CN201680783U - 两点内径千分数显卡尺 - Google Patents
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Abstract
一种属于测量仪器的两点内径千分数显卡尺主要由尺身、可移动夹持架、量爪固定支架、量爪、尺框、数显组件构成。尺身与尺框滑动连接,可移动夹持架与尺身滑动连接,量爪插入量爪固定支架矩形框内,量爪固定支架分别套进可移动夹持架下端的夹持爪和尺框左下端的夹持爪,并分别用支架锁紧螺钉锁紧,数显组件用螺钉与尺框的上端面连接,弹簧套进小轴,小轴两端的螺纹分别与尺框右下端的螺孔和锁紧框左下端的螺孔螺纹连接,锁紧框与尺身滑动连接,栅条与尺身栅槽粘接,锁紧螺钉与尺框上侧面螺纹连接。两点内径千分数显卡尺具有结构紧凑,质量稳定可靠,精度高等优点。可广泛用于机械加工内径孔的精密测量。
Description
所属技术领域
本实用新型涉及一种测量仪器,尤其是一种两点内径千分数显卡尺。
背景技术
目前,对加工精度要求较高的圆孔直径,一般采用三点内径千分尺进行测量。但用三点内径千分尺测量,缺点是只能测出孔平均直径,不能准确测出孔的椭圆度,且因千分尺属旋转运动,测量效率低。
为达到既能提高效率又能高精度测量孔各方向实际直径(包括椭圆度)的目的,本实用新型提供一种结构简单,操作方便,精度高效率亦高的两点内径千分数显卡尺。
本实用新型所采用的技术方案是:两点内径千分数显卡尺主要由尺身、可移动夹持架、量爪固定支架、量爪、尺框、数显组件构成。尺身与尺框滑动连接,可移动夹持架与尺身滑动连接,量爪插入量爪固定支架矩形框内,量爪固定支架分别套进可移动夹持架下端的夹持爪和尺框左下端的夹持爪,并分别用支架锁紧螺钉锁紧,数显组件用螺钉与尺框的上端面连接,弹簧套进小轴,小轴两端的螺纹分别与尺框右下端的螺孔和锁紧框左下端的螺孔螺纹连接,锁紧框与尺身滑动连接,前压板分别置于尺身两端的正面,用半沉头螺钉固定,栅条与尺身栅槽粘接,锁紧螺钉与尺框上侧面螺纹连接。
采用上述方案后,使两点内径千分数显示尺具有结构紧凑,质量稳定可靠,精度高等优点。可广泛用于机械加工内径孔的精密测量。
附图说明
图1为案例一线接触测量的两点内径千分数显示尺结构示意图。
图2为案例二点接触测量的两点内径千分数显卡尺结构示意图。
图3为案例三测量小孔的两点内径千分数显卡尺结构示意图。
图4为测量小孔的两测头A-A剖视图。
图中1.尺身 2.可移动夹持架 3.量爪固定支架 4.量爪 5.尺框 6.支架锁紧螺钉 7.数显组件 8.小轴 9.弹簧 10.锁紧框 11.半沉头螺钉 12.前压板 13.栅条 14.锁紧螺钉 15.球形测头 16.小孔母测头 17.小孔公测头
具体实施方式
案例一
从图1中可看出,尺身1与尺框5滑动连接,可移动夹持架2与尺身1滑动连接,量爪4插入量爪固定支架3矩形框内,量爪固定支架3分别套进可移动夹持架2下端的夹持爪和尺框5左下端的夹持爪,并分别用支架锁紧螺钉6锁紧,数显组件7用螺钉与尺框5的上端面连接,弹簧9套进小轴8,小轴8两端的螺纹分别与尺框5右下端的螺孔和锁紧框10左下端的螺孔螺纹连接,锁紧框10与尺身1滑动连接,前压板12分别置于尺身1两端的正面,用半沉头螺钉11固定,栅条13与尺身1栅槽粘接,锁紧螺钉14与尺框5上侧面螺纹连接。
本案例进行线接触测量,可测量大于2毫米的内孔,其测量的重复误差为0.001毫米。
案例二
从图2中可看出,把案例一中的量爪4换成球形测头15,即可进行点接触测量,可测量大于3毫米的内孔,其测量的重复误差为0.001毫米。
案例三
从图3中可看出,把案例一中的量爪4分别换成小孔母测头16和小孔公测头17,即可测量小于2毫米的内孔,其测量的重复误差为0.001毫米。
Claims (3)
1.一种两点内径千分数显卡尺,它主要由尺身、可移动夹持架、量爪固定支架、量爪、尺框、数显组件构成,其特征是:尺身与尺框滑动连接,可移动夹持架与尺身滑动连接,量爪插入量爪固定支架矩形框内,量爪固定支架分别套进可移动夹持架下端的夹持爪和尺框左下端的夹持爪,并分别用支架锁紧螺钉锁紧,数显组件用螺钉与尺框的上端面连接,弹簧套进小轴,小轴两端的螺纹分别与尺框右下端的螺孔和锁紧框左下端的螺孔螺纹连接,锁紧框与尺身滑动连接,前压板分别置于尺身两端的正面,用半沉头螺钉固定,栅条与尺身栅槽粘接,锁紧螺钉与尺框上侧面螺纹连接。
2.根据权利要求1所述的两点内径千分数显卡尺,它的特征是:进行点接触测量时,把量爪换成球形测头。
3.根据权利要求1所述的两点内径千分数显卡尺,它的特征是:测量小于2毫米的内孔时,把量爪分别换成小孔母测头和小孔公测头。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN102967354A (zh) * | 2012-10-31 | 2013-03-13 | 北京农业信息技术研究中心 | 作物生物量检测装置及检测方法 |
CN107389017A (zh) * | 2017-08-29 | 2017-11-24 | 桂林电子科技大学 | 三点孔径测量仪 |
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Legal Events
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GR01 | Patent grant | ||
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Granted publication date: 20101222 Termination date: 20180506 |