CN202014257U - 数字ic测试系统的时序产生电路 - Google Patents

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林康生
陈品霞
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Abstract

本实用新型一种数字IC测试系统的时序产生电路，包括SPLIT选择器，32位可编程计数器，时间设定寄存器，32位比较器，精确时间调整电路，晶振，脉冲输出口。其特征在于：主晶振产生时钟信号，作为32位计数器的计数脉冲，计数周期即为测试一位向量的持续时间，32位比较器将计数器当前值与寄存器中的数值进行比较，当两者数值相等时，比较器输出为高电平，脉冲出现的周期即为计数周期，改变比较器输入寄存器中的数值就可以改变比较器输出脉冲相对于计数器溢出脉冲的相位关系，电路各种时钟信号决定了测试向量的周期和时间精度，这些时钟信号一部分形成主控制模块的工作时钟，另一部分提供给向量合成模块，作为测试向量时间调制信号或DUT输出信号的采样时钟以及向量合成模块的同步工作时钟。内部的独立设置时钟提高向量存储器的利用率和测试效率，独立的时序电路模块设计，可产生更为精确的控制时钟、同步脉冲。

Description

数字IC测试系统的时序产生电路
技术领域
本实用新型一种数字IC测试系统的时序产生电路，为数字集成电路测试系统提供一个用于向量产生和比较的硬件平台。
背景技术
不管数字集成电路功能有多复杂，工作在多高的电压，都可以将其看作一个二值逻辑器件。因此现在大多数测试方法，不管是故障定位还是功能测试，都需要测试向量的输入，而数字集成电路测试系统实际上就是一个用于向量产生和比较的硬件平台。
发明内容
本实用新型的目的是提供一种数字IC测试系统的时序产生电路，可产生精确的控制时钟和同步脉冲。
本实用新型采用以下方案实现：一种数字IC测试系统的时序产生电路，包括SPLIT选择器，32位可编程计数器，两个时间设定寄存器，两个32位比较器，两个精确时间调整电路，主时钟晶振，脉冲输出口；其特征在于：所述的主时钟晶振与所述的32位可编程计数器连接；所述的32位可编程计数器的输出端与两个32位比较器连接；所述两个32位比较器分别经所述精确时间调整电路与所述脉冲输出口连接；所述的脉冲输出口连接有向量发生器和向量合成模块；所述的两个32位比较器的输入端还分别连接有所述时间设定寄存器；所述的时间设定寄存器的输入端分别与所述SPLIT选择器连接。
在本实用新型一实施例中，该时序产生电路内设了8组时间能独立设置的时钟，测试时能在不同的8组时钟间任意切换。
本实用新型内部的独立设置时钟提高向量存储器的利用率和测试效率，独立的时序电路模块设计，可产生更为精确的控制时钟、同步脉冲。
附图说明
图1为数字IC测试系统的时序产生电路框图。
具体实施方式
主晶振产生时钟信号，作为32位计数器的计数脉冲，计数周期即为测试一位向量的持续时间，32位比较器将计数器当前值与寄存器中的数值进行比较，当两者数值相等时，比较器输出为高电平，脉冲出现的周期即为计数周期，改变比较器输入寄存器中的数值就可以改变比较器输出脉冲相对于计数器溢出脉冲的相位关系，电路各种时钟信号决定了测试向量的周期和时间精度，这些时钟信号一部分形成主控制模块的工作时钟，另一部分提供给向量合成模块，作为测试向量时间调制信号或DUT输出信号的采样时钟以及向量合成模块的同步工作时钟。

Claims (2)

1.一种数字IC测试系统的时序产生电路，包括SPLIT选择器，32位可编程计数器，两个时间设定寄存器，两个32位比较器，两个精确时间调整电路，主时钟晶振，脉冲输出口；其特征在于：所述的主时钟晶振与所述的32位可编程计数器连接；所述的32位可编程计数器的输出端与两个32位比较器连接；所述两个32位比较器分别经所述精确时间调整电路与所述脉冲输出口连接；所述的脉冲输出口连接有向量发生器和向量合成模块；所述的两个32位比较器的输入端还分别连接有所述时间设定寄存器；所述的时间设定寄存器的输入端分别与所述SPLIT选择器连接。
2.根据权利要求1所述的数字IC测试系统的时序产生电路，其特征在于：内设了8组时间能独立设置的时钟，测试时能在不同的8组时钟间任意切换。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105866767A (zh) * 2016-06-12 2016-08-17 无锡海鹰电子医疗系统有限公司 一种超声发射通道延时控制模块

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