CN206921842U - 一种硅片的分选组件及硅片测试仪 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种硅片的分选组件及硅片测试仪，该硅片的分选组件用于硅片测试仪，包括覆盖于硅片测试仪的屏幕上的分选屏，分选屏的表面设置有分选区域，分选区域与屏幕上显示的硅片的图像所在区域重合，分选区域均分为多个第一子单元，当屏幕上显示的硅片的图像存在缺陷区域时，缺陷区域覆盖第一子单元的个数占第一子单元的总数之比，即为硅片中缺陷区域所占面积；和/或分选区域内设置有第一坐标系，根据第一坐标系读出缺陷区域的边长和高，以得到缺陷区域的面积。通过划分第一子单元，工作人员可以快速、准确地计算缺陷区域所占的面积，判断硅片是否合格，从而提高分选硅片的准确率，从而提高太阳能电池片的质量。
Description
技术领域
本实用新型涉及硅片测试技术领域，尤其涉及一种硅片的分选组件及硅片测试仪。
背景技术
光伏检测综合分析系统(Photoluminescence，PL)和红外缺陷测试仪(Electroluminescence，EL)是非常重要的光伏测试仪器，它们能有效分辨出硅片的缺陷，如绒丝、黑边、黑心、结区摩擦、漏浆、断栅、反向击穿、烧结不良等，其功能相当于太阳能硅片测试的“眼睛”，尤其是PL更是在电池片的制造起点起到一个“监控”作用。
其中，绒丝是硅片比较常见的缺陷之一。绒丝会造成太阳能电池低开压、低短路电流、低少子寿命等一系列问题，并存在弱光风险，因此各个厂家对绒丝的把控十分严格。
目前行业普遍认为，当硅片的绒丝区域的面积大于硅片面积的10％时，称之为绒丝异常，则硅片不合格。但现有技术中并没有精确计算绒丝区域面积及绒丝位置的方法，硅片是否合格的判断准确度也不高。
实用新型内容
本实用新型的第一目的在于提出一种能够计算硅片的缺陷区域的面积的分选组件。
为达此目的，本实用新型采用以下技术方案：
一种硅片的分选组件，用于硅片测试仪，包括覆盖于硅片测试仪的屏幕上的分选屏，所述分选屏的表面设置有分选区域，所述分选区域与所述屏幕上显示的硅片的图像所在区域重合，所述分选区域均分为多个第一子单元，当所述屏幕上显示的硅片的图像存在缺陷区域时，所述缺陷区域覆盖所述第一子单元的个数占所述第一子单元的总数之比，即为硅片中缺陷区域所占面积；和/或所述分选区域内设置有第一坐标系，根据所述第一坐标系读出所述缺陷区域的边长和高，以得到所述缺陷区域的面积。
其中，所述分选区域包括多条横向刻度线和纵向刻度线，多条所述横向刻度线与所述纵向刻度线围成多个所述第一子单元，所述第一坐标系的横坐标轴与一条所述横向刻度线重合，所述第一坐标系的纵坐标轴与一条所述纵向刻度线重合。
其中，所述第一坐标系以所述分选屏的中心为原点。
其中，还包括硅片对应屏，所述硅片对应屏与硅片的大小相等，所述硅片对应屏的表面均分为多个第二子单元，所述第二子单元与所述第一子单元数量相同。
其中，所述硅片对应屏还设置有第二坐标系，所述第二坐标系用于确定缺陷区域中的缺陷的位置。
其中，所述硅片对应屏由玻璃或塑料材质屏。
其中，所述分选屏为柔性塑料透明贴纸、玻璃板或塑料板。
其中，所述缺陷区域为具有绒丝、黑边、黑心、结区摩擦、漏浆、断栅、反向击穿或烧结不良的区域。
本实用新型的第二目的在于提出一种能够计算硅片的缺陷区域的面积的硅片测试仪。
为达此目的，本实用新型采用以下技术方案：
一种硅片测试仪，包括上述的分选组件。
其中，所述测试仪为PL测试仪或EL测试仪。
有益效果：本实用新型提供了一种硅片的分选组件及硅片测试仪。该硅片的分选组件用于硅片测试仪，包括覆盖于硅片测试仪的屏幕上的分选屏，所述分选屏的表面设置有分选区域，所述分选区域与所述屏幕上显示的硅片的图像所在区域重合，所述分选区域均分为多个第一子单元，当所述屏幕上显示的硅片的图像存在缺陷区域时，所述缺陷区域覆盖所述第一子单元的个数占所述第一子单元的总数之比，即为硅片中缺陷区域所占面积；和/或所述分选区域内设置有第一坐标系，根据所述第一坐标系读出所述缺陷区域的边长和高，以得到所述缺陷区域的面积。通过划分第一子单元，工作人员可以快速、准确地计算缺陷区域所占的面积，判断硅片是否合格，从而提高分选硅片的准确率，从而提高太阳能电池片的质量。
附图说明
图1是具有绒丝的硅片的结构示意图；
图2是本实用新型实施例1提供的分选屏的结构示意图；
图3是本实用新型实施例2提供的一种分选屏的结构示意图；
图4是本实用新型实施例2提供的另一种分选屏的结构示意图；
图5是本实用新型实施例2提供的分选屏划分第一子单元的区域与硅片的图像重合后的结构示意图；
图6是本实用新型提供的硅片对应屏的结构示意图；
图7是本实用新型提供的硅片对应屏与硅片的图像重合后的结构示意图。
其中：
1、分选屏；11、第一子单元；
2、硅片对应屏；21、第二子单元；
3、硅片；31、缺陷区域。
具体实施方式
为使本实用新型解决的技术问题、采用的技术方案和达到的技术效果更加清楚，下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本实用新型的技术方案。
实施例1
如图2所示，本实施例提供了一种硅片的分选组件，用于硅片测试仪，包括覆盖于硅片测试仪的屏幕上的分选屏1，分选屏1的表面设置有分选区域，分选区域与屏幕上显示的硅片3的图像所在区域重合，分选区域均分为多个第一子单元11，当屏幕上显示的硅片3的图像存在缺陷区域31时，缺陷区域31覆盖第一子单元11的个数占第一子单元11的总数之比，即为硅片3中缺陷区域31所占面积。
通过在分选屏1上设置分选区域，并在分选区域内划分第一子单元11，且分选区域与硅片测试仪的屏幕上显示的硅片3的图像重合，即分选区域的形状和大小与屏幕上显示的硅片3的图像的形状和大小相同，分选区域完全覆盖硅片3的图像，工作人员可以通过观察缺陷区域31覆盖第一子单元11的个数，快速、准确地计算缺陷区域31所占硅片3的面积，判断硅片3是否合格，从而提高分选硅片3的准确率，不需要工作人员估算，提高了分选硅片3的准确性，从而提高太阳能电池片的质量。
具体而言，缺陷区域31可以为具有绒丝、黑边、黑心、结区摩擦、漏浆、断栅、反向击穿或烧结不良等缺陷的区域。如图1所示，由于硅片3的形状一般为正方形，本实施例中的分选屏1可以与硅片3的形状相同，分选屏1的表面可以全部划分第一子单元11，也可以部分划分多个第一子单元11。即本实施例中分选屏1的大小可以与硅片测试仪的屏幕上显示的硅片3的图像一致，为使划分第一子单元11的分选区域与硅片3在硅片3检测仪的屏幕上的图像重合，分选屏1的表面全部为分选区域，以便后续判断硅片3中缺陷区域31所占面积；分选屏1也可以大于硅片测试仪的屏幕上显示的硅片3的图像，但分选屏1上的分选区域需要与硅片测试仪的屏幕上显示的硅片3的图像重合，以便后续判断硅片3是否合格。
分选屏1上包括多条横向刻度线和纵向刻度线，多条横向刻度线和纵向刻度线围成多个第一子单元11，以便计算缺陷区域31的面积。第一子单元11的个数越多，缺陷区域31的面积计算的越准确，但相对的，工作人员的计算强度将增大，因此，第一子单元11的个数可以根据工作需要确定。
为方便工作人员记录硅片3上缺陷区域31的具体坐标，如图6所示，分选组件还可以包括硅片对应屏2，硅片对应屏2和分选屏1独立设置，硅片对应屏2与硅片3的大小相等，硅片对应屏2的表面均分为多个第二子单元21，第二子单元21与第一子单元11数量相同。如图7所示，在工作人员实际工作过程中，首先将硅片3的图像投射在硅片测试仪的屏幕上，分选屏1可以通过黏贴或其他方式固定在屏幕上；之后将硅片3取出，并将硅片对应屏2放置与硅片3表面，并与硅片3完全重合，工作人员可以对比分选屏1和硅片对应屏2计算缺陷区域31的面积，并且可以在硅片对应屏2上做标记，将硅片3上缺陷区域31的具体位置标记出来，以方便后续操作。
为方便工作人员在硅片对应屏2上查找缺陷区域31的对应位置，硅片对应屏2还可以设置有第二坐标系，第二坐标系用于确定缺陷区域31中的缺陷的位置。
本实施例中硅片对应屏2可以为玻璃或塑料材质屏，分选屏1可以为柔性塑料透明贴纸、玻璃板或塑料板，只要方便观察硅片3表面的缺陷区域31即可。
实施例2
如图3所示，本实施例提供了一种硅片的分选组件，其具体结构与实施例1中的硅片的分选组件基本相同，与实施例1不同的是，分选区域内设置有第一坐标系，当屏幕上显示的硅片3的图像存在缺陷区域31时，根据第一坐标系读出缺陷区域31的边长和高，以得到缺陷区域的面积。
具体而言，第一坐标系包括相互垂直设置的横坐标和纵坐标，横坐标和纵坐标上具有刻度，当分选屏1与硅片测试仪的屏幕上显示的硅片3的图像重合时，工作人员可以根据缺陷区域31的形状将其分为多个形状规则的子区域，通过第一坐标系确定每个子区域的边长和高，计算得出每个子区域的面积，从而得到缺陷区域31的面积。为方便工作人员在硅片对应屏2上标记缺陷区域31的位置，第一坐标系可以与第二坐标系的位置对应，即工作人员由分选屏1读取的缺陷区域31的坐标与由硅片对应屏2读取的缺陷区域的坐标相同。
如图4和图5所示，分选屏1上也可以同时具有划分的多个第一子单元11和第一坐标系，工作人员可以结合使用第一子单元11和第一坐标系，第一坐标系还可以用于精确确定缺陷区域31中的位置。第一坐标系的横坐标轴可以与分选屏1的一条横向刻度线重合，第一坐标系的纵坐标轴可以与分选屏1的一条纵向刻度线重合，以方便工作人员观察。在此基础上，第一坐标系还可以以分选屏1的中心为原点，从而方便工作人员确定硅片3上各部分缺陷区域31的坐标。
实施例3
本实施例提供了一种硅片测试仪，包括上述实施例中的硅片的分选组件。通过在分选屏1上划分第一子单元11和/或设置第一坐标系，且分选屏1与硅片测试仪的屏幕上显示的硅片3的图像重合，工作人员可以快速、准确地计算缺陷区域31所占的面积，判断硅片3是否合格，从而提高分选硅片3的准确率，不需要工作人员估算，提高了分选硅片3的准确性，从而提高太阳能电池片的质量。
本实施例中的硅片测试仪可以为PL测试仪或EL测试仪，也可以为其他硅片3测试设备。当使用硅片测试仪时，首先将硅片3放置于硅片测试仪中的测试平台，工作人员操作硅片测试仪将硅片3的图像投射在硅片测试仪的屏幕上，之后将硅片取出，并将硅片对应屏2放置于硅片表面。为方便工作人员观察，屏幕上显示的硅片3的图像可以大于硅片3本身的尺寸，分选屏1中的分选区域与硅片3的图像重合，工作人员可以对比分选屏1和硅片对应屏2，准确得出硅片3中缺陷区域31所占的面积，从而判断硅片3是否合格。
以上内容仅为本实用新型的较佳实施例，对于本领域的普通技术人员，依据本实用新型的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。
Claims (10)
1.一种硅片的分选组件，用于硅片测试仪，其特征在于，包括覆盖于硅片测试仪的屏幕上的分选屏(1)，所述分选屏(1)的表面设置有分选区域，所述分选区域与所述屏幕上显示的硅片(3)的图像所在区域重合，所述分选区域均分为多个第一子单元(11)，当所述屏幕上显示的硅片(3)的图像存在缺陷区域(31)时，所述缺陷区域(31)覆盖所述第一子单元(11)的个数占所述第一子单元(11)的总数之比，即为硅片(3)中缺陷区域(31)所占面积；和/或所述分选区域内设置有第一坐标系，根据所述第一坐标系读出所述缺陷区域(31)的边长和高，以得到所述缺陷区域(31)的面积。
2.如权利要求1所述的分选组件，其特征在于，所述分选区域包括多条横向刻度线和纵向刻度线，多条所述横向刻度线与所述纵向刻度线围成多个所述第一子单元(11)，所述第一坐标系的横坐标轴与一条所述横向刻度线重合，所述第一坐标系的纵坐标轴与一条所述纵向刻度线重合。
3.如权利要求1所述的分选组件，其特征在于，所述第一坐标系以所述分选屏(1)的中心为原点。
4.如权利要求1-3任一项所述的分选组件，其特征在于，还包括硅片对应屏(2)，所述硅片对应屏(2)与硅片(3)的大小相等，所述硅片对应屏(2)的表面均分为多个第二子单元(21)，所述第二子单元(21)与所述第一子单元(11)数量相同。
5.如权利要求4所述的分选组件，其特征在于，所述硅片对应屏(2)还设置有第二坐标系，所述第二坐标系用于确定缺陷区域(31)中的缺陷的位置。
6.如权利要求4所述的分选组件，其特征在于，所述硅片对应屏(2)为玻璃或塑料材质屏。
7.如权利要求1-3任一项所述的分选组件，其特征在于，所述分选屏(1) 为柔性塑料透明贴纸、玻璃板或塑料板。
8.如权利要求1-3任一项所述的分选组件，其特征在于，所述缺陷区域(31)为具有绒丝、黑边、黑心、结区摩擦、漏浆、断栅、反向击穿或烧结不良的区域。
9.一种硅片测试仪，其特征在于，包括如权利要求1-8任一项所述的分选组件。
10.如权利要求9所述的测试仪，其特征在于，所述测试仪为PL测试仪或EL测试仪。
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| CN201720554247.7U CN206921842U (zh) | 2017-05-18 | 2017-05-18 | 一种硅片的分选组件及硅片测试仪 |
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| CN109841706A (zh) * | 2019-03-23 | 2019-06-04 | 东莞市科隆威自动化设备有限公司 | 太阳能硅片拆片叠片方法及叠瓦总装线 |
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