CN106597255A - 一种税控盘核心板功能测试方法及烧录工装 - Google Patents

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赵全良
孙戈红
步秀芝
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    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2803Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP] by means of functional tests, e.g. logic-circuit-simulation or algorithms therefor
    • GPHYSICS
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    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
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Abstract

本发明提供一种税控盘核心板功能测试方法及烧录工装,属于核心板功能测试领域,本发明通过使用线束将税控收款机主板的核心板母排与探针连接,通过将待测试的核心板放入工装内与探针压接,利用税控收款机主板上的简易功能测试程序对核心板进行功能测试,当测试结果全部OK时,进行核心板主程序烧录。如功能测试过程中出现NG情况,税控收款机主板上的蜂鸣器将报警提示。

Description

一种税控盘核心板功能测试方法及烧录工装
技术领域
本发明涉及核心板功能测试技术,尤其涉及一种税控盘核心板功能测试方法及烧录工装。
背景技术
浪潮TCG-01S串口盘在没有使用该工装生产时,需要将核心板与主板合板后进行税控盘主程序烧录,然后运行税控盘的主程序模拟正常使用来进行功能测试,耗时较长,且需占用多台电脑进行测试。当发现核心板有问题时,拆卸核心板容易造成芯片等关键器件损坏,产生质量隐患,同时造成较多的工时损失。
发明内容
为了解决以上技术问题,本发明提出了一种税控盘核心板功能测试方法;通过设定好的简易功能测试程序自动对核心板进行功能测试,测试完毕后自动将税控盘主程序烧录核心板,满足高效测试的要求,避免因核心板质量问题返工。
本发明的技术方案是:
一种税控盘核心板功能测试方法,
测试时,首先将待测试的核心板放在工装模板上,使核心板的插针与模板的探针接触良好后,压好盖板;
打开控制该核心板的专用供电开关,核心板加电后就开始运行简易功能测试程序,快速完成功能检测;
检测过程如果所有项目全部OK时,直接开始往核心板烧录税控盘主程序,程序烧录完毕蜂鸣器长鸣提示;
检测过程如果有任一项目出现NG情况,立刻终止功能测试并蜂鸣器长鸣提示。
本发明还公开了一种税控盘核心板功能测试烧录工装,
包括工装框架,在工装框架上铣出孔位,将核心板的插针位置打好定位探针;工装框架的前面设为测试操作部分,后面设为液晶屏显示固定部分;液晶屏显示固定部分与测试操作部分相垂直设置;
采用自动化程序烧录,使用税控机主板作为工装测试系统运行载体;税控收款机主板上设有报警提示用的蜂鸣器;
使用线缆将工装框架上的探针和税控收款机主板的母排位置连接起来,将税控机主板固定在工装框架壳体内,把税控收款机主板的供电电路接到工装表面的电源开关,通过主板供电电路的通断来控制核心板功能测试和程序烧录的开启和关闭;
操作部分使用探针与核心板插针进行接触,探针上方为核心板放置区域,并设有用来固定核心板的压板。
通过设计简易功能测试程序,用于批量自动化的对浪潮TCG-01S税控盘的核心板进行功能测试,各项功能测试完毕后烧录税控盘主程序。如前期功能测试有异常,会直接停止测试并通过蜂鸣器报警,减少人工测试造成的工时损失,提高生产效率。
本发明的有益效果是
有效解决了使用原来主程序对核心板进行功能测试导致测试工时较长的弊端,可以快速高效完成功能测试,效率提升8倍。节省了原来核心板拆卸造成的质量隐患,并大大降低了操作难度。
附图说明
图1是烧录工装的立体示意图。
具体实施方式
下面对本发明的内容进行更加详细的阐述:
使用10mm厚度电木板制作该工装的框架部分,前面为测试操作部分,后面为液晶屏显示固定部分。
通过精确定位,铣出相应孔位,将核心板的插针位置打好定位探针,通过使用线缆将工装上的探针和税控收款机主板的母排位置连接起来,将税控机主板固定在工装壳体内,把主板的供电电路接到工装表面的电源开关,通过主板供电电路的通断来控制核心板功能测试和程序烧录的开启和关闭。
探针上方为核心板放置区域,有压板来固定核心板。
测试时,首先将待测试的核心板放在工装模板上,使核心板的插针与模板的探针接触良好后,压好盖板。打开控制该核心板的专用供电开关,核心板加电后就开始运行简易功能测试程序,快速完成功能检测。检测过程如果所有项目OK,直接开始往核心板烧录税控盘主程序,程序烧录完毕蜂鸣器长鸣提示。检测过程如果有任一项目NG,立刻终止功能测试并蜂鸣器长鸣提示。
该工装使用10mm电木板加工箱体,通过合理设计在相应位置开孔放置开关、液晶屏、穿线孔,通过精确定位,在核心板下方设置探针,完成不拔插线束进行测试的目的。
通过该工装的使用,有效解决了使用原来主程序对核心板进行功能测试导致测试工时较长的弊端,可以快速高效完成功能测试,效率提升8倍。节省了原来核心板拆卸造成的质量隐患,并大大降低了操作难度。

Claims (3)

1.一种税控盘核心板功能测试方法,其特征在于,
测试时,首先将待测试的核心板放在工装模板上,使核心板的插针与模板的探针接触良好后,压好盖板;
打开控制该核心板的专用供电开关,核心板加电后就开始运行简易功能测试程序,快速完成功能检测;
检测过程如果所有项目全部OK时,直接开始往核心板烧录税控盘主程序,程序烧录完毕蜂鸣器长鸣提示;
检测过程如果有任一项目出现NG情况,立刻终止功能测试并蜂鸣器长鸣提示。
2.一种税控盘核心板功能测试烧录工装,其特征在于,
包括工装框架,在工装框架上铣出孔位,将核心板的插针位置打好定位探针;工装框架的前面设为测试操作部分,后面设为液晶屏显示固定部分;液晶屏显示固定部分与测试操作部分相垂直设置;
采用自动化程序烧录,使用税控机主板作为工装测试系统运行载体;税控收款机主板上设有报警提示用的蜂鸣器;
使用线缆将工装框架上的探针和税控收款机主板的母排位置连接起来,将税控机主板固定在工装框架壳体内,把税控收款机主板的供电电路接到工装表面的电源开关,通过主板供电电路的通断来控制核心板功能测试和程序烧录的开启和关闭;
操作部分使用探针与核心板插针进行接触,探针上方为核心板放置区域,并设有用来固定核心板的压板。
3.根据权利要求2所述的烧录工装,其特征在于,
工装框架采用10mm厚度的电木板制成。
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN201662607U (zh) * 2010-01-25 2010-12-01 航天信息股份有限公司 税控收款机主板测试装置
CN202210138U (zh) * 2011-08-12 2012-05-02 珠海天威技术开发有限公司 用于打印耗材芯片的测试机、写码机以及写码/测试一体机
CN103454575A (zh) * 2013-09-06 2013-12-18 福州瑞芯微电子有限公司 用于实现pcba板测试的系统、pcba板及方法
CN105390163A (zh) * 2015-12-15 2016-03-09 深圳佰维存储科技有限公司 Emmc测试装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN201662607U (zh) * 2010-01-25 2010-12-01 航天信息股份有限公司 税控收款机主板测试装置
CN202210138U (zh) * 2011-08-12 2012-05-02 珠海天威技术开发有限公司 用于打印耗材芯片的测试机、写码机以及写码/测试一体机
CN103454575A (zh) * 2013-09-06 2013-12-18 福州瑞芯微电子有限公司 用于实现pcba板测试的系统、pcba板及方法
CN105390163A (zh) * 2015-12-15 2016-03-09 深圳佰维存储科技有限公司 Emmc测试装置

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