CN201476767U - 引线框架的测试夹具 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种测试设备，尤其涉及一种引线框架的测试夹具。公开了一种引线框架的测试夹具，包括外框和底板，所述外框与所述底板连接并位于所述底板的上方，所述外框是由两条长边和两条短边连接组成的长方形框体，所述长方形框体由隔条分隔出若干矩形的外框槽孔，所述长边的内侧靠近两端处分别设有第一矩形缺口，所述短边的内侧靠近中心处分别设有第二矩形缺口。这种引线框架的测试夹具可以配合三维视频显微镜，实现全面、准确测量引线框架，从而有效提高引线框架的检测效率。另外，在所述测试夹具的底板上对应引线框架每个单元的位置开槽孔，不但可以减轻夹具的自重，还可以使用背光，充分利用光源。

Description

引线框架的测试夹具

技术领域

本实用新型涉及一种测试设备，尤其涉及一种引线框架的测试夹具。

背景技术

引线框架(Lead frame)是封装厂重要的原材料之一，它的标准与否会直接影响到集成电路(IC)的良率和稳定性。因此如何高效准确地判断引线框架是否标准显得尤其重要。目前通常采用手动显微镜(如High Power Microscope，STM6)检查引线框架。检查的时候，需要采用引线框架的测试夹具。现有的引线框架的测试夹具结构，包括底板和外框。所述外框与底板连接，并且，所述外框位于所述底板的上方。所述外框上对应引线框架上的各个芯片单元位置开有相应的矩形槽孔。使用的时候，首先，将外框和底板分离。接着，将引线框架放置于所述底板上。然后，将外框覆盖在装有引线框架的底板上，使得矩形槽孔与引线框架的单元相对应。最后，通过螺栓将外框与所述底板连接。但是这种引线框架的测试夹具只适用于手动显微镜。在检查引线框架时，需要手动选取测量点，手动调整焦距(focus)量测数据，并且还要手动保存数据。由于所有动作都是手动完成，所以存在下列不足：1.手动选取量测点，取点数量受到限制且不易统一；2.手动调整焦距量测数据，因人不同造成数据精准度不同；3.手动保存数据，烦琐；4.耗时长，效率低；以上这种手动检查引线框架的方法不仅浪费大量的人力和时间，且检查过程非常烦琐。因此，改进检查引线框架的方法和提供一种快速、准确地监测引线框架的设备显得非常迫切。

在现有的资源中有一台三维视频显微镜(VIDEO CMM-II 3D Measurement)也是用于量测零件的，同时该设备在建好程序(program)后可以自动量测和保存数据，也可以手动量测，而且该三维视频显微镜倍率也能达到我们检查引线框架的要求。但是要使用这种三维视频显微镜检查引线框架需要具备两个条件：一是需要相应的程序，二是需要固定引线框架的夹具。现有的夹具存在以下不足：1.无法量测引线框架的长度(length)、宽度(Width)、引线框架内长度方向上相邻单元的间隔(unit pitch)、引线框架内长度方向上首尾单元之间的间隔(cumulative strip pitch)和孔径(hole diameter)；2.厚度太厚，重量太重且无法使用背光。

综上所述，如何提供一种合适的测试夹具使之适用于三维视频显微镜，以实现引线框架的全面准确自动测量是本领域技术人员亟待解决的一个技术问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种引线框架的测试夹具，其可以配合三维视频显微镜实现全面、准确地测量引线框架，从而有效提高引线框架的检查效率。

为了达到上述的目的，本实用新型采用如下技术方案：

一种引线框架的测试夹具，包括外框和底板，所述外框与所述底板连接并位于所述底板的上方，所述外框是由两条长边和两条短边连接组成的长方形框体，所述长方形框体由隔条分隔出若干矩形的外框槽孔，所述长边的内侧靠近两端处分别设有第一矩形缺口，所述短边的内侧靠近中心处分别设有第二矩形缺口。

在上述引线框架的测试夹具中，所述外框槽孔中靠近各短边的两个相邻的外框槽孔竖向中心线分别位于各自对应的所述第一矩形缺口的两端内侧。

在上述引线框架的测试夹具中，所述外框槽孔沿所述长边方向排成一排，相邻外框槽孔之间由竖向隔条隔开。

在上述引线框架的测试夹具中，所述外框槽孔中靠近各短边的两个相邻的外框槽孔之间相互连通。

在上述引线框架的测试夹具中，所述外框槽孔沿所述长边方向分成两排，相邻排外框槽孔之间由横向隔条隔开，排内相邻的外框槽孔之间由竖向隔条隔开。

在上述引线框架的测试夹具中，每排外框槽孔中靠近各短边的两个相邻的外框槽孔之间相互连通。

在上述引线框架的测试夹具中，所述外框槽孔均匀分布。

在上述引线框架的测试夹具中，所述底板开有与各所述外框槽孔大小位置相对应的底板槽孔。

在上述引线框架的测试夹具中，所述外框和底板通过螺栓连接。

综上所述，本实用新型引线框架的测试夹具通过在所述外框的两长边的内侧靠近两端处分别设有第一矩形缺口，以便于测量引线框架内相邻单元的间隔、引线框架内长度方向上首、尾单元之间的间隔、引线框架的宽度以及引线框架的孔径；通过在所述短边的内侧靠近中心处分别设有第二矩形缺口，以便于测量引线框架的长度。从而可以配合三维视频显微镜，实现全面准备地测量所述引线框架。

另外，在所述测试夹具的底板上对应引线框架每个单元的位置开槽孔，不但可以减轻夹具的自重，还可以使用背光，充分利用光源。

附图说明

本实用新型的引线框架的测试夹具由以下的实施例及附图给出。

图1是本实用新型引线框架的测试夹具的外框的结构示意图；

图2是本实用新型引线框架的测试夹具的底板的结构示意图；

图中，1-外框，10-外框槽孔，11-长边，111-第一矩形缺口，12-短边，121-第二矩形缺口，13-横向隔条，14-竖向隔条，15-螺栓孔，2-底板，20-底板槽孔，25-螺栓孔，3-引线框架。

具体实施方式

以下将对本实用新型的引线框架的测试装置作进一步的详细描述。

下面将参照附图对本实用新型进行更详细的描述，其中表示了本实用新型的优选实施例，应该理解本领域技术人员可以修改在此描述的本实用新型而仍然实现本实用新型的有利效果。因此，下列描述应当被理解为对于本领域技术人员的广泛知道，而并不作为对本实用新型的限制。

为了清楚，不描述实际实施例的全部特征。在下列描述中，不详细描述公知的功能和结构，因为它们会使本实用新型由于不必要的细节而混乱。应当认为在任何实际实施例的开发中，必须作出大量实施细节以实现开发者的特定目标，例如按照有关系统或有关商业的限制，由一个实施例改变为另一个实施例。另外，应当认为这种开发工作可能是复杂和耗费时间的，但是对于本领域技术人员来说仅仅是常规工作。

为使本实用新型的目的、特征更明显易懂，下面结合附图对本实用新型的具体实施方式作进一步的说明。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比率，仅用以方便、明晰地辅助说明本实用新型实施例的目的。

请参阅图1和图2，图1是现有的引线框架的测试夹具的外框1的结构示意图；图2是引线框架的测试夹具的底板2的结构示意图。这种引线框架的测试夹具，包括外框1和底板2。所述外框1设置于所述底板2的上方。所述外框1和底板2通过螺栓连接。所述外框1是由两条长边11和两条短边12连接组成的长方形框体。所述外框1上设有若干矩形的外框槽孔10，相邻外框槽孔10之间由隔条分开，所述外框槽孔10分别与设于所述引线框架3上的用于放置芯片的单元大小位置相对应。

本实施例中，所述外框槽孔10沿所述长边11方向分成两排，相邻排外框槽孔10之间由横向隔条13隔开，排内相邻的外框槽孔10之间由竖向隔条14隔开。且每排外框槽孔10中靠近各短边12的两个相邻的外框槽孔10之间分别相互连通，即中间的竖向隔条14拆除。当然，所述外框槽孔10沿所述长边11方向可以排成一排或三排以上。

这两条长边11的内侧靠近两端处分别设有第一矩形缺口111，藉此可以便于测量首尾单元的间隔、引线框架3的宽度以及引线框架的孔径。所述外框槽孔10中靠近各短边12的两个相邻的外框槽孔10的竖向中心线分别位于各自对应的所述第一矩形缺口111的两端内侧，藉此可以便于测量引线框架3内相邻单元的间隔。

所述短边12的内侧靠近中心处分别设有第二矩形缺口121，藉此可以便于测量引线框架3的长度。

所述底板2可以不开孔，也可以开孔。本实施例中，所述底板2开有与各所述外框槽孔10大小位置相对应的底板槽孔20。如此，不但可以减轻测试夹具的自重，还可以藉由所述底板槽孔20充分利用背光光源。

本实用新型引线框架3的测试夹具的使用方法如下：

先打开与测试装置(如三维视频显微镜)相连的计算机，打开程序，准备测试。

然后，将引线框架3放到测试夹具中。具体操作方法如下：先将连接外框1和底板2的螺栓拧开，将外框1与底板2分离；然后，将该引线框架3平放在两者之间，使得引线框架3上用于放置芯片的单元分别与外框1中的外框槽孔10相对应；最后，采用螺栓将外框1和底板2相互连接。

接着，将装有引线框架3的测试夹具放到所述三维视频显微镜的操作平台(载物台)上，确保引线框架3的边缘与在载物台上的定位件紧密接触，供测试装置对该引线框架3进行测量。通过第一矩形缺口111，可以测量该引线框架3内相邻单元的间隔、首尾单元的间隔及该引线框架3的两端的宽度。通过第二矩形缺口121，可以测量该引线框架的长度。

在程序方面，我们对每种类型的引线框架3新建一个对应的程序，用于量测相关数据。

1.编辑程序：

a  将要测量的引线框架3固定在载物台的同一位置上，从而使程序简化和测量准确。

b调整焦距使图像清晰，调整灯光使图像具有好的对比度，选择合适的点收集(point collector)和构建(cons tructor)确保试样测量的准确性。

在执行完测量操作后，点标题栏中文件下的程序保存命令(File\save program)保存该操作程序。

2.引线框架3的自动测量方法：

a进入主界面

b选标题栏中文件下的程序保存命令(File\Open program)，在C:盘下的文件夹“Vcmm2”下的文件夹“programs”(Disk(C:)\Vcmm2\programs)的目录中打开要执行的程序；

c把引线框架3放到操作平台上并与定位件件对齐，确保引线框架3边缘与载物台上面的定位件的定位面紧密接触，，

d选标题栏中VCL script\RUN，在确认框架左上端位置与十字线(CROSSHAIR)对齐后点‘OK’开始测量；如果十字线与引线框架3边缘不能重合，手动调节使之重合，点“OK”，开始测量。(图1Lead frame基准点)

e测量结束后，可以选标题栏中Result\save workbook保存测量结果。(图2data保存界面)

以下是采用本实用新型引线框架的测试夹具的测试方法与现有的测试方法之间的对比，如表一所示。引线框架测试前后的对比。

表一

测试装置型号	单元点数	精准度	时间	一天	一个月	一年
							High Power Microscope(STM6)	4颗	有人为差异	4分钟/条	360条	1080条	12960条
VIDEO CMM-II 3D Measurement	20颗	无人为差异	2分钟/条	720条	2160条	25920条

从表一可见，采用现有的引线框架的测试夹具的显微镜仅可以手动选择四个单元进行测量，而采用本实用新型中的引线框架的测试夹具的3D视频显微镜可以选择更多的单元进行测量，如本实施例可以选择20个，每个单元都可以测量。在精准度方面，由于自动代替手动操作，所以防止了人为差异。因此，相比现有的测试方法精准度更高。另外，从表一可见，引线框架的测试效率也提高了一倍，从原来的4分钟/条降到了2分钟/条。

综上所述，本实用新型引线框架的测试夹具通过在所述外框的两长边的内侧靠近两端处分别设有第一矩形缺口，以便于测量引线框架内相邻单元的间隔、引线框架内长度方向上首、尾单元之间的间隔、引线框架的宽度以及引线框架的孔径；通过在所述短边的内侧靠近中心处分别设有第二矩形缺口，以便于测量引线框架的长度。从而，实现全面准备地测量所述引线框架。另外，在所述测试夹具的底板上对应引线框架每个单元的位置开槽孔，不但可以减轻夹具的自重，还可以使用背光，充分利用光源。

显然，本领域的技术人员可以对本实用新型进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样，倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内，则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (9)

1.一种引线框架的测试夹具，包括外框和底板，所述外框与所述底板连接并位于所述底板的上方，所述外框是由两条长边和两条短边连接组成的长方形框体，所述长方形框体由隔条分隔出若干矩形的外框槽孔，其特征在于，所述长边的内侧靠近两端处分别设有第一矩形缺口，所述短边的内侧靠近中心处分别设有第二矩形缺口。

2.如权利要求1所述的引线框架的测试夹具，其特征在于，所述外框槽孔中靠近各短边的两个相邻的外框槽孔竖向中心线分别位于各自对应的所述第一矩形缺口的两端内侧。

3.如权利要求1所述的引线框架的测试夹具，其特征在于，所述外框槽孔沿所述长边方向排成一排，相邻外框槽孔之间由竖向隔条隔开。

4.如权利要求3所述的引线框架的测试夹具，其特征在于，所述外框槽孔中靠近各短边的两个相邻的外框槽孔之间相互连通。

5.如权利要求1所述的引线框架的测试夹具，其特征在于，所述外框槽孔沿所述长边方向分成两排，相邻排外框槽孔之间由横向隔条隔开，排内相邻的外框槽孔之间由竖向隔条隔开。

6.如权利要求5所述的引线框架的测试夹具，其特征在于，每排外框槽孔中靠近各短边的两个相邻的外框槽孔之间相互连通。

7.如权利要求1所述的引线框架的测试夹具，其特征在于，所述外框槽孔均匀分布。

8.如权利要求1-7中任意一项所述的引线框架的测试夹具，其特征在于，所述底板开有与各所述外框槽孔大小位置相对应的底板槽孔。

9.如权利要求1所述的引线框架的测试夹具，其特征在于，所述外框和底板通过螺栓连接。

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