探针9的下端伸出探针板7的下表面。探针9通过焊锡11固定在PCB板14上，且探针9紧固在探针板7上，所以PCB板14相对于探针板7固定。
通常，探针板7上设置的探针孔的直径与探针9的直径相比为相同或略小，以使得探针9紧固在探针板7上，而且探针9的下端用于贴靠在探针板7下表面的位置设置一凸起（图中未示出），用于抵挡在探针板7下表面，防止探针9受到向上的作用力后从探针板7脱出。在写码机使用状态，探针9被芯片触点向上顶起，探针9受向上的作用力影响。
还有一排线座12，其固定于PCB板14上，且排线座12与排插13适配。
参见图5，图5示出了PCB板的详细结构。
PCB板14，其上布置若干过孔焊盘141，且其中一部分过孔焊盘141与排线座12通过敷铜线142连接。连接有敷铜线142的过孔焊盘141，其与探针以及芯片触点一一对应。如此，探针的下端用于与芯片触点对应接触，探针的上端通过过孔焊盘141、敷铜线142连接至排线座12。
可结合图1，芯片写码机，还包括连接架，其上设置芯片安装位，以及活动架，探针板可拆卸地固定在活动支架上且位于芯片安装位的正上方，探针板随着活动支架作上下移动以远离或者靠近芯片安装位。将芯片置于芯片安装位，当探针板靠近芯片时，探针的下端与芯片触点一一对应接触连接，将排插与排线座插接，写码主板即可与芯片进行通信，将数据写入芯片中，再读出已写入的数据加以验证是否正确，完成写码；当探针板远离芯片时，可将芯片取出。
芯片写码/测试一体机实施例
参见图4，图4示出了芯片写码/测试一体机的探针板及探针与主板之间的连接结构。
芯片写码/测试一体机，包括控制主板，控制主板输入/输出端通过排线8连接至一排插13；探针板7，其上根据芯片的触点分布情况对应布置多个探针孔71（参见图2）；PCB板14，其置于探针板7的正上方，且其上具有与探针孔在铅垂方向一一对应的通孔，即过孔焊盘；一组探针9，其具有与芯片触点个数一致的数量，每一探针9对应地分别穿过一个探针孔及一个过孔焊盘，且探针9的下端伸出探针板7的下表面。探针9通过焊锡11固定在PCB板14上，且探针9紧固在探针板7上，所以PCB板14相对于探针板7固定。
通常，探针板7上设置的探针孔的直径与探针9的直径相比为相同或略小，以使得探针9紧固在探针板7上，而且探针9的下端用于贴靠在探针板7下表面的位置设置一凸起（图中未示出），用于抵挡在探针板7下表面，防止探针9受到向上的作用力后从探针板7脱出。在写码/测试一体机使用状态，探针9被芯片触点向上顶起，探针9受向上的作用力影响。
还有一排线座12，其固定于PCB板14上，且排线座12与排插13适配。
参见图5，图5示出了PCB板的详细结构。
PCB板14，其上布置若干过孔焊盘141，且其中一部分过孔焊盘141与排线座12通过敷铜线142连接。连接有敷铜线142的过孔焊盘141，其与探针以及芯片触点一一对应。如此，探针的下端用于与芯片触点对应接触，探针的上端通过过孔焊盘141、敷铜线142连接至排线座12。
可结合图1，芯片写码/测试一体机，还包括连接架，其上设置芯片安装位，以及活动架，探针板可拆卸地固定在活动支架上且位于芯片安装位的正上方，探针板随着活动支架作上下移动以远离或者靠近芯片安装位。将芯片置于芯片安装位，当探针板靠近芯片时，探针的下端与芯片触点一一对应接触连接，将排插与排线座插接，控制主板即可与芯片进行通信，若选择写码模式，则控制主板向芯片发出写码信号，若选择测试模式，则控制主板向芯片发出测试信号，根据选择模式的不同，可分别对芯片进行写码或测试；当探针板远离芯片时，可将芯片取出。
本实施例采用设有敷铜线的PCB板以及排线座和排插，将探针与排线之间的焊接连接转变为排线座与排插的插接方式，使得探针与主板之间的连接方式易于操作、连接可靠，解决了多路测试或写码过程中，对密集的探针进行焊线的问题。而且，本实施例方便更换探针板，当探针板损坏时，将排插从排线座上拔出，再将探针板从活动支架上拆卸下来，然后将探针板以及与其连在一起的探针、PCB板、排线座等一起换掉，即可，使得维护方便。
上述实施例仅是本实用新型具体的实施方案，实际应用时还可以有更多的变化，例如，PCB板采用双层敷铜板，以用于探针数量较密集的情况；或者，PCB板叠放于探针板上，PCB板与探针板无间隙，这一点并不影响技术效果，这些改变同样可以实现本实用新型的目的。
Claims (6)
1.芯片测试机，包括
测试主板；
探针板，所述探针板上设有多个探针孔；
其特征在于：
PCB板，所述PCB板相对所述探针板固定，所述PCB板上具有与所述多个探针孔在铅垂方向一一对应的通孔；
一组探针，每一探针对应地分别穿过并固定在一个所述探针孔及一个所述通孔上，且所述探针的下端伸出所述探针板的下表面；
排线座，固定在所述PCB板上，所述每一探针通过所述PCB板敷铜线连接至所述排线座；
排插，所述排插与所述测试主板的输入/输出端连接，所述排插与所述排线座相适配。
2.根据权利要求1所述的芯片测试机，其特征在于：
所述PCB板为单层敷铜板或者多层敷铜板。
3.芯片写码机，其特征在于：
写码主板；
探针板，所述探针板上设有多个探针孔；
其特征在于：
PCB板，所述PCB板相对所述探针板固定，所述PCB板上具有与所述多个探针孔在铅垂方向一一对应的通孔；
一组探针，每一探针对应地分别穿过并固定在一个所述探针孔及一个所述通孔上，且所述探针的下端伸出所述探针板的下表面；
排线座，固定在所述PCB板上，所述每一探针通过所述PCB板敷铜线连接至所述排线座；
排插，所述排插与所述写码主板的输入/输出端连接，所述排插与所述排线座相适配。
4.根据权利要求3所述的芯片写码机，其特征在于：
所述PCB板为单层敷铜板或者多层敷铜板。
5.芯片写码/测试一体机，其特征在于：
控制主板；
探针板，所述探针板上设有探针孔；
PCB板，所述PCB板相对所述探针板固定，所述PCB板上具有与所述多个探针孔在铅垂方向一一对应的通孔；
一组探针，每一探针对应地分别穿过并固定在一个所述探针孔及一个所述通孔上，且所述探针的下端伸出所述探针板的下表面；
排线座，固定在所述PCB板上，所述每一探针通过所述PCB板敷铜线连接至所述排线座；
排插，所述排插与所述控制主板的输入/输出端连接，所述排插与所述排线座相适配。
6.根据权利要求5所述的芯片写码/测试一体机，其特征在于：
所述PCB板为单层敷铜板或者多层敷铜板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN2011202937580U CN202210138U (zh) | 2011-08-12 | 2011-08-12 | 用于打印耗材芯片的测试机、写码机以及写码/测试一体机 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN2011202937580U CN202210138U (zh) | 2011-08-12 | 2011-08-12 | 用于打印耗材芯片的测试机、写码机以及写码/测试一体机 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN202210138U true CN202210138U (zh) | 2012-05-02 |
Family
ID=45989682
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN2011202937580U Expired - Fee Related CN202210138U (zh) | 2011-08-12 | 2011-08-12 | 用于打印耗材芯片的测试机、写码机以及写码/测试一体机 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN202210138U (zh) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106597255A (zh) * | 2016-12-19 | 2017-04-26 | 山东浪潮商用系统有限公司 | 一种税控盘核心板功能测试方法及烧录工装 |
| WO2018188169A1 (zh) * | 2017-04-13 | 2018-10-18 | 广州众诺电子技术有限公司 | 识别头 |
| CN110865295A (zh) * | 2019-10-30 | 2020-03-06 | 武汉光庭信息技术股份有限公司 | 一种板载ic管脚信号测试治具 |
| CN111273059A (zh) * | 2018-12-05 | 2020-06-12 | 西华大学 | 一种邮票孔封装模块测试底板 |
| CN112185926A (zh) * | 2020-09-10 | 2021-01-05 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 芯片焊盘引出装置及方法 |
| CN112757783A (zh) * | 2020-04-24 | 2021-05-07 | 珠海艾派克微电子有限公司 | 耗材容器的包装件 |
-
2011
- 2011-08-12 CN CN2011202937580U patent/CN202210138U/zh not_active Expired - Fee Related
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106597255A (zh) * | 2016-12-19 | 2017-04-26 | 山东浪潮商用系统有限公司 | 一种税控盘核心板功能测试方法及烧录工装 |
| WO2018188169A1 (zh) * | 2017-04-13 | 2018-10-18 | 广州众诺电子技术有限公司 | 识别头 |
| CN111273059A (zh) * | 2018-12-05 | 2020-06-12 | 西华大学 | 一种邮票孔封装模块测试底板 |
| CN110865295A (zh) * | 2019-10-30 | 2020-03-06 | 武汉光庭信息技术股份有限公司 | 一种板载ic管脚信号测试治具 |
| CN112757783A (zh) * | 2020-04-24 | 2021-05-07 | 珠海艾派克微电子有限公司 | 耗材容器的包装件 |
| CN112757783B (zh) * | 2020-04-24 | 2022-04-01 | 珠海艾派克微电子有限公司 | 耗材容器的包装件 |
| CN112185926A (zh) * | 2020-09-10 | 2021-01-05 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 芯片焊盘引出装置及方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN202210138U (zh) | 用于打印耗材芯片的测试机、写码机以及写码/测试一体机 | |
| KR101147677B1 (ko) | 시험 시스템 및 시험용 기판 유닛 | |
| GB2562182A (en) | Baseboard, extension module, and structure for connecting baseboard and extension module | |
| CN102981129A (zh) | 电源测试工具 | |
| CN102175946A (zh) | 用于生产测试的治具 | |
| CN104374955A (zh) | 测试软性电路基板电性能的bbt夹具 | |
| CN202083776U (zh) | 用于打印耗材芯片的测试针板及测试机 | |
| JP2008309786A (ja) | プローブ及びプローブ組立体、並びにこれを有するプローブカード | |
| CN102950901B (zh) | 一种喷墨墨盒组及其装机检测方法 | |
| US20190064220A1 (en) | Vertical probe array having a tiled membrane space transformer | |
| CN212484339U (zh) | 芯片数据写入及测试装置 | |
| TW202111327A (zh) | 檢測裝置及使用該檢測裝置之檢測方法 | |
| CN202693715U (zh) | 线束测试装置 | |
| KR20080111775A (ko) | 등선형 니들을 사용한 프로브 카드 | |
| JP5351151B2 (ja) | 試験システム | |
| WO2009130793A1 (ja) | 試験システムおよびプローブ装置 | |
| CN206020473U (zh) | 一种用于fpc电性能测试的连接装置 | |
| JP4232665B2 (ja) | 回路検査装置および回路検査方法 | |
| JP2004138552A (ja) | Ｉｃソケット | |
| CN219658114U (zh) | 适用于多功能主板的测试装置 | |
| CN113067929B (zh) | oncell手机屏触摸功能故障维修方法 | |
| KR102548942B1 (ko) | 멀티 핀 테스트장치 | |
| KR101016389B1 (ko) | 프로브 구조물 | |
| CN212083601U (zh) | 一种音频板卡测试装置的架构 | |
| CN215728274U (zh) | 检测连接装置及检测设备 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20120502 Termination date: 20160812 |